| 意味 | 例文 |
For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6759件
This motor testing device 1 is provided with an analytical control part 2, and a dynamometer 4 for applying load 21 to the motor 8 through a rotating shaft 9.例文帳に追加
本発明によるモータ試験装置1は、解析制御部2と、回転軸9を介してモータ8に負荷21を与える動力計4とを具備している。 - 特許庁
A testing control circuit operates during a test in which DC voltages are supplied to the first and second terminals so as to generate signals for allowing the inner circuit to operate.例文帳に追加
テスト制御回路は、第1および第2端子に直流電圧が供給されるテストモード中に動作し、内部回路を動作させる信号を生成する。 - 特許庁
To provide a test circuit and a circuit testing method, which can perform the test for all clock cycles without omission, without decreasing the operational clock frequency.例文帳に追加
動作クロック周波数を落とさずに全てのクロックサイクルについてのテストを漏らさずに行うことが可能なテスト回路及び回路テスト方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a test method capable of detecting oil separability of lubricating grease more accurately than hitherto, and a testing device for executing the test method.例文帳に追加
潤滑グリースの油分離性を以前よりも正確に検出することができる試験方法及び当該試験方法を実施する試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing inhibiting test time from increasing while preventing a normal semiconductor integrated circuit from being determined to be defective.例文帳に追加
正常な半導体集積回路が不良と判定されることを防止しながら、試験時間の増大を抑制することが可能な試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory tester for efficiently testing a high-speed memory by programming according to parameters of a device without any complex program processing.例文帳に追加
高速メモリのテストを、複雑なプログラム処理を伴うことなくデバイスのパラメータ通りにプログラムすることで効率よく行える半導体メモリテスタを実現すること。 - 特許庁
To provide a material-testing machine with a capstan-type fixture without any damage of a rope test piece and chuck cutting due to the friction of a part for griping the test piece.例文帳に追加
試験片を把持する部分の摩擦によるロープ試験片の損傷、チャック切れのないキャプスタン型つかみ具を有する材料試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a control operation testing device for group-controlled elevators, allowing self-generated control operation test without causing troubles in normally operating other elevators.例文帳に追加
他のエレベータの通常運転に支障を来たすことなく自家発電管制運転の試験を行える群管理エレベータの管制運転試験装置の提供。 - 特許庁
To easily identify the position of a faulty memory cell by selectively breaking a redundant block for testing according to a specific address and an instruction being provided externally after chip packaging.例文帳に追加
冗長メモリセルブロックを選択的に遮断してテストすることによって不良メモリセルの位置判別が容易な半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁
To provide a computer system, a test device, a test method, and a test program for reliably testing whether an overtaking function works normally or not.例文帳に追加
追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a device driver switching system for easily testing an interface part between a computer on which a plug-and-play system OS is loaded and peripheral equipment.例文帳に追加
プラグアンドプレイ方式OSを搭載したコンピュータと、周辺機器とのインタフェース部分のテストを容易に行うことができるデバイスドライバ切替システムを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device which shares a read/write amplifier among a plurality of banks and a method for testing the same, capable of improving test efficiency.例文帳に追加
テスト効率を向上させることができる、リードライトアンプを複数のバンクで共有する半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide improved ultra high-speed optical technology for testing the characteristics of an interface between two materials, such as the interface between a substrate and an overlapping thin film.例文帳に追加
基板と重畳する薄膜との間の界面等の2つの材料の間の界面の特性を調べる改善された超高速光技術を提供する。 - 特許庁
To provide a tester for testing the magnetic characteristics of veneer of an electromagnetic steel plate, capable of measuring magnetic characteristics in a form conforming to practical use requirements of the electromagnetic steel plate.例文帳に追加
電磁鋼板の実使用条件に則した形で磁気特性を測定することができる電磁鋼板の単板磁気特性試験用試験器を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device for an arbitration circuit capable of more easily conducting function tests on the arbitration circuit that arbitrates access by a plurality of CPUs.例文帳に追加
複数のCPUによるアクセスを調停する調停回路の機能テストをより簡単に行なうことができる調停回路のテスト装置を提供する。 - 特許庁
To provide a tire uniformity machine that prevents a testing machine body from getting bigger and increases accessibility to and visibility of a measurement unit for maintenance etc.例文帳に追加
