「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(94ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a drop testing device by which magnitude and a situation of harm, etc. to act on a specimen is grasped with high accuracy, and which is convenient for handling.例文帳に追加

被試験体に作用する危害の大きさや状況等を高精度に把握することができ、しかも、取り扱いに便利な落下試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus and a test method with a simple configuration for testing a device to be tested which outputs a plurality of modulation signals modulated by carrier signals with one and the same frequency.例文帳に追加

同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを簡単な構成により試験する。 - 特許庁

To provide a static trip circuit which can surely detect the insufficient output of a drive circuit of the output switch for testing of the trip circuit by always monitoring the output of the drive circuit.例文帳に追加

静止形トリップ回路の各出力スイッチをフォトボルカプラ又はフォトカプラでドライブするのでは、ドライブ回路の出力電圧不足を常時監視できない。 - 特許庁

The amount of the fuel oil A used for the test is sufficiently 1 L and 20 minutes is enough as the testing time and the permeation property of oil through filter can be evaluated highly efficiently.例文帳に追加

試験に使用するＡ重油の量が１Ｌで済み、試験時間は２０分あれば十分であり、高効率でフィルター通油性を評価できる。 - 特許庁

A rod for checking the ground of a research testing machine having a tip member at its tip is pressed into the ground down to predetermined depth by applying predetermined vertical load to the rod.例文帳に追加

先端に先端部材を有する調査試験機の地盤調査用ロッドに所定の鉛直荷重を与えて所定深度まで圧入する。 - 特許庁

The memory testing system 1 includes an interleave controller 10, a fail information storing section 20, a logical OR section 30, a memory for analysis 40, and a repair calculating section 50.例文帳に追加

メモリ試験装置１は、インターリーブコントローラ１０と、フェイル情報格納部２０と、論理和部３０と、解析用メモリ４０と、リペア演算部５０とを備えている。 - 特許庁

To provide an abrasion gage for simulating the abrasion of a magnetic recording component in an interface with a magnetic storage medium, and a testing method using the same.例文帳に追加

磁気記憶媒体とのインターフェースにおける磁気記録コンポーネントの磨耗をシミュレートするための磨耗ゲージ及びそれを使ったテスト方法を提供する。 - 特許庁

If an account is determined to have strong possibility of being used for testing counterfeit bills based on its past records such as cancel frequency, the account is treated as a suspicious account.例文帳に追加

取消頻度等の実績に基づいて偽券のテストに利用されている可能性が高いと判断された口座は、要注意口座として扱う。 - 特許庁

To obtain a semiconductor testing apparatus which shortens the time required for judging whether the defective bit of a semiconductor memory can be relieved or not and which reduces the memory capacity of a defective-bit storage memory.例文帳に追加

半導体メモリの不良ビット救済可否判定に要する時間を短縮しかつ不良ビット記憶メモリの記憶容量を低減する。 - 特許庁

There are provided an arrangement and method for using an interrogator 40 paired together with a separate receiver 40', which functions together so as to perform self-testing operation.例文帳に追加

自己試験動作を遂行するよう一緒に機能するように、別体の受信器４０’と対をなすインタロゲータ４０を使用する配置及び方法を提供する。 - 特許庁

Private business, therefore, better evaluates risks, analyzes consumer preferences and expectations, thus testing the technologies for potential commercial success.例文帳に追加

したがって，民間事業者はリスクを評価し，消費者の選好及び期待を分析することで，その技術の潜在的な商業的成功を測っている。 - 経済産業省

To provide a semiconductor testing device for preventing a fall of a performance board by using an inexpensive sensor to detect a small inclination of a test head.例文帳に追加

安価なセンサを使用してテストヘッドの小さな傾きを検出し、パフォーマンスボードの落下を防止することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide technique capable of easily testing a circuit board for outputting the drive signal of an image formation section, such as a liquid crystal panel in a projector.例文帳に追加

プロジェクタにおいて液晶パネルなどの画像形成部の駆動信号を出力するための回路基板の検査を容易に行う技術を提供する。 - 特許庁

The contact pin 1 is mounted to an element-testing apparatus used for testing the electrical characteristics of electronic components, such as a semiconductor device, and a contact part 12a of the contact pin 1 to be brought into contact with electrodes of the electronic parts can be characteristically detached and attached.例文帳に追加

半導体素子等の電子部品の電気的特性試験に用いられる素子試験装置に搭載されたコンタクトピン１であって、前記電子部品の電極に接触させるコンタクトピン１の接触部１２ａが脱着可能であることを特徴とする。 - 特許庁

