「半導体機能ブロック」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

半導体装置は、第１および第２の機能ブロックと、第２の機能ブロックから伸びる信号線３ａとを備える。例文帳に追加

The semiconductor device comprises first and second functional blocks and a signal line 3a, which extend from the second functional block. - 特許庁

半導体集積回路１は、メモリ容量が可変のメモリ機能ブロック１１、機能ブロック１２、およびテスト用の端子群１４を備える。例文帳に追加

This semiconductor integrated circuit 1 has a memory function block 11 having a variable memory capacity, a functional block 12 and a terminal group 14 for testing. - 特許庁

複数の機能ブロックを有する半導体装置について、各機能ブロックのテストパターン数の増加を抑制する。例文帳に追加

To suppress an increase in the number of test patterns in each functional block, regarding a semiconductor device which comprises a plurality of functional blocks. - 特許庁

複数の機能ブロックを有する半導体チップを含む半導体装置において、それぞれの機能ブロックと他の半導体チップとの通信が非効率的なため、通信速度が十分に得られない。例文帳に追加

To solve the problem that a semiconductor device including a semiconductor chip having a plurality of functional blocks can not obtain a sufficient communication speed since communication between each of the functional blocks and another semiconductor chip is not efficiently made. - 特許庁

半導体集積回路装置，機能回路ブロック，メモリおよび情報処理装置例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, FUNCTIONAL CIRCUIT BLOCK, MEMORY, AND INFORMATION PROCESSOR - 特許庁

ブロックライト機能を有する半導体記憶装置とその書込み制御方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE HAVING BLOCK WRITE FUNCTION AND ITS WRITING CONTROL METHOD - 特許庁

各々の機能ブロックの消費電力を知ることができる半導体集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit allowing knowledge of power consumption of each functional block. - 特許庁

半導体集積回路100は、機能ブロック回路130、140と、スイッチングキャパシタ部150と、を搭載している。例文帳に追加

The semiconductor integrated circuit 100 is mounted with functional block circuits 130, 140 and a switching capacitor 150. - 特許庁

本発明の半導体集積回路は、機能ブロックと領域部３ｂとを具備している。例文帳に追加

The semiconductor integrated circuit includes a function block and a region part 3b. - 特許庁

半導体集積回路の機能ブロックを起動するときに発生するラッシュカレントを低減する。例文帳に追加

To reduce a rush current that is generated when initiating a function block of a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

機能ブロックの誤接続を防止できる半導体試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing device capable of preventing the erroneous connection of a function block. - 特許庁

半導体装置に混載される機能ブロックの動作特性を正確に測定可能な半導体装置およびその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device and inspection method thereof in which the operating characteristic of a function block arranged together in the semiconductor device can be precisely measured. - 特許庁

半導体集積回路装置に対する機能検証の際に機能ブロックの不具合があった場合には、機能ブロックの不具合が修正できるまで半導体集積回路装置の機能検証が中断するため、半導体集積回路の機能検証期間が増大することを防止する。例文帳に追加

To prevent a function verifying time of a semiconductor integrated circuit from increasing due to the interruption of verification of the semiconductor integrated circuit function until a failure of a function block is repaired, when the function block fails at verifying the function of the semiconductor integrated circuit. - 特許庁

半導体集積回路に含まれる機能ブロック１、機能ブロック２および機能ブロック３は、それぞれ電源ＶＤＤ１、ＶＤＤ２およびＶＤＤ３に接続され、その電圧が個別に制御される。例文帳に追加

Functional blocks 1, 2 and 3 included in a semiconductor integrated circuit are connected, respectively, with power supplies VDD1, VDD2 and VDD3 and their voltages are controlled individually. - 特許庁

複数の機能ブロックのうち１以上を選択し、当該選択した機能ブロックをリセットする半導体集積装置および半導体集積装置の制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated device for selecting one or more of a plurality of functional blocks, and resetting the selected functional block, and to provide a control method thereof. - 特許庁

