「マクロ試験」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

複数のＤＲＡＭマクロセルを搭載する論理混載メモリ集積回路等の機能試験を効率化し、その試験精度を高める。例文帳に追加

To improve efficiency of a functional test of a logic mixed memory integrated circuit or the like incorporating plural DRAM macro-cells and to improve accuracy of the test. - 特許庁

半導体集積回路におけるマクロ試験時の消費電力を削減すること。例文帳に追加

To reduce power consumption in a macro test for a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

集積回路が複数の機能マクロを内蔵する場合には、上述のように構成した上で各機能マクロの試験を同時並列的に行うようにする。例文帳に追加

For an integrated circuit containing a plurality of functional macros, the function macros are tested concurrently after constituting as described above. - 特許庁

試験が終了した試験片の数量が予め設定した数量に達すると、マクロプログラムを実行し、一時記憶領域の試験データに基づいて各種のデータ処理を行う。例文帳に追加

When the amount of test pieces on which the test is finished reach a previously set amount, the macro program is executed to carry out various data processing based on test data in the temporal storage area. - 特許庁

試験片のマクロまたはミクロの変形の測定を含め、試験片の変形特性を決定するために試験片にマークを付けて測定するための方法および装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for attaching a mark to a test piece and measuring the deformation property of the test piece to decide the deformation property of the test piece by including the measurement of the macro or micro deformation of the test piece. - 特許庁

また自己診断試験時にはメモリマクロに最適な内部クロック信号ｉＣＬＫや第２レイテンシ値情報Ｌ１でメモリマクロ１の試験を実行することができる。例文帳に追加

At self diagnostic test, the memory macro 1 can be tested with an internal clock signal iCLK and a second latency value information L1 optimal to the memory macro. - 特許庁

また、集積回路が複数の機能マクロを内蔵する場合に、試験用外部端子を少なくしてコストの削減を図るとともに、各機能マクロの試験時間の短縮を図る。例文帳に追加

Signals fixed to the logic level H or L are inputted to input terminals INm+1 to INn of a functional macro 1 in at least one test pattern. - 特許庁

電源供給支援装置１００では、試験対象回路１１０内の電源供給先としてあらかじめ分類されているグループ１〜４のうち、試験対象となる素子を含むグループを抽出することによって、マクロ試験時に正しい試験結果を得るために電源供給先を特定することができる。例文帳に追加

The power supply support device 100 allows a power supply destination to be determined in order to acquire correct test results in a macro test by extracting a group including elements to be tested from among groups 1 to 4 previously classified as power supply destinations in a circuit 110 to be tested. - 特許庁

ハードマクロ回路に対する単体検査と前記ハードマクロの周辺回路の検査とをハードマクロを含む回路に対するスキャンパス検査として、両検査を一体化して試験できる回路構成を提供する。例文帳に追加

To provide circuit constitution capable of testing integrally both signal body inspection for a hard macro circuit and inspection for a peripheral circuit in the hard macro, as scan path inspection for a circuit including the hard macro. - 特許庁

非特異的免疫試験では、ＢＡＬＢ／ｃマウスに連続６週間、試験物質の投与試験を行い、腹腔マクロファージ活性の促進、抗腫瘍細胞のホルモン分泌の調節、および血清抗体生成を促進する免疫調節機能を測定。例文帳に追加

In a nonspecific immunity test, continuation of six weeks, the administration test of the test substance to BALB/c mouse is performed, the promotion of peritoneal macrophage activity, the regulating of hormonal secretion of an antitumor cell, and the immunity regulation function which promotes serum antibody preparation are measured. - 特許庁

相手側のＩＣがＪＴＡＧに対応していなくても、その間の信号配線を試験することができるマクロセルを提供する。例文帳に追加

To provide a macro cell capable of testing a signal wiring therebetween even when an IC on an other side does not correspond with a JTAG. - 特許庁

複数の試験プログラムの実行順を指定するマクロプログラムと、それら複数の試験プログラムに対応するピン条件とをメモリ３２に記憶させる。例文帳に追加

A macroprogram for indicating the practice order of a plurality of test programs and the pin condition corresponding to a plurality of the test programs are stored in a memory 32. - 特許庁

ＣＰＵ３１は、マクロプログラムに従い、その指定順にメモリ３２から試験プログラムを読み出すとともにピン条件を設定し、パターン制御部２にその試験内容を実行させる。例文帳に追加

A CPU 31 reads the test programs from the memory 32 in the indicated order according to the macroprogram and also sets the pin condition to allow a pattern control part 2 to perform the test content thereof. - 特許庁

ＩＰマクロ１０の入力端子側の遅延試験をフリップフロップ１５とスキャンフリップフロップ１４間の遅延試験を行うことで実行する。例文帳に追加

The delay test on the input terminal side of an IP macro 10 is executed by performing the delay test between a flip-flop 15 and a scanning flip-flop 14. - 特許庁

