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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 均磨に関連した英語例文

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均磨の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1183



例文

凹面状の被研面を一に鏡面研する研方法および研装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a polishing method and a polishing device uniformly specular polishing a concave surface to be polished. - 特許庁

液を用いて研を行う際の被研面の研液の不一分布を解決し、研量の一性がよく、平坦性のよい研が実現できる研方法及び研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing method and a polishing device which can realize a polishing with an even polishing amount and a good flatness, by preventing the uneven distribution of a polishing liquid on a polished surface, when the polishing is carried out by using a polishing liquid. - 特許庁

ウエーハの裏面を一の厚さに研できるとともに一に耗する研パッドを有する研ホイールを提供することである。例文帳に追加

To provide a polishing wheel having a polishing pad which polishes the rear surface of a wafer to a uniform thickness, and which is uniformly worn. - 特許庁

加工時の圧縮で被研物に対する応力が等化される。例文帳に追加

Stress to the object to be ground is equalized by compression in grinding. - 特許庁

例文

液3をウエハー等の被研材1の被研面に供給して砥石等の研材2により研を行う際、送風により被研面の研液の分布を一にして研を行う研方法。例文帳に追加

When the polishing is carried out by an abrasive material 2 such as a grinding wheel, by feeding a polishing liquid 3 to the polished surface of a polished material 1 such as a wafer, the polishing is carried out by making even the distribution of the polishing liquid on the polished surface by an air blasting. - 特許庁


例文

多数の被研物を個体差に寄らず一に研できると共に、被研物を精密に研できるバレル研装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a barrel polishing device precisely polishing polishing objects, by uniformly polishing a large number of polishing objects regardless of an individual difference. - 特許庁

面に溝が形成された研パッドを用いた場合でも一にワークの被研面が研される研方法を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing method capable of evenly polishing a face to be polished of a work even when using a polishing pad with a groove formed in a polishing face. - 特許庁

被研板1の研面の周辺領域で小さくなる研速度を大きくし、研面の研速度の面内一性を向上する。例文帳に追加

To improve uniformity of polishing speed in the surface of a plate 1 to be polished by increasing the polishing speed which decreases in the peripheral region of the surface. - 特許庁

一性の高い研および高速研を可能とする研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing apparatus which can perform a highly uniform polishing operation and a high speed polishing operation. - 特許庁

例文

高い研一度を有するウェーハ研装置及びウェーハ研方法を提供する。例文帳に追加

To provide a wafer-polishing apparatus having a high degree of uniformity of polishing, and to provide a wafer-polishing method. - 特許庁

例文

優れた研レートの面内一性が得られる研装置及び研方法を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing apparatus and method which can obtain an in-plane uniformity with an excellent polishing rate. - 特許庁

被研対象物の被研面における研中の圧力分布を一化し、被研面全面において一に研可能な研装置および研方法を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing device and a polishing method for making uniform distribution of pressure in the process of polishing on the surface to be polished of an object to be polished so that the whole surface of the surface to be polished can be uniformly polished. - 特許庁

液を被研材の被研面に供給して研材により研を行う研装置であって、被研面の研液の分布を一にする送風手段7(送風口)を設ける。例文帳に追加

In this polishing device to polish by a polishing material by feeding the polishing liquid to the polished surface of the polished material, an air blasting means 7 (a blower tube) to make the distribution of the polishing liquid on the polished surface even, is provided. - 特許庁

被研面の研痕を抑制し、且つ、被研面全体に亘り研量を一化することができる研布、並びに、該研布を用いたウェーハの片面研方法および片面研装置の提供。例文帳に追加

To provide an abrasive cloth suppressing a polishing trace on a polished surface and equalizing the amount of polishing over the entire polished surface; and method and device for polishing a single side of a wafer by using the abrasive cloth. - 特許庁

被研物と接触させて、被研物を研する研層21を有し、その研層21は領域ごとに密度が異なる研パッド1を用いることによって、被研物全面において研レートを一にすることができる。例文帳に追加

It is possible to polish the overall surface of a grinding article uniformly at a polishing rate by using the polishing pad 1 having a polishing layer 21 to polish the polishing article by making it contact with the polishing article and density of which is different in each region. - 特許庁

靴踵の左右のり減り具合を一にする靴例文帳に追加

SHOES FOR UNIFORMING ABRASION OF RIGHT AND LEFT SHOE HEELS - 特許庁

加工時にスラリの分散状態が一化される。例文帳に追加

The dispersed state of slurry is unified during the polishing. - 特許庁

長尺なワークの研を短時間で一に行なう。例文帳に追加

To polish a long stretching work uniformly in a short time. - 特許庁

パチンコ玉の表面を等に研可能とする。例文帳に追加

To provide an upward feeding type polishing machine capable of uniformly polishing the surfaces of pachinko game balls. - 特許庁

CMPで発生する、不一研を防止する。例文帳に追加

To prevent the uneven polishing generated in CMP. - 特許庁

パッドの研面が平坦でなくても、ドレッサーが研パッドの研面を一に押圧できるようにする。例文帳に追加

To uniformly press the polishing surface of a polishing pad by a dresser even when the polishing surface of the polishing pad is not flat. - 特許庁

ウェハを研する際に、高研速度でウェハ面内での一性の高い研が可能な化学的機械的研方法を提供する。例文帳に追加

To provide a chemical mechanical polishing method which can perform polishing with high uniformity in the wafer plan at a high polishing speed when the wafer is polished. - 特許庁

被研される球体が表面等に研され、高い精度で表面を研できるボール研装置を可能にすること。例文帳に追加

To provide a ball polishing device capable of polishing a spherical body uniformly on its surface and polishing the surface in high precision. - 特許庁

液を研対象物の被研面に一かつ効率的に供給することができる研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing apparatus which can supply a polishing solution uniformly and sufficiently to a surface to be polished of a polishing object. - 特許庁

対象面を上向き姿勢で研加工する研装置において、パッドスクレーピングの発生を抑止し研レートの不一性を改善する。例文帳に追加

To improve unevenness of a polishing rate by restraining generation of pad scraping in a polishing device for polishing a polishing target surface at an upward posture. - 特許庁

高い研力で、研対象物の表面全体を一に研できる研装置及び方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a polishing device and a polishing method evenly polishing the whole of a surface of an object to be polished with the high polishing force. - 特許庁

被研物を研パッドに押圧して研する際に、メンブレンの膨張を最小限に抑え、研の面内一性を向上させること。例文帳に追加

To suppress expansion of a membrane to the minimum extent and improve uniformity in a plane of polishing when pressing an object to be polished against a polishing pad and polishing it. - 特許庁

被研基板に対する研の面内一性を向上させた研方法および研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing method and device of improving polishing in-plane uniformity in relation to a substrate to be polished. - 特許庁

液の使用効率を向上させ、さらに半導体ウエハを一かつ良好に研することができる研装置および研方法を提供する。例文帳に追加

To provide a poliching device and a method capable of improving the application efficiency of a polishing solution and uniformly and effectively polishing a semiconductor wafer. - 特許庁

被研材や保持フィルムの厚みバラツキを吸収して面内一な研を行うことが可能な研ヘッド及び研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a grinding head and a grinding apparatus which can achieve the in-plane uniform grinding by absorbing the dispersion in thickness of a work and a holding film. - 特許庁

速度を増大させて研一性を向上させる温度制御研ヘッドを有する化学機械研システムを提供する。例文帳に追加

To provide a chemical-mechanical polishing system with a temperature-controlled polishing head increasing a polishing speed to improve polishing uniformity. - 特許庁

被研物を全面に亘って一に研することができると共に、研装置を安価に製作することができる研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing device capable of uniformly polishing a polished article all over its surface and to manufacture at low cost. - 特許庁

速度が高く、且つ面内一性に優れた被研面を与える化学機械研用研パッドを提供する。例文帳に追加

To provide a polishing pad for chemicomechanical polishing which is high in polishing speed provides a polished surface excellent in surface uniformity. - 特許庁

何れかの被研物の研部との相対距離にずれがあっても、全ての被研物を等に研すること。例文帳に追加

To polish all workpieces evenly even if a relative distance of any workpiece to a polishing part has a deviation. - 特許庁

被研面と研パッドとの間に研スラリーが適切に保持されて、研スラリーの余分な消費がなく、被研面内での研レートを一にできるCMP用研パッドを提供すること。例文帳に追加

To provide a polishing pad for a CMP in which polishing slurry is held suitably between a surface to be polished and the polishing pad, and which can obtain a polishing rate in the surface to be polished uniformly without the excess consumption of the polishing slurry. - 特許庁

被研材の被研面内における研量の一化を図ることができる研布、この研布が取り付けられた研装置およびこの研装置を利用した半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing cloth unify the polishing quantity within a surface to be polished of a work to be polished, a polishing device mounted with the polishing cloth thereon, and a manufacturing method of a semiconductor device making use of the polishing device. - 特許庁

