「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(87ページ目) - Weblio英語例文検索

The apparatus for testing the power conversion apparatus used in place of the finished-product power converter includes a testing power converter having a lower output capacity than this power converter, and a high-frequency voltage application device applying a noise voltage to between a reference potential section of a control circuit and a ground potential section of the testing power converter.例文帳に追加

提案する電力変換装置の試験装置は、最終製品の電力変換器に換えて用いられて、この電力変換器よりも出力容量が小さい試験用電力変換器と、制御回路の基準電位部と、前記試験用電力変換器の接地電位部との間にノイズ電圧を印加する高周波電圧印加装置と、を備える。 - 特許庁

The locus of the testing puncture needle tip is recorded and saved in a guide line inserted through the 23G testing puncture needle, and the introducer is guided by the guide line, whereby the process of puncture using a thick puncture needle is omitted to guide the tip of the introducer in the vein through the same pathway as that for passing the 23G testing puncture needle.例文帳に追加

２３Ｇ試験穿刺針を通じて挿入したガイドラインに試験穿刺針先端の軌跡を記録保存させ、前記ガイドラインにイントロデューサーを案内させることにより、太い穿刺針を使用する本穿刺の過程を省略し、２３Ｇ試験穿刺針が通過したと同じ経路を通ってイントロデューサーの先端を静脈内に誘導させる。 - 特許庁

(3) In the event that the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism has decided to execute the testing procedures in accordance with the provisions in paragraph (1), to give a permission of abolition of the testing procedures in accordance with the provisions in paragraph (1) of Article 56 or to rescind the designation in accordance with the provisions in paragraph (1) or paragraph (2) in the preceding Article, the handover procedure and other necessary matters for the testing procedures shall be provided in the Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism. 例文帳に追加

３　国土交通大臣が、第一項の規定により試験事務を行うこととし、第五十六条第一項の規定により試験事務の廃止を許可し、又は前条第一項若しくは第二項の規定により指定を取り消した場合における試験事務の引継ぎその他の必要な事項は、国土交通省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a multi spindle corotation testing device capable of simultaneous reproduction test for a plurality of bearings for driven pulleys and moreover capable of surely recognizing a radial load concerning the bearings for driven pulleys.例文帳に追加

複数の従動プーリの軸受に対して再現試験を同時におこなうことができ、また従動プーリの軸受にかかるラジアル荷重を的確に確認できる多軸同時回転試験装置を提供する。 - 特許庁

The performance evaluation test machine for testing a test bearing for roller bearing for planetary gear support is constituted of a base stage 3, a bearing holding member 7, a weight load device 6 and a rotational drive device 17.例文帳に追加

遊星歯車支持用の転がり軸受のサンプルである供試軸受を試験する性能評価試験機を、基台３と、軸受保持部材７と、荷重負荷装置６と、回転駆動装置１７とで構成する。 - 特許庁

To provide a strain and settlement measuring method for testing vertical load on a pile wherein coring work is reduced by using a core hole for measuring a strain and the core hole for measuring settlement in common.例文帳に追加

ひずみ測定用のコア孔と沈下量測定用のコア孔を共通に使用してコア抜き作業を減少させた杭の鉛直載荷試験用ひずみ及び沈下量測定方法を提供する。 - 特許庁

This net for construction work is knitted by using synthetic fibers having ≥80% tenacity retention after irradiation in a sunshine weatherometer of an apparatus for testing of weather resistance for 500 h and ≤3,300 dtex fineness.例文帳に追加

耐候試験機サンシャインウェザーメーター５００時間照射後に強力保持率が８０％以上である繊度が３３００ｄｔｅｘ以下の合成繊維を用いて製編された建設工事用ネットである。 - 特許庁

To reduce man-hours concerning a circuit for testing a gate array provided in a one-chip ASIC microcomputer and automatically convert test vectors for the gate array to test vectors for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

ゲート・アレイ部を備えたワンチップＡＳＩＣマイコンにおいて、ゲート・アレイ部の試験のための回路についての工数を削減し、ゲート・アレイ部のテストベクタを半導体集積回路装置のテストベクタに自動で変換する。 - 特許庁

In an apparatus for testing the force for shearing a welding element of solder or gold for bonding a conductor from a substrate, the welding element has a diameter of 50-100 μm.例文帳に追加

導電体を接合するためのはんだまたは金の溶着体を基板から剪断させるための力を試験するための装置で、溶着体は５０−１００マイクロメートルの範囲の直径を有する。 - 特許庁

This testing device includes a reservoir 14 for including the fluid, an aerator device 22 for generating air entrainment in the fluid, and a densimeter 26 for measuring the effect of the air entrainment relative to a fluid density.例文帳に追加