This system for testing the plurality of integrated circuit(IC) devices (DUT) of testing objects is provided with an interface circuit coupled to a tester to receives a data value from a single channel or a plurality of channels so as to provide error information as to the DUT.例文帳に追加

テスト対象の複数の集積回路（IC）デバイス（DUT）をテストするためのシステムであって、このシステムは、単一チャンネルまたは複数チャンネルのテスターからデータ値を受け取って、DUTに関するエラー情報を提供するための、前記テスターに結合されたインターフェース回路を備える。 - 特許庁

To effectively prevent damage of each part, even if a testing object is short-circuited and so on, applying a testing device to a test of a semiconductor element which operates by a high voltage such as a plasma display panel (PDP) driving IC or the like for example.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えばＰＤＰ（プラズマディスプレー）パネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、試験対象が短絡した場合等にあっても、各部の損傷を有効に回避することができるようにする。 - 特許庁

To provide a solar battery module durability testing device for automatically testing mechanical strength and durability of solar battery modules and also the durability in an environment close to an actual usage state where the modules are attached onto a roof by using frame bodies and support metal fittings.例文帳に追加

太陽電池モジュールの機械的強度や耐久性、モジュールを枠体や支持金具を用いて屋根に取付けた実際の使用状態に近い環境での耐久性について自動的に試験できる太陽電池モジュールの耐久性試験装置を提供する。 - 特許庁

The method further includes a step of testing the selected mathematical model using the sampled version of the correction signal in such a manner that the selected mathematical model can be used without necessity of testing duration that is in addition to a period of time used for the training.例文帳に追加

方法は、訓練に使用される期間に加えた検査持続時間の必要なしに、選択された数学的モデルを使用することが可能であるように、補正信号のサンプリングされたバージョンを使用して、選択された数学的モデルを検査する工程を更に含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor devices, when the timing of a test pattern signal applied on a specied pin by each semiconductor device to be tested must be selected to timing which is suitable for each device.例文帳に追加

被試験半導体デバイス毎に特定のピンに印加する試験パターン信号のタイミングを各デバイスに適したタイミングに選定しなければならない場合に、複数の半導体デバイスを同時に試験することを可能にした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

In the device evaluation device 1, a correction data acquiring circuit 6 and a correction data creating/storing circuit 7 acquire correction data of timing calibration of a signal for testing per test condition in states of mounting one or both devices 2 in the testing device 3.例文帳に追加

デバイス評価装置１において、試験装置３にデバイス２を片実装及び両実装した状態で、試験条件毎に、補正データ取得回路６及び補正データ作成・保存回路７がテスト用信号のタイミングキャリブレーションの補正データを取得する。 - 特許庁

To enable the use of elements in a spare region as spare elements after verification of a semiconductor testing apparatus, by electrically providing defective elements, without physically destroying the elements, in a semiconductor device for verifying a semiconductor testing apparatus that tests the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を試験する半導体試験装置を検証するための半導体装置において、素子を物理的に破壊せずに電気的に不良素子を設け半導体試験装置の検証後スペア領域の素子をスペア素子として使用することができるようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for entirely testing a semiconductor device or a semiconductor wafer capable of constituting a low cost testing unit, easily executing a test and easily confirming a decision result of a non-defective product or a defective product at any time.例文帳に追加

テスト装置を安価に構成することができ、かつ容易にテストを実施することができ、良品、不良品の判定結果をいつでも容易に確認することができる半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The fatigue damage monitoring system is provided with a crack detecting apparatus 1 having a thin tabular sacrificial testing piece 4 stuck to the structure 3 that the fatigue damage is predicted and an image pickup apparatus 2 for detecting a developing state of the crack in an artificial crack part 46 provided on the sacrificial testing piece 4.例文帳に追加

疲労損傷を予知しようとする構造物３に貼付された薄板状の犠牲試験片４と、犠牲試験片４に設けた人工亀裂部４６の亀裂進展状態を検出する撮像装置２を有する亀裂検出装置１とを備える。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing charge and discharge of a secondary battery capable of easily obtaining a result of various tests in a charge cycle and a discharge cycle as a reference when testing charge and discharge, and to provide a recording medium recording a discharge test program.例文帳に追加

充放電試験において、充電サイクル及び放電サイクルを基準とした各種試験結果を容易に得ることが可能な二次電池の充放電試験方法、放電試験装置及び放電試験プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

