「じゅんばんけんさ」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

これらを順次繰り返しながら、全ての基板を順番に検査する。例文帳に追加

All the substrates are inspected sequentially while repeating those processes sequentially. - 特許庁

能動板は、標準のパターンに準じて形成され、そして検査される。例文帳に追加

The active board is formed based on a standard pattern and inspected. - 特許庁

基板収納器のスロットに基準基板を挿入し、センサが基準基板の位置を検出する。例文帳に追加

A reference substrate is inserted into a slot of the substrate storage container, and then a sensor detects the position of the reference substrate. - 特許庁

基準データ作成方法および回路基板検査装置例文帳に追加

METHOD OF FORMING REFERENCE DATA AND CIRCUIT BOARD INSPECTING DEVICE - 特許庁

基準データ作成方法および回路基板検査装置例文帳に追加

CREATION METHOD FOR REFERENCE DATA AND CIRCUIT-BOARD INSPECTION APPARATUS - 特許庁

その優先度の順番で各検査依頼が検査端末に表示される。例文帳に追加

Each inspection request is displayed on an inspection terminal in the order of the above priority. - 特許庁

今度の試験で順位が 5 番下がった.例文帳に追加

I dropped [went down] five places in class after the last examination.  - 研究社 新和英中辞典

ディレクトリ/libと/usr/libをこの順番で検索する。例文帳に追加

The directories /lib and /usr/lib are searched (in that order).  - JM

順序適正化装置及び基板検査装置例文帳に追加

ORDER RATIONALIZING DEVICE AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE - 特許庁

遊技機用制御基板の検査準備装置例文帳に追加

INSPECTION PREPARATION APPARATUS FOR GAME MACHINE CONTROL BOARD - 特許庁

基板を検査する方法およびリソグラフィのために基板を準備する方法例文帳に追加

METHOD OF INSPECTING SUBSTRATE, AND METHOD OF PREPARING SUBSTRATE FOR LITHOGRAPHY - 特許庁

研削盤における潤滑油および研削液の温度管理方法例文帳に追加

TEMPERATURE CONTROL METHOD OF LUBRICATING OIL AND GRINDING LIQUID IN GRINDING MACHINE - 特許庁

そして、割付け順序検定部２４は、グラフ検索部２３による検索順序を、プリント基板の積層時における層割付け順序とする。例文帳に追加

A layout order decision part 24 then sets the search order by the graph search part 23 as a layer layout order in printed circuit board stacking. - 特許庁

各セルに順番に赤外光が照射され、透過光が順番に光結合器２７を介して光検出器２８に入射し、順次測定される。例文帳に追加

Each cell is sequentially irradiated with the infrared light, and transmitted light is sequentially made incident onto an optical detector 28 via an optical coupler 27 and sequentially measured. - 特許庁

基板検査のための基準値設定方法およびこの方法を用いた基板検査装置例文帳に追加

METHOD TO SET STANDARD VALUE FOR BOARD INSPECTION AND BOARD INSPECTION APPARATUS WITH METHOD - 特許庁

本発明は、検索の条件を切り換えて受信可能な番組のリストより番組を検索し、この検索結果に従って番組を順次受信する。例文帳に追加

The radio receiver searches programs from a list of receivable programs, by switching the search conditions and sequentially receives searched programs in accordance with the results of the search. - 特許庁

非訟事件手続法の準用及び最高裁判所規則例文帳に追加

Mutatis Mutandis Application of the Non-Contentious Cases Procedures Act and the Rules of the Supreme Court  - 日本法令外国語訳データベースシステム

各タイルの電極の静電容量は順番に検知される。例文帳に追加

The electrostatic capacity of each tile is in turn detected. - 特許庁

日本国内の産地を都道府県番号順に準拠して列べたものであり、知名度の有無は問わない。例文帳に追加

Following are production areas of Japanese tea in numerical order of prefectures without regard to name recognition.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

