「多層解析」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

多層地盤の沈下・応力・許容応力度解析法例文帳に追加

ANALYSIS METHOD FOR SETTLEMENT / STRESS / ALLOWABLE UNIT STRESS OF MULTILAYER GROUND - 特許庁

種々の有機多層薄膜材料の構造を解析可能な有機多層薄膜材料の構造解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a structural analysis method of an organic multi-layered thin film material in which structures of various organic multi-layered thin film materials are analyzed. - 特許庁

多層配線装置および配線方法並びに配線特性解析・予測方法例文帳に追加

MULTILAYER WIRING APPARATUS, WIRING METHOD AND WIRING CHARACTERISTICS ANALYZING/ESTIMATING METHOD - 特許庁

密度不均一多層膜解析方法ならびにその装置およびシステム例文帳に追加

METHOD, APPARATUS, AND SYSTEM FOR ANALYZING MULTILAYER FILM HAVING NONUNIFORM DENSITY - 特許庁

心臓医療及び患者監視データ解析のための多層式システム例文帳に追加

MULTI-TIER SYSTEM FOR CARDIOLOGY AND PATIENT MONITORING DATA ANALYSIS - 特許庁

波長依存性を有する多層膜試料の膜厚をより高い精度を測定することが可能な多層膜解析装置および多層膜解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a multilayer film analyzer and a multilayer film analyzing method capable of measuring the thickness of a multilayer film sample having wavelength dependence with higher accuracy. - 特許庁

一般化された等価換算厚と等価弾性係数を用いた多層地盤の沈下・応力解析法例文帳に追加

SUBSIDENCE OR SETTLEMENT/STRESS ANALYSIS METHOD OF MULTILAYER SUBSTRATE USING EQUIVALENT CONVERSION THICKNESS AND EQUIVALENT ELASTIC MODULUS WHICH WERE GENERALIZED - 特許庁

金属多層膜のＸ線反射率プロファイル解析方法及び記憶媒体例文帳に追加

ANALYTICAL METHOD FOR X-RAY REFLECTANCE PROFILE OF METAL MULTILAYER FILM, AND STORAGE MEDIUM - 特許庁

より正確な多層基板の反り解析を行うことができる技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technique capable of further accurately analyzing warp of a multilayer substrate. - 特許庁

多層溶接時の被溶接体の物理量の数値解析に要する時間を短縮する。例文帳に追加

To shorten a time required for the numerical analysis of the physical quantity of a welded body in the case of multi-layer welding. - 特許庁

多層導体構造体およびその解析方法ならびに共振制御方法例文帳に追加

MULTI-LAYER CONDUCTOR STRUCTURAL BODY AND METHOD FOR ANALYZING THE SAME AND RESONANCE CONTROL METHOD - 特許庁

任意積層数多層材料・多層薄膜及び傾斜機能材料の熱応答解析を容易に且つ正確に行うことができるようにする。例文帳に追加

To perform easily and accurately thermal response analysis of a multilayered material having an optional number of lamination, a multilayered thin film and an inclination function material. - 特許庁

分光エリプソメータを用いた有機エレクトロルミネッセンス素子に用いられる有機物質の解析方法、複合膜の解析方法及び多層膜の解析方法例文帳に追加

ANALYSIS METHOD OF ORGANIC MATERIAL USED FOR ORGANIC ELECTROLUMINESCENCE ELEMENT, ANALYSIS METHOD OF COMPOSITE FILM AND ANALYSIS METHOD OF MULTILAYER FILM USING SPECTRAL ELLIPSOMETER - 特許庁

二層地盤におけるBarberの方法を多層地盤に一般化した等価換算厚理論を、多層地盤の鉛直応力解析において適用し、応力分散幅を用いた解析方法を提案する。例文帳に追加

An equivalent conversion thickness theory provided by generalizing a Barber method for a two-layer ground to a method for the multi-layer ground is adopted to a vertical stress analysis for the multi-layer ground to provide an analysis method using stress distribution width. - 特許庁

これにより、染色可能な有機多層薄膜，染色不可能な有機多層薄膜，極微量の金属元素が含有された有機多層薄膜，同じ化学構造を有するが密度差がある有機多層薄膜等、種々の有機多層薄膜材料の構造を解析することができる。例文帳に追加