Article 71 A person who intends to receive the license examination shall submit a license examination application document (Form No. 14) to the Director of the Prefectural Labour Bureau (to a designated testing institution for a person who intends to receive a license examination that the designated testing institution is to implement). 例文帳に追加

第七十一条　免許試験を受けようとする者は、免許試験受験申請書（様式第十四号）を都道府県労働局長（指定試験機関が行う免許試験を受けようとする者にあつては、指定試験機関）に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To aim at the density increase and cost reduction of a semiconductor testing device to be used for testing a semiconductor chip having a spherical connecting terminal and a semiconductor device (in general terms as a hereafter referred to semiconductor device).例文帳に追加

本発明は球状接続端子を有する半導体チップ及び半導体装置（以下、総称して半導体装置という）に対し試験を行なう際に用いる半導体試験装置に関し、高密度化及び低コスト化を共に実現することを課題とする。 - 特許庁

The shutoff valve testing device for testing each normally opened or normally closed shutoff valve arranged in a pipeline executes an operation test by sending a valve control signal of a degree not fully closing or fully opening the valve to the valve at the time of receiving a test command.例文帳に追加

パイプラインに設置される常時開または常時閉の遮断弁をテストする遮断弁テスト装置において、テスト指令を受けて全閉または全開にならない程度の弁制御信号を前記遮断弁に送出して動作テストを行う遮断弁テスト装置。 - 特許庁

To provide a support system for generating test data which can easily generate the test data without any error in generating a test scenario that is essentially required for testing message transmissions within a programing structure, and for testing signal transmissions between personal computers with which a software test is executed.例文帳に追加

本発明は試験データ作成支援システムに関し、ソフトウェア試験をパソコン上で実施する際の装置間の信号疎通確認試験及び、プログラム構造内のメッセージ疎通確認試験時に必須となるシナリオ作成において、容易にかつ誤りなく作成することが可能な試験データ作成支援システムを提供することを目的としている。 - 特許庁

The device for testing the semiconductor integrated circuit includes a pattern data generating means which generates test pattern data for testing a write operation in a memory of the semiconductor integrated circuit; and a write means which writes the test pattern data into a storage area of the semiconductor integrated circuit for storing the test pattern data.例文帳に追加

上記課題は、半導体集積回路のメモリへの書き込みを試験するための試験パタンデータを生成するパタンデータ生成手段と、前記試験パタンデータを前記半導体集積回路の該試験パタンデータを格納する記憶領域へ書き込む書き込み手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の試験装置により達成される。 - 特許庁

On the basis of picture information of the acquired exposure unit mark 54, the pusher stage 4 compensates for any positional deviation when it judges that a new exposure unit has been positioned in a testing part and, after compensating for the positional deviation, compensates for no positional deviation except in contact failure until it judges that the next exposure unit has been positioned in the testing part.例文帳に追加

取得した露光単位マーク５４の画像情報に基づいて、試験部に新たな露光単位が位置したと判断したときに、プッシャステージ４は位置ずれ補正を行い、位置ずれ補正を行った後、次の露光単位が試験部に位置すると判断するまでは、コンタクト不良となる以外、プッシャステージ４は位置ずれ補正を行わない。 - 特許庁

To provide a circuit board testing device capable of bringing a probe into contact with a measuring point on a circuit board with a proper pressure, concerning the circuit board testing device having a circuit board holding tool for holding the circuit board and a probe holding tool for holding the probe for measuring the measuring point in contact with the measuring point on the circuit board.例文帳に追加

回路基板を保持する回路基板保持具と、回路基板の被測定点に接触して被測定点の計測を行うプローブを保持するプローブ保持具とを有する回路基板試験装置であって、回路基板の被測定点に適度な圧力でプローブを接触させることができる回路基板試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a transmission line testing device for BS added channel capable of testing whether or not in particular a transmission line in a facility can transmit a BS-IF signal of the BS added channel without the need for an exclusive device to generate the BS-IF signal and to provide a transmission line test signal generating device for BS added channel.例文帳に追加

ＢＳ−ＩＦ信号を発生させる専用の装置を必要とすることなく、当該設備の特に伝送路がＢＳ追加チャンネルのＢＳ−ＩＦ信号を伝送できるかどうかを試験することができるＢＳ追加チャンネル用伝送路試験装置およびＢＳ追加チャンネル用伝送路試験信号発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a blood coagulation accelerant with surpassing stability coagulating any blood, even containing heparin, in a short time and a container for blood test favorably-used not only for normal blood testing but also for blood serum sampling in blood testing of an artificial dialysis patient or a thrombosis patient subject to heparin administration.例文帳に追加

