「AC Test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an AC test facilitating circuit and an AC test method enabling easy measuring AC of any semiconductor devices.例文帳に追加

どのような半導体装置であってもＡＣ測定を容易に行うことができるＡＣテスト容易化回路およびＡＣテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

A test signal generating circuit 60 generates an AC test signal S_TEST.例文帳に追加

試験信号発生回路６０は、交流の試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを生成する。 - 特許庁

A test AC voltage generator 1 and a test AC voltage generator 2 are connected to two external terminals of the switch device 6, respectively.例文帳に追加

開閉機器６の２つの外部端子には、試験用交流電圧発生装置１および試験用交流電圧発生装置２をそれぞれ接続する。 - 特許庁

To surely perform the pressure resistance test of an AC element.例文帳に追加

交流素子の耐圧テストを確実に行うことを課題とする。 - 特許庁

AC MEASURING CIRCUIT USING FUNCTION OF BOUNDARY SCAN TEST例文帳に追加

バウンダリ・スキャン・テスト機能を用いたＡＣ測定回路 - 特許庁

This method of the pressure resistance test of the AC element applies an AC voltage from an AC power source to the AC element, detects a current supplied from the AC power source to the AC element by a detector, and determines the pressure resistance value of the AC element on the basis of the detected result.例文帳に追加

交流電源から交流素子へ交流電圧を印加し、交流電源から交流素子へ供給される電流を検出器により検出し、その検出結果に基づいて交流素子の耐圧値を判定する交流素子の耐圧テスト方法により上記の課題を解決する。 - 特許庁

A control section 50 executes AC voltage setting mode, and sets a constant voltage of an AC voltage according to the AC voltage detected by applying an AC test voltage in a plurality of steps to a charging roller 12a.例文帳に追加

制御部５０は、交流電圧設定モードを実行して、複数段階の交流試験電圧を帯電ローラ１２ａに印加して検出した交流電圧に応じて交流電圧の定電圧を設定する。 - 特許庁

To provide a probe card which reduces parasitic capacitance of parts and wiring thereon and performs an optimum AC test in an AC test in a probe test, which is susceptible to neighboring circuitry.例文帳に追加

周辺回路の影響を受けやすいプローブ試験のＡＣ試験において、プローブカード上の部品、配線の寄生容量を軽減し、最適なＡＣ試験を行うプローブカードを提供する。 - 特許庁

A series of test patches are made by increasing the AC amplitude Vdac across the gap, when setting up the printer, and the reflectivity changes Δref of the patch groups are measured to the AC amplitude.例文帳に追加

印刷装置のセットアップ動作時に、隙間中の交流振幅Ｖdacを増分しながら、一連のテストパッチを作成する。 - 特許庁

To stably perform an AC timing test to the high speed IF circuit with high precision.例文帳に追加

高速ＩＦ回路に対して安定して高精度のＡＣタイミングテストを行う。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING BURN-IN TEST OF AC STRESS AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

交流ストレスのバーンインテスト可能な集積回路及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

The fourth pads 140, 240 receive a fourth power supply TVss during the test operation of the AC characteristic.例文帳に追加

第４パッド１４０，２４０はＡＣ特性テスト動作の間に、第４電源ＴＶｓｓを受け入れる。 - 特許庁

To also perform an AC characteristic test on data transfer between semiconductor devices when performing a connection test between the semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置間の接続試験を行うにあたり、半導体装置間でのデータ転送に関する交流特性試験も行えるようにする。 - 特許庁

The present invention performs AC coupling by the test object and the capacitor to improve the IC tester for testing the test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象とキャパシタによりＡＣカップリングを行い、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

Third pads 130, 230 receive a third power supply TVcc during the test operation of an AC characteristic after the test operation of the DC characteristic.例文帳に追加

第３パッド１３０，２３０はＤＣ特性テスト動作後のＡＣ特性テスト動作の間に、第３電源ＴＶｃｃを受け入れる。 - 特許庁

The probe card includes wiring and probes exclusively for a DC test for performing a DC test of one semiconductor chip on a wafer to be tested on which a plurality of semiconductor chips are formed and wiring and probes exclusively for an AC test for performing an AC test of another semiconductor chip.例文帳に追加

本発明のプローブカードは、複数の半導体チップが形成された被試験ウエハの１つの半導体チップに対してＤＣ試験を行うためのＤＣ試験専用の配線及び探針と、他の１つの半導体チップに対してＡＣ試験を行うためのＡＣ試験専用の配線及び探針と、を有する。 - 特許庁