作業者は、試験に先立って、パーソナルコンピュータを使用して、予め設定した数量の試験片ごとに処理するマクロプログラムを作成して記憶する。例文帳に追加

An operator uses the personal computer to create and store a macro program for processing by a previously set amount of test pieces prior to the test. - 特許庁

光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失をも正確に測定可能な光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for testing lateral pressure of an optical fiber capable of accurately measuring light transmission losses in periodic macro bents of the optical fiber, and an instrument therefor. - 特許庁

そのコスト上昇を招くことなく、しかもその高速動作を阻害することなく、複数のＤＲＡＭマクロセルＤＲＡＭ０〜ＤＲＡＭ７を搭載する論理混載メモリ集積回路等の試験工数を削減し、その試験精度を高める。例文帳に追加

To reduce the number of processes of a memory integrated circuit on which logics are mixedly loaded and the like incorporated in plural DRAM macro-cells DRAM0-DRAM7 without increasing the manufacturing cost and obstructing its high speed operation and to improve the accuracy of test. - 特許庁

顧客側設計回路１２の出力端子側の遅延試験及びＩＰマクロ１０の入力端子側の遅延試験が合格であれば、スキャンフリップフロップ１８、１４間の遅延に問題はないと判定する。例文帳に追加

When the delay test on the output terminal side of the customer-designed circuit 12 and that on the input terminal side of the IP macro 10 are acceptable, a delay between the scanning flip-flops 18 and 14 is determined as satisfactory. - 特許庁

半導体集積回路のマクロ間及びマクロ内の結線情報並びに使用するマクロの識別情報を含むネットリストを生成するネットリスト生成ステップ（Ｓ１２１）と、ネットリスト内の使用マクロの識別情報を基に半導体集積回路の試験パターンを生成する試験パターン生成ステップ（Ｓ１２２）とを有する半導体集積回路の設計方法が提供される。例文帳に追加

This design method for a semiconductor integrated circuit is provided with a net list creation step (S121) for creating a net list, which includes connection information between and inside macros of the semiconductor integrated circuit and identification information about the used macro, and a test pattern creation step (S122) creating a test pattern for the semiconductor integrated circuit on the basis of the identification information about the used macro inside the net list. - 特許庁

システムＬＳＩ等のように、マクロ回路として、ロジック回路及びメモリ回路を有する電子回路システムに関し、マクロ回路の試験の容易化、高速化を図る。例文帳に追加

To facilitate and quicken a test for a macro circuit, related to an electronic circuit system having a logic circuit and a memory circuit as the macro circuit like a system LSI or the like. - 特許庁

ＩＰマクロ１２の出力遅延試験及び顧客側設計回路１４の入力遅延試験が合格であれば、スキャンフリップフロップ２１、２４間の遅延はファンクションクロックＦ＿ＣＬＫで１サイクル内に収まり、スキャンフリップフロップ２１、２４間の遅延に問題はないと判定する。例文帳に追加

If the IP macro 12 and the client designed circuit 14 pass the output delay test and the input delay test, respectively, it is determined that the delay between the scan flip-flop 21, 24 is within one cycle by a function clock F_CLK and the delay between the scan flip-flop 21, 24 is not a problem. - 特許庁

培養ミクログリア細胞の産生する生理活性因子の試験方法であって、（ａ）インシュリン、（b）トランスフェリン、及び（c）マクロファージコロニー刺激因子（Ｍ−ＣＳＦ）又は顆粒細胞マクロファージコロニー刺激因子（ＧＭ−ＣＳＦ）、あるいは両者の混合物、を添加した培養液を用いることを特徴とする培養ミクログリア細胞の産生する生理活性因子の試験方法。例文帳に追加

The test method for a bioactive factor produced by a cultured microglial cell is characterized by the use of a culture liquid incorporated with (a) insulin, (b) transferrin and (c) a macrophage colony stimulating factor (M-CSF) or a granulocyte macrophage colony stimulating factor (GM-CSF) or their mixture. - 特許庁

メモリマクロと、シリアル入力インターフェースと、当該シリアル入力された信号をラッチしメモリマクロにパラレルに出力するラッチ回路とを有するデバイスに対する、当該内蔵メモリの動作試験用のテストパターンを発生するテストパターン発生装置に関する。例文帳に追加

The apparatus generates a test pattern for the operation test of the built-in memory, which is used for a device having a memory macro, a serial input interface and a latch circuit for latching signals input serially and outputting them in parallel to the memory macro. - 特許庁