血液、更にはヘパリンを含む血液であっても、短時間で凝固させるとともに、安定性に優れる血液凝固促進剤、及び通常の血液検査だけでなく、ヘパリン投与を受けている人工透析患者や血栓症患者の血液検査における血清の分取に好適に用いられる血液検査用容器を提供する。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by testing condition setting means for setting the testing conditions and execution instruction means for giving instructions for executing the test; and a converter section 21 serving as converting means by which the first data thus collected is converted into second data low in redundancy.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０と、収集された第１のデータを冗長度が少ない第２のデータに変換する変換手段としてのコンバータ部２１とを備える。 - 特許庁

A diagnostic system for testing a device to be tested, based on the test program selected among the plurality of constitutional components may comprise: a function extraction part for extracting the constitutional components to be used for testing the objective device; and a diagnostic part for diagnosing each constitutional components extracted by the function extracting part.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置を診断する診断装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムに基づいて、試験装置の複数の構成要素のうち、被試験デバイスの試験に用いる構成要素を抽出する機能抽出部と、機能抽出部が抽出したそれぞれの構成要素を診断する診断部とを備える診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide a bolt testing machine installing device for a roof and its installation method, to be put in a stable installation state on an existing slate roof so that a worker can safely operate a bolt testing machine for the roof for measuring whether or not an existing hook bolt has strength endurable against reuse, for leaving the existing slate roof as it is, in roof remodeling work.例文帳に追加

屋根改修工事において、既設スレート等屋根をそのままにするために、前記既設フックボルトが再利用に耐え得る強度を有しているか否かを測定するための屋根用ボルト試験機を作業員が安全に操作することができるように、既設スレート等屋根上に安定した設置状態にする屋根用ボルト試験機の取付装置及びその設置方法とすること。 - 特許庁

To provide a method for measuring a casting rate of casting slip for pottery capable of evaluating an actually measured value without being affected by various conditions of molds used in measuring the casting rate and an instrument for testing the casting rate.例文帳に追加

着肉速度測定時に使用している型の諸条件に影響を受けることなく実測値を評価できる陶磁器用泥漿の着肉速度試験方法並びに着肉速度試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and device for operation for high-voltage load capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

To provide an address pattern generation device capable of generating an address pattern for accessing a part of a memory space without forcing an excessive load on user for preparing a device program and to provide a device for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

デバイスプログラムを作成する過度の負担をユーザに強いることなくメモリ空間の一部をアクセスするアドレスパターンを発生させることができるアドレスパターン発生装置及び半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a surface state of a measuring object suitable for evaluating the hardness and dynamical characteristic of metal, polymeric material, surface film, or the other material, for example.例文帳に追加

例えば、金属、高分子材料、表面膜、又はその他の材料の硬さや力学的特性を評価するのに好適な測定物の表面状態試験方法及びその表面状態試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a new contactor that can use for an existing measuring device and testing device, provided for using a contacting pin for electronic components and/or wiring and maintains advantageous electrical characteristics thereof.例文帳に追加

電子部品および（または）配線のための接点ピンを使用するために設けられた既存の測定装置および試験装置に使用でき、その有利な電気特性を維持しているの新規な接触器を提供する。 - 特許庁

To provide a handheld analyzer for testing a sample for a medically significant component, and a method for causing the handheld analyzer to operate in such a way as to reduce the possibility of malfunctions or operating errors.例文帳に追加

試料の医療上有意な成分を検査するための手持ち式分析装置、およびそのような手持ち式分析装置を、故障または誤作動の可能性が低くなるように動作させる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for generating a test signal for testing the accuracy of the CINR measurement of a subscriber station through a base station emulator with which a trigger line for synchronization and a combiner are not necessary and the costs of the establishment of a test environment can be reduced.例文帳に追加

同期維持のためのトリガーラインや結合器が不要であり、テスト環境の構築費用を減らせる基地局エミュレータを利用した端末のＣＩＮＲ測定の精度テスト信号生成方法に関する。 - 特許庁

To provide a method and device for operation control for low-voltage load capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

The controller for testing 50 delivers operation commands to a device for driving load 60 acting as a tested device during an operating test, and receives predetermined data, indicating the status of the device for driving load 60 from the loads 60, as well.例文帳に追加

試験用コントローラ５０は、動作試験時、被試験装置である負荷駆動装置６０へ動作指令を出力するとともに、負荷駆動装置６０の状態を示す所定のデータを負荷駆動装置６０から受ける。 - 特許庁