「自動光学検査」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

自動光学検査システム及び方法例文帳に追加

AUTOMATIC OPTICAL INSPECTION SYSTEM AND METHOD - 特許庁

光学的自動検査システム及び方法例文帳に追加

OPTICAL AUTOMATIC INSPECTION SYSTEM AND METHOD - 特許庁

検査対象物の外観を検査するプリント回路基板の自動光学検査装置が開示される。例文帳に追加

To disclose an automatic optical inspecting device for a printed circuit board used to inspect the appearance of an inspecting object. - 特許庁

検査対象物の外観を検査するプリント回路基板の自動光学検査装置が開示される。例文帳に追加

To disclose an automatic optical inspecting device for a printed circuit board which inspect the appearance of an inspecting object. - 特許庁

プリント回路基板ユニットを光学検査する自動光学検査システムのティーチング方法及び自動光学検査システムの検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a teaching method of an automatic optical inspection system and an inspection method of the automatic optical inspection system for performing optical inspection of a printed circuit board unit. - 特許庁

光学フレアの検査装置において、人間の感覚に適合した評価を自動化して行い、光学フレア検査を再現性よく高い効率で行う。例文帳に追加

To automatically conduct evaluation fit to feeling of the human being, and to inspect an optical flare with high reproducibility and efficiency, in an optical flare inspection device. - 特許庁

プリント回路が起動されていない場合における目視検査、自動光学検査ではプリント回路を効率的に検査できない。例文帳に追加

To solve a problem which a visual inspection when a printed circuit is not started, and to solve a problem which the printed circuit can not be inspected efficiently in automatic optical inspection. - 特許庁

印刷回路基板の微細パターンを検査するための照明装置と、これを具備する自動光学検査システムおよびそれの検査方法例文帳に追加

LIGHTING SYSTEM FOR INSPECTING MICROPATTERN OF PRINTED CIRCUIT BOARD, AUTOMATIC OPTICAL INSPECTION SYSTEM EQUIPPED WITH THE SAME, AND ITS INSPECTION METHOD - 特許庁

本発明はフレキシブル印刷回路基板ユニットが連続的に形成されたフィルムまたはテープ形態の検査対象物見掛けを光学的な方式を利用して自動検査する自動光学検査システムに関する。例文帳に追加

To provide an automatic optical inspection system for automatically inspecting the appearance of the inspection object of film or tape form, formed continuously on the flexible printed circuit substrate unit. - 特許庁

本発明は、フレキシブル印刷回路基板ユニットが連続して形成されたフィルムまたはテープ形態の検査対象物外観を光学的な方式を利用して自動検査する自動光学検査システム及び方法に関する。例文帳に追加

To provide an automatic optical inspection system and method for inspecting automatically an appearance of a film- or tape-shaped inspection object with flexible printed circuit board units formed continuously, using an optical system. - 特許庁

本発明は、拡大光学系を用いる場合においても光束を自動で追尾して常に像を拡大光学系でとらえてレンズの光学性能の検査を可能とするレンズの光学性能検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an optical performance inspection apparatus, for a lens, by which the optical performance of the lens can be inspected by a method where, even when a magnification optical system is used, luminous flux is tracked automatically and image is always captured by the magnification optical system. - 特許庁

裏面が鏡面化処理された場合であっても、光学式検査装置による効率的な自動検査を可能とすること。例文帳に追加

To enable an efficient and automatic test using an optical tester even if a back is subjected to mirror finishing. - 特許庁

裏面が鏡面化処理された場合であっても、光学式検査装置による効率的な自動検査を可能とすること。例文帳に追加

To enable an effective automatic inspection of a semiconductor device by means of an optical inspection device even when the rear surface of the semiconductor device is subjected to mirror finishing. - 特許庁

検査対象物（フレキシブルプリント回路基板）の過検出を減らすことができるプリント回路基板の自動光学検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an automatic optical inspection method for a printed circuit board, capable of reducing overdetection in an inspection object (flexible printed circuit board). - 特許庁

プリント回路板の光学式自動検査装置において、画像処理データ数を減らすことにより検査時間を短縮する。例文帳に追加

To shorten the inspection time of an optical automatic inspection device for printed circuit board by reducing the number of processed image data. - 特許庁

プリント回路板の自動光学式検査において、検査精度を保ちながら欠陥の過検出を低減する。例文帳に追加

To reduce the number of over detection of defects while maintaining the inspection accuracy in an automatic optical inspection of a printed circuit board. - 特許庁

本発明の自動光学検査システムは検査対象物が提供される巻き出し部、前記巻き出し部から提供される前記検査対象物の表面を検査するビジョン検査部、検査を終えた前記検査対象物がアンローディングされる巻き取り部を含む。例文帳に追加

The automatic optical inspection system comprises a feed roller which is provided with the inspection object; a vision inspecting part for inspecting the object of inspection provided from the feed roller; and a winding roller which unloads the inspection-finished object. - 特許庁

組立作業を自動組立指示器（可動式レーザーポインタ）を使用して自動的に指示し、組立検査を自動組立検査器(可動式光学的カメラ)を使用して自動的にチェックさせる。例文帳に追加