試験機本体の大型化を回避すると共にメンテナンス時等における計測部へのアクセス性や視認性を高められるタイヤユニフォーミティマシンを提供する。 - 特許庁
Since the power supply device thus configured can cope with various situations, it is suitable for use in the semiconductor testing device in which the numerous module substrates are selected and used.例文帳に追加
多様な状況に対応することができるので、多数のモジュール基板を選択して用いる半導体試験装置に用いて好適である。 - 特許庁
To provide a highly reliable tire inflating method for a tire testing machine, capable of unfailingly completing inflation by making effective use of existing facilities.例文帳に追加
既存の設備を有効利用して確実にインフレートを完了させることが出来る信頼性の高いタイヤ試験機のタイヤインフレート方法を提供する。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method of testing a report communication for a higher-order management system including a human-machine interface in a power transformation automation system.例文帳に追加
変電自動化システム内のヒューマンマシンインターフェースを含む上位運営システムに対するIEC 61850基盤のレポート通信試験装置および方法。 - 特許庁
To provide a cable connecting/disconnecting device for testing poor contact of optical communication cable using an optical communication, which accurately reproduces an error condition.例文帳に追加
エラー状態の再現性を正確に行うことができる光通信ケーブルによる光通信ケーブル接触不良試験用ケーブル離接装置を提供する。 - 特許庁
The control circuit (140) controls signals selected by the selection circuits (131-134) during path delay fault testing for detecting path delay faults.例文帳に追加
制御回路(140)は、経路遅延故障を検出する経路遅延故障テストのときに、選択回路(131〜134)が選択する信号を制御する。 - 特許庁
To provide a device and method for exchanging rims of a tire testing machine, capable of easily and automatically exchanging rims, without using any rim palettes and attachments.例文帳に追加
リムパレットやアタッチメントを用いることなく容易にリムを自動的に交換することができるタイヤ試験機のリム交換装置及びリム交換方法を提供する。 - 特許庁
To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit which generates test pattern data and writes the test pattern data into the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
本発明の課題は、半導体集積回路の試験装置が試験パタンデータを生成して半導体集積回路へ書き込むことを目的とする。 - 特許庁
To provide a technology with which testing for breaking off concrete pieces can be performed more accurately than before by hitting a test piece to cause damage.例文帳に追加
打撃による損傷を加えることでコンクリート片をはく落させる実験を従来よりも正確に行うことが可能な技術を提供する。 - 特許庁
The benefit is that alternative modes of operation can be selected for testing, trimming parameters of the integrated circuit, or any other purpose without the cost of an additional terminal.例文帳に追加
特典は追加の端子の犠牲なしに集積回路の試験、トリミング・パラメータ、または他の目的で代替動作モードを選択することができることである。 - 特許庁
To provide a water damage testing method of a gas sensor, which allows an experiment to be performed by supplying condensed water of which the amount is suitable for actual conditions.例文帳に追加
実際の状況にあった好適な量の凝縮水を供給して実験を行うことができるガスセンサの被水試験方法を提供すること。 - 特許庁
The encoder is rotated by a motor at a prescribed rate, and an A-phase signal and a B-phase signal are input to a measuring unit 36 of a system for testing the encoder.例文帳に追加
モータによってエンコーダを所定の速度で回転させ、A相信号及びB相信号をエンコーダ検査装置の計測ユニット36に取り込む。 - 特許庁
To provide an apparatus for explosion testing of a combustible gas/vapor, having a simple structure and capable of visually confirming an explosion state to safely and easily diffuse explosion energy.例文帳に追加
構造が簡易であり、爆発状態を視認できて爆発エネルギーを安全で容易に発散できる、可燃性ガス・蒸気の爆発試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a substrate for hybridization with nucleic acid chains immobilized thereon with surface coverage and the degree of activity enhanced, and a complementary testing method using this substrate.例文帳に追加
表面被覆率及び活性度を高めた核酸鎖を固定化したハイブリダイゼーション用基板、この基板を用いた相補性試験方法の提供。 - 特許庁
The transporter further moves the identified reagent carriers to a carousel on which the carriers are automatically secured for storage awaiting use in the testing.例文帳に追加
トランスポータはさらに、識別された試薬キャリアをカルーセルに移動し、このカルーセルで、キャリアが自動的に固定されて格納され、試験における使用を待つ。 - 特許庁
To provide a semiconductor-device testing method for executing high-reliability determination of a non-defective product and a defective product of semiconductor devices.例文帳に追加
信頼性の高い半導体デバイスの良品/不良品判定を行うことができる半導体デバイス試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device capable of resuming a sequence for connection of each unit without using information stored in a memory.例文帳に追加
各ユニットを接続するシーケンスを再開するときに、メモリに記憶された情報を使用することなく、シーケンスを再開できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and a system for testing conductivity of Ethernet in an arbitrary test section from a terminal.例文帳に追加
イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。 - 特許庁
To re-execute a series of stored transactions by changing a processing timing for testing whether or not a program is performing a desired operation.例文帳に追加
プログラムが所望の動作をするかどうかというプログラムの検査のために、保存された一連のトランザクションを処理タイミングを変更して再実行できるようにする。 - 特許庁
To provide a nondestructive testing method for inspecting a piezoelectric ceramic element, capable of surely detect internal flaws, and is incapable of being detected at normal temperatures.例文帳に追加
常温では検出することができない内部欠陥を、非破壊で確実に検出することができる圧電セラミック素子の検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an egg testing apparatus capable of dealing with a plurality of customers having different levels for abnormal eggs.例文帳に追加
異常卵とするレベルが異なる複数の出荷先に係る卵を検査する場合であっても、1台で対応することができる検卵装置を提供する。 - 特許庁
To provide an auxiliary test device for an electrical installation capable of simply switching the connection structure of wiring when testing the electrical installation including a plurality of relay elements.例文帳に追加
複数のリレー要素を含む電気設備の試験において、配線の接続構成を簡単に切り換えられる電気設備の試験補助装置を得る。 - 特許庁
To provide an inspection device and a burn-in testing device for a semiconductor device capable of specifying a defective mode and a fault mode, performing analysis and predicting market defects further.例文帳に追加
不良モード,故障モードの特定、解析さらには市場不良予測が可能な半導体装置の検査装置およびバーンイン試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a secondary battery pack capable of testing normal operation of protection function of a protection circuit by loading a test circuit for protection function diagnosis on a protection circuit substrate.例文帳に追加
保護回路基板上に、保護機能診断用の試験回路を搭載し、保護回路の保護機能が正常に働くことを試験することを可能にする。 - 特許庁
Then, the test directory tree 68 is used for selecting a test script to be used at the time of testing a newly compiled application program.例文帳に追加
そして、試験ディレクトリ・ツリー(68)は、新しくコンパイルされたアプリケーション・プログラムを試験する際に使われる試験スクリプトを選択するために使用される。 - 特許庁
To provide a scratch resistance evaluation method for a coating film capable of obtaining an evaluation result of high reliability, without having to perform actual testing of car washing machine.例文帳に追加
実際の洗車機試験を行わずに、信頼性の高い評価結果を得ることのできる塗膜の耐擦り傷性評価方法を提供する。 - 特許庁
The second substrate 2 has on a second surface 22 a second semiconductor chip 30 and a second test point 25 for testing the second semiconductor chip 30.例文帳に追加
また、第2基板の第2表面22には、第2半導体チップ30と、この第2半導体チップ30をテストするための第2テストポイント25とが形成されている。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus, capable of reducing the cost of the logical comparator for logical comparison of an LCD driver IC having a large number of driver outputs.例文帳に追加
本発明は、ドライバ出力数の多いLCDドライバICの論理比較する論理比較器のコストを低くできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To use a storage device in good quality without increasing testing time for the storage device having a storage area of large capacity.例文帳に追加
大容量の記憶領域を有する記憶装置に対して試験時間を増大させることなく、良好な品質状態の記憶装置を使用できるようにする。 - 特許庁
The testing device is also configured such that an irradiation position for the laser beam within a predetermined, three-dimensional area within the semiconductor device 15 can be scanned.例文帳に追加
また、半導体装置15内部の3次元的な所定の領域内においてレーザ光の照射位置が走査可能となるように構成される。 - 特許庁
To provide a method for testing a non-volatile memory capable of simplifying a test program and carrying out write and read-out tests as a series of tests.例文帳に追加
試験プログラムが簡素化でき、書込みと読出しの試験を一連の試験として行うことができる不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁
This testing device energizes the specimen at zero voltage, keeping the voltage between the terminals of the voltage accumulating circuit constant by the switching on/off of the switching element for bias stabilization.例文帳に追加
バイアス安定化スイッチング素子のオン,オフによって該電圧蓄積回路の端子間電圧を一定に保持してゼロ電圧被試験体を通電する。 - 特許庁
Such compositions above are useful in diagnostic testing kits and methods for amplification and detection of plural nucleic acids in "multiplexing", using multiple capture probes.例文帳に追加
そのような組成物は、複数の捕捉プローブを用いる「多重的」な、診断試験キット並びに複数の核酸の増幅及び検出方法に有用である。 - 特許庁
To reduce costs and facilitate maintenance by providing the same constitutions for horizontal and vertical vibration generators and unitizing them in a vibration testing system.例文帳に追加
振動試験装置において、水平方向や垂直方向の振動発生機を同じ構成としてユニット化し、コストの低減やメンテナンスを容易にすること。 - 特許庁
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