本試験装置は、流体を含むためのリザーバ１４と、流体に空気飛沫同伴させるエアレータ装置２２と、流体密度に対する空気飛沫同伴の効果を測定する密度計２６とを含む。 - 特許庁

To provide an adapter for continuity test of a line which can shorten the time for the continuity test and is easy to use since pins for testing can easily be inserted into conductor insertion holes in a short time.例文帳に追加

複数の導線挿入孔に試験用のピンを容易にかつ短時間に挿入できて、導通試験の時間短縮を図れる上に、使い勝手に優れた回線の導通試験用アダプターを提供する。 - 特許庁

To provide circuit constitution capable of testing integrally both signal body inspection for a hard macro circuit and inspection for a peripheral circuit in the hard macro, as scan path inspection for a circuit including the hard macro.例文帳に追加

ハードマクロ回路に対する単体検査と前記ハードマクロの周辺回路の検査とをハードマクロを含む回路に対するスキャンパス検査として、両検査を一体化して試験できる回路構成を提供する。 - 特許庁

⑤ Whether a testing system for the prevention of faults that will have an effect on customers and significant miscalculations in the materials for risk management purposes which will be used for business diagnoses is developed. 例文帳に追加

⑤レビューやテスト不足が原因で、顧客に影響が及ぶような障害や経営判断に利用されるリスク管理用資料等の重大な誤算が発生しないようなテスト体制を整備しているか。 - 金融庁

METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING MOTION TORQUE OF MEDIUM SYSTEM, AND DEVICE FOR TESTING ROTATING DOOR, AND METHOD FOR MANUFACTURING MEDIUM SYSTEM, AND METHOD OF DIRECTLY MEASURING TORQUE TO BE ASSOCIATED WITH THE DOOR例文帳に追加

媒体装置の動作トルクを測定するための方法およびシステム、回動ドアをテストするための装置、媒体装置の製造方法、ならびにドアに関連付けられるトルクを直接測定する方法 - 特許庁

To provide an easy adhesive testing method for selecting an adhesive which is suitable for adhesive connection of an actual structure, an adhesive suitable for adhesive connection of the actual structure, and to provide a bonding method.例文帳に追加

実構造物の接着接合に適した接着剤を選択するための簡便な接着剤の試験法、実構造物の接着接合に適した接着剤、および接着方法を提供する - 特許庁

In the testing device for the safety evaluation testing method, a nail penetration test for an Li ion battery unit 3 is carried out within a container 2 for nail penetration, the container being filled with Ar gas, the gas generated in the Li ion battery unit 3 during this nail penetration test is accumulated within the container 2 for nail penetration, and the gas is moved from the container 2 for nail penetration to a buffer tank 80 through piping 70.例文帳に追加

Ａｒガスを満たした釘刺し用容器２内でＬｉイオン電池ユニット３の釘刺し試験を行ない、この釘刺し試験中にＬｉイオン電池ユニット３から発生したガスが釘刺し用容器２内に蓄積されるとともに、釘刺し用容器２から配管７０を通ってバッファタンク８０にも移動されるように構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

This automatic testing system 10 for a receiver device 20 for receiving a positioning signal has a simulation signal generating means for generating a simulation signal transmitted to the receiver device 20, based on a signal generation scenario, and a control means 44 for controlling the simulation signal generating means and the receiver device 20, based on an automatic test scenario, and for securing time synchronization as the whole automatic testing system.例文帳に追加

測位用信号を受信する受信装置２０の自動試験システム１０であって、受信装置２０に送信する模擬信号を信号生成シナリオに基づいて生成する模擬信号生成手段と、模擬信号生成手段及び受信装置２０を自動テストシナリオに基づいて制御し、かつ、自動試験システム全体の時刻同期を確保する制御手段４４と、を有する。 - 特許庁

A method for testing a semiconductor device comprises steps of contacting a probe needle 2 with the pad, wafer testing of an IC, and constituting the needle 2 of a tungsten alloy in which one or more metals selected from a group containing Y, La and Ce is added unit 0.1 to 1.0 wt.%.例文帳に追加

プローブ針２をパッドに接触させてＩＣのウエハテストを行なうに際し、プローブ針２をＹ，Ｌａ，Ｃｅを含むグループから選ばれた１つまたは２つ以上の金属を０.１〜１.０重量％添加したタングステン合金で構成する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a reproducible impact force to a test object, and acquiring an accurate test result, concerning the impact testing device for performing an impact test of the test object or the like in the state where an electronic component is loaded on a substrate.例文帳に追加

電子部品を基板に搭載した状態の被試験物等の衝撃試験を行う衝撃試験装置に関し、被試験物に再現性のある衝撃力を加えることができ、正確な試験結果が得られる衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

