「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(83ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for testing a semiconductor device, by which a precise test corresponding to an actual using state can be performed to an accelerated semiconductor device, even if using a testing device of slow operation which is used conventionally.例文帳に追加

従来から使用していた動作速度の遅いテスト装置を用いても高速化された半導体装置に対して実際の使用状態に即した正確なテストを行うことができる半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a puncture testing device for tires which enables visual observation of the condition of a puncture and remarkable reduction in puncture testing cost, by reproducing the condition of the puncture having an inside pressure by using a sample piece of a tire.例文帳に追加

タイヤのサンプル片を用いて内圧を付与したパンク状況を再現することにより、パンク状況を目視により観察可能にし、かつタイヤのパンク試験コストを大きく削減することが可能なタイヤのパンク試験装置を提供する。 - 特許庁

Consequently, the joining strength is easily and rapidly found by dispensing with preparation of testing members, and joining and strength test of each testing member, for each joining of each joining member, which are needed in prior arts.例文帳に追加

これによって従来技術のように各接合部材の接合ごとに、供試部材の準備、各供試部材の接合、供試部材の強度試験を行なう必要がなく、接合強度を容易にかつ短時間に求めることができる。 - 特許庁

To provide a system for enabling the testing of sleep disorder to be carried out in high repeatability; and to provide an animal model of the sleep disorder, such as the animal model of sleep apnea syndrome by using the testing system.例文帳に追加

再現性の高い睡眠障害実験を可能とする実験システムを提供すること、および、この実験システムを使用して睡眠時無呼吸症候群モデル動物など睡眠障害のモデル動物を提供すること。 - 特許庁

Laser power Pe for erasure and a defocus amount Δf to a targeted recording layer of an optical head 3 radiating a laser beam are changed to perform testing erasure of data of each recording layer in a testing region T in the multilayer optical disk 1.例文帳に追加

多層光ディスク１内のテスト領域Ｔにおいて、消去用レーザパワーＰｅと、レーザ光を照射する光ヘッド３の目標の記録層に対するデフォーカス量Δｆを変えて、各記録層のデータの試し消去を行う。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which accurately controls, in particular, a temperature in a test tank into a test temperature and to provide a compact variable fin area radiator for use in the electronic component testing device.例文帳に追加

本発明は電子部品試験装置に関し、特に試験槽内の温度を精度よく試験温度に制御する電子部品試験装置と電子部品試験装置に使用するコンパクトなフィン面積可変型ラジエーターに関するものである。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a testing method for accurately determining the quality, even if a thin plate material member as a concave-convex member has a processed shape, and a concave-convex shaped surface.例文帳に追加

この発明は、薄板材状部材に形状加工を施して表面が凹凸状に形成された凹凸状部材であっても、正確に良否を判定することのできる検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a media converter, a loop testing method and a loop testing program with which transmission normality can be confirmed in two ways in a loop test using the media converter for converting media between different transmission media.例文帳に追加

異なる伝送媒体間の媒体変換を行うメディアコンバータを用いたループ試験の際に、双方向にて伝送正常性を確認させることが可能なメディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラムを提供する。 - 特許庁

The testing system is equipped with a socket 31 where the semiconductor package 1 is placed with the electrode surface on the upside; and a testing device 2 provided on the upside of the socket 31, for executing the test in contact with the electrode of the semiconductor package 1.例文帳に追加

そして、かかるテストシステムは、半導体パッケージ１を電極面を上方にして載置するソケット３１と、ソケット３１の上方に設けられ、半導体パッケージ１の電極と接触してテストを実行するテスト装置２とを備えている。 - 特許庁

To provide a technique as to a test for a semiconductor device, capable of reducing lot switching work to enhance an operation rate of a semiconductor testing device, when testing the semiconductor devices of small lot multi-product.例文帳に追加

少量多品種の半導体デバイスを試験する場合、ロットの切り替え作業を削減して、半導体デバイス試験装置の稼働率を向上を可能とする半導体デバイスの試験に関する技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an information acquiring method and device for quickly and precisely testing identification information by satisfactorily evading radio waves from a transmitter mounted on an adjacent vehicle at the time of testing identification information.例文帳に追加

識別情報を検査するときに、隣接する車両に搭載されている送信装置からの電波を良好に回避し、短時間で精度良く識別情報を検査できる情報取得方法及び情報取得装置を得る。 - 特許庁

When testing the IC card program, the IC card test device 1 successively interprets statements included in the designated test script, and makes an emulator 2 execute the interpreted processing for testing the IC card program stored in the emulator 2.例文帳に追加

ＩＣカードプログラムをテストするとき、ＩＣカードテスト装置１は、指定されたテストスクリプトに含まれるステートメントを逐次解釈し、解釈した処理をエミュレータ２に実行させることで、エミュレータ２に記憶されたＩＣカードプログラムをテストする。 - 特許庁