The output voltage of the power generator 5 is commonly supplied as the primary side voltage of the test AC voltage generator 1 and the test AC voltage generator 2.例文帳に追加

発電機５の出力電圧は、試験用交流電圧発生装置１および試験用交流電圧発生装置２の１次側電圧として共通に供給する。 - 特許庁

The power generator 5 is connected so that a phase of the test AC voltage generator 2 at the terminal at the opposite side is shifted by 180 degrees from a phase of the output voltage of the test AC voltage generator 1 at the one terminal.例文帳に追加

発電機５は、一方の端子の試験用交流電圧発生装置１の出力電圧の位相と、反対側の端子の試験用交流電圧発生装置２の出力電圧の位相が、１８０度ずれるように接続する。 - 特許庁

The Barkhausen noise test apparatus includes: a detection head 1 having an exciting coil 2 for magnetizing an object under test 40 and a detection sensor 3 for detecting the Barkhausen noise emitted by the magnetized object under test 40; and an AC power supply 12 for supplying AC current which causes the exciting coil 2 to generate an AC magnetic field for above magnetization.例文帳に追加

検査対象物４０を磁化する励磁コイル２、および磁化された検査対象物４０が発するバルクハウゼンノイズを検出する検出センサ３を有する検出ヘッド１と、励磁コイル２に磁化のための交流磁界を発生させる交流電流を供給する交流電源１２とを備える。 - 特許庁

A rectifier circuit formed inside the wafer 1 converts the ac power into dc power to obtain the electric power for the burn in test.例文帳に追加

該ウエハ１の内部に形成した整流回路は該交流電力を直流電力に変換して該バーンイン試験のための電力とする。 - 特許庁

The power generator 5 is directly connected to the primary side of the test AC voltage generator 2 connected to the terminal at the opposite side.例文帳に追加

反対側の端子に接続した試験用交流電圧発生装置２の１次側に発電機５を直接接続する。 - 特許庁

To provide an earth leakage breaker capable of operating its test circuit even if an optional line of three-phase AC power feed lines is used as a single-phase line.例文帳に追加

三相交流電路のどの電路を単相電路として使用してもテスト回路が動作するようにする。 - 特許庁

An ac signal is applied from an ac signal source 1 to the both ends of an impedance series circuit including a test impedance 2 and at least a first known impedance 3, in which the test impedance 2 is connected to the lower potential side than the first known impedance 3.例文帳に追加

供試インピーダンス２と少なくとも第１の既知インピーダンス３を含み、供試インピーダンス２が第１の既知インピーダンス３よりも低い電位側に接続されたインピーダンス直列回路の両端に交流信号源１から交流信号を印加する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that suppresses deterioration or wear of a photosensitive layer resulting from application of an AC test voltage, by setting an AC test voltage more properly than when the film thickness of a photosensitive layer is indirectly estimated from a cumulative number of sheets on which images are formed or the like by directly obtaining the film thickness of the photosensitive layer.例文帳に追加

感光層の膜厚を直接に求めることで、累積画像枚数等で間接的に推定する場合よりも適正に交流試験電圧を設定して、交流試験電圧の印加に伴う感光層の劣化や摩耗を抑制できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a logic simulator capable of highly accurately measuring the AC characteristics of external input pin of an LSI on an LSI tester with a test pattern for easily verifying the AC characteristics by preparing this test pattern without increasing the number of input terminals of a real device.例文帳に追加

実デバイスの入力端子数を増加することなく容易にＡＣ特性を検証するテストパターンを作成し、この作成したテストパターンでＬＳＩの外部入力ピンのＡＣ特性をＬＳＩテスタ上で高精度に測定可能な論理シミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

An integrated testing apparatus includes an AC testing machine 16 and a DC testing machine 17, and a DUT pedestal 22 and an AC test circuit section 24 are disposed with an intermediate electrode plate 20 between them so as to be vertically lifted/lowered.例文帳に追加

統合試験装置は、ＡＣ試験機１６とＤＣ試験機１７が設けられ、中間電極板２０を挟んで、ＤＵＴ載置台２２とＡＣ試験回路部２４が上下方向に昇降可能に配置される。 - 特許庁

To provide an AC magnetic field application device for applying an AC magnetic field to a test target article such as an MR head by using a permanent magnet or an electromagnet of a DC application driving type as a magnetic field source.例文帳に追加