The laser ablation device 1 memorizes film thickness distribution information per unit time obtained from the thickness of each film respectively deposited on a substrate for testing in each of a plurality of testing positions in a preliminary stage in a memory unit in a storage part of a control means 70.例文帳に追加

レーザアブレーション装置１は、複数の試験位置の各々において、予工程にて試験用基板上にそれぞれ堆積された膜厚から得られた単位時間当たりの膜厚分布情報を制御手段７０の記憶部に記憶する。 - 特許庁

To prevent a tip part of the probe needle from being fused or broken by confirming a state of contact between a probe needle and a pad prior to an actual test and measurement, in a method of testing and measuring a semiconductor device and a device for testing and measuring the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験測定方法及び半導体装置の試験測定装置に関し、実際の試験測定に先立ってプローブ針とパッドとの接触状態を確認して、プローブ針の先端部の溶断や破損を防止する。 - 特許庁

To provide a tire detaching device capable of mounting a tire for measurement smoothly and surely to a tire testing device without interference with each constitutional part of the tire testing device, and dispensing with a work in a half-sitting posture of an operator.例文帳に追加

タイヤ試験装置の構成各部との干渉のおそれなしに、測定用タイヤをタイヤ試験装置に円滑かつ確実に装着することができ、作業者の中腰での作業を不要とすることができるタイヤ脱着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a serial signal generating apparatus for generating a series signal capable of testing a receiving device in an actual operation frequency, and to provide a device-testing apparatus capable of performing efficiently various tests of the receiving device by using the series signal.例文帳に追加

受信デバイスの実動作周波数での試験を可能とするシリアル信号を生成するシリアル信号生成装置、及び当該シリアル信号を用いて受信デバイスの多種多様な試験を効率的に行うことができるデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC device-testing method and an IC device-testing system for inexpensively applying a laser beam different targets of a semiconductor IC device (DUT) to be inspected simultaneously in parallel, speedily successively without requiring any rematching in a microscope.例文帳に追加

検査対象の半導体ＩＣデバイス（ＤＵＴ）の互いに異なるターゲットを同時並行的にまたは高速逐次的に顕微鏡の再整合を要することなく低コストでレーザ光照射するＩＣデバイス試験方法・システムを提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of easily performing setting, etc., without requiring an operator to work such as taking notes, etc., while operating the testing machine or time and labor for understanding once performed tests by reading manuals afterward.例文帳に追加

オペレータが試験機を操作しながらメモ等をとるなどの作業を必要とせず、一度行った試験については、以後、マニュアルを読んで理解する等の手間を掛けることなく、簡単に設定等を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a coupling, testing the performance of a coupling in accordance with use conditions (the amount of axial displacement, the amount of surface displacement, the number of revolutions, load torque, etc.) of actual equipment without the use of actual equipment or large scale test equipment.例文帳に追加

実機や大掛かりな試験設備を用いることなく、実機の使用条件（芯振れ量、面振れ量、回転数、負荷トルク、等）に合わせて、カップリングの性能を試験することができるカップリング試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

As for data to be recorded in a CD-R disk, the testing of conversion into a recording format is carried out, and based on the result of this testing, data to be recorded at a high speed applicable to the disk and data to be recorded at a low speed are discriminated from each other (S2 to S6).例文帳に追加

ＣＤ−Ｒディスクに記録しようとするデータについて記録フォーマットへの変換テスト処理を行い、そのテスト結果からそのディスクに適応可能な高速記録可能なデータと低速記録すべきデータとを判別する（Ｓ２〜Ｓ６）。 - 特許庁

To provide a leak testing method for a fully sealed rotating electric machine the testing time of which is shortened and the test accuracy is improved by forcibly circulating gas within the electric machine after mixed gas is pressurized and sealed in the electric machine.例文帳に追加

本発明の目的は、混合ガスを回転電機内に加圧封入後回転電機内のガスを強制的に循環させることにより試験時間が短縮し試験精度が向上する全閉型回転電機の漏洩試験方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a contact type bearing inspection method for easily and accurately testing surfacing revolution of a fluid bearing motor, with less load on the motor, and to provide a motor manufacturing method that includes the surface revolution testing by the bearing inspection method.例文帳に追加

接触式ながらモータへの負荷が少なく、簡易かつ正確に流体軸受モータの浮上回転数を検査できる軸受検査方法、及び、当該軸受検査方法による浮上回転数検査を有するモータの製造方法を提供する - 特許庁

The method is used in a test for a solution or a solid phase such as a nylon film, and the later method may be used in measurement by a device or tool such as a color reader, and in combination of another ALD testing means and a pH testing means.例文帳に追加