本発明は、研速度が高く、被研面の平坦性(被研面における研量の面内一性)に優れ、かつ、スクラッチの少ない化学機械研パッドおよび該研パッドを用いた化学機械研方法を提供する。例文帳に追加

To provide a chemical mechanical polishing pad which enables a fast polishing speed and superior flatness (in-surface uniformity in polishing amount of a surface to be polished) of the surface to be polished, and makes less scratches. - 特許庁

速度、被研面のスクラッチおよび被研面の面内一性に優れ、多数の被研体を連続研する場合でも安定した研速度を示す利点を有する化学機械研パッドを提供する。例文帳に追加

To provide a chemical mechanical polishing pad excellent in polishing speed, scratches of a surface to be polished, and in-plane uniformity of a surface to be polished, and exhibiting stabilized polishing speed even when continuously polishing a number of bodies to be polished. - 特許庁

被加工物の研面への研剤の一で安定した供給を行うことができ、研剤の外部への飛散を減少でき、研熱量の発生を抑えることができ、被加工物の研面を一且つ平坦に研できる研方法及び研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing method and device for uniformly and stably supplying abrasive to the polished surface of a workpiece, reducing the splash of the abrasive to outside, suppressing the occurrence of polishing heat quantity, and uniformly and flatly polishing the polished surface of the workpiece. - 特許庁

被研物の研に用いられる研パッドにおいて、研に用いられる研スラリー中の砥粒の研後の平粒径を研前の平粒径の1.5倍以下に調整可能で、かつ表面D硬度が65度以上であることを特徴とする研パッド。例文帳に追加

This polishing pad, which is used to polish an object, is characterized in that the average grain size, after polishing, of the abrasive grains in the abrasive slurry used for the polishing can be adjusted to 1.5 times the average grain size or smaller before polishing and the surface D hardness is 65 degrees or higher. - 特許庁

結果、研時のウェーハWの研面内の温度が一化し、研面内の研レートが一となり、ウェーハWの研面の平坦度が高まる。例文帳に追加

Consequently, the temperature becomes uniform in the polishing surface of the wafer W at the time of polishing, the polishing rate is made uniform in the polishing surface and the flatness of the polished surface of the wafer W is enhanced. - 特許庁

時の半導体ウェーハの研面内の温度を一化し、この研面内の研レートを一定化して、高平坦度ウェーハを得る半導体ウェーハの研温度一化制御方法およびその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and equipment for controlling the polishing temperature of a semiconductor wafer uniformly in which a high flatness wafer can be obtained by making the temperature uniform in the polishing surface of a semiconductor wafer at the time of polishing and making the polishing rate uniform in the polishing surface. - 特許庁

対象物の被研面への薬液の一な供給と研対象物の面内における研速度の一性を両立することができる研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing device capable of compatibly establishing uniform supply of chemical liquid to a surface to be polished of a polishing object and uniformity of polishing speed within the surface of the polishing object. - 特許庁

被研物の後面に加わる圧力をウエハーの全体面にわたって等に作用させ被研物の研厚さを一にする研装置及び研方法を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing device for evenly allowing the pressure applied on the back surface of a polishing article to act over the entire surface of a wafer, thereby making polishing thickness of the polishing article even. - 特許庁

対象物の被研面への薬液の一な供給と研対象物の面内における研速度の一性を両立することができる研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a polishing apparatus for coping with both of the uniform supply of a medicinal solution to a surface to be polished in a target to be polished and uniformity in a polishing speed within the surface of the target to be polished. - 特許庁

小型で簡便でありつつ、一な研を行えるステント研装置を提供する。例文帳に追加

To provide a stent polishing device downsized, convenient and capable of uniformly polishing. - 特許庁

パチンコ玉の全周を一に研することができる玉研レールを提供する。例文帳に追加

To provide a ball polishing rail which enables polishing of pachinko balls evenly on the overall circumference thereof. - 特許庁

工具の姿勢変化等を防ぎ、一な圧力分布で高精度な研を行なう。例文帳に追加

To perform a high accuracy polishing with a uniform pressure distribution by preventing a polishing tool from an attitude change etc. - 特許庁

被吸着体の一な研を実現することができる研用真空チャックを提供する。例文帳に追加

To provide a vacuum chuck for grinding/polishing, realizing uniform polishing of a sucked body. - 特許庁

例文

被吸着体の一な研を実現することができる研削・研用真空チャックを提供する。例文帳に追加

To provide a vacuum chuck for grinding/polishing, realizing uniform polishing of a sucked body. - 特許庁

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