銀行等における受付順番の登録、順番確認、及び呼び出し等を可能とし、また、サービス要求者の順番待ちの間の移動やサービス要求者の用件等に応じた順番の変更等を可能とする。例文帳に追加

To enable the register of a reception order, order confirmation, call or the like in a bank and enable the change or the like of an order corresponding to movement or a matter or the like of a service claimant during the order waiting of the service claimant. - 特許庁

基準値の平均値取得機能を備えた部品実装基板検査装置例文帳に追加

COMPONENT MOUNTING SUBSTRATE INSPECTION DEVICE EQUIPPED WITH MEAN VALUE ACQUISITION FUNCTION OF REFERENCE VALUE - 特許庁

各回路基板検査装置の検査処理に合致する装置固有検査用基準データの作成が容易な回路基板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a circuit board inspection device capable of originating easily device characteristic inspection reference date conforming to inspection processing of each circuit boras inspection device. - 特許庁

検索条件選択部１０５は、蓄積されている検索条件の中から、蓄積回数が多い順番に所定数の検索条件を選択する。例文帳に追加

A retrieval condition selection part 105 selects the prescribed number of retrieval conditions in the order of the large number of times of storage from among the stored retrieval conditions. - 特許庁

検索された目標物について指定された検索基準に合致するものが選択され、指定された検索基準に応じて重み付けが行われて目標物に優先順位が決定され、検索された目標物は優先順位の順番で表示される。例文帳に追加

What agree with the specified surveying standard on the surveyed target is selected, weighing according to the specified surveying standard is done and priority order of the target is determined and the surveyed target is indicated in the priority order. - 特許庁

診察順番通知システム１０を、診察券１２と携帯電話機１３と診察受付・順番管理装置１８とから構成する。例文帳に追加

The medical examination waiting list notification system 10 is constituted of a consultation ticket 12, a cellular phone 13 and a medical examination reception/waiting list management device 18. - 特許庁

読取部２０は、白基準として使用可能な押え部、および基準板の画像データ（検出用の基準画像データ）を取得する。例文帳に追加

A read section 20 acquires image data of a retaining part usable for a white reference and a reference board (reference image data for detection). - 特許庁

この検索順番で検索を行なうことによって正規化処理を高速化できる。例文帳に追加

Thus, a normalization can be speeded up by performing retrieval in the retrieval order. - 特許庁

竪型両頭平面研削盤及びその治具取付基準面のセルフ研磨方法例文帳に追加

VERTICAL DUPLEX SURFACE GRINDER AND METHOD OF SELF-GRINDING TOOL MOUNTING REFERENCE SURFACE THEREOF - 特許庁

基準板、表面検査装置の光軸調整方法、及び表面検査装置例文帳に追加

REFERENCE PLATE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD OF SURFACE INSPECTION APPARATUS AND SURFACE INSPECTION APPARATUS - 特許庁

基準板，表面検査装置の調整方法及び表面検査装置用調整装置例文帳に追加

STANDARD PLATE, AND METHOD AND APPARATUS FOR ADJUSTING SURFACE INSPECTION APPARATUS - 特許庁

検査対象の基板９０の表面に沿って検査基準軸Ｐを設定する。例文帳に追加

An inspection reference axis P is set along the surface of the substrate 90 of an inspection object. - 特許庁

このときエンコードされた文字列中のパラメタの順番はシーケンス中のタプルの順番と同じになります。例文帳に追加

The order of parameters in the encoded string will match the order of parametertuples in the sequence.The - Python

クライアントは情報入手先５からその順番に基づいて入手する検索対象画面をその順番に基づいて自動的に切り替える。例文帳に追加

The client automatically switches, according to the order, retrieval target pictures obtained from an information acquisition origin 5 according to the order. - 特許庁

既存のコンピュータ間で送信されるデータの順番と同じ順番で試験対象コンピュータにデータを送信する。例文帳に追加

To transmit data to a computer to be tested in the same order as the order of the data transmitted between existing computers. - 特許庁