This assembly command and inspection system automatically commands assembly work using an automatic assembly indicator (a movable laser pointer) and automatically inspects the assembly using an automatic assembly inspection device (a movable type optical camera). - 特許庁

管材の内面品質を光学的に自動検査可能な検査装置及び検査方法の提供を目的とし、特に、長尺管材の内面検査に適用するのに有効である。例文帳に追加

To provide a device and method which enable optical and automatical inspection of the quality of the inner surface of a pipe material and are especially effectively adapted to the inspection of the inner surface of a long pipe material. - 特許庁

レンズ等の光学部品用の金型検査において、金型のコバ部のカケやワレを自動検査する検査精度が高くかつ定量的な判定の可能な金型検査装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a metal mold inspecting device which has high inspection precision for automatic inspection of the chipping or cracking of an edge part of a metal mold and make a quantitative decision as to the metal mold inspection of an optical component such as a lens. - 特許庁

光学的な検査、及びＸ線による検査を自動で行うことで、検査員を必要とせず、欠陥が金属異物の付着であるか否かを判断でき、効率的にテープ２２の検査を行うことができる。例文帳に追加

By deciding whether the flaw is adhesion of a metal foreign matter without requiring an inspector by means of automatic optical inspection and X-ray inspection, the tape 22 can be inspected efficiently. - 特許庁

本発明は、光源と検査のためにウェーハを照明する照明光学系とを有するウェーハを自動的に検査するための装置に関し、照明光学系が照明パワーを調節する可変グレーフィルタを有する。例文帳に追加

In the device for automatically inspecting a wafer having a light source and an illumination optical system for illuminating the wafer for inspection, the illumination optical system has a variable gray filter for adjusting the illumination power. - 特許庁

光学フィルムの検査を簡単な構成で行うことが可能であり、欠陥の自動検出も容易に行うことが可能な検査装置および検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device and method capable of inspecting an optical film by simple constitution, and capable of detecting easily a defect automatically. - 特許庁

光学フィルムの検査を簡単な構成で行なうことが可能であり、欠陥の自動検出も容易に行なうことが可能な検査装置および検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device and method capable of inspecting an optical film using a simple constitution, and capable of easily detecting defects automatically. - 特許庁

走行性（易滑性）と接着性の改善と自動光学検査システム適応を同時に達成するポリイミドフィルムを提供する。例文帳に追加

To provide a polyimide film satisfying improvement of traveling properties (slipperiness) and adhesiveness and applicability of an automatic optical inspection system at the same time. - 特許庁

自動的に、素早く、信頼性良く、高い精度で物体の表面を光学検査するための装置および方法を提案する。例文帳に追加

To provide a device and method for automatically and rapidly performing the optical inspection of the surface of matter with good reliability and high precision. - 特許庁

光学的自動検査システムは、イメージ捕捉モジュール、データ処理ユニット、及び、比較ユニット、からなる。例文帳に追加

The optical automatic inspection system comprises: an image acquisition module; a data processing unit; and a comparison unit. - 特許庁

空間均一性が調節可能な、パターン化物品の自動光学検査用高強度照明システムを提供する。例文帳に追加

To obtain a high-intensity lighting system for automatically and optically inspecting a patterned article that can adjust space uniformity. - 特許庁

本発明は、フィルム、テープ形態の印刷回路基板のパターン検査で光の損失を防止し、均一な輝度を得ることができる自動光学検査システムの照明装置に関する。例文帳に追加

A lighting system of the automatic optical inspection system can prevent the loss of light in the pattern inspection of a printed circuit board of a film or tape form and can obtain uniform luminance. - 特許庁

コア用の配線導体においてもその幅や間隔を２０μｍ以下とするとともにコアの配線導体を自動光学検査装置により正確に検査することが可能な高密度な微細配線を有する配線基板を提供すること。例文帳に追加

To provide a wiring substrate having high-density fine wiring of ≤20 μm in width and interval even as a wiring conductor for a core, the wiring conductor for the core being accurately inspected by an automatic optical inspection device. - 特許庁

検査対象とする欠陥に対して検出するに十分な感度を持つよう光学系を自動調整できるようにしたディスク表面検査装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a disk surface inspection device capable of adjusting automatically an optical system so as to have sufficient sensitivity for detecting a defect which is an inspection object. - 特許庁

設置面積が少なくて済み、投射レンズとスクリーン間から反射鏡を省け、しかも点欠陥等を自動検出可能な電気光学装置の検査装置及びその検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a device for inspecting an electrooptical device which can be installed in a small area, dispense with a mirror between a projection lens and a screen, and automatically detect spot defects or the like, and to provide a method for inspecting the electrooptical device. - 特許庁

そこで、被検査面を領域分割し、１つの領域の撮像終了後、自動ステージ６により検査光学系７全体を移動させ、次の領域の撮像を行う。例文帳に追加

Then the surface under test is divided into regions, the entire inspecting optical system 7 is moved by an automated stage 6 after photographing one region, and the next region is photographed. - 特許庁

