「Contact Block Probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To facilitate the confirmation for aligning the positions of respective electrodes when establishing contact of a probe block electrode with an electrode of a liquid crystal panel, in a probe block for an inspection probe device for inspecting the electric characteristics of the liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルの電気特性を検査する検査用プローブ装置のプローブブロックにおいて、プローブブロック電極と液晶パネルの電極とを接触させる際における相互の電極の位置合わせ確認を容易にする。 - 特許庁

The measuring instrument 10 comprises: a body block 20; a both end contact-type multiple pin loop probe 30 mounted to a probe positioning block 24; and a relay unit 40.例文帳に追加

測定器具１０は、本体ブロック２０と、プローブ位置決めブロック２４に取り付けられた両端接触型の多ピンループプローブ３０と、中継ユニット４０とを備える。 - 特許庁

To easily and precisely regulate a relative position of a probe pin of a contact block with respect to a pitch conversion substrate.例文帳に追加

コンタクトブロックのプローブピンのピッチ変換基板に対する相対位置調整を容易にかつ精度よく行なうことができること。 - 特許庁

A part in the other surface of the probe sheet body corresponding to the contact region is supported at a flat supporting surface of the block.例文帳に追加

前記プローブシート本体の他方の面の前記接触子領域に対応する部分で前記ブロックの平坦な支持面に支持される。 - 特許庁

For this configuration measuring method, a master member 74 for obtaining the diameter of a probe 12 is constituted by bringing three block gauges 76, 78, and 80 into contact.例文帳に追加

本発明は、プローブ１２の径を取得するためのマスタ部材７４を、３枚のブロックゲージ７６、７８、８０を密着させて構成している。 - 特許庁

A probe 100a of the position detector 100 is put in contact with the upper face 11A-1 of the lower block 11A.例文帳に追加

位置検出装置１００のプローブ１００ａを下ブロック１１Ａの上面１１Ａ−１に当接させる。 - 特許庁

A hollow part is formed between the contact probe 21 for the high-frequency signal and the metal block 2, and the contact probe 21 for the high-frequency signal is used as the center conductor and the metal block 2 is used as an outer conductor, to serve as a coaxial line of the desired characteristic impedance.例文帳に追加

高周波信号用のコンタクトプローブ２１と金属ブロック２との間に中空部が形成され、高周波信号用のコンタクトプローブ２１を中心導体とするとともに金属ブロック２を外部導体とし、所望の特性インピーダンスの同軸線路とされている。 - 特許庁

An ultrasonic wave emitted from a built-in ultrasonic probe 108 in the contact block 107 is made incident on the inner wall of the tube 1 through water as a transmission medium fed into a recessed space 107b of the contact block 107.例文帳に追加

接触ブロック１０７に内蔵された超音波探触子１０８から出射された超音波は、接触ブロック１０７の凹部空間１０７ｂに供給された水を伝達媒体としてチューブ内壁に入射される。 - 特許庁

Even if the forward contact section 36 is damaged by an accident or the like, only the multiple pin loop probe 30 is removed from the probe positioning block 24 for exchange.例文帳に追加

前方接触部３６が事故等で損傷しても、多ピンループプローブ３０のみをプローブ位置決めブロック２４から取外し交換することができる。 - 特許庁

The sample 1 is cut to a block shape in a chamber of a focused ion beam (FIB) device, the sample block (bulk) 4 is taken out of vacuum and is brought into contact with a glass probe 5 set at the tip of a manipulator to be supported.例文帳に追加

集束イオンビーム装置のチャンバ内で試料１をブロック状に切り出し、その試料ブロック（バルク）４を真空外に取り出して、マニピュレータの先端にセットしたガラスプローブ５に接触させて支持する。 - 特許庁

Because, while the large diameter coil section 31 gets in touch elastically with the inner circumference surface of the through-hole 11, the small diameter coil section 32 gets in touch elastically with the outer circumference surface of the contact probe 1 for grounds, the contact probe 1 for grounds and the metal block 10 are connected electrically.例文帳に追加

大径コイル部３１が貫通孔１１の内周面に弾接すると共に小径コイル部３２がグランド用コンタクトプローブ１の外周面に弾接することでグランド用コンタクトプローブ１と金属ブロック１０とを電気的に接続する。 - 特許庁

To restrain characteristic drop in a place brought into contact with an electrode at a specimen as far as possible in an inspection apparatus, in which a metal block as an external conductor and a measuring probe constitute a coaxial structure and in which the measuring probe can be brought into contact with the electrode at the specimen.例文帳に追加

金属ブロックを外部導体として測定用プローブと同軸構造を構成して、被検体との電極に測定用プローブが接触できるようにした検査装置において、被検体の電極と接触させる箇所での特性低下を極力抑制できるようにする。 - 特許庁

To correspond to reduced diameter of a contact probe for grounds by using a coil spring of a predetermined shape for electrical connection between the contact probe for grounds and a metal block and to reduce cost of manufacturing and omission of preparation process at the time of built-in.例文帳に追加

グランド用コンタクトプローブと金属ブロック間の電気的接続に所定形状のコイルスプリングを用いることで、グランド用コンタクトプローブの小径化に対応可能にし、製造コストの低減、組み込み時の調整工程の省略を図る。 - 特許庁

After joining through assembly by activating each join interface of each contact probe 10 and each electrode pad 22, the metallic material is melted of the block unit 30 fixing the contact probes 10.例文帳に追加

各コンタクトプローブ１０及び各電極パッド２２の各接合界面を活性化させて会合させることにより接合した後、コンタクトプローブ１０を固定しているブロック体３０の金属材料を溶融させる。 - 特許庁