By this, structures of various organic multi-layered thin film materials such as a stainable organic multi-layered thin film, an unstainable organic multi-layered thin film, the organic multi-layered thin film containing a minute amount of metal element, and the organic multi-layered thin film having the same chemical structure but a difference in the density are analyzed. - 特許庁

一般化等価換算厚・等価弾性係数を用いた多層地盤上のパイルドラフト基礎の沈下・応力解析法例文帳に追加

SINKING-STRESS ANALYSIS METHOD OF PILE DRAFT FOUNDATION ON MULTILAYERED GROUND USING GENERALIZATION EQUIVALENT CONVERSION THICKNESS-EQUIVALENT ELASTIC MODULUS - 特許庁

ハイブリッド弾性理論による多層地盤内の水平力を受ける杭基礎及びパイルドラフト基礎に関する変形解析法例文帳に追加

DEFORMATION ANALYSIS METHOD ASSOCIATED WITH PILE FOUNDATION AND PILE DRAFT FOUNDATION FOR BEARING HORIZONTAL FORCE IN MULTILAYERED GROUND, BASED ON HYBRID ELASTIC THEORY - 特許庁

一般化等価弾性法による多層地盤上の群杭基礎及びパイルドラフト基礎の沈下解析法例文帳に追加

METHOD OF ANALYZING SETTLEMENT OF GROUP PILE FOUNDATION AND PILE DRAFT FOUNDATION ON MULTILAYERED GROUND BY USING GENERALIZED EQUIVALENT ELASTICITY METHOD - 特許庁

多層地盤における群杭基礎およびパイルドラフト基礎の沈下に関する新たな解析法を提案する。例文帳に追加

There is proposed a new analyzing method relating to the settlement of a group pile foundation and a pile draft foundation in the multilayered ground. - 特許庁

半導体プロセスの微細化、多層配線化に伴って、困難となってきた半導体デバイスの故障個所の解析を容易に行える故障個所解析装置及びその方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device and a method, capable of easily performing the analysis of the defective portion of a semiconductor device which becomes difficult according to the microfabrication of a semiconductor process and multi-layer wiring. - 特許庁

多層回路基板など被対象物内部の３次元位置で実働状態でのＥＭＩ電流を計算し、解析することを可能にするＥＭＩ電流解析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an EMI current analyzer for calculating and analyzing an EMI current in an actual operating condition at a three-dimensional position inside a target, such as a multilayer circuit board. - 特許庁

単層膜または多層膜からなる膜試料の構造をＸ線反射率測定法により解析する膜構造解析方法において、同一の膜試料を分解能およびダイナミックレンジのうちの少なくともいずれかの条件が異なる測定条件により測定した複数の測定データを同時に解析することにより膜構造を決定することを特徴とする膜構造解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a film structure analyzing method constituted so as to analyze the structure of a film structure comprising a single-layer film or a multilayered film and analyzing a plurality of measuring data, which is obtained by measuring the same film sample under a measuring condition different in at least either one of resolving power and a dynamic range, at the same time to determinate the film structure. - 特許庁

モデル化する際のメッシュサイズをヴィアの大きさに合わせなくとも、多層回路基板の電圧や電流、インピーダンスを求めることができる多層回路基板の電気特性解析システムを提供する。例文帳に追加

To provide an electrical property analysis system of a multilayer circuit substrate capable of obtaining the voltage, current and impedance of the multilayer circuit substrate even when the mesh size in modeling does not meet the size of a via. - 特許庁

多層配線基板及び多層配線基板の試験方法に関し、目視を伴った破壊解析を要することなく欠陥識別パターンの評価を精度良く行う。例文帳に追加

To highly accurately evaluate a defect identification pattern without requiring any destructive analysis involving visual check with regard to a multilayer wiring board and its test method. - 特許庁

多層配線基板上にＰｏＰのような三次元実装部品が実装された多層配線基板の機械特性を解析する際に、モデル生成処理時間の削減を目的とする。例文帳に追加

To reduce, when analyzing mechanical characteristics of a multi-layered mounting board on which a 3D mounting component such as a PoP is mounted, the time taken to generate a model. - 特許庁

磁気ヘッドなどに用いられる金属多層膜の構造評価に有効な、金属多層膜のＸ線反射率プロファイルの新しい解析法を提供する。例文帳に追加

To provide such a new analytical method for the X-ray reflectance profile of a metal multilayer film, that is effective in evaluating the structure of the metal multilayer film which is used for a magnetic head or the like. - 特許庁