永久磁石または直流印加駆動型の電磁石を磁界源として、ＭＲヘッド等の被試験体に交流磁界を印加する交流磁界印加装置を提供する。 - 特許庁

To enable function test or the AC test for every series data signal for facilitating inspection of a semiconductor integrated circuit for transferring or latching a plurality of series data signals synchronously with the same clock signal.例文帳に追加

同一のクロック信号に同期して複数系統のデータ信号の転送又はラッチを行う半導体集積回路において、データ信号の系統毎にファンクションテスト又はＡＣテストを可能として検査を容易にする。 - 特許庁

To reduce the number of test contact devices, reduce an equipment cost by commonalizing components and measuring circuits of the testing apparatus, and improve AC test conditions (waveform).例文帳に追加

試験コンタクト装置の台数を削減でき、試験機の構成部品や測定回路の共通化を可能にして設備コストの低減し、かつＡＣ試験条件（波形）の改善が可能とする。 - 特許庁

To provide a pulse abnormal voltage applying test device capable of reliably executing a malfunction bearing test even if impedance of an AC power source line varies.例文帳に追加

交流電源線のインピーダンスが変動しても、誤動作耐力試験を高い信頼性をもって実施できるようにしたパルス性異常電圧印加試験装置を提供する。 - 特許庁

An output value of the test circuit 4 is changed by a plurality of combinations by switching setting to each of the plurality of modes, and thereby the input/output characteristics during an AC test time of the buffer circuit 6 can be measured efficiently.例文帳に追加

複数の各モードへの切り替え設定により、テスト回路４の出力値を複数の組み合わせで変更し、バッファ回路６のＡＣテスト時の入出力特性を効率よく測定可能とした。 - 特許庁

The test-power-supply transmission means are provided with a plurality of fuses 152, 153, 252, 253, and they selectively supply the third power supply to the first power-supply line during the test operation of the AC characteristic according to whether the fuses are blown or not.例文帳に追加

テスト電源伝達手段は複数個のヒューズ１５２，１５３，２５２，２５３を有し、ＡＣ特性テスト動作の間に、ヒューズのカッティング有無によって第３電源を第１電源ラインに選択的に供給する。 - 特許庁

In Fig. 1(c), the digital sound signal outputs of an AC converter 1001 and DSPs 1008 and 1009 inputted to the test inputs 2131, 2132, and 2133 are selected and outputted to the test output terminal 2141.例文帳に追加

図１（ｃ）では、テスト入力２１３１、２１３２、２１３３に入力されたＡＤコンバータ１００１、ＤＳＰ１００８、１００９のデジタル音声信号出力を選択してテスト出力端子２１４１へ出力する。 - 特許庁

In the protective relay 1, a processing unit 11 inputs a digital signal of a DC voltage which is converted from an AC voltage of the power transmission system L1 from an analog/digital converter A/D, inputs an output voltage of an AC from a power supply unit 15, and inputs inspection data (test current, test voltage and operation time) from a test device 2 which is connected at inspection via an external interface 14.例文帳に追加

保護継電器１において、処理部１１は、アナログデジタル変換器Ａ／Ｄから送電系統Ｌ１の交流電圧を変換した直流電圧のデジタル信号を入力し、電源ユニット１５から直流の出力電圧を入力し、点検時に接続される試験装置２から外部インタフェース部１４経由で点検データ（試験電流、試験電圧、動作時間）を入力する。 - 特許庁

To reduce the cost and size while enhancing regeneration efficiency of a motor drive for driving an AC motor and having a function for regenerating excessive energy during brake operation as electric energy, a load test supporting device for setting predetermined load test conditions to these AC motor and motor drive and a generator driven through the AC motor entirely or partially, and a load test device for achieving the load test.例文帳に追加

本発明は、交流モータを駆動し、制動時における余剰のエネルギーを電気エネルギーとして回生する機能を有するモータ駆動装置と、これらの交流モータおよびモータ駆動装置と、この交流モータによって駆動される発電機との全てまたは一部に所定の負荷試験の条件を設定する負荷試験支援装置と、その負荷試験を実現する負荷試験装置とに関し、回生の効率の向上に併せて、低廉化および小型化が図られることを目的とする。 - 特許庁

In the AC voltage setting mode, the control section 50 obtains the film thickness of the photosensitive layer based on the detection result of a DC voltage measuring circuit 104 at a frequency of once per 1,000 image formations, and sets an AC test current lower as the film thickness is reduced.例文帳に追加

制御部５０は、交流電圧設定モードでは、１０００枚の画像形成に１回の頻度で直流電圧測定回路１０４の検出結果に基づいて感光層の膜厚を求め、膜厚が小さくなるほど交流試験電流を低く設定する。 - 特許庁

