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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > じゅんばんけんさの意味・解説 > じゅんばんけんさに関連した英語例文

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じゅんばんけんさの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2041



例文

基板検査方法は、主表面上に複数の層が形成された基板を準備する基板準備工程および成膜工程と、局所的なエッチング工程(S321)と、検査工程(S323)または組成分析工程(S322)とを備える。例文帳に追加

The substrate inspection method includes a step of preparing the substrate provided at its main surface with the plurality of layers, a film forming step, a local etching step (S321), and an inspection step (S323) or a composition analysis step (S322). - 特許庁

ステッピングモータからなるX送りモータとY送りモータの出力軸に夫々固定された回転位置検出用ディスク板に、基準位置検出部を形成し、基準位置X検出センサ及び基準位置Y検出センサで基準位置検出部を検出する(S31)。例文帳に追加

Fiduciary position detecting sections are formed on disk plates for detecting rotation positions which are respectively fixed to output shafts of X feeding motor and Y feeding motor which comprise stepping motors, and a fiduciary position X detecting sensor and a fiduciary position Y detecting sensor detect the fiduciary position detecting sections (S31). - 特許庁

したがって、例えば順番識別子が書き換えられると、そういった順番識別子に関連付けられる検査プログラムファイルの実行の順番は変更されることができる。例文帳に追加

Accordingly, the order of the execution of the inspection program file correlated with the order identifier is changed when the order identifier, for example, is rewritten. - 特許庁

ワーク上の複数の被研削面を順次能率的に研削するとができる研削盤及び研削方法を提供する。例文帳に追加

To provide a grinding machine and a grinding method which enable a plurality of surfaces to be ground on a workpiece to grind successively and efficiently. - 特許庁

例文

基板収納容器2に対してセンサ6を相対的に移動させて基板1の位置を検出する時に基準ピッチ3も同時に検出する。例文帳に追加

When the sensor 6 is moved relatively with the substrate storage vessel 2 and detects the position of the substrate 1, the reference pitch 3 is also simultaneously detected. - 特許庁


例文

制御部9は、指定されたジャンルに属する番組を検索し、検索した番組を所定時間毎に切り換えて順次受信する。例文帳に追加

A control part 9 retrieves programs which belong to a designated taste, and it changes over the retrieved programs in every prescribed time so as to be received sequentially. - 特許庁

制御部9は、指定されたジャンルに属する番組を検索し、検索した番組を所定時間毎に切り換えて順次受信する。例文帳に追加

A controller 9 retrieves a program belonging to a designated genre, and it receives signals by switching the retrieved program in every specified time. - 特許庁

調律対象音のピッチ誤差の測定の際の基準となる基準音の周波数は、鍵盤KBの押鍵操作により指定される。例文帳に追加

The frequency of the reference tone which is the reference when measuring the pitch error of the tuning object tone is specified by the key depression operation of a keyboard KB. - 特許庁

一実施形態では、シーケンス番号は、基準送信シーケンス番号との比較に応じて各許可が実行されるべき順序を画定する許可シーケンス番号である。例文帳に追加

In one embodiment, the sequence number is a grant sequence number that defines a sequence in which each grant is to be executed in accordance with comparison with a reference transmission sequence number. - 特許庁

例文

検査対象板を検査するために、カメラで前記検査対象板の表面のアライメントマークを撮影し当該アライメントマークと基準マークとを整合させて前記検査対象板の位置合わせを行う検査装置である。例文帳に追加

In order to inspect a plate to be inspected, an inspection apparatus photographs with a camera the alignment mark on the surface of the plate to be inspected and matches the alignment mark and a standard mark for aligning the plate to be inspected. - 特許庁

例文

一時停止中の印刷ジョブの再開要求を受け付けたときに、当該印刷ジョブを、設定された条件に従って印刷順序を決定して(元の順番か最後か最初か指示の順番か)印刷する。例文帳に追加

