「じゅんばんけんさ」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

この平坦面６０２ｂを基準面として、他方の面に露出している基板６０１の面を研削により平坦化する（図５（Ｅ））。例文帳に追加

The other exposed surface of the substrate 601 is ground to be made flat based upon the flat surface 602b as a reference surface (Fig. 5 (E)). - 特許庁

鍵盤等の単純な演奏操作子を用いて音源を駆動しても、擦弦楽器らしい楽音が得られるようにする。例文帳に追加

To obtain a musical sound like that of a rubbed string instrument even when a sound source is driven by using a simple playing operation element such as a keyboard. - 特許庁

非湿潤性材料からなる移転ブロックの表面が、好ましくは加熱条件下で、オリフィス板５３０に押し付けられる。例文帳に追加

The surface of the transfer block comprising the non-wetting material is pressed against the orifice plate 530, preferably under heating conditions. - 特許庁

自動化しても、ケースを傷付けずにスイッチカバーを開けることができる遊技機用制御基板の検査準備装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an inspection preparation apparatus for game machine control board, capable of automatically opening a switch cover without damaging a case. - 特許庁

基板へのＩＣチップの実装状態の検査を、客観的基準に基づいて短時間で実施する。例文帳に追加

To provide a system and a method of substrate inspection for testing mounting condition of an IC chip onto a substrate in a short time, based on objective criterion. - 特許庁

非湿潤性材料からなる移転ブロック６１０の表面が好ましくは加熱条件下でオリフィス板６３０に押し付けられる。例文帳に追加

The surface of the transfer block 610 comprising non-wetting material can be pressed against the orifice plate 630, preferably under heating conditions. - 特許庁

このとき、ダイオードＤ４の順方向に流れる電流Ｉを測定することで、バンプ接合部４２の接続状態を検査することができる。例文帳に追加

Under such a condition, the bump junction 42 can be inspected for connected state by measuring the current I flowing in the forward direction of a diode D4. - 特許庁

光量が劣化しても基準ピッチ３の計測データより補正量を求め、基板１の位置を正確に検出する。例文帳に追加

Even when the light intensity reduces, a correction amount is determined based on the measured data of the reference pitch 3 and the position of the substrate 1 is accurately detected. - 特許庁

また、有彩色の基準板を用いることにより、画像読取ユニット１２の分光特性の変化を検知することができる。例文帳に追加

When a color reference board is used, variation in spectral characteristics of the image reading unit 12 can be detected. - 特許庁

最後の信号選択機能ブロック１１０は、制御優先権が順番切替機能ブロック１１２よりも高い。例文帳に追加

The final signal selecting function block 110 has a control priority higher than that of the order switching function block 112. - 特許庁

可干渉光処理機構１７はプラズマ中において基準盤２０へ検査光Ｌ（Ｌｉｎ，Ｌｒｅ）を照射する。例文帳に追加

A coherent light processing mechanism 17 emits an inspection light L (Lin, Lre) to the reference table 20 in a plasma. - 特許庁

基準信号の整数倍次の高調波に起因して位相検波処理で生じるドリフトを抑制できる基板観察装置を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate observing device, can suppress the drift generated at the phase detection processing due to the integral multiple order of the high harmonic of reference signal. - 特許庁

予め定められた順番で絶縁体が並べられているか否かを正確に検出できる絶縁体合体装置を提供する。例文帳に追加

To provide an insulator coalescence device capable of accurately detecting whether insulators are arrayed in a predetermined order. - 特許庁

５　前項において準用する第二十七条第一項の規定による裁判は、事件の記録が原裁判所に存するときは、その裁判所も、これをすることができる。例文帳に追加

(5) When the record of the case exists at the court of prior instance, such court may also make a judicial decision under the provision of Article 27, paragraph (1) as applied mutatis mutandis pursuant to the preceding paragraph.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

２　前条において準用する第二百八十八条及び第二百八十九条第二項の規定による裁判長の職権は、原裁判所の裁判長が行う。例文帳に追加

(2) The authority of the presiding judge under the provisions of Article 288 and Article 289(2) as applied mutatis mutandis pursuant to the preceding Article shall be exercised by the presiding judge of the court of prior instance.  - 日本法令外国語訳データベースシステム