機能ブロック毎にアクセスがない期間を精度よく予測し、アクセスがない期間にその機能ブロックの電源を制御する半導体装置及び半導体装置の電源制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device and a power supply control method of the semiconductor device for precisely predicting a period in which any access is not performed for each function block, and for controlling the power supply of the function block in a period in which any access is not performed. - 特許庁

機能ブロックを有する半導体集積回路において、少ないレイアウト面積でスタンバイ電流が生じている機能ブロックを簡単に特定できる半導体集積回路及びその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit with functional blocks and its test method which can identify the functional block, in which a stand-by current is generated easily with a small layout area. - 特許庁

半導体基板における各機能ブロックの配置を容易に確認することが可能で且つ機能ブロックを選択的に組み合わせ且つ分割することが可能で、各機能ブロック同士の接続の自在な組み替えが可能な半導体集積回路装置を実現できるようにする。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit device in which arrangement of each function block in a semiconductor substrate can be easily verified, the function blocks can be selectively combined and divided, and further free recombination of connection of the function blocks is enabled. - 特許庁

本発明の機能検証方法では、半導体集積回路内で要求された機能を実行することが可能な第１の機能ブロック１００ａを用意する工程と、第１の機能ブロックと実質的に同一の構成を有する検証対象となる第２の機能ブロック１００ｂを用意する工程と、第１の機能ブロック１００ａによって第２の機能ブロック１００ｂの機能を検証する工程を有している。例文帳に追加

This function verification method is provided with a process for preparing a first functional block 100a capable of operating a function required inside a semiconductor integrated circuit, a process for preparing a second functional block 100b serving as a verification object having the substantially same configuration as the first functional block, and a process for verifying the function of the second functional block 100b by the first functional block 100a. - 特許庁

半導体集積回路３の異常検出ブロック６は、第１異常通知信号がハイレベルからローレベルに変化すると、半導体集積回路３の機能ブロック５に動作を開始させる。例文帳に追加

The anomaly detecting block 6 of the semiconductor integrated circuit 3 initiates the motion of the function block 5 of the semiconductor integrated circuit 3 when the first anomaly informing signal varies from the high level to the low level. - 特許庁

半導体集積回路２の異常検出ブロック６は、半導体集積回路２の機能ブロック５に異常が発生したことを検出すると、第１異常通知信号をハイレベルからローレベルに変化させる。例文帳に追加

The anomaly detecting block 6 of the semiconductor integrated circuit 2 varies the first anomaly informing signal from a high level to a low level when it detects the occurrence of anomaly in the function block 5 of the semiconductor integrated circuit 2. - 特許庁

有効期限付き機能利用装置は、第１の機能ブロッ１クと、第２の機能ブロック２と、前記第１の機能ブロック１と前記第２の機能ブロック２との間に介在若しくは接続し、所定の時間経過後、前記第１の機能ブロック１及び前記第２の機能ブロック２間の相互アクセスを不能とする、若しくは可能にする半導体時限スイッチ３とを具備する。例文帳に追加

This time limit function utilization apparatus includes: a first function block 1; a second function block 2; and a semiconductor time switch 3 interposed or connected between the function block 1 and the function block 2, and disabling or enabling mutual access between the first function block 1 and the second function block 2 upon the lapse of a predetermined time. - 特許庁

半導体集積回路２、３は、所定の機能を実現するための機能ブロック５と、機能ブロック５をモニタリングし、機能ブロック５が正常であること又は異常が生じたことを表す異常通知信号を他の半導体集積回路に出力するための異常検出ブロック６とをそれぞれ具備する。例文帳に追加

The semiconductor integrated circuit 2 and 3 each comprise a function block 5 for realizing a specific function, and an anomaly detecting block 6 for monitoring the function block 5 and outputting an anomaly informing signal indicating that the function block 5 is normal or that anomaly occurred, to another semiconductor integrated circuit. - 特許庁