光学ディスク１の保護コート膜１０２の「コートむら」の有無を自動的に判別する保護コート膜の検査方法及びそれを使用した検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method of inspecting an optical disk protective coat which automatically distinguishes the presence or absence of 'coat irregularity' of the protective coat of an optical disk 1, and to provide an inspecting device using the method. - 特許庁

同一なパターンのプリント回路基板ユニットを連続的に光学検査する自動光学検査システムのティーチング方法において、プリント回路基板ユニットに対するマスタデータを準備し、マスタデータを複数の細部検査領域に分割して登録し、分割された複数の細部検査領域のパターン成分を判別する基準データを登録することを特徴とする自動光学検査システムのティーチング方法。例文帳に追加

This teaching method of the automatic optical inspection system for performing continuous optical inspection of a printed circuit board unit having the same pattern has characteristics wherein master data to the printed circuit board unit are prepared, and the master data are divided into a plurality of fine part inspection domains and registered, and reference data for discriminating each pattern component in the plurality of divided fine part inspection domains are registered. - 特許庁

画素サイズが狭小化した場合にも光学特性を精度良く実施することができ、好ましくは検査の自動化が容易であり、基板上に形成した各種機能膜の物理的な測定も行うことができる電気光学装置の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspecting method for an electrooptical device, which can precisely inspect optical characteristics even when a pixel size becomes narrow and, preferably, facilitates automation of inspection and can physically measure various functional films formed on a substrate. - 特許庁

検査対象試料に形成されるパターンの依存性が低減される自動焦点調節機構及びこの自動焦点調節機構を備える光学画像取得装置を提供する。例文帳に追加

To provide an automatic focusing mechanism capable of reducing the dependency of patterns formed in a samples to be inspected and to provide an optical image acquisition apparatus provided with the same. - 特許庁

光学式自動検査装置にて検査する工程を含むテープキャリアパッケージ用柔軟性配線板の製造方法において、有害物質が発生する可能性が少なく、且つ誤検出による検査効率の低下を抑制して、検査不良率を低減することができるので高い生産性を持って経済的にテープキャリアパッケージ用柔軟性配線板を製造する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a flexible wiring board for tape carrier package including a step for inspecting by an optical automatic inspection device in which a flexible wiring board for tape carrier package can be manufactured economically with high productivity because possibility of producing harmful substance is low, and poor inspection rate can be reduced by minimizing drop in the inspection efficiency due to false detection. - 特許庁

プリント配線基板等、特に光透過型電子基板の欠陥を、基板のずれを気にせずに光学的処理により高精度、迅速、かつ、自動的に検出することができる形状欠陥等の検査方法および検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method for shape defect or the like by which the defect of a printed wiring board or the like, especially a light transmission type electronic substrate, can be detected accurately, quickly and automatically through optical processing without paying attention to the deviation of a substrate, and to provide an inspection device. - 特許庁

設置スペースが少なくて済み、光源とスクリーン間から反射ミラーを省け、しかも表示欠陥（点欠陥・線欠陥・シミムラ欠陥等）を自動検出可能な電気光学装置の検査装置及び検査方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a device and a method for inspecting an electro-optical device which requires only a few installation space, in which a reflection mirror is omitted from a light source and a screen and which can automatically detect display defects (such as point defects, line defects, stain and uneven defects). - 特許庁

本発明は、走行性（易滑性）と接着性はもちろん、特に自動光学検査システム（ＡＯＩ）における通過性に優れたポリイミドフィルムを提供せんとするものである。例文帳に追加

To provide polyimide film excellent in not only traveling property (easy slipping property) and adhesivity, but especially in passing property in an automatic optical inspection system (AOI). - 特許庁

高寸法安定性と共に適度な弾性率を有し、更に優れた易滑性と折り曲げ性を有する自動光学検査システム（ＡＯＩ）に適応可能なチップオンフィルムを提供する。例文帳に追加

To provide a chip-on film which has high dimension stability, a moderate elasticity, excellent smoothability and flexibility and is applicable to an automatic optical inspection (AOI) system. - 特許庁

高寸法安定性と共に適度な弾性率を有し、更に優れた易滑性と折り曲げ性を有し、自動光学検査システム（ＡＯＩ）に適応可能なチップオンフィルムを提供する。例文帳に追加

To provide a chip-on film which has high dimension stability, a moderate elasticity, excellent smoothability and flexibility, and is applicable to an automatic optical inspection (AOI) system. - 特許庁

半透明フィルムの貼付位置および形状認識を、確実かつ高精度に光学カメラにて自動検査する半透明フィルムの位置検出および形状認識装置を提供することを目的とするものである。例文帳に追加

To provide a position detection and shape recognition device for a translucent film capable of inspecting automatically a bonded position and shape recognition of the translucent film surely and precisely by an optical camera. - 特許庁

本発明の自動光学検査システムは印刷回路基板から透過光および／または反射光を利用して獲得した映像データの明るさを照度計の第１基準値によってパターンの不良の有無を判別する。例文帳に追加

This automatic optical inspection system determines the presence of pattern defects in brightness of image data captured by the printed circuit board, by utilizing transmitted light and/or reflected light, through the 1st reference value of an illuminometer. - 特許庁