「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(86ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reliably and easily confirming the operations in a low-speed operation and high-speed operation of a test waveform creating part for outputting waveforms for test.例文帳に追加

試験用波形を出力する試験用波形生成部の、低速動作や高速動作における確実な動作の確認が容易な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the time for testing a test circuit, and to improve the reliability of the test performed for a circuit under test, by performing detection of the malfunction of the test circuit.例文帳に追加

テスト回路の故障検出をおこなうことにより、テスト回路の試験時間の短縮化および試験対象回路におこなう試験の信頼性の向上を図ること。 - 特許庁

To provide a means for inspecting a module (DUT) to be tested, removed from a scan path for a chip test of ASIC, using a simple mechanism without using a special testing module or the like.例文帳に追加

ＡＳＩＣのチップ・テストのために、スキャン・パスから外れたＤＵＴを、特別なテスト・モヂュールなど無しに、簡単な機構で検査していく手段を実現すること。 - 特許庁

PHP projects can easily be deployed from within NetBeans IDE 6.5 for testing to local or remote servers via FTP, or by the use of an upload script for more complexdeployments.例文帳に追加

PHP プロジェクトは、FTP 経由でテスト用の NetBeans IDE 6.5 から、ローカルサーバーまたはリモートサーバーに簡単に配備できます。 または、さらに複雑な配備に対しては、アップロードスクリプトを使用できます。 - NetBeans

To provide an apparatus for testing a semiconductor which shortens a period for adjusting skew between a plurality of drivers, and which can correctly calculate skew with less error.例文帳に追加

複数のドライバ間のスキューを調整する時間を短縮すると共に、誤差を少なくして正確にスキューを演算することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To determine whether or not a semiconductor redundant memory cell is selected without requiring an input/output terminal for testing or a test circuit for a defective memory cell.例文帳に追加

テスト用の入出力端子や不良メモリセル用のテスト回路を必要とすることなく、半導体冗長メモリセルが選択されたか否かを判断できるようにする。 - 特許庁

To provide a contact substrate for testing semiconductor device for conducting a test of an electronic component to be tested having fine electrode structure, while holding satisfactory electric contact.例文帳に追加

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体装置試験用コンタクト基板を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ENFORCEMENT OF LOGICAL PARTITIONING, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE METHOD RECORDED THEREON, AND LOGICAL PARTITIONING TEST SYSTEM例文帳に追加

ロジカル・パーティショニングの実施をテストする方法、その方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録コンピューター可読記録媒体及びロジカル・パーティショニング・テスト・システム - 特許庁

To develop an evaluation apparatus for displaying a heat insulating paint film, for testing rapidly at any location and so that the consumer can easily understand intuitively.例文帳に追加

試験用遮熱塗膜を、いかなる場所においても迅速に、かつ需要者に対して直感的に判り易く展示することができる評価装置を開発すること。 - 特許庁

To provide a method for stably directing and converting phospholipid into a solid phase, and a base material for testing anti phospholipid antigen which is excellent in reproducibility and accuracy by using the method.例文帳に追加

リン脂質を安定に配向固相化させる方法、及びその方法を利用し、再現性、精度に優れた抗リン脂質抗体検査用基材を提供する。 - 特許庁

Therefore, further preparation and dissemination of accurate information regarding hepatitis is required for the general public, as well as testing for hepatitis infection.例文帳に追加

このため、国民一人一人が自らの肝炎ウイルスの感染の有無を把握し、肝炎についての正しい知識を持つよう、更なる普及啓発に取り組む必要がある。 - 厚生労働省

The lead connection part 32 is provided with connection structure for connecting the lead wire for testing the current loading, and the trunk part 33 is provided with an insulation coating 35 so as to surround the circumferential surface.例文帳に追加

リード接続部３２は課電試験用のリード線を接続する接続構造を有し、胴部３３の外周を包囲するように絶縁被覆３５が設けられる。 - 特許庁

To provide a communication system for testing communications apparatuses compatible with a QoS (Quality of Service) test and an access line interconnecting them, without the need for separate connection of a measurement apparatus.例文帳に追加

別途測定装置を接続することなく、ＱｏＳ（Quality of Service）試験に対応した通信装置やこれらを接続するアクセス回線を試験する通信システムに関する。 - 特許庁

An input clock CI is divided by a dividing means 101 to generate a divided clock Cn used for an actual operation and a testing clock TC used for the test.例文帳に追加

入力クロックＣＩを分周手段１０１により分周して実動作に用いる分周クロックＣｎと試験時に用いる試験用クロックＴＣを生成する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of enhancing a through-put of a PBSOA proof level test for a semiconductor element, and capable of reducing a cost for finding a defective element.例文帳に追加

半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量試験のスループットを向上し、かつ不良素子の発見のためのコストを低下できる半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cleaning sheet for various devices, for example, a manufacturing device or a testing device for a semiconductor, a flat panel display and a printed circuit board, i.e., a cleaning sheet for a substrate treating device which dislikes foreign materials.例文帳に追加

本発明は、各種装置をクリーニングするシートに関し、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイ、プリント基板などの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置などのクリーニングシートを提供する。 - 特許庁

A transmission part 101 for transmitting the test cell for testing exchange processing and an examination part 201 for receiving the test cell transmitted from the transmission part 101 and examining that test cell are provided for every line.例文帳に追加

交換処理を試験するための試験セルを送信する送信部１０１と、前記送信手段より送信された試験セルを受信し、当該試験セルの検査を行う検査部２０１とを回線ごとに設けておく。 - 特許庁

The patch for testing skin reaction has both a transparent film 12 to be pasted to the skin by an adhesive 14, and a gel body 16 for the tests provided for the surface of the transparent film 12 on the side of the adhesive 14 for observing the reaction of the skin.例文帳に追加

粘着剤１４により皮膚に貼付される透明フィルム１２と、透明フィルム１２の粘着剤１４側の面に設けられ皮膚の反応を見る被験物質を添加した検査用ゲル体１６とを有する。 - 特許庁

To provide a performance test for deciding the performance for removing fine particles in a membrane, and to provide a new method for testing the integrity to verify whether the membrane, after use is within a preset range in the performance for removing fine particles.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認する完全性試験の新しい方法を提供する。 - 特許庁

A quality judging specification result for the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element on a wafer carried out using the determined specification value as the specification value for the avalanche proof level test is made to serve as a quality judged result in the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

決定された規格値をアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値として行ったウエーハ上の試験対象半導体素子のアバランシェ耐量試験の合否判断結果を、その試験対象半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量の試験での合否判断結果とする。 - 特許庁

When signals for testing are inputted to respective input terminals 5A to 5D via respective signal lines Sig0T to Sig3T, the digital-analogue conversion circuit 6 converts digital signals of the signals for testing to an analogue signal so as to output it to a signal line So via an output terminal 7.例文帳に追加

デジタルアナログ変換回路６は、各信号線Ｓｉｇ０Ｔ〜Ｓｉｇ３Ｔを通じるテスト用の信号が、入力端子５Ａ〜５Ｄからそれぞれ入力されると、このテスト用の信号を、デジタル信号からアナログ信号に変換して、出力端子７から、信号線Ｓｏへと出力する。 - 特許庁

To provide semiconductor device testing equipment capable of supporting even a thin wafer without flexural deformation thereof, and which eliminates the need for moving a probe needle in contact with a back surface electrode of the wafer even when a semiconductor element to be tested is shifted; a testing method using the same; and a coaxial probe needle unit used for the same.例文帳に追加

薄いウエハでも撓みなく支持でき、測定される半導体素子が切り替わった場合でも、ウエハの裏面電極と接触するプローブ針を移動させる必要のない半導体測定装置及び測定方法並びに同軸プローブ針ユニットを提供すること。 - 特許庁