基板外観検査用の検査基準データの設定方法およびこの方法を用いた基板外観検査装置例文帳に追加

SETTING METHOD OF INSPECTION REFERENCE DATA FOR VISUAL EXAMINATION OF SUBSTRATE AND VISUAL EXAMINATION DEVICE OF SUBSTRATE USING IT - 特許庁

最初に検知信号（ＯＮ）を得た検知手段が位置する区分領域を基準区分領域として、この基準区分領域に基準係数を設定し、この基準係数から時計回りに順番に正の係数を割り当て、反時計回りに順番に負の係数を割り当てる。例文帳に追加

A reference coefficient is set in a reference division area, using the division area positioned with the detecting means obtaining the detection signal (ON) at first as the reference division area, positive coefficients are allocated sequentially clockwise from the reference coefficient, and negative coefficients are allocated sequentially anti-clockwise therefrom. - 特許庁

番組検索手段１０ｃは、ＥＰＧから検索された番組情報の放送時間帯の少なくとも一部が、他の番組情報の放送時間帯に重複した場合、優先順位の高い順に番組情報を選択する。例文帳に追加

When at least a part of broadcast time zone of program information searched from the EPG overlaps that of other program information, the program information is selected in the descending order of priority by the program searching means 10c. - 特許庁

前記複数の走査順番レジスタ４６０の各々は、前記複数の一致検出回路４１０の各々に接続されるとともに、走査順番を示す走査順番アドレスを格納する。例文帳に追加

Each of the plurality of scanning order registers 460 is connected to each of the plurality of coincidence detection circuits 410 and stores the scanning order address indicating the order of scanning. - 特許庁

次いでキューイングされた許可(168)のシーケンス番号が基準シーケンス番号と比較され、該比較に応じてデータが通信される。例文帳に追加

The sequence number of a queued grant (168) is compared with a reference sequence number, and data are communicated in accordance with the comparison. - 特許庁

検知素子４４は、基板構造２２、２４の間に配置され、基準素子３６から離間されている。例文帳に追加

A detection element 44 is arranged between the substrate structures 22 and 24 and separated from the reference element 36. - 特許庁

標準検査基板に非標準メモリ素子を装着して実際の動作環境で実装検査できるようにするインタフェース基板、検査システム及び検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an interface substrate, an inspection system, and an inspecting method, for making it possible to inspect a nonstandard memory element mounted on a standard substrate for inspection in an actual operating environment. - 特許庁

欠陥検査装置１は、搬送部２でアライメントした基板Ｗを端面検査部３に搬送させ、端面検査部３と平面検査部４に順番に搬送し、それぞれで端面検査、表面検査、裏面検査を行わせる。例文帳に追加

This defect inspection device 1 conveys a substrate W aligned by a conveying part 2 to an end face inspection part 3, to be conveyed sequentially to the end face inspection part 3 and a plane inspection part 4, and inspects an end face, a surface and a reverse face. - 特許庁

実際の動作環境で非標準メモリ素子を検査する検査システム及び方法は、検査基板１７０上において非標準ピン構成を標準ピン構成に対応させたインタフェース基板１００を使用することによって、非標準メモリ素子に適用することができる。例文帳に追加

The system and method for inspecting nonstandard memory elements in an actual operating environment are applicable to nonstandard memory elements by using an interface substrate 100 for adapting a nonstandard pin configuration to a standard pin configuration on a substrate 170 to be inspected. - 特許庁

手順データ作成用プログラムのインストール作業や更新作業、および基板検査装置による検査前の準備作業や検査手順データの更新作業にかかる負担を軽減する。例文帳に追加

To lighten the burden of installing operation and updating operation for a program for procedure data generation, preparing operation before inspection by a substrate inspection device, and an updating operation for inspection procedure data. - 特許庁

隠密調査の一つとして御庭番に巡見使の調査が発令されたものと考えらている。例文帳に追加

The Oniwaban appear to have been assigned surveys of the junkenshi as part of their intelligence activities.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス