「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(88ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing method for CSP(chip-scale package), capable of avoiding the dislocation of solder to contact pins also facilitating the handling of the CSP.例文帳に追加

ハンドリングを容易に行なうことができるようにすると共に、半田のコンタクトピンへの転位を防止できるＣＳＰのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an immunity testing device capable of suppressing cost required for an immunity test, and improving workability of the immunity test.例文帳に追加

イミュニティ試験にかかる費用を抑え、イミュニティ試験の作業性を向上することのできる妨害排除能力試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preventing wrong control due to a wrong output from a programmable controller by means of a testing circuit.例文帳に追加

検定回路によりプログラマブルコントローラー（以下、ＰＣと略す）の出力ユニットからの誤出力による誤制御を防ぐ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a frequency monitoring apparatus for normally operating even in the case that a testing frequency set value is sequentially switched at a high speed.例文帳に追加

試験周波数設定値が次々に高速で切り替わるような場合であっても正常に動作する周波数監視回路を提供する。 - 特許庁

To carry out testing of printing for obtaining an optimum condition in heat history controlling in a way near an actual printer.例文帳に追加

熱履歴制御における最適条件を求めるために行う印字出力テストを実用機により近い形態で行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide a system for fault sensing prevention of an optical film and tape-shaped printed circuit board, and to provide its testing method.例文帳に追加

光学を利用したフィルムおよびテープ形態の印刷回路基板の過検出防止のためのシステムおよびそれのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable a testing circuit of a semiconductor integrated circuit using a plurality of clock domains for optionally set the timing-applying double clocks.例文帳に追加

複数のクロックドメインを用いる半導体集積回路のテスト回路において、ダブルクロックを印加するタイミングを任意に設定することを可能にする。 - 特許庁

The test circuit 160 outputs a test pattern for testing the memory 20 and obtains a test result of the memory 20 obtained on the basis of the test pattern.例文帳に追加

テスト回路１６０は、メモリー２０をテストするテストパターンを出力し、そのテストパターンにより得られるメモリー２０のテスト結果を取得する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory capable of easily identifying a memory cell in a state of excessive writing, and a method for testing the same.例文帳に追加

過書き込み状態のメモリセルを容易に特定することが可能な不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating a weld zone by nondestructive testing which facilitates simple processing without incurring increase in cost or an equipment space.例文帳に追加

コストや装置スペースの増大を招くことなく、簡易な処理で行うことができる、非破壊検査による溶接部評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a photoreceptor testing device for electrophotography not generating a measuring error caused by a size change of an opening part forming a test area.例文帳に追加

試験領域を形成する開口部の大きさ変化による測定誤差を生じない電子写真用感光体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The sample collection apparatus and the testing apparatus are used together as a diagnostic tool for collecting and analyzing a specimen contained in a sample.例文帳に追加

サンプル収集装置および試験装置は、サンプルに含まれる検体の収集および分析のための診断ツールとして共に使用される。 - 特許庁

To provide an appropriate diffusion testing method for more accurately performing the quantitative evaluation of the elusion of contaminants from a solidified body.例文帳に追加

固化体からの汚染物溶出の定量的な評価をより精確に行い得るようにするために適当な拡散試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.例文帳に追加

加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a remote operation system for testing a radio channel controlled by radio station controllers, while operating remotely the radio station controllers.例文帳に追加

無線局制御装置を遠隔操作しながら、その無線局制御装置が制御する無線回線を試験する遠隔操作システムを提供する。 - 特許庁

This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to the plurality of test sockets Sc of a component test part.例文帳に追加

部品試験装置は部品試験部の複数のテストソケットＳｃに電子部品Ｔを搬送する２つの搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂを有する。 - 特許庁

To provide a blood bag for testing and a blood sampling instrument, taking a fixed quantity of a blood sample (initial flow blood) in a simple structure.例文帳に追加

簡単な構造で一定量の血液（初流血）を採取することができる検査用血液バッグおよび採血器具を提供すること。 - 特許庁

This direct-current testing device has a power amplifying circuit 130 for supplying a current to DUT at the current application voltage measuring time.例文帳に追加

直流試験装置は、電流印加電圧測定時にＤＵＴに対して電流を供給する電力増幅回路１３０を有している。 - 特許庁

To reduce an electric current consumption in an operation time of an electronic circuit caused by a test module for testing the electronic circuit.例文帳に追加

電子回路を試験する試験モジュールに起因する電子回路の動作時の電流消費を低減する方法およびデバイスを提供すること。 - 特許庁

Thus, the number of inverters for simultaneous load energization is suppressed to the number able to be covered by the power supply capacity of the testing device.例文帳に追加

これにより、負荷通電が同時に実行されるインバータの台数を、試験装置の電源容量でカバーできる台数に抑えることができる。 - 特許庁

INDUCTOR RECOGNIZING METHOD, LAYOUT TESTING METHOD, COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH LAYOUT TEST PROGRAM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インダクタ認識方法、レイアウト検査方法、レイアウト検査プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体および半導体装置の製造方法 - 特許庁

In the microreactor and the apparatus for genetic testing, since amplicon of sense chain in DNA double strand is immobilized, it is readily detected.例文帳に追加

マイクロリアクタおよび遺伝子検査装置では、ＤＮＡ２本鎖のうち、センス鎖のアンプリコンが固定化されるため、その場での検出が容易となる。 - 特許庁

A test mode signal TM is inputted from a test mode determining circuit 30 to the POR circuit 25 in the test mode for testing the operation of an internal circuit.例文帳に追加

内部回路の動作をテストするテストモードにおいて、テストモード判定回路３０からテストモード信号ＴＭをＰＯＲ回路２５に入力する。 - 特許庁

To obtain a much information on a semiconductor device determined as a defective, in a burn-in testing device for executing heating test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを加熱試験するバーンイン試験装置において、不良品と判定された半導体デバイスについて多くの情報を得る。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing semiconductor devices which can more efficiently and accurately suppress the effluence of defective products.例文帳に追加

より効率良く、より高い精度で不良品の流出を抑制することが可能な半導体装置の検査方法と検査装置を提供する。 - 特許庁

(xvi) Equipment for manufacturing or testing of semiconductor devices or materials, or components or accessories therefor 例文帳に追加

（十六）　半導体素子、集積回路若しくは半導体物質の製造用の装置若しくは試験装置又はこれらの部分品若しくは附属品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The fire receiver has a communication part 13C for transmitting the fire signal to a WWW serer 30 through the Internet 9 at the time of testing.例文帳に追加

火災受信機は、試験時に火災信号をインターネット網９を介してＷＷＷサーバ３０に送信する通信部１３Ｃを有する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing protection of a power receiving and distributing facility system which can safely and efficiently test various electrical device of a power receiving and distributing facility.例文帳に追加

受配電設備の各種電気機器を安全で効率的に行える受配電設備系統保護試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a measuring device to be used is changed.例文帳に追加

使用する測定器に変更が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a jig for testing in-plane shearing capable of accurately and simply measuring the in-plane shearing characteristics of a sheetlike material.例文帳に追加

シート状材料の面内せん断特性を正確かつ簡便に測定することができる面内せん断試験用治具の提供を目的とする。 - 特許庁

This LSI comprises an external terminal 21 for inputting a wait signal MWAIT from a testing device to be connected at the time of the high-speed test.例文帳に追加

高速試験を行うときに接続する試験装置から、ウエイト信号ＭＷＡＩＴを入力するための外部端子２１を設ける。 - 特許庁

To accelerate a test concerning a memory to be tested by shortening time for testing concerning each bit included in the memory cells of the memory to be tested.例文帳に追加

被試験メモリのメモリセルに含まれる各ビットに関する試験時間を短縮し、被試験メモリに関する試験を高速化することができる。 - 特許庁

To provide a system and method for metallic-testing a subscriber line that provides both voice and digital subscriber line services.例文帳に追加

音声及びＤＳＬサービスを提供するメタル加入者回線のテストを行なうシステム及び方法を提供することが本発明の課題である。 - 特許庁

To provide an automatic penetration testing machine and a method for pulling out a penetration rod by which the penetration rod can be pulled out surely from a ground.例文帳に追加

貫入ロッドを地中からより確実に引き抜くことのできる自動貫入試験機および貫入ロッドの引き抜き方法の提供。 - 特許庁

To provide a magnetic field generator for sensor testing which generates a longitudinally long and also uniform magnetic field without enlarging its size.例文帳に追加

装置を大型化することなく長手方向に長く、かつ、均一な磁場を発生させることが可能なセンサ検査用磁場発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for destructively testing a jig clamper capable of precisely grasping the strength of a jig clamper, and a method therefor.例文帳に追加

治具クランパの強度を精度高く把握することができる治具クランパ破壊試験装置及び治具クランパ破壊試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing chemical sensitivity of metallo-β- lactamase-producing strains that are regarded as microorgansms causing serious nosocomial infections.例文帳に追加

本発明は院内感染の原因菌として問題になっているメタロ−β−ラクタマーゼ産生菌の薬剤感受性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an operation check system for integrated circuit boards which easily can make testing of two or more output elements and its disconnection, short circuiting, or other abnormalities.例文帳に追加

複数の出力素子及びその断線、短絡、その他の異常の検査が容易な集積回路基板の動作チェック装置を提供する。 - 特許庁

In the tester for testing magnetic characteristics of veneer, the surface of a magnetic pole of a yoke is allowed to directly abut against, in a sample at a region having a sample width of 5-90%.例文帳に追加

単板磁気特性試験用試験器において、ヨークの磁極面を、試料幅の５〜90％の領域で試料と直接接触させる。 - 特許庁

The system profile includes a set of compatible vendor software components and a selected TOS for testing a particular hardware test module version.例文帳に追加

システムプロファイルは、１組の互換性のあるベンダソフトウェアコンポーネントと、特定のハードウェア試験モジュールバージョンを試験する選択されたＴＯＳとを含む。 - 特許庁

To rapidly and efficiently inspect a torque wrench 12 in an operating device for testing the torque wrench having a data storage device 14.例文帳に追加

データ記憶装置１４を備えたトルクレンチ１２を検査する操作装置において、トルクレンチの検査を迅速かつ効率的に実施できるようにする。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control device 10 functioning as a bot detection device for detecting a bot which performs illegal communication.例文帳に追加

試験装置９００は、不正な通信を行うボットを検出するボット検出装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING IT, AND SUBSTRATE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WHERE SCAN TEST CIRCUIT IS MOUNTED例文帳に追加

スキャンテスト回路及びスキャンテスト回路を含む半導体集積回路及びスキャンテスト回路を搭載した半導体集積回路試験用基板 - 特許庁

To provide a logic circuit having a testing function for accurately detecting the inner state of the logic circuit by a simple circuit configuration.例文帳に追加

簡単な回路構成により論理回路の内部状態を正確に検出することができるテスト機能を有する論理回路を提供する。 - 特許庁