「吸着テスト」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

テスト時には、ＬＳＩ搬送機１が被試験ＬＳＩ２を吸着してＬＳＩソケット３まで運搬しＬＳＩソケット３に装着する。例文帳に追加

At the time of testing, an LSI conveyer 1 chucks the LSI 2 to be tested to carry it to the LSI socket 3 and attaches it to the LSI socket 3. - 特許庁

被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。例文帳に追加

To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head. - 特許庁

この部品試験装置１の制御手段は、第１部品認識カメラ６５により撮像した部品画像から該部品の吸着状態を調べ、この吸着状態を加味して部品をテストヘッド４に位置決めするようにヘッド４８，５２を制御する。例文帳に追加

A control means of the camera 65 checks the state of suction of the component from an image of the component imaged by the camera 65, and controls the heads 48 and 52, so as to position the component at the test head 4 by coupled with state of suction. - 特許庁

テスタヘッド２０上にマザーボード１０を搭載し、このマザーボード１０にテスト対象のＬＳＩ１を搭載して排気管２３に接続した真空ポンプを作動させると、マザーボード１０がテスタヘッド２０に吸着されると共に、このマザーボード１０にＬＳＩ１が吸着される。例文帳に追加

When the mother board 10 is loaded on the tester head 20, and the test object LSI 1 is loaded on the mother board 10, and a vacuum pump connected to the discharge tube 23 is operated, the mother board 10 is adsorbed to the tester head 20, and the LSI 1 is adsorbed to the mother board 10. - 特許庁

ベルト３３にテストパターンを形成する代わりに記録紙１６上にテストパターンを形成し、該テストパターンを吸着ベルト搬送部とは別に設けられたテストパターン読取部によって読み取り、その読取結果から記録紙１６の速度変動データを求めて記憶しておく態様も可能である。例文帳に追加

Another embodiment is possible in which a test pattern is formed on a recording paper 16 instead of forming a test pattern on the belt 33; the test pattern is read by a test pattern-reading section provided separately from an adsorption belt conveyance section; and the speed variation data of the recording paper 16 is determined from the reading result for storing. - 特許庁

本体内に取り外し可能に装着され、被処理穀粒、水及び吸着材を収容する加工容器６，７と、加工容器内に収容された内容物を撹拌する撹拌部１４と、撹拌部１４の動作を制御する撹拌制御部１０と、加工容器６，７に収容された吸着材を回収する吸着材回収容器５と、を備えたテスト用無洗米製造装置。例文帳に追加

The washing-unrequired rice producing device for testing includes: processing containers 6, 7 which are removably mounted in a body and accommodate grains to be treated, water and adsorbents; a stirring part 14 which stirs the contents accommodated in the processing containers; a stirring-controlling part 10 which controls the operation of the stirring part 14; and an adsorbent-recovering container 5 which recovers the adsorbents accommodated in the processing containers 6,7. - 特許庁

電気テストユニットＥの前工程を終えた電子部品Ｗが、電気テストユニットＥを構成するコンタクトＣの垂直軸上に位置し停止し、吸着ノズルＶ１に保持された電子部品ＷがコンタクトＣの直上に位置する。例文帳に追加

An electronic component W having completed a preceding process of an electric test unit E is positioned on a vertical axis of a contact C constituting the electric test unit E and stopped there, and the electronic component W held by a suction nozzle V1 is positioned right above the contact C. - 特許庁

処理された炭化水素ストリームは銅ストリップテストを合格するポイントまで吸着床６により精製され、一方、精製された塩基性ストリームに含まれる単体の硫黄は０．０８ｇ／ｌ以下である。例文帳に追加

The treated hydrocarbon stream is purified with an adsorption bed 6 until a point of passing a copper strip test, and meanwhile, the purified basic stream contains ≤0.08 g/l elementary sulfur. - 特許庁

エンドトキシン吸着材の性能試験において、エンドトキシンとして化学合成されたリピドＡおよび／または化学合成されたリピドＡ誘導体を評価系を構築しリムルステストにて測定する。例文帳に追加

In the performance test of the endotoxin adsorbent, the evaluation system is constructed, and measures a lipid A chemically constituting as the endotoxin and/or a lipid A derivative chemically constituted by using a limulus test. - 特許庁

カム板を交替せずに、半導体素子を吸着するピッカヘッド間の間隔を任意の所望の間隔に調節することができる半導体素子テストハンドラの素子搬送装置を提供する。例文帳に追加

To provide an element carrier device of semiconductor element test handler, capable of adjusting the spacing between picker heads that suctions a semiconductor elements to the desired spacing. - 特許庁

ガイドブロック固定プレート７０は真空吸着器の下方に一定間隔離隔されると同時に、テストトレイ１１０の上方に一定間隔離隔配置される。例文帳に追加

The guide block fixing plate 70 is separated a predetermined interval below the vacuum sucker and separately arranged a predetermined interval above the test tray 110. - 特許庁

Ｘ軸及びＹ軸光出射装置３１ａ，３２ａからテストソケットの上方位置に出射するライン状のビームに対して電子部品と吸着ノズルを、同ビームを遮るように下降させる。例文帳に追加

An electronic component and a sucking nozzle are so lowered as to screen thereby the line-form beams emitted from X- and Y-axis light emitting devices 31a, 32a to an upper position of a test socket. - 特許庁

ＬＳＩ搬送部１１は、トレー１２上から被検査ＬＳＩ１をピックアップする吸着ヘッド１３と、被検査ＬＳＩをテストカード２２上のコンタクトシートに搭載して加圧する搬送ロボット１４を有する。例文帳に追加