同ジャンルの次番組、蓄積番組、再生情報の検索結果が得られると、制御部１０は、これらを所定の順番で連続的に再生出力する処理を行う。例文帳に追加

When search results of the subsequent program, stored programs, and reproduction information are obtained, the control section 10 continuously reproduces and outputs these pieces of information in a prescribed order. - 特許庁

表示制御基板のサブＣＰＵは、コマンド送信機から統括制御基板を介して２種類の検査用コマンドを予め定められた順番で入力したか否かを判定する（ステップＳ１０〜Ｓ１４）。例文帳に追加

A sub CPU of a display control board determines whether or not inputting two types of inspection commands in a prescribed order from a command transmitter via an integrated control board (steps S10-S14). - 特許庁

表示制御基板のサブＣＰＵは、コマンド送信機から統括制御基板を介して２種類の検査用コマンドを予め定められた順番で入力したか否かを判定する（ステップＳ１０〜Ｓ１４）。例文帳に追加

A sub CPU of a display control board determines whether or not two kinds of inspection commands are input in a predetermined order from a command transmitter through a general control board (step S10 to S14). - 特許庁

ゴミ検出回路３０３は、基準白色板１１４の読取結果から所定の閾値以下のデータを検出すると、該データの位置情報と検出頻度を検出結果保持用メモリ３０４に保存する。例文帳に追加

When data lower than or equal to a predetermined threshold are detected from a read result of a reference white board 114, the dust detection circuit 303 preserves position information and a detection frequency of the data in the detection result holding memory 304. - 特許庁

そして、異なる位置に配置された操作ボタン１０１ａ〜１０１ｅで検出対象が連続して検出されたときに、これら検出された位置及び順番に基づいて各種のコントロール信号を出力する。例文帳に追加

Then, when the detection object is continuously detected by the operation buttons 101a to 101e arranged at the different positions, various control signals are outputted on the basis of the detected positions and sequences. - 特許庁

シート検査が可能なように設計され、単純な構造の画素回路を採用しながらも、シート検査時の輝度偏差を防止できるようにした有機電界発光表示装置のマザー基板及びその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a mother substrate of an organic electroluminescent display designed such that a sheet inspection may be performed, capable of preventing brightness deviation from occurring during the sheet inspection, in spite of adopting a simple-structured pixel circuit, and a method of inspecting a sheet. - 特許庁

回転する円盤に電子部品を対で順次供給し、保持させ、搬送させて検査し、検査の結果に基づき電子部品を分類する電子部品特性検査分類装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for inspecting and classifying electronic component characteristics, in which electronic components are successively supplied in pairs onto a rotating disk, held, transported for inspection, and then classified on the basis of the inspection result. - 特許庁

正規化係数決定回路１０は、係数テーブル５に加えて、検索順番が発生頻度の順に記憶されている範囲テーブル４も参照して、入力信号に適した正規化係数を決定する。例文帳に追加

A normalization coefficient deciding circuit 10 refers to a range table 4 where retrieval orders are stored in the order of generation frequency in addition to a coefficient table 5 and decides a normalization coefficient fitted to an input signal. - 特許庁

表層部に不純物が添加された半導体層を含む基板に、複数のレーザパルスをそれぞれ適切な条件で照射して、活性化深さを深めることができる不純物活性化方法を提供する。例文帳に追加

To provide an impurity activating method which increases the activation depth of a plurality of laser pulses each irradiated in suitable conditions onto a substrate including a semiconductor layer with an impurity added to its surface layer. - 特許庁

検査チップ４０は遠心力方向に対する回転を順番に異ならせることにより、液体を第一混合槽５５、第二混合槽５７、第三混合槽５９と順次移動させることができる。例文帳に追加

The inspection chip 40 can move the liquid to the first mixing tank 55, the second mixing tank 57 and the third mixing tank 59 successively by differentiating rotation to the centrifugal force direction in due order. - 特許庁

計数センサ１１３の下端位置には、計数センサ１１３の移動開始位置を規定するとともに検出基準を与えるための白基準板１８１が設けられている。例文帳に追加

A white reference board 181 for regulating the movement start position of the sensor 113 and providing a detection reference is arranged on the lower end position of the sensor 113. - 特許庁

続いて、作業手順制約条件ＤＢ４を参照して、要素作業割当手段１０により割り当てられた要素作業の順番を調整する。例文帳に追加

Then, a work order adjusting means 11 refers to a work procedure constraint condition DB4, and adjusts the order of the element works assigned by the element work assigning means 10. - 特許庁