To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".例文帳に追加

「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁

To solve the problem that a capacity of a battery is reduced, a change to backup power supply is delayed when a power failure occurs during lifetime determination testing, and the reliability of power supply back up is deteriorated, since the lifetime determination testing is performed for every constant period of time.例文帳に追加

一定時間毎に寿命判定試験を行うため、バッテリー容量が減少し、寿命判定試験中に停電が発生するとバックアップ電源への切り替えが遅れ、電源バックアップの信頼性が低下する。 - 特許庁

To provide a load-applied electric resistance measurement testing machine for evaluating new material characteristics by measuring the relationship between the amount of push-in and electric resistance, and a hardness- testing machine with a load-applied electric resistance measurement function.例文帳に追加

押し込み量と電気抵抗との関係を測定可能にすることにより新たな材料特性評価が可能な荷重負荷電気抵抗測定試験機、及び荷重負荷電気抵抗測定機能を具備した硬さ試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device.例文帳に追加

簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To perform underwater testing with a small volume testing box provided with a means for surely removing clogging at defects without diving, even when clogging at penetration defects of such as underwater parent material and welded part.例文帳に追加

水中の内張りの母材および溶接部などの貫通欠陥が目詰まりしていても、作業員が潜水することなく、欠陥の目詰まりを確実に除去する手段を備えた内容積の小さい検査箱で水中検査を実施する。 - 特許庁

The fatigue testing instrument includes the first roller 1010 and the second roller 1020 wound with the ring of a fatigue testing object, and for imparting a prescribed tensile stress and bending stress to the ring to be rotated at a prescribed speed.例文帳に追加

疲労試験装置は、疲労試験対象のリングが巻き掛けられ、そのリングに所定の引張り応力および曲げ応力を付与して所定の速度で回転させる第１ローラ１０１０および第２ローラ１０２０を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a clock enable logic and a clock gating cell without necessitating a separate flip-flop for testing (operation of) a combination circuit constituting an enable logic of a clock gating.例文帳に追加

本発明は、クロックゲーティングのイネーブルロジックを構成する組合せ回路部（動作）試験用のフリップフロップを別個に必要とせずにクロックイネーブルロジック及びクロックゲーティングセルを試験可能な半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

A signal delay part 24 is arranged on a communication passage of the CPU 10 and the trial shoot testing terminal 22 for transferring a control data signal outputted from the CPU 10 to the trial shoot testing terminal 22 by delaying by a prescribed time.例文帳に追加

ＣＰＵ１０と試射試験用端子２２との通信経路上には、ＣＰＵ１０から出力される制御データ信号を所定時間遅延させて試射試験用端子２２に転送する信号遅延部２４が設けられている。 - 特許庁

In the case a carrier leakage can be suppressed under a certain condition, this method for adjusting and testing the DBM circuit which can suppress the carrier leakage and eliminate testing even though an LO input level and a power supply voltage fluctuate.例文帳に追加

そして、ある条件下でキャリアリークの抑圧が可能であれば、LO入力レベル、電源電圧が変動してもキャリアリークが抑圧が可能であり、検査が省略可能であることを特徴とするDBM回路の調整及び検査手法。 - 特許庁

To provide a testing method for a sintered body capable of efficiently inspecting the sintered body such as a ring-shaped or cylindrical sintered magnet or the like or a specimen with high precision, a flaw inspection method of the specimen and a testing machine.例文帳に追加

リング状、円筒状の焼結磁石等の焼結体や供試体を、高い精度でかつ効率良く検査することのできる焼結体の試験方法、供試体の欠陥検査方法、試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To allow a test object to be properly irradiated with testing purpose radio wave without incurring an increase in cost of an amplifier used for transmitting the testing purpose radio wave in the case of carrying out an EMC test (particularly, an immunity test).例文帳に追加

ＥＭＣ試験（特にイミュニティ試験）を行うに当たって、試験用電波を送信するのに用いられる増幅器のコストアップを招くことなく、試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。 - 特許庁

To provide a substrate for testing of a semiconductor integrated circuit capable of drawing out wirings to external connection terminals, even if the number of electrodes of a wafer level CSP in a state of a wafer is huge, and to provide a semiconductor integrated circuit testing system using the same.例文帳に追加

ウェーハ状態のウェーハレベルＣＳＰの電極の数が膨大であっても外部接続端子への引き出しが可能な半導体集積回路試験用基板、およびそれを用いた半導体集積回路試験システムを提供する - 特許庁

To provide power supply unit and testing apparatus for measuring power supply current which flows through a target device, without being affected by the dielectric absorption current in a bypass capacitor.例文帳に追加

バイパスコンデンサにおける誘電体吸収電流の影響を除去して、対象デバイスに流れる電源電流を測定する。 - 特許庁

To provide a simple and low-cost system and a method for testing properties of electronic parts such as magnetic head parts and magnetic media parts.例文帳に追加