To control temperature of a cooling liquid in an engine to desired temperature faster than conventionally, for an engine cooling liquid control unit which sends out a cooling liquid to an engine to be tested, by controlling the temperature of the cooling liquid and a testing system on an engine stand for testing engine on the stand.例文帳に追加

本発明は、冷却液の温度を制御して試験対象のエンジンに送り出すエンジン冷却液制御装置、およびエンジンの台上試験を行なうエンジン台上試験システムに関し、エンジンの冷却液温度を従来よりも高速に所望の温度に制御する。 - 特許庁

To provide a system and method for measuring wind tunnel internal phase pair distance, capable of quantitatively conducting proximity decision of a plurality of mutual testing bodies with high accuracy, while contactlessly measuring a relative distance of the testing bodies used for internal test of a wind tunnel measurement unit in a short time.例文帳に追加

風洞測定部内試験に用いられる複数の試験体の相対距離を非接触かつ短時間で計測しつつ、試験体同士の近接判定を高精度かつ定量的に行うことができる風洞内相対距離計測システム及び風洞内相対距離計測方法を提供する。 - 特許庁

The testing device for testing the encoder wherein the output shaft is rotated corresponding to rotation of the input shaft via the power transmission device includes a control part for controlling rotation of the input shaft, and detecting the error between the rotation position of the input shaft and the rotation position of the output shaft.例文帳に追加

入力軸の回転に応じて出力軸が動力伝達装置を介して回転するエンコーダを試験する試験装置が、入力軸の回転を制御するとともに、入力軸の回転位置と出力軸の回転位置との誤差を検出する制御部を備える。 - 特許庁

To provide a kit for testing humor components for both performing clinical tests on humors such as saliva as a specimen and testing the specimen after the reduction of viscosity of the specimen and the removal of bubbles only by the easy operation of supplying the specimen to the test kit.例文帳に追加

唾液等の体液成分を検体として臨床検査を行う検査具であって、検体を検査具に供給するという簡易な操作のみで、検体の粘性の低減および気泡の除去がなされた後に検体の検査が行われる体液成分検査具を提供する。 - 特許庁

Then, the testing method comprises a formation process for pushing the flat work 5 into the forming dice 1 by the punch 3, and a machining process for pushing a flat work 5' formed in the formation process into the ironing dice 2 by the punch 3, by using the testing apparatus, thus measuring the damage generated during the machining process.例文帳に追加

そして、上記装置を用い、板状ワーク５をパンチ３により成形ダイス１に押し込む成形工程と、成形工程で成形された板状ワーク５’をパンチ３によりしごきダイス２に押し込んでしごく加工工程と、からなり、しごき加工工程中に発生する損傷を測定する。 - 特許庁

This solid preparation for dissolution in oral cavity comprises a part containing an oral medicine for treatment of common cold disintegrated within 45 sec to 2 min and a part containing antiinflammatory ingredient to throat disintegrated beyond 3 min, when carrying out disintegration testing according to a disintegration testing method of Japanese Pharmacopoeia.例文帳に追加

日本薬局方の崩壊試験法に従って崩壊試験を行ったとき、４５秒〜２分間に崩壊する風邪治療内服薬物を含む部分及び３分を超えて崩壊するのどに対する消炎成分を含む部分からなる口腔内溶解用固形製剤。 - 特許庁

To provide an LED light source for testing devices, capable of fixedly maintaining the temperatures of LEDs and restraining the output variations and color unevenness of the LEDs, and to provide a solar cell evaluation device capable of precisely evaluating the output characteristics of solar cells by the LED light source for the testing devices.例文帳に追加

ＬＥＤの温度を一定に保って該ＬＥＤの出力変動及び照射光の色ムラの発生を抑えることができる試験装置用ＬＥＤ光源とこれを用いて太陽電池の出力特性を高精度に評価することができる太陽電池評価装置を提供すること。 - 特許庁