ゲーテッドクロックバッファ（ＧＣＢ）の制御回路を設けることにより、機能マクロ試験時の消費電力を削減できる半導体集積回路の設計方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for designing a semiconductor integrated circuit capable of reducing power consumption in a functional macro test by providing a control circuit for a gated clock buffer (GCB). - 特許庁

通常モード時の測定結果から、試験モード時の測定結果を差し引くことにより、メモリマクロセル１０Ａ単体の正確なアクセス時間を算出することができる。例文帳に追加

An accurate access time of the memory macro-cell 10A can be calculated by subtracting a measured result at the time of a test mode from a measured result at the time of a normal mode. - 特許庁

ロジック回路とその他のマクロが混載された半導体装置において、消費電力の低減を図りながら、安定した動作を確保し、かつロジック回路の消費電流の試験を可能とする半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device in which stable operation is secured while reducing power consumption and a test of current consumption of a logic circuit can be performed, in a semiconductor device in which a logic circuit and the other macro are mix-loaded. - 特許庁

ここで特定した電源供給先にのみ電源を供給させることによって、マクロ試験時の電源供給を必要最低限に抑えることができる。例文帳に追加

By causing power to be supplied only to the supply destination determined here, power supply in a macro test can be limited to necessary minimum. - 特許庁

本発明の目的は、試験時において同時動作可能なメモリマクロ数を電源電圧変動に配慮して変更することができる半導体装置を提供することである。例文帳に追加

To provide a semiconductor device that can change the number of concurrently operable memory macros when testing in consideration of variation in a power supply voltage. - 特許庁

論理マクロからの制御による論理アドレス空間で設定される外部バスＯＢに関わらず、常に物理領域を基本単位として試験が行われ基本単位ごとに冗長救済ができる。例文帳に追加

Regardless of an external bus OB, set in a logical address space by control from a logical macro, the test is always performed with the physical area as a basic unit, thereby redundant remedial actions can be performed by each basic unit. - 特許庁

多層配線構造の中間配線層までを使用して機能動作を行うように設計された機能ブロック（ＳＲＡＭマクロ１１、ロジックブロック１２、ロジックブロック１３、ＩＰブロック１４）を搭載したマスターウェーハを使用するマスタースライス方式の半導体装置は、この中間配線層に試験用パッドＴＰを備え、この試験用パッドＴＰが、各機能ブロックに接続される。例文帳に追加

A master slice type semiconductor device using a master wafer mounted with functional blocks (an SRAM macro 11, a logic block 12, a logic block 13, and an IP block 14) designed to perform functional operations using up to the intermediate wiring layer of a multilayer wiring structure includes pads TP for test in the intermediate wiring layer, the pads TP for test being connected to the respective functional blocks. - 特許庁

リモコン性能試験を行う際、パソコン１では、波形変形データ付加手段１１により、波形変形データがリモコンコマンドに付加された場合、コマンド送信手段１２は、波形変形データが付加されたリモコンコマンドをマクロに従って繰り返しリモコン送信機２へ送信する。例文帳に追加

When a remote control performance test is conducted, and when waveform deformation data are added to a remote control command by a waveform deformation data adding means 11 at a personal computer 1, a command transmission means 12 repeatedly transmits the remote control command, to which a waveform deformation data have been added to a remote control transmitter 2 in accordance with a macro. - 特許庁

少なくとも１つ以上の試験パターンにおいて論理レベルが“Ｈ”または“Ｌ”に固定される信号が入力される機能マクロ１の入力端子ＩＮm+1 〜ＩＮn に対して、集積回路の内部で発生させた論理固定信号をセレクタＳm+1 〜Ｓn を介して選択的に供給するようにすることにより、そのような論理固定信号を入力するための外部入力端子を集積回路に設けなくても済むようにする。例文帳に追加

fixed logic signals generated in an integrated circuit are selectively fed to the input terminals INm+1 to INn through selectors Sm+1 to Sn so that the integrated circuit need not be provided with external input terminals for inputting such logic signals. - 特許庁

マクロポーラス型のイオン交換樹脂であって、水銀圧入法で測定したときの細孔容積が、前記イオン交換樹脂の乾燥重量１ｇあたり０．５ｍＬ／ｇ以上であり、水銀圧入法で測定したときの細孔半径が、０．１μｍ以上であり、かつ、イオン交換樹脂の振とう濁度試験で溶出する濁度成分が、４５ｐｐｍ以下である、ことを特徴とする、イオン交換樹脂。例文帳に追加

In the macroporous type ion exchange resin, the pore volume when measured by the mercury porosimetry is 0.5 mL/g per dry weight of 1 g of the ion exchange resin or more, the pore radius when measured by the mercury porosimetry is 0.1 μm or more and the turbidity component eluted by the shaking turbidity test of the ion exchange resin is 45 ppm or less. - 特許庁