The plurality of probe modules are provided respectively corresponding to a plurality of contact bodies of a device to be measured, and are crimped and fixed to the probe card substrate 11 by a fixing block 15 so as to be in the mutually conductive state through each conductor 13.例文帳に追加

複数のプローブモジュールは、被測定デバイスの複数の被接触体にそれぞれ対応して設けられ、各導電体１３を介して互いに導通状態とされるように、前記プローブカード基板１１に対し固定ブロック１５により圧着固定される。 - 特許庁

In a chamber 6, a wafer 1 to be inspected which is tentatively locked by a chuck holder 4 and a probe pin module 2 are pinched between upper and lower parts by a heating block 3, and are further pressed by a press 7 so that the entire probe pin 2 is completely brought into contact with a wafer to be tested.例文帳に追加

相互位置合わせ後、チャックホルダ４に仮止めした、切断前の半導体ＩＣウエハ１とウエハ・プローブ・ピン・モジュール２とをチャンバー６内に入れ、プレス７により半導体ＩＣウエハ１とウエハ・プローブ・ピン・モジュール２とを接触方向に加圧する。 - 特許庁

Each semiconductor unit is held en block by a gate liner 8, so that a silicon chip resistor 7 pressure-contacts with the other end of the contact probe 5.例文帳に追加

各半導体ユニットはシリコンチップ抵抗７がコンタクトプローブ５の他端と加圧接触するようにゲートライナ８によって一括保持される。 - 特許庁

The contact probe 1 is inserted into an insertion hole 21 of a metal block 2 of which the projection length of plungers 11, 12 from a metal pipe 13 is variable.例文帳に追加

金属パイプ１３からプランジャ１１、１２の突出長を可変できるコンタクトプローブ１が、金属ブロック２の挿入孔２１に挿入されている。 - 特許庁

A plurality of electric contacts 28 are mounted to a probe block 23 in an arrangement facing to a plurality of electrical contacts 47 formed on a flexible board 41 in a predetermined arrangement; and the probe block 23 is fixed to the flexible board 41 with the plurality of electric contacts 28 respectively pressed against and brought into contact with the facing electrical contacts 47.例文帳に追加

複数の電気接触子２８を、フレキシブル基板４１に所定の配列で設けられた複数の電気的接点４７と対向する配列でプローブブロック２３に取り付け、複数の電気接触子２８をそれぞれ対向する電気的接点４７に押圧接触させた状態で、プローブブロック２３をフレキシブル基板４１に対して固定した。 - 特許庁

To laminate a wafer electrode and a contact by facilitating alignment of the wafer electrode and a contact probe stably over a long term even in a production process employing a large number of inspection boards and a large number of alignment devices when inspection of wafers is conducted in a block.例文帳に追加

ウエハ一括での検査を行う場合に、多数の検査ボード、多数のアライメント装置を用いる生産工程であっても、長期的に安定してウエハ電極とコンタクトプローブの位置合わせを容易に行いコンタクトと貼り合わせることを目的とする。 - 特許庁

The positioning member 14 is a V block for example: when the pipe is brought into contact with V-shaped contact surfaces 141a and 141b, an ultrasonic probe 21 provided in the wall thickness measurement unit 12 advances along the outer surface of the pipe in the normal line direction by the operation of an actuator 22, and is brought into contact with the pipe in the appropriate direction and at a suitable pressure.例文帳に追加

位置決め部材１４は例えばＶブロックであり、Ｖ字状の当接面１４１ａ，１４１ｂに配管を当接させた状態では、肉厚測定部１２が備える超音波探触子２１が、アクチュエータ２２の動作によって配管の外面の法線方向に沿って進出し、配管に適切な方向および好適な押圧力で当接する。 - 特許庁

An insertion hole 21 is provided in a portion corresponding to each of the electrode terminals of the IC in a metal block 2, and a contact probe 1 is provided in the hole 21 to project projection length variable plungers 11, 12 from both ends.例文帳に追加

金属ブロック２のＩＣの各電極端子に対応する部分に、挿入孔２１が設けられ、その挿入孔２１内に、突出長を可変できるプランジャ１１、１２が両端から突出するようにコンタクトプローブ１が設けられている。 - 特許庁

Positions of through-holes 26A, 26B, 26C, 26D of the contact block 26 are conformed with positioning marks 24MA, 24MB, 24MC, 24MD of the pitch conversion substrate 24, when assembling, to position the relative position of the probe pin 28ai with respect to an electrode group 24E of the pitch conversion substrate 24.例文帳に追加

組み立てのとき、コンタクトブロック２６の貫通孔２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃ，２６Ｄの位置をピッチ変換基板２４の位置決め用マーク２４ＭＡ、２４ＭＢ，２４ＭＣ、２４ＭＤに、一致させることにより、プローブピン２８ａｉのピッチ変換基板２４の電極群２４Ｅに対する相対位置を位置決めするもの。 - 特許庁

While including a conductive coil spring 30 arranged between a contact probe 1 for grounds which is arranged coaxially to a through-hole 11 of a metal block 10 and an inner circumference surface of the through-hole 11, a large diameter coil section 31 and a small diameter coil section 32 are formed eccentrically each other in the coil spring 30.例文帳に追加

金属ブロック１０の貫通孔１１に対して同軸配置されたグランド用コンタクトプローブ１と、貫通孔１１の内周面との間に配置される導電性コイルスプリング３０を有し、コイルスプリング３０には、大径コイル部３１と小径コイル部３２とが相対的に偏心して形成されている。 - 特許庁