When the request for starting again on the printing job during temporarily stopping is received, the printing job is printed by determining an order of the printing according to a set condition (whether it is an original order, at the last, at the first or an indicated order). - 特許庁

クライアント2側からプリント基板の設計条件が入力されると、基準ピン数算出部12では、基板上の総ピン数と基板の特殊設計仕様の条件に基づいて基準ピン数が算出される。例文帳に追加

When a client 2 side inputs a design condition for a printed board, the number of reference pins calculating part 12 calculates the number of reference pins on the basis of the total number of pins on a board and a condition of a special design specification of the board. - 特許庁

これに従って、各裁判所は順次、府または県に変更されていった。例文帳に追加

Each local court was later transformed into a fu or ken (prefecture) administrative unit in sequence based on the system.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

こうして比較的に簡単に検査プログラムファイルの実行の順番は変更されることができる。例文帳に追加

The order of the execution of the inspection program file is changed relatively easily by this manner. - 特許庁

平面ディスプレーに用いられるガラス基板の検査工程を単純化させ、検査精密度及び検査速度を向上させることにある。例文帳に追加

To simplify the process for inspecting a glass substrate used for a flat-panel display, and to enhance inspection accuracy and inspection speed. - 特許庁

良否判定のための基準データ測定工数を削減することができる基板検査装置及び基板検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspecting apparatus and a substrate inspection method capable of reducing man-hours of reference data measurement for quality evaluation. - 特許庁

このため、2004 年度以降、特許審査請求件数が大きく増加し一次審査件数を上回っている(2005 年度末における特許審査の順番待ち件数が約79 万件、順番待ち期間が約26 か月)。例文帳に追加

Thus since fiscal 2004, the number of requests for patent examinations greatly increased, exceeding the number of primary examinations (There were about 790,000 pending patent examinations at the end of fiscal 2005, with a wait time of about 26 months). - 経済産業省

研磨スラリータンクから循環供給される研磨スラリーを用いてガラス基板を研磨するに際して、研磨装置と研磨スラリータンクの間に形成される循環経路内に孔径90μm以下のフィルターを設けてガラス基板を研磨することを特徴とする磁気ディスク用基板の製造方法。例文帳に追加

Thereby, inspection equipment yield of the glass substrate and inspection equipment yield of the magnetic disk can be improved. - 特許庁

研磨スラリータンクから循環供給される研磨スラリーを用いてガラス基板を研磨するに際して、研磨装置と研磨スラリータンクの間に形成される循環経路内にマグネットストレーナーを設けてガラス基板を研磨することを特徴とする磁気ディスク用基板の製造方法。例文帳に追加

Thereby, inspection equipment yield of the glass substrate and inspection equipment yield of the magnetic disk can be improved. - 特許庁

ガラス基板加工装置10は、ガラス基板を研削する基板加工機100と、研削時に供給されるクーラントを処理する各種機器と、これらの間を循環するようにクーラントが流れる循環流路Gとから成る。例文帳に追加

The glass substrate machining device 10 comprises a substrate finishing machine 100 to grind a glass substrate; various apparatuses to treat coolant fed during grinding; and a circulation flow passage G through which coolant flows in a manner to circulate among the device and apparatuses described above. - 特許庁

検索結果は、(B)のようなアウイエオ順、あるいは(C)のような番号順のいずれかで、ディスプレイに表示される。例文帳に追加

The retrieval result is shown either (B) in Japanese alphabetical order or (C) in numeric order, which is displayed to a display. - 特許庁

第十一条 裁判官及び検察官は、刑事施設を巡視することができる。例文帳に追加

Article 11 Judges and public prosecutors may observe the penal institutions.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

マイナー番号の低位側の 5 ビットは、検出された順に割り当てられる。例文帳に追加

The lowermost five bits in the minor numbers are assigned sequentially in the order of detection.  - JM