磁気ヘッド部品や磁気媒体部品等の電子部品の特性を調べるための簡易で低コストの装置および手法を提供する。 - 特許庁

To provide a constitution capable of correctly controlling humidity, even when additive gas is introduced into the testing chamber for the environmental test device.例文帳に追加

環境試験装置において、試験槽内に添加ガスを導入した場合でも正確に湿度調整ができる構成を提供する。 - 特許庁

To provide a cam which can test for the presence of defect of a priority encoder, and a method of testing the presence of defect of a priority encoder.例文帳に追加

優先順位エンコーダの欠陥有無テストが可能なＣＡＭ及び優先順位エンコーダの欠陥有無テスト方法を提供する。 - 特許庁

To decrease the scale of a microcomputer for testing a memory part and a logic part, and to eliminate the wasted time of the test to shorten a test time.例文帳に追加

メモリ部及びロジック部をテスト可能なマイコンを小規模化し、かつテストにおける無駄な時間を解消し、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a programmable self-test controller useful in self-testing for many types of memory defects of different manufacturers or different design methods.例文帳に追加

メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁

To provide a measuring control apparatus for a material testing machine having an operation part good in operability and capable of achieving the filling-up of visual data.例文帳に追加

操作性がよく視覚情報の充実が図られる操作部を備えた材料試験機用計測制御装置を提供する。 - 特許庁

The method prevents the dilution of a sample in an apparatus such as a diagnostic analyzer or an apparatus for immunohematological testing of blood.例文帳に追加

本方法は免疫血液のテストに用いる装置又は臨床分析器の如き装置におけるサンプルの希釈を阻止することに関する。 - 特許庁

The present invention provides an improved IC tester for testing a tested object, on the basis of the pattern data stored in a pattern memory.例文帳に追加

本発明は、パターンメモリに格納されたパターンデータに基づいて、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a method and a device for holding a tire that can shorten a measuring cycle of dynamic unbalance of the tire and can simplify a tire testing machine.例文帳に追加

タイヤの動的不釣合測定サイクルを短くでき、タイヤ試験機を簡素化できるタイヤ保持方法及び保持装置の提供。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit 1 has a memory function block 11 having a variable memory capacity, a functional block 12 and a terminal group 14 for testing.例文帳に追加

半導体集積回路１は、メモリ容量が可変のメモリ機能ブロック１１、機能ブロック１２、およびテスト用の端子群１４を備える。 - 特許庁

To provide a microcomputer capable of carrying out various self-tests including a function of a security circuit without providing a pad for testing on a chip.例文帳に追加

チップ上に試験用のパッドを設けずに、セキュリティ回路の機能を含む各種の自己試験ができるマイクロコンピュータを提供する。 - 特許庁

The machine for testing contour and barrier of the bottle 10 continuously-fed to two test stations through conveyor 12 is disclosed.例文帳に追加

コンベア１２により連続的に２つの検査ステーションに供給される瓶１０の輪郭及び壁を検査する機械が開示されている。 - 特許庁

To reduce the attenuation of a signal obtained during transmission, and further to accurately measure the electric characteristics of an object for testing with low signal attenuation.例文帳に追加

送信中に得られる信号の減衰を減らし、さらに、低い信号減衰で、テスト用物体の電気的特性を正確に測ること。 - 特許庁

To provide a life testing apparatus for portable terminals with sliding mechanism having high accuracy of a life test and inexpensively performing the test.例文帳に追加

寿命試験の精度が高く、しかも試験が安価に実施できる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a testing device for a signal protection system which can improve a test efficiency at a test of the signal protection system.例文帳に追加

信号保安システムの試験において試験効率を向上させることができる信号保安システムの試験装置を得ることである。 - 特許庁

A chip 1 is provided with a power source terminal TDD used for both power supply in normal use and power supply in IDDq testing.例文帳に追加

チップ１は、通常使用時の電力供給とＩ_DDq テスト時の電力供給とに共用される電源端子Ｔ_DDを備えている。 - 特許庁

To provide a material testing machine for a fine test piece capable of measuring a fatigue characteristic and a tensile characteristic of the fine test piece with high accuracy.例文帳に追加

微小試験片の疲労特性及び引張特性を高精度に測定できる微小試験片用材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide device and method for cell testing by which any action of a damaged cell is properly verified.例文帳に追加

電池が破損した場合の振る舞いを適切に検証することが可能となる電池試験装置及び電池試験方法を提供する。 - 特許庁

To prepare operating-component data that allow to execute the same key-operation testing as that of executed by a skilled worker in a short period of time for each operation unit.例文帳に追加

熟練者と同じキー操作試験を操作単位毎に短時間で行うことを可能にする操作部品データを作成する。 - 特許庁

(ii) Is management of product data provided for use in system testing conducted appropriately, in accordance with the policy and procedures specified by the institution? 例文帳に追加

（ⅱ）本番データの貸与について、方針及び手続きに従った運用を行うなど、本番データの管理を適切に行っているか。 - 金融庁