A public authority, foundation, company or other organisation that establishes standards for or conducts any other testing on goods or services may acquire an exclusive right to use a trademark for such goods or services to which the standards or the testing apply (guarantee or certification mark).例文帳に追加

商品又はサービスに関して規格を制定する又はその他の試験を実施する公的機関，財団，会社その他の組織は，当該規格又は試験が適用される当該商品又はサービスのために商標を使用する排他的権利(保証又は証明標章)を取得することができる。 - 特許庁

The delay control circuit 1 includes a reference variable delay circuit 3 which delays a reference clock signal, a strobe variable delay circuit 17 which delays the strobe signal, and the delay control circuit 9 for testing which sets a delay time for testing on the variable delay circuits 3 and 17 having the same constitution.例文帳に追加

遅延制御回路１は、基準クロック信号を遅延させる基準可変遅延回路３と、ストローブ信号を遅延させるストローブ可変遅延回路１７と、同一構成である上記可変遅延回路３，１７にテスト用遅延時間を設定するテスト用遅延制御回路９と、を備える。 - 特許庁

To provide a method for testing and inspecting valve by which the performance changes of valves with temperature changes can be obtained by testing the valves under conditions close to the actual working conditions of the valves and which is suitable to, particularly, flow passages for low- temperature fluids requiring high accuracy.例文帳に追加

実際の使用状態に近い状態でバルブの試験を行なうことによって、温度変化によるバルブの性能の変化を得ることのできるバルブの試験方法であり、特に、高精度が要求される低温流体流路に好適なバルブの試験・検査方法を提供すること。 - 特許庁

This solid preparation for dissolution in oral cavity comprises a part containing an oral medicine for treatment of common cold disintegrated within 45 sec to 2 min and a part containing a sterilization ingredient in oral cavity disintegrated beyond 3 min, when carrying out disintegration testing according to a disintegration testing method of Japanese Pharmacopoeia.例文帳に追加

日本薬局方の崩壊試験法に従って崩壊試験を行ったとき、４５秒〜２分間に崩壊する風邪治療内服薬物を含む部分及び３分を超えて崩壊する口腔内殺菌成分を含む部分からなる口腔内溶解用固形製剤。 - 特許庁

In addition, when the data value exceeds the testing threshold, as compared with the local protecting threshold that the local protection of the load device 60 acts, and the controller for testing 50 makes the feeding from the electric power unit 20, and the load device 30 to the local protection of the device for driving load device 60 interrupted.例文帳に追加

そして、試験用コントローラ５０は、負荷駆動装置６０のローカル保護が動作するローカル保護用しきい値よりも小さい試験用しきい値を上記のデータ値が超えたとき、電源装置２０および負荷装置３０から負荷駆動装置６０への給電を遮断させる。 - 特許庁

The testing device, which sucks up work with a suction head 3 movable in x-axis and y-axis directions and transfers it to a testing jig 12 to test it, comprises a transfer means for sucking up and moving trays 8 and 10 for housing work sorted into conforming and nonconforming articles.例文帳に追加

ワークをＸ軸、Ｙ軸方向に移動可能な吸着ヘッド３で吸着して試験治具１２に移送し試験を行う試験装置において、良品、不良品に選別されたワークを収容するトレー８、１０を吸着して移動するための移送手段を備える。 - 特許庁

To obtain a conjugate suitable for a lateral flow testing method and other testing methods for detecting the presence of a test specimen in a test sample, stable even when the humidity fluctuates and capable of forming stable covalent bonds with molecules containing a free primary amine or a free secondary amine or a sulfhydryl group even after long-term storage.例文帳に追加

試験サンプル中の被検体の存在を検出するための横流および他の試験法に適し、湿度が変動しても安定で、かつ長期の貯蔵後でも遊離第１または第２アミンあるいはスルフヒドリル基を含む分子と安定な共有結合を作る共役体の提供。 - 特許庁

