「テスティ」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

②【バック・テスティングによる超過回数に応じた適切な対応】例文帳に追加

(2) Appropriate Response to Exceptions in Backtesting  - 金融庁

ループバックを用いたストレージシステムエレクトロニクスのテスティング例文帳に追加

TESTING STORAGE SYSTEM ELECTRONICS USING LOOPBACK - 特許庁

薄膜光電池装置のためのプロセステスタ及びテスティング技法例文帳に追加

PROCESS TESTER AND TESTING METHODOLOGY FOR THIN-FILM PHOTOVOLTAIC DEVICE - 特許庁

・ 継続的な検証(バック・テスティング等)のプロセス及び結果の適正性例文帳に追加

- Adequacy of the process and results of ongoing verification (backtesting, etc.)  - 金融庁

・ 継続的な検証（バック・テスティング等）のプロセス及び結果の適正性例文帳に追加

- Appropriateness of the process and results of ongoing verification (backtesting, etc.)  - 金融庁

・ バック・テスティングの結果から、個別リスクを正確に把握していることを説明できること例文帳に追加

- Can the institution show based on the results of backtesting that it accurately captures specific risks?  - 金融庁

バック・テスティング（統計的手法でリスク量を計測している場合）例文帳に追加

11) Backtesting (in the case where a statistical technique is used to measure the risk quantity)  - 金融庁

・ バック・テスティング、ストレス・テストの実施内容、検討結果及び判断根拠例文帳に追加

- Details of the implementation of backtesting and stress tests, results of assessment thereof and the grounds for the judgment  - 金融庁

ワイヤのボンディングおよびテスティングのための組合せ形システム、方法および装置例文帳に追加

COMBINED SYSTEM, METHOD AND APPARATUS FOR WIRE-BONDING AND TESTING - 特許庁

半導体記憶装置の製品テストにおけるテスティング時間の短縮化を図る。例文帳に追加

To shorten testing time in a product test of a semiconductor storage device. - 特許庁

（ⅲ）市場リスク計測手法の正確性や適切性を検証するためにバック・テスティングを行っているか。例えば、規制上のバック・テスティングに加え、中長期的な分析をするなど検証を向上させているか。例文帳に追加

(iii) Does the institution conduct backtesting in order to assess the accuracy and appropriateness of the market risk measurement technique? Does it seek to enhance the review by conducting medium- and long-term analysis, for example, in addition to backtesting required by regulation?  - 金融庁

電気的テスティングを通して製造プロセスに直接関連した情報を与えることのできるような、薄膜ＰＶ装置のためのプロセステスタ及びテスティング技法を提供する。例文帳に追加

To provide process testers and testing methodology for thin-film PV devices, which can provide information directly relating to fabrication processes through electrical testing. - 特許庁

（ⅰ）統合的リスク管理部門は、継続的な検証（バック・テスティング等）により、計測手法の妥当性を定期的に分析しているか。例文帳に追加

(i) Does the Comprehensive Risk Management Division regularly analyze the appropriateness of the measuring techniques through ongoing validation (back testing, etc.)?  - 金融庁

ａ．与信管理部門は、継続的な検証（バック・テスティング等）により、計測手法の妥当性を定期的に分析しているか。例文帳に追加

(a) Does the Credit Management Division regularly analyze the validity of the measurement technique through ongoing verification (backtesting, etc.)?  - 金融庁

ホ．ニ．を検証するためのバック・テスティングの内容（統計的手法でリスク量を計測している場合）例文帳に追加

(e) Details of backtesting to study (d) (in the case where a statistical technique is employed to measure the risk quantity)  - 金融庁

（ⅰ）バック・テスティングの目的、実施方法、頻度、分析手続及び報告手続について文書化しているか。例文帳に追加

(i) Does the institution document the purpose, implementation method and frequency of backtesting as well as the analysis and reporting procedures thereof?  - 金融庁

（ⅳ）バック・テスティングの結果、その分析及び検討内容は、担当取締役及び取締役会等に報告しているか。例文帳に追加

(iv) Are the results of backtesting and the results of the analysis and study thereof reported to the director in charge and the Board of Directors or equivalent organization to the Board of Directors?  - 金融庁

（ⅲ）市場リスク計測手法の正確性や適切性を検証するためにバック・テスティングを行っているか。例文帳に追加

(iii) Does the institution conduct backtesting in order to assess the accuracy and appropriateness of the market risk measurement technique?  - 金融庁

例えば、規制上のバック・テスティングに加え、中長期的な分析をするなど検証を向上させているか。例文帳に追加

Does it seek to enhance the review by conducting medium- and long-term analysis, for example, in addition to backtesting required by regulation?  - 金融庁

ポイント・オブ・ケア・テスティングに適した自動検査装置は、一般に、一般生化学項目以外の検査に対応していない。例文帳に追加

To solve such a problem that an automatic inspection device suitable for point of care testing does not support an inspection other than a general biochemistry item in general. - 特許庁

メモリ・ロケーションに記憶された１つまたは複数のビットのアトミカルなテスティングおよびセッティングまたはクリアリングの論理及び方法例文帳に追加

LOGIC AND METHOD FOR ATOMICAL TESTING, SETTING OR CLEARING OF ONE OR MORE BIT STORED IN MEMORY LOCATION - 特許庁

（ⅱ）実際に発生した損益又はポートフォリオを固定した場合において発生したと想定される損益のいずれかを使用したバック・テスティングを定期的に実施しているか。例文帳に追加

(ii) Does the institution regularly conduct backtesting with the use of actual profits/losses or hypothetical profits/losses for no portfolio changes?  - 金融庁