円筒形状に形成された多層構造の透過性の膜のミクロン単位の膜構造解析をおこなうため、試料の深さ方向解析に必要な情報を含んだ微弱なラマン散乱光を取得しつつ、膜の界面位置情報を含んだレイリー光を精度良く取得する。例文帳に追加

To precisely acquire, for the purpose of analyzing in the order of microns the structure of a multi-layered permeable membrane formed in a cylindrical shape, Rayleigh light containing information on the interfacial position of the membrane while acquiring faint Raman scattered light containing information required for analyzing the sample in the depthwise direction. - 特許庁

導体を分割することなく共振周波数を制御し、高速なシミュレーションが可能なように、節点数が少ない等価回路で解析することができる多層導体構造およびその解析方法ならびに共振制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide a multi-layer conductor structure and a method for analyzing it and a resonance control method for controlling the resonance frequency, without dividing a conductor, and for analyzing the multi-layer conductor structure by an equivalent circuit, where the number of nodes is small in order to realize high-speed simulation. - 特許庁

多層構造の回路基板の電源導体等によるノイズ解析用のモデル作成方法として、当該回路基板に設けられるビア逃げ穴の形状を反映した解析結果が得られるモデルの作成を可能とするモデル作成方法を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a model creation method capable of creating a model for obtaining an analysis result, on which the shape of a via clearance hole provided on a circuit board is reflected, as the model creation method for analysis of noise caused by a power supply conductor or the like of a multilayer circuit board. - 特許庁

被溶接体１０１の溶接線１０５に沿って熱源を複数回移動させて複数の溶接パスで多層溶接したときの、被溶接体１０１の残留応力などの物理量を、現象を支配する微分方程式などを数値解析によって解く被溶接体物理量の解析方法である。例文帳に追加

This method for analyzing welded object physical quantity is provided to calculate the physical quantity such as the residual stress of the welded body 101 when a thermal source is moved several number of times along a weld line 105 of the welded body 101, and multi-layer welded by a plurality of weld paths by numerical analysis such as a differential equation governing a phenomenon. - 特許庁

複数個のプレーン対がヴィアを介して結合されて構成された多層プリント回路基板の電源系の回路解析において、ヴィア部等価回路モデルを効率よく高速に作製し、各プレーン対等価回路モデルとヴィア部等価回路モデルを結合した多層プリント回路基板全体の等価回路モデルの電源系の回路解析を高速に行えるようにする。例文帳に追加

To manufacture a via-part equivalent circuit model with efficiency and at high speed for the circuit analysis of the power system of a multilayer printed circuit board comprising a plurality of plane pairs connected together through vias and to quickly achieve circuit analysis for the power system of the equivalent circuit models of the entire multilayer printed circuit board where each plane-pair equivalent circuit model is connected to a via-part equivalent circuit model. - 特許庁

多層プリント配線基板の完成品の断面解析を行わず、絶縁層の除去方法の種類を問わずに、多層プリント配線基板の層間接続を簡便且つ精確に検査可能な電子部品内蔵基板、その製造方法、及びその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an electronic component built-in substrate, along with a manufacturing method thereof and an inspection method therefor, capable of readily and accurately inspecting an interlayer connection of a multilayer printed wiring board, regardless of the kind of removing method of insulating layer, without having to carry out cross-section analysis of a finished product of the multilayer printed wiring board. - 特許庁

多層構造を有する半導体デバイスの製造プロセスで、各層の表面形状を製造工程毎に計測し、それらの計測結果を合成し、多層のデータを用いて解析・評価することができる走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法等を提供する。例文帳に追加

To provide a three-dimensional membrane structure measuring method of a scanning probe microscope capable of measuring the surface shapes of respective layers at every manufacturing process in a manufacturing process of a semiconductor device having a multilayered structure to synthesize the measurement results and capable of analyzing and evaluating those measuring results using the data of a multilayer. - 特許庁

ナノレベル構造組成観察方法、絶縁層が介在する多層膜構造体の製造方法、及び、ナノレベル構造組成観察装置に関し、絶縁層が介在する多層薄膜構造の試料の広い範囲内における微細構造組成を高精度に解析する。例文帳に追加

To provide a nanometer-level structure composition observing method, a manufacturing method of a multi-layer film structure having an interposed insulating layer, and a nanometer-level structure composition observing device, analyzing the microstructure composition in a wide range of a sample having the multi-layer thin film structure having an interposed insulating layer with high accuracy. - 特許庁