半導体集積回路１０は、所定の機能を実現する機能ブロックであるハードマクロ１２〜１８を備えている。例文帳に追加

The semiconductor integrated circuit 10 comprises hard macro cells 12-18, i.e., function blocks implementing specified functions. - 特許庁

外部メモリである不揮発性半導体メモリをテストする外部メモリＢＩＳＴ２１には、不揮発性半導体メモリ４のテストにおいて、ブロックアドレスの監視、バッドブロックアドレスの格納、ならびにテスト制御などの機能を有するバッドブロックアドレス管理テーブルが設けられている。例文帳に追加

An external memory BIST 21, which tests a nonvolatile semiconductor memory which is an external memory, is provided with a bad block address management table having a function which monitors block addresses, stores bad block addresses and perform test control in a test of nonvolatile semiconductor memory 4. - 特許庁

第一の半導体チップ１Ａに搭載された第一の回路ブロック１Ｂと第二の半導体チップ２Ａに搭載された第二の回路ブロック２Ｂの機能が同一である２つの半導体チップを、チップ表面が向き合う形に貼り合わせ接続する。例文帳に追加

A first semiconductor chip 1A and a second semiconductor chip 2A are glued together while chip surfaces face each other, and a first circuit block 1B mounted on the former and a second circuit block 2B mounted on the latter have the same function. - 特許庁

第一の回路ブロック１Ｂが不良である場合に、その回路ブロック１Ｂと同一機能で良品である第二の回路ブロック２Ｂを搭載した第二の半導体チップ２Ａを表面が向き合う形で貼り合わせ接続することで、不良の回路ブロック１Ｂを救済することができる。例文帳に追加

If the first circuit block 1B is defective, it is recovered by gluing/ connecting the second semiconductor chip 2A on which the second circuit block 2B which is sound and has the same function as the circuit block 1B is mounted to allow the surfaces to face each other. - 特許庁

半導体装置は、主電源網を含む２系統以上の電源網と、複数の機能ブロックと、その複数の機能ブロックにおける１つ以上の機能ブロックの電源供給元とする電源網を主電源網以外の電源網に切り換える切換回路とを備える。例文帳に追加

The semiconductor device comprises two or more power supply networks including a main power supply network, a pluraliry of functional blocks, and a switching circuit for switching a power supply network which is the power supply origin of the one or more functional blocks out of the plurality of the functional blocks to a power supply network other than the main power supply network. - 特許庁

半導体装置１は、機能ブロック２と、機能ブロック２に電源供給するための複数の電源端子４ａ〜４ｄと、機能ブロック２と各電源端子４ａ〜４ｄとの電気的接続を制御する複数のスイッチ３ａ〜３ｄと、を備える。例文帳に追加

The semiconductor device 1 comprises a functional block 2, a plurality of power source terminals 4a-4d for supplying power to the functional block 2, and a plurality of switches 3a-3d for controlling electrical connections between the functional block 2 and respective power source terminals 4a-4d. - 特許庁

多層配線構造の中間配線層までを使用して機能動作を行うように設計された機能ブロック（ＳＲＡＭマクロ１１、ロジックブロック１２、ロジックブロック１３、ＩＰブロック１４）を搭載したマスターウェーハを使用するマスタースライス方式の半導体装置は、この中間配線層に試験用パッドＴＰを備え、この試験用パッドＴＰが、各機能ブロックに接続される。例文帳に追加

A master slice type semiconductor device using a master wafer mounted with functional blocks (an SRAM macro 11, a logic block 12, a logic block 13, and an IP block 14) designed to perform functional operations using up to the intermediate wiring layer of a multilayer wiring structure includes pads TP for test in the intermediate wiring layer, the pads TP for test being connected to the respective functional blocks. - 特許庁