An LSI carrying part 11 has a sucking head 13 for picking up the inspection object LSI 1 from above a tray 12, and a carrying robot 14 for pressurizing the inspection object LSI by mounting it on a contact sheet of a test card 22. - 特許庁

表面が超平滑の磁気ディスクにおいても安定的なグライドハイトテストを実現でき、ディスクと吸着し難く、浮上量が正確に測定できるグライドヘッドを得る。例文帳に追加

To provide a glide head capable of realizing a stable glide height test even in a magnetic disk whose surface is ultra smooth, being not easily attracted with the disk and accurately measuring a floating amount. - 特許庁

一対のインデクサ４０Ａ，４０Ｂのヘッド４８，５２（搬送手段）により部品供給装置４１Ａの部品受け渡し位置から部品を吸着してテストヘッドに位置決めするように部品試験装置１を構成した。例文帳に追加

This component tester 1 is constructed, so that the component is sucked at the component transfer position of a component supply device 41A and positioned at the test head by heads 48 and 52 (conveying means) of a pair of indexers 40A and 40B. - 特許庁

部品受渡し位置Ｐ２に供給される２つの部品を第１搬送用ヘッド４２Ａの２つのノズル部材６０ａ，間６０ｂにより吸着してテストヘッド４に搬送し同時に位置決めする。例文帳に追加

A first transporting head 42A transports two components sucked by its two nozzles 60a, 60b to a test head 4, and positions the components to be fed to a component transfer position P2. - 特許庁

光電変換素子７１は、可動台２２の回動前に保持部１３で吸着され、測定部６のテストフィクスチャ１５に直接載せることができるため、高精度な特性測定が可能となる。例文帳に追加

The photoelectric converting element 71 is sucked by a holding part 13 before rotating the movable table 22, and can be directly loaded on a test fixture 15 of the measuring part 6, so that the characteristic measurement can be performed with high accuracy. - 特許庁

本体部６０と、該本体部と分離設置され真空吸着器に取付けられたデバイス１０９をテストトレイのそれぞれのポケットに正確に安着されるよう案内するガイドブロック固定プレート７０とを備える。例文帳に追加

The device loading device is provided with a body part 60 and a guide block fixing plate 70 installed separately from the body part and guiding devices 109 attached to a vacuum sucker so that they are accurately placed safely in each pocket of a test tray. - 特許庁

コンクリート構造物３に中空円筒形状をしたコアカッター５を圧入することで、コンクリート構造物３からテストピースとなるコンクリートコアを採取するコンクリートコア採取装置１であって、コンクリートコアの採取時に前記コンクリート構造物３に対してコンクリートコア採取装置１を吸着させておく吸着手段３０を有する。例文帳に追加

The concrete core sampling device 1 is to obtain a concrete core used as a test piece from a concrete structure 3 by pressing a hollow-annular core cutter 5 into the concrete structure 3, and comprises a suction means 30 to stick the concrete core sampling device 1 to the concrete structure 3 when obtaining a concrete core. - 特許庁

各搬送ロボット２０ａ，２０ｂはスカラ型ロボットからなり、各搬送ロボット２０ａ，２０ｂのアーム先端に搭載されたノズル部材により部品を吸着した状態で各トレイＴｒ〜テストヘッド４間の部品搬送をダイレクトに行う。例文帳に追加

The respective conveying robots 20a, 20b are formed of a scalar type robot, whereby parts conveyance between each tray Tr and the test head 4 is directly performed in the condition where the parts are sucked by nozzle members carried on the tips of the arms of the conveying robots 20a, 20b. - 特許庁

本発明にかかる電子部品実装装置（１０）が、部品搭載位置（３１）を認識するため電子部品実装装置本体に配設される基準マーク（１６）を第１撮像手段（４０）により撮像し、ノズル（１２）が吸着したテスト用電子部品（２０）を第２撮像手段（５０）により撮像する。例文帳に追加

The electronic component mounting apparatus (10) images a reference mark (16) arranged on an electronic component mounting apparatus body for recognizing a component mounting position (31) by a first imaging means (40), and images an electronic component (20) for testing, absorbed by a nozzle (12) by a second imaging means (50). - 特許庁

この保持具は断面コ字状をしており、真空吸着等の手段によってウェハ２を載置したウェハトレイとテストカード（又はカード保持体）とを密着した周縁部に数個所、該保持具を横から挿入することによって装着する。例文帳に追加

The holder 7 is U-shaped in cross-section which is attached, by inserting sideways, to a peripheral part where the wafer tray on which a wafer 2 is placed is fitted tightly to the test card (or the card holder) by a means such as vacuum-chucking at several points. - 特許庁

テストプローブ装置６０のプローブカード５８のプローブチップ５６に吸着されているパーティクル５４を洗浄するためのプローブ洗浄装置４８は、隆起した表面を有するシリコンウェーハ５０を含み、圧力が加えられた状態でプローブチップ５６を接触させる。例文帳に追加

This probe cleaning device 48 for cleaning particles 54 attached to a probe tip 56 of a probe card 58 of a test probe device 60 includes a silicon wafer 50 having a ridged surface, and is brought into contact with the probe tip 56 in the pressurized state. - 特許庁

さらに、部品受渡し位置Ｐ２において吸着した各部品を画像認識し、この認識結果に基づいてテストヘッドの予め定められた位置に各部品を同時に位置決めすべくノズル部材等を動作制御する制御手段を備えている。例文帳に追加

A means is provided for controlling the operation of the nozzles, etc., so as to recognize the images of the components sucked at the component transfer position P2 and position the components at predetermined positions on the test head at once, based on the recognition result. - 特許庁