Even when internal configuration is different for every memory (when correspondence relation between a program address specified by a testing program and a physical address in a memory is different), a memory testing program can be used universally by inputting externally correspondence relation for every memory.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

To provide an information-processing device which verifies and evaluates the operation of software which is installed in equipment, both under an environment of an evaluation-object machine and under an environment of an emulator, and also to provide an image-processing device, a method for testing software operation, a program for testing software operation, and a recording medium to which the program is recorded.例文帳に追加

評価対象機とエミュレータの両方の環境において、機器に搭載されるソフトウェアの動作を検証・評価することが可能な情報処理装置、画像処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

The device for inspecting solder material is equipped with a storage unit 14 where teacher data that a print processing time required for performing print processing by the use of a testing solder material is correlated with deterioration data on the testing solder material in the print processing time are previously stored, and a control unit 13.例文帳に追加

半田材検査装置は、試験用半田材を用いて印刷処理を実行したときの印刷処理時間と、上記印刷処理時間における試験用半田材の劣化度データとを対応付けた教師データを予め記憶した記憶部１４と、制御部１３とを備える。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of enhancing reliability of a testing objective circuit, in a device for carrying out a burn-in test for a semiconductor integrated circuit of a testing object, and to provide a semiconductor integrated circuit device capable of dispensing with preparing separately a circuit for the burn-in test in an outside.例文帳に追加

試験対象となる半導体集積回路に対してバーンイン試験を行う装置において、試験対象回路の信頼性をより向上できるようにしたバーンイン装置を提供し、バーンイン試験用の回路を別途外部に用意する必要をなくした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To easily form an alignment mark that can be recognized by an existing wafer prober for a semiconductor device, that has a plurality of semiconductor elements being arranged for sealing and is positioned by image recognition for testing, its trial manufacturing method, and its testing method.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体素子が連なった状態で封止され、画像認識により位置決めされて試験に供される半導体装置、半導体装置の試験製造方法及び半導体装置の試験方法に関し、既存のウェーハプローバで認識可能なアライメントマークを容易に形成することを課題とする。 - 特許庁

To provide a trace element testing and analyzing method and a trace element testing and analyzing pretreatment device for conducting microwave irradiation and ultrasonic treatment concurrently, by effective treatment for analyzing trace amounts of elements in various solid product or materials, and for precisely conducting test and analysis by decomposing these, in a short time.例文帳に追加

様々の固体製品または材料中の微量元素を分析する上でより効果的な前処理によるマイクロウエーブ照射と超音波処理を同時に行い、短時間で精度良く分解して試験分析を行う微量元素試験分析方法および微量元素試験分析前処理装置を提供する。 - 特許庁

The substrate for the adhesive skin patch comprises a hydroentangled nonwoven fabric containing a fiber having a tensile strength of 1-4 cN/dtex, measured according to JIS L1015:1999 (testing method for chemical staple fibers), and a knot strength of 1-4 cN, measured according to JIS L1015:1999 (testing method for chemical staple fibers).例文帳に追加

本発明の貼付薬用基材は、ＪＩＳ Ｌ１０１５：１９９９（化学繊維ステープル試験方法）に規定される引張強さが１〜４ｃＮ／ｄｔｅｘで、かつＪＩＳ Ｌ１０１５：１９９９（化学繊維ステープル試験方法）に規定される結節強さが１〜４ｃＮである繊維を含む水流絡合不織布からなる。 - 特許庁

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁

The method for evaluating whether the testing specimen is an activating agent or an inhibitor for the sensitizing substance or the method for screening comprises incubating a MIP-1-expressing cell with both the sensitizing substance and the testing substance and then detecting the MIP-1 released from the cell.例文帳に追加

本発明はさらに、MIP-1を発現する細胞と、感作性物質と被験物質とを一緒にインキュベートし、該細胞から放出されたMIP-1分子を検出することを特徴とする、該被験物質が該感作性物質に対する活性化剤又は抑制剤であるか否かを評価する方法又はスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