生産ラインに配置された部品、組み立て重量および締結時間を検知し、標準作業時間と相違点とを照合し、組み立て部品の順番の入れ替えを行うことを可能とする。例文帳に追加

To detect parts arranged on a product line, assembly weights, and fastening time, to check their difference from a standard operation time, and to exchange the order of the assembly parts. - 特許庁

検出により得られた濃度検出データを、上記記憶された裸面プロファイルデータのうち、校正時の基準出力に一番近い基準出力に基づいて取得された裸面プロファイルデータによって補正し（S16）、補正された濃度検出データに基づき画像濃度を適正化する（S17）。例文帳に追加

Density detection data obtained by the detection is corrected by the unpainted surface profile data obtained based on the reference output closest to the reference output in calibration, of the stored unpainted surface profile data (S16) and the image density is made appropriate based on the corrected density detection data (S17). - 特許庁

検査ブロックＩＢにて処理不良の基板Ｗが検出されたときには、その基板Ｗについての処理履歴データと基準データとを比較する。例文帳に追加

When the defectively processed substrate W is detected in an inspection block IB, the process history data regarding the substrate W and a reference data are compared. - 特許庁

回転自在に配設された２進循環乱数数列コード板１０１と所定の空隙量を介して、導体パターンからなる検出巻線１０３ａ〜ｊと励磁磁束検出巻線１０６を敷設したプリント基板１０２を配設する。例文帳に追加

A printed board 102 on which detection windings 103a-j comprising conductor patterns and an excitation magnetic flux detection winding 106 are lain is disposed through a prescribed aperture quantity with a binary recurring random number sequence code disc 101 disposed rotatably. - 特許庁

ガラス基板２を一定の基準光量で照射し、ガラス基板２の検査条件に応じて最適な画像が得られるようにライン撮像装置５の露光時間を瞬時に設定変更する。例文帳に追加

A glass substrate 2 is irradiated with a fixed quantity of reference light, and the exposure time of a line imaging apparatus 5 is set and changed so that optimum images can be obtained, according to the inspection conditions of the glass substrate 2. - 特許庁

操作指令が、好みの番組の検索であれば、キーワード等からＥＰＧデータの検索を行い、該当する番組情報を抽出し、これを上記の説明と同様の手順で表示する。例文帳に追加

When the operation command indicates retrieval of a preferred program, the program information/operation control means 130 retrieves the EPG data by using a keyword or the like, extracts the corresponding program information and allows the display means to display the information according to the procedure the same as this explanation. - 特許庁

被検者の識別番号（ＩＤ番号）、被検眼が左眼（Ｌ）か、右眼（Ｒ）かの種別、眼底撮影（Ｋ）か視野測定（Ａ）かなどの属性データが眼底画像、視野データに関連して測定順に記憶される。例文帳に追加

Attribute data on the identification number (ID number) of an examinee, whether a subject eye is a right eye (R) or a left eye (L), which of eyeground photographing (K) or visual field measurement (A) to perform, etc., are stored in the order of measurement in connection with an eyeground image and visual field data. - 特許庁

豊富なバリエーションの柄模様のパターンを，各建築板に順次印刷することができる建築板の印刷装置及び印刷方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a device and a method for printing on a building plate, by which pattern with a variety of pattern designs can be successively printed on respective building plates. - 特許庁

建築材料１は、合板２および中密度繊維板３を準備する工程と、合板２および中密度繊維板３を積層接着して基板５を作成する工程と、基板５および化粧板６を積層接着する工程とに大別される。例文帳に追加

The building material 1 is roughly divided into a step for preparing plywood 2 and a middle density fiber board 3, a step for preparing a substrate 5 by stacking and bonding the plywood 2 and the middle density fiber board 3, and a step for stacking and bonding the substrate 5 and decorative laminate 6. - 特許庁

RTPパケット作成部２３１は、ストリーミングデータとして再生される順番を示すシーケンス番号が格納されたRTPパケットを生成し、通信部１５３は、生成されたRTPパケットをクライアント１１４に送信する。例文帳に追加

A RTP (Realtime Transport Protocol) packet creation part 231 creates a RTP packet which stores a sequence number showing a reproduction order as streaming data, and a communication part 153 transmits the created packet to a client 114. - 特許庁