この方法は溶液又はナイロン膜等の固相での試験、また後者の方法は色読取装置等の装置又は器具による測定、更に別のＡＬＤ試験手段及びｐＨ試験手段との組み合わせにおいて使用することもできる。 - 特許庁

To provide a mounting reliability evaluation testing apparatus for printed-circuit board elements and a method thereof, which enable accelerated testing of service life which approximates the heating conditions of an actual semiconductor element, concerning the mounting reliability evaluation test of the printed-circuit board element.例文帳に追加

プリント回路板素子の実装信頼性評価試験に関し、実際の半導体素子の発熱条件に近似した加速寿命試験を可能にする、プリント回路板素子の実装信頼性評価試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To carry out current limiting with high accuracy in comparison with a conventional device by applying a semiconductor device operating at high voltage such as an IC for PDP panel drive in a testing device in regard to a current limiting circuit, and a testing device.例文帳に追加

本発明は、電流制限回路及び試験装置に関し、例えばＰＤＰパネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、従来に比して高精度に電流制限することができるようにする。 - 特許庁

The prober assembly is also configured to test fractional sections of the large-area substrate positioned on a testing table, and the prober assembly can be configured for different display and contact point patterns, without having to remove the prober assembly from the testing table.例文帳に追加

プローバアセンブリは、検査テーブル上に位置された大面積基板の一部を検査するようにも構成されており、プローバアセンブリはプローバアセンブリを検査テーブルから取り外すことなく、異なるディスプレイ及び接触点パターンに合わせて構成し得る。 - 特許庁

A semiconductor device comprises the semiconductor elements (203, 207), the scanning circuit (220) connectable to the semiconductor elements (203, 207) for testing the performance thereof, and the process monitor (PM) which is arranged in a path subjected to the testing by the scanning circuit (220).例文帳に追加

半導体素子（２０３，２０７）と、半導体素子に接続可能であり、半導体素子の機能を試験するためのスキャン回路（２２０）と、スキャン回路が試験を行うパス中に設けられるプロセスモニタ（ＰＭ）とを有する半導体装置が提供される。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for dynamical friction testing of vulcanized rubber, preventing scattering of rubber powder cut away from a tested object, while inhibiting adherence of the rubber powder to the tested object or a surface of a testing road, to obtain test results with high accuracy.例文帳に追加

被試験体から削り取られたゴム粉の飛散を防止しながら、ゴム粉の被試験体や試験路面への付着を抑制して高精度の試験結果を得られるようにした加硫ゴムの動摩擦試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for an integrated circuit of a two-piece configuration, which can be applied to testing of integrated circuit elements having many pads.例文帳に追加

パッド数の多い集積回路素子の試験に適用することができるツービース構成を採用した集積回路用プローブ・カードを提供する。 - 特許庁

To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.例文帳に追加

高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the surface-characteristics of a member, such as the anti-offset properties, fixation performance, etc., of a fixation member to a low-energy fixation-type toner.例文帳に追加

定着部材の低エネルギー定着型トナーに対する耐オフセット性、定着性能など、部材の表面特性の試験方法を提供する。 - 特許庁

To realize a testing apparatus for image drivers which can test the image drivers without depending on a test head.例文帳に追加

テストヘッドに依存することなく、映像駆動ドライバの試験を行うことができる映像駆動ドライバの試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a testing method for dust prevention and its system capable of grasping dust prevention performance of a vehicle by considering the effect of running wind.例文帳に追加

走行風の影響を考慮して車両の防塵性能を把握することができる防塵試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system equipped with a back annotation processing function for automatically reflecting the correction content of debugging on an original source file.例文帳に追加

デバッグの修正内容を元のソースファイルに自動的に反映させることのできるバックアノテーション処理機能を備えた試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a vibration characteristics testing device and a vibration characteristic test method suitable for investigating a characteristic of vibration damping by an elastic member.例文帳に追加

弾性部材による振動減衰特性を調べるのに好適な振動特性試験装置および振動特性試験方法を提供する - 特許庁

To shorten the time required for testing a plurality of circuit modules by reducing the volume of test data and test results data being inputted/ outputted externally.例文帳に追加

複数個の回路モジュールをテストするのに外部と入出力するテストデータ及びテスト結果データの量を減らし、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an electronic beam-testing system for judging whether a signal without any potential change is high or low before a DC signal or timing to be observed.例文帳に追加

ＤＣ信号や観測したいタイミングの前から電位変化が無い信号に対してもＨｉｇｈ／Ｌｏｗを判定できる電子ビームテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a whisker evaluating method capable of accelerating the occurrence and growth of whiskers to shorten an evaluation time, and testing equipment for evaluating the whiskers.例文帳に追加

ウィスカの発生及び成長を促進して評価時間を短縮できるウィスカ評価方法及びウィスカ評価用試験装置を提供する。 - 特許庁