半導体集積回路の各機能回路ブロックにクロック信号を供給するクロック信号配線層４４を有する。例文帳に追加

A clock signal wiring layer 44 is provided which supplies each function circuit block of a semiconductor integrated circuit with a clock signal. - 特許庁

実施の形態の半導体集積回路は、クロック信号生成部と、クロック波形整形部と、複数の機能ブロックとを有する。例文帳に追加

A semiconductor integrated circuit of an embodiment comprises a clock signal generation part, a clock waveform shaping part and a plurality of function blocks. - 特許庁

センスアンプブロック内の各機能回路を小さい面積内に効率よくレイアウトすることのできる半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device which functional circuits in a sense amplifier block can be laid out efficiently in a small area. - 特許庁

半導体装置は、電圧降下検出回路、電流制御判定回路及び電流抑止回路を有する複数個の機能ブロックを備える。例文帳に追加

This semiconductor device is equipped with a plurality of function blocks each having a voltage drop detection circuit, a current control determination circuit and a current suppressing circuit. - 特許庁

機能ブロックに負電圧を供給する負電圧発生回路の検査時間を短縮できる半導体集積回路の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for inspecting a semiconductor integrated circuit capable of shortening the inspection time of a negative voltage generation circuit for supplying a functional block with a negative voltage. - 特許庁

機能ブロックに含まれる複数の要素の構成を判定することができる半導体集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit which can determine the configuration of a plurality of components included in a functional block. - 特許庁

ペースト材８は金属ブロック１０と半導体チップ１とを熱的にかつ機械的に接続させる機能を有する。例文帳に追加

The metal block 10 is bonded to the semiconductor chip 1 with the paste material 8. - 特許庁

半導体集積回路に設けられた任意の機能ブロックに電源を供給する電源スイッチのテストを高速化する。例文帳に追加

To increase the speed of testing a power supply switch used for supplying power to an arbitrary function block provided on a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

サブブロック毎のデータ消去回数を管理する機能を内蔵する不揮発性半導体記憶装置とこれを用いた電子装置を提供する。例文帳に追加

To provide a nonvolatile semiconductor memory device incorporating a function by which the number of times of data erasing for each subblock is controlled, and provide an electronic device using it. - 特許庁

半導体集積回路は、第１と第２の機能ブロックＭＯＤ００、０１、クロック生成回路ＰＬＬ、クロック供給回路ＣＳ０を具備する。例文帳に追加

A semiconductor integrated circuit includes first and second functional blocks MOD00, MOD01, a clock producing circuit PLL, and a clock supplying circuit CS0. - 特許庁

ＡＤコンバータとともに半導体装置に搭載される機能ブロックの動作に依存せず、ＡＤコンバータの変換精度を一定にする。例文帳に追加

To make the conversion accuracy of an AD converter constant without depending on the operation of a function block mounted on a semiconductor device together with the AD converter. - 特許庁

動作時に機能ブロックの一部をきめ細かく電源遮断し、リーク電流を削減する半導体集積回路技術を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit technology for reducing a leakage current by meticulously interrupting power of part of a function block in operations. - 特許庁

チップ上に配置される最適な機能ブロックの組合せを簡易かつ容易に選択可能な半導体設計・製造システムを提供する。例文帳に追加

To provide a designing/manufacturing system for a semiconductor device simply and easily selecting optimal combination of functional blocks to be located on a chip. - 特許庁

複数の電源端子４ａ〜４ｄは、機能ブロック２を介さなければ、半導体装置１内において互いに電気的に接続されていない。例文帳に追加

The plurality of power source terminal 4a-4d electrically connect each other in the semiconductor device 1 only with the functional block 2 interposing. - 特許庁

各素子配置領域１１の内部には、半導体素子とローカル配線とから構成される機能ブロック１３が配置されている。例文帳に追加

A functional block 13, which is constituted of a semiconductor elment and a local wiring, is arrayed in the interior of each region 11. - 特許庁