This surface layer part property measuring method is characterized in that a metallic body under test is AC-magnetized to detect anomalous parts of the metallic body, different from a normal part thereof, based on the intensity and phase of a signal obtained by detecting a change in AC magnetic flux from the metallic body.例文帳に追加

本発明の表層部性状測定方法は、金属被検体を交流磁化し、前記被検体からの交流磁束変化を検出することにより得られる信号強度および位相を基に、金属被検体の正常部とは異なる異常部を検出することを特徴とする。 - 特許庁

In the eddy current generation step S1, an AC current flows to a test coil which is brought into contact with or made proximate to the examinee after quenching and before annealing and an eddy current is generated in the examinee by a magnetic field induced by the AC current.例文帳に追加

前記渦電流発生工程S1は、焼入れ後、焼き戻し前の被検体に接触、又は近接させた試験コイルに交流電流を流し、交流電流により誘導された磁界により、被検体に渦電流を発生させる工程である。 - 特許庁

Then, after the cable conductor is grounded, a prescribed voltage application pattern is applied in a plurality of times in the order from a low voltage side to a high voltage side as AC voltage application by a transformer 2 for a test, and the highest AC application voltage or field intensity by which the residual charge is measured and a residual charge total amount Q_E* are determined.例文帳に追加

ついで、ケーブル導体を接地した後に、試験用変圧器２により交流電圧課電として所定の課電パターンを低電圧側から高電圧側の順に複数回行い、残留電荷が測定される最高交流課電電圧あるいは電界強度と残留電荷総量Ｑ_E ^* を求める。 - 特許庁

The system 110 also includes an alternating current (AC) source 118 for supplying a current through the probe 112, wherein the AC source 118 and the probe 112 are configured to generate a controlled plasma channel 120 between a tip of the probe 112 and the test object 114.例文帳に追加

システム（１１０）はまたプローブ（１１２）を介して電流を供給するための交流（ＡＣ）電源（１１８）も含み、ＡＣ電源（１１８）およびプローブ（１１２）はプローブ（１１２）の先端と検査対象（１１４）の間に制御されたプラズマチャネル（１２０）を生成するように構成される。 - 特許庁

An apparatus for determining connection state of an interface connector comprises a means for delivering an AC test signal from an insert substrate to an inserted substrate, and a means for determining whether an error is included in an AC test signal send back from the inserted substrate to the insert substrate or not, and determining that an interface connector between the insert substrate and the inserted substrate is connected incompletely if an error is included.例文帳に追加

挿入基板から被挿入基板に交流テスト信号を出力する手段と、被挿入基板で挿入基板に折り返された交流テスト信号にエラーが含まれているか否かを判断し、エラーが含まれている場合には、挿入基板と被挿入基板との間のインターフェース・ユニットが不完全に接続されていると判断する手段と、を備える。 - 特許庁

This probe for detecting the flaw in a test body 10 has plural excitation coils 22a-22h generating an AC magnetic field to generate an eddy current in the test body 10, and plural thin film-like detection coils 21a-21h overlapped in an upper-and-lower double-layer state and arranged in a line.例文帳に追加

交流磁場を発生させて試験体１０に渦電流を発生させる複数の励磁コイル２２ａ〜２２ｈと、上下二層に重ねられて一列に並べられた複数の薄膜状の検出コイル２１ａ〜２１ｈとをそなえ、試験体１０上の傷を検出する。 - 特許庁

Deterioration of the semiconductor device can be predicted with high accuracy by separating off-stress and on-stress in the AC stress test assuming the CMOS operation.例文帳に追加

またＣＭＯＳ動作を想定したＡＣストレス試験においてオフストレスやオンストレスを分離することにより、半導体装置の劣化予測を高精度で行うことができる。 - 特許庁

The group delay of the DUT is measured by using zero- crossing of an AC coupled heterodyne beat signal generated by the test interferometer from the input light signal.例文帳に追加

ＤＵＴの群遅延は、入力光信号からテスト干渉計によって生成されるＡＣ結合ヘテロダインビート信号のゼロ交差を用いて測定される。 - 特許庁

The device for measuring the glucose level in a living tissue includes electrodes which are brought into contact with a test specimen and a voltage control oscillator (31) as a signal source for generating an AC voltage within a predetermined frequency range.例文帳に追加

生きている組織内のグルコースレベルを測定するための装置は、検体に接触される電極と、所定の周波数範囲内でＡＣ電圧を生成するための信号源としての電圧制御発振器（３１）を有する。 - 特許庁