取付基板３にはパチンコ球の循環制御装置と、その循環制御装置のパチンコ球の検出手段および駆動手段を制御する球循環制御基板１０６と、パチンコ球を遊技盤面に向けて発射させる発射制御装置のスイッチ類および駆動手段を制御する発射装置制御基板８と、をそれぞれ設ける。例文帳に追加

On the mount substrate 3, there are provided a circulation controller for pachinko balls, a ball circulation control substrate 106 to control a detection means and a drive means of pachinko balls of the circulation controller, and a shooting device control substrate 8 to control switches of a shooting controller to shoot pachinko balls against the surface of the game board and the drive means. - 特許庁

被験者について一連の撮影順番で撮影して得られる複数の画像を蓄積し、読影者による読影に際して蓄積された複数の画像を表示する手段を有した画像表示装置において所望の読影の順番を予め設定する手段と、前記予め設定された読影の順番に対応して前記複数の画像を前記表示手段に表示させる手段とを備えている。例文帳に追加

This image display device which has a means for accumulating a plurality of images obtained by imaging a subject in a sequential imaging order and displaying the plurality of accumulated images in interpretation by the image diagnosing person is further provided with a means for presetting a desired order of interpretation and a means for displaying the plurality of images on the display means corresponding to the preset order of interpretation. - 特許庁

半導体基板の処理方法は、（ａ）表面が鏡面研磨され、裏面が鏡面研磨されていない半導体基板を準備する工程と、（ｂ）裏面をエッチングして、該裏面の粗さを減少させるとともに、半導体基板の反りを減少させる工程とを有する。例文帳に追加

The method of treating a semiconductor substrate includes: (a) a process for preparing the semiconductor substrate, where the front is subjected to mirror polishing and the rear is not subjected to the mirror polishing; and (b) a process for etching the rear to reduce the roughness on the rear and reducing the warpage of the semiconductor substrate. - 特許庁

アルファベット順を重視するキーボードを採用し、さらに現実の鍵盤と同じ形態のヴァーチャルな記号鍵盤を画面に表示し、これに対応する現実の鍵盤のキーを押し下げることによって、記号の入力を行う。例文帳に追加

A keyboard emphasizing an alphabetical order is adopted, a virtual symbol keyboard in the same form as that of an actual keyboard is further displayed on a screen, and the symbols are input by depressing keys of the actual keyboard corresponding to the virtual symbol keyboard. - 特許庁

検出センサ２０は、砥石１２により基準体１４の表面に設けた識別皮膜１６が研磨されて研削された状態を検出して制御盤１３に検出信号を出力して、砥石１２による加工物２の研磨を呈させる。例文帳に追加

The detecting sensor 20 presents polishing of the workpiece 2 by the grinding wheel 12, by outputting a detecting signal to the control board 13, by detecting a state of polishing and grinding an identification coating film 16 arranged on a surface of the reference body 14 by the grinding wheel 12. - 特許庁

まず、検索装置１００は、レコード番号の検索をする処理を実行して、ＲＤＢＭＳ１２０から検索条件を満たすレコードのレコード番号を順位付けしながら取得して、ヒット件数をアプリケーション１１０へ通知する。例文帳に追加

The search device 100 first executes the processing to retrieve the record number, retrieves the record number of a record that meets the retrieval condition from the RDBMS 120, while ranking the record number, and notifies the number of hits to the application 110. - 特許庁

トナー像に交番電界を作用させることにより、トナー像を形成しているトナーを再配置するトナー再配置の条件を、基準パターンのトナー像の濃度をトナーセンサで検知した検知結果に基づいて設定する。例文帳に追加

Regarding a toner rearrangement condition of rearranging the toner which forms a toner image by applying an alternating electric field to the toner image, the toner rearrangement condition is set based on detection results obtained by detecting the density of a reference pattern toner image by a toner sensor. - 特許庁

被検レンズ７０に入射した軸外測定光は、ヌル光学素子４０によって再帰反射され、被検レンズおよび回折格子付参照基準板２０を経由して被検光とされる。例文帳に追加

The off-axis measurement light incident on the lens to be checked 70 is retroreflected by the null optical element 40 and turns out light to be checked via the lens to be checked 70 and the reference standard plate 20 with the diffraction grating. - 特許庁