加熱表面裏面の面積熱拡散時間を計算するプログラムを作成し、それを再帰的に呼び出すことで任意の層の数の多層材料の加熱表面裏面の面積熱拡散時間の計算が可能となり、多層材料熱物性解析プログラムの開発効率を向上させる。例文帳に追加

A program for calculating an area thermal diffusion time of the heating surface and the back is composed, and by calling it recursively, calculation of the area thermal diffusion time of the heating surface and the back of the multilayered material having an optional number of layers becomes possible, to thereby improve a development efficiency of a multilayered material thermophysical analysis program. - 特許庁

リアルタイムのデータ収集デバイスと保存済み情報データベースの間にアルゴリズムサーバを配置させている心臓医療及び患者データ解析のための多層式システムを提供する。例文帳に追加

To provide a multi-tier system for cardiology and patient monitoring data analysis in which an algorithm server is positioned between a real time data acquisition device and a stored information database. - 特許庁

多層の回路パターンを形成する電子デバイスの各層で発生する欠陥の解析を行い、電子デバイスの欠陥による不良原因の絞り込みを可能とする。例文帳に追加

To narrow down a defect factor caused by the defect of an electronic device for forming the circuit patterns of multiple layers by analyzing the defect to occur in each of layers of the electronic device. - 特許庁

多層配線上に形成された膜の膜厚測定及び断面形状測定を、非破壊かつ高スループットで行うことのできる偏光解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an ellipsometry in which the measurement of the thickness and the cross-sectional shape of a film formed on multilayer wiring can be carried out nondestructively with a high throughput. - 特許庁

多層構造の回路基板の電源導体等によるノイズ解析用のモデル作成のために電源島等をメッシュ分割する基準となるノードとして、ビアの斜め４方向にノードを発生するようにした。例文帳に追加

Nodes are generated in four oblique directions of a via as nodes as a reference for dividing a power supply island or the like into meshes for model creation for analysis of noise caused by a power supply conductor or the like of a multilayer circuit board. - 特許庁

コンピュータ１０は、測定結果及び試料３０に応じて作成したモデルからの算出値に基づき試料３０の光学特性を多層膜の層毎に分けて解析する。例文帳に追加

A computer 10 analyzes the optical characteristics of the sample 30 at every layer of the multilayer film on the basis of a measured result and the calculated value from the model formed corresponding to the sample 30. - 特許庁

多層ディスクの切換ポイントを確認する作業を容易にし、評価者の負担を軽減できるディスクのレイヤ切換ポイント解析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a layer change-over point analyzing apparatus for a disk which facilitates work for confirming the change-over point of a multi-layer disk and reduces a burden on an evaluator. - 特許庁

金属多層膜のＸ線反射率プロファイルの解析のための各層の膜厚の初期値ｔ_1 ^i 〜ｔ_3 ^i として、蛍光Ｘ線測定から求めた各層の膜厚を用いるようにする。例文帳に追加

Initial values of film thicknesses of respective layers used to analyze the X-ray reflectance profile of a metal multilayer film are designated as t1i to t3i, and the film thicknesses of the respective layers which are found by a fluorescent X-ray measurement are used. - 特許庁

超電導ケーブル、特に芯材と多層超電導導体とを持つ超電導ケーブルの電流分布を正確に解析して、交流損失を低減した超電導ケーブルを提供する。例文帳に追加

To provide a superconducting cable, in particular a superconducting cable which has a core material and a multi-layer superconductive conductor and of which the alternating current loss is reduced through an accurate current distribution analysis. - 特許庁

多層地盤において水平力を受ける群杭基礎およびパイルドラフト基礎の水平変位に関する算定法として、ハイブリッド弾性解析法を新たに適用する。例文帳に追加

A hybrid elastic analysis method is newly applied as a calculation method associated with the horizontal displacement of pile group foundation and pile draft foundation for bearing a horizontal force in multilayered ground. - 特許庁

超電導ケーブル、特に芯材と多層超電導導体とを持つ超電導ケーブルの電流分布を正確に解析して、交流損失を低減した超電導ケーブルを提供する。例文帳に追加

To provide a superconducting cable, particularly a superconducting cable having a core material and a multi-layer superconductive conductor with a reduced alternating current loss through an accurate current distribution analysis. - 特許庁