順次呼出機能を備えた番号検索サービス装置、方法及びその記録媒体例文帳に追加

NUMBER RETRIEVAL SERVICE UNIT PROVIDED WITH SEQUENTIAL CALL FUNCTION, METHOD AND ITS RECORDING MEDIUM - 特許庁

処理装置60は、複数の検出器31,32からの信号を順番に取り込んで処理する。例文帳に追加

The processing device 60 processes the signals from the detectors 31 and 32 by loading the same in order. - 特許庁

よって、基板の連続シーケンス処理中、キャリアの熱循環が低減される。例文帳に追加

Thus, during a consecutive sequential processing of the substrate, a thermal circulation of the carrier is decreased. - 特許庁

鍵のタッチ重さを容易に調整できるとともに、構成が単純で安価に製造することができる電子鍵盤楽器の鍵盤装置を提供する。例文帳に追加

To provide a keyboard of an electronic keyboard instrument in which touch weight of keys is easily adjusted, whose structure is simple and which is cheaply manufactured. - 特許庁

豊富なバリエーションの柄模様のパターンを,各建築板に順次印刷することができる建築板の印刷装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an apparatus for printing a building plate capable of sequentially printing a pattern of a design pattern of many variations on respective building plates. - 特許庁

非標準メモリ素子を実際の動作環境で検査するためのインタフェース基板、検査システム及び検査方法例文帳に追加

INTERFACE SUBSTRATE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTING METHOD FOR INSPECTING NONSTANDARD MEMORY ELEMENT IN ACTUAL OPERATING ENVIRONMENT - 特許庁

積載処理手段200には、積載板の移動範囲内に、基準位置、及び最下位位置を設定してこの基準位置に積載板210が来たことを検知する基準位置センサ240を設ける。例文帳に追加

The loading processing means 200 is provided with a reference position sensor 240 detecting that the loading plate 210 comes to a reference position by setting the reference position and the lowest position in a moving range of the loading plate. - 特許庁

ライト時刻やシーケンシャル番号を含む更新順序情報D2は、更新順序情報管理部2Dで管理される。例文帳に追加

Update order information D2 including the write time and a sequential number is managed in an update order information management part 2D. - 特許庁

複数の特性が異なる電源部を用いて試験を行った場合でも、印加する電圧の順番を正確に遵守させることを目的とする。例文帳に追加

To accurately keep a voltage application order even if a test is conducted using a plurality of power supply sources having different characteristics. - 特許庁

被試験デバイスに電圧を印加するときに、不要なタイムロスをなくし、電圧印加の順番を遵守させることを目的とする。例文帳に追加

To keep the order of voltage application and eliminate unnecessary loss of time, when applying a voltage to a device to be tested. - 特許庁

CPUレジスタ、命令に対するシーケンス番号の割り当て、階層的順序付けシステムの使用を介して命令の実行順序が維持される。例文帳に追加

An execution order is maintained through a CPU register, an assignment of sequence numbers to instructions and a use of a system for hierarchical ordering. - 特許庁

サーバ10は、端末から手順書名を受信して、指定された手順書ファイル64を検索し、検索された手順書ファイルの内容を、IDテーブルのレコードが示すファックス番号に対して送信する。例文帳に追加

The server 10 receives the procedure manual name from the terminal, retrieves a specified procedure manual file 64, and transmits the contents of the retrieved procedure manual file to a fax number indicated by the record of the ID table. - 特許庁

楽器本体100では、押鍵により鍵スイッチが順次オンされる毎に検査データを発生して鍵盤検査装置200に送信する。例文帳に追加

In the musical instrument 100, inspection data are generated and transmitted to the keyboard inspection device 200, each time a key switch is switched sequentially on by key-pressing. - 特許庁

メモリ12は、メータ毎に、ID番号、接続先のポート番号、及び検針順序番号を関連付けて管理する管理テーブルを記憶する。例文帳に追加

The memory 12 stores a management table for managing an ID number, a port number of a connection destination and a meter-reading order number in association with one another for each meter. - 特許庁