バック・テスティングの結果及び分析より、市場リスク計測手法の適切性に問題が発見された場合、速やかな取締役会等への報告及び対応策の策定のための態勢を確保しているか。例文帳に追加

Does the institution provide a system to ensure that when any problem with regard to the appropriateness of the market risk measurement technique is detected based on the results of backtesting and the analysis thereof, the problem is reported to the Board of Directors or equivalent organization to the Board of Directors without delay and countermeasures are formulated?  - 金融庁

多品種の半導体テストに容易に対応出来、生産コストを低減出来、測定デバイスが変更になった場合でも、短納期で容易に対応出来る半導体テスティング装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing device easily applicable to various kinds of semiconductor tests and capable of reducing the production cost and dealing with the change in a measurement device in a short delivery time. - 特許庁

パフォマンスボードに接続されハンドラーベースプレートあるいは前記パフォマンスボードに取付けられるドッキングブロックと、このドッキングブロックに取付けられるテストソケットとを具備する半導体テスティング装置において、前記テストソケットが取付けられるドッキングプレートと、このドッキングプレートが挿入嵌め合わされて取り付けられる嵌合孔を有する板状のドッキングベースとを有するドッキングブロックを具備したことを特徴とする半導体テスティング装置である。例文帳に追加

In this semiconductor testing device provided with a docking block, which is to be connected to a performance board and mounted to a handler base plate or the performance board, and a test socket mounted to the docking block, a docking plate for mounting the test socket is arranged, while a plate type docking base having a fitting hole, into which the docking plate is inserted and fitted, is arranged in the docking block. - 特許庁

（ⅲ）バック・テスティングの結果に基づき、市場リスク計測手法の特性（限界及び弱点）や捕捉していないリスクについて把握し、必要な対応を行うことにより市場リスク計測手法の信頼性や適切性を確保しているか。例文帳に追加

(iii) Does the institution comprehend, based on the results of backtesting, the nature of the market risk measurement technique (limitations and weaknesses) and risks not covered by the technique and ensure the reliability and appropriateness of the market risk measurement technique by taking necessary countermeasures?  - 金融庁

テスティング基板はもとより、検査後の後処理等も不要としながら、より簡易且つ的確に半導体ウエハ上の集積回路を検査することのできる半導体集積回路の検査方法およびその方法の実施に使用される半導体集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide the testing method of a semiconductor integrated circuit which can more easily and accurately test an integrated circuit on a semiconductor wafer, while eliminating post-processes, etc. after testing as well as a testing substrate, and to provide a semiconductor integrated circuit that is used in the method. - 特許庁

発光解析やOBIRCH解析で検出した被擬故障リストや、テスティングによって絞り込んだ被擬故障リストを用いて、その疑わしさの度合いを体系的に定量化する不良解析方法及びそのシステム並びにその不良解析プログラムを提供することにある。例文帳に追加

To provide a method and a system for analyzing failures and a program for analyzing failures to systematically fix a quantity of the degree of suspicion using a doubtful failure list detected by a light-emitting analysis and OBIRCH analysis and a suspected failure list narrowed down by testing. - 特許庁

（ⅲ）各ブロード・リスク・カテゴリー（金利、為替、株式及びコモディティ・リスク。ただし、オプションのボラティリティは関連するリスク・カテゴリーに含む。）内で、過去のデータから計測される相関を考慮している場合、ブロード・リスク・カテゴリー別のバック・テスティングを業務内容等に応じて実施しているか。例文帳に追加

(iii) In the case where the institution takes into consideration the correlation measured based on historical data within each broad risk category (interest rate risk, foreign exchange risk, stock risk and commodity risk; however, option volatility is included in a relevant risk category), does it conduct backtesting on a category-by -category basis in a manner befitting the nature of the business?  - 金融庁

上記目的を達成するために、本発明による半導体装置は、記憶手段にデータの書き込みを行う為に外部から高い電圧を印加する高電圧印加機能と、当該半導体装置のテスティングを行うために使用するテスト機能を有し、該テスト機能と前記高電圧印加機能とを共通の入力端子より制御できるように構成することを特徴とする。例文帳に追加

The semiconductor device has constitutively a high-voltage applying function for applying a high voltage from the outside in order to write data in its memory means, and a testing function used for testing the semiconductor device to be able to control the testing function and the high-voltage applying function by a common input terminal to both the functions. - 特許庁

被験者から採便された糞便中の、バクテロイデス・フラギリス（Ｂａｃｔｅｒｏｉｄｅｓ ｆｒａｇｉｌｉｓ）、バクテロイデス・インテスティナリス（Ｂａｃｔｅｒｏｉｄｅｓ ｉｎｔｅｓｔｉｎａｌｉｓ）、バクテロイデス・ユニフォルミス（Ｂａｃｔｅｒｏｉｄｅｓ ｕｎｉｆｏｒｍｉｓ）、バクテロイデス・カッカエ（Ｂａｃｔｅｒｏｉｄｅｓ ｃａｃｃａｅ）、およびバクテロイデス・スターコリス（Ｂａｃｔｅｒｏｉｄｅｓ ｓｔｅｒｃｏｒｉｓ）からなる群より選択される１種以上の菌種の菌数を指標とし、スギ花粉症の罹患の有無または重症度を検査することを特徴とするスギ花粉症検査方法。例文帳に追加

The method for examining the allergy to the cedar pollen is characterized by examining the presence or absence or seriousness of the disease of the allergy to the cedar pollen on the basis of the number of one or more strains selected from the group consisting of Bacteroides fragilis, Bacteroides intestinalis, Bacteroides uniformis, Bacteroides caccae, and Bacteroides stercoris in an excrement sampled from a testee, as an index. - 特許庁