また、印刷機器用パンチ孔を形成する際の位置決め基準の基準が印刷版の中央位置である場合は測定横幅から印刷版の中央位置を検出し、その位置を基準に画像記録のための位置決めを行う。例文帳に追加

When the reference of positioning in forming the punch hole for the printer is in the center position of the printing plate, the center position of the printing plate is detected by measuring the width, and then positioning for image recording is carried out using the detected position as the reference. - 特許庁

欠陥検出装置1では、基準画像検査回路42において基板9上の基準とされるダイのパターンを示す基準画像と、それぞれが選択されたダイのパターンを示す複数の選択画像とが比較され、基準画像が有する欠陥が検出される。例文帳に追加

In a device 1 for detecting the defect, a reference image showing a pattern of a die as a reference on the substrate 9 in a reference image inspection circuit 42 is compared with a plurality of selected images showing the patterns of selected dies, and a defect included in the reference image is detected. - 特許庁

各工程を経て,基準プリント配線板100とチェッカーヘッド2とを位置合わせした後,基準プリント配線板100を検査すべきプリント配線板1に置き換えて通常の導通検査を行なう。例文帳に追加

After positioning between a standard printed circuit board 100 and the checker head 2 is executed through each process, the standard printed circuit boars 100 is replaced with a printed circuit board 1 to be inspected, and ordinary continuity inspection is executed. - 特許庁

鍋30の底板33に温度センサを固定することなく底板33の温度に順ずる温度を検出すること。例文帳に追加

To detect a temperature comparable to a temperature of a bottom plate 33 without fixating a temperature sensor on a bottom plate 33 of a pan 30. - 特許庁

この検索では, 入力した単語が隣接して指定した通りの順番に出てこなければならない例文帳に追加

In this search, the terms you specify must appear [be] adjacent and in the order you specify.  - 研究社 英和コンピューター用語辞典

裁判所法(Gerichtsverfassungsgesetz)第172条から第175条までの規定を準用する。ただし,次のことを条件とする。例文帳に追加

Sections 172 to 175 of the Judiciary Law [Gerichtsverfassungsgesetz] shall be applicable, mutatis mutandis, provided that  - 特許庁

研米部材23及び回転円板24が回転すると、米は矢印のように循環する。例文帳に追加

When the rice polishing member 23 and the rotary disk 23 rotate, the rice circulates like arrows. - 特許庁

基準電圧回路39は、キャパシタバンク9の充電電圧を検出する。例文帳に追加

A reference voltage circuit 39 detects a charging voltage of the capacitor bank 9. - 特許庁

基板検査のための基準値の設定方法、およびその方法を用いた装置ならびにプログラム例文帳に追加

REFERENCE-VALUE SETTING METHOD FOR SUBSTRATE INSPECTION, APPARATUS USING SAME, AND PROGRAM THEREOF - 特許庁

ノズル群毎の吐出順番の影響を受けない吐出量の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method of discharge amount which is not affected by discharge order of each nozzle group. - 特許庁

測長機校正用標準板、機差検定方法およびプラズマディスプレイパネルの製造方法例文帳に追加

STANDARD PLATE FOR CALIBRATING LENGTH MEASURING INSTRUMENT, METHOD OF CALIBRATION FOR INSTRUMENTAL ERROR AND METHOD OF MANUFACTURING PLASMA DISPLAY PANEL - 特許庁

また電圧検出回路54を搭載するための新たな基板を準備する必要がない。例文帳に追加

Another board to mount the voltage detection circuit 54 needs not be held in place. - 特許庁

例文

基板へのICチップの実装状態の検査を、客観的基準に基づいて短時間で実施する。例文帳に追加

To perform inspection of the mounting state of an IC chip to a substrate, in a short time, based on objective standards. - 特許庁

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