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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > For testingの意味・解説 > For testingに関連した英語例文

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For testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6752



例文

The method for testing the canceration comprises utilizing the nucleic acid for measurement, wherein the nucleic acid hybridizes with specified two kinds of base sequences or at least one of base sequences complementary to the above under a stringent condition.例文帳に追加

本癌化検定方法は、特定の2種の塩基配列、又は少なくともその一方に相補的な塩基配列に対し、ストリンジェントな条件下でハイブリダイズする測定用核酸を利用する。 - 特許庁

A memory BIST circuit 4 where semiconductor chips 2 are used for a die sorting test, and contact pads 8 exclusive for testing are formed on dicing regions 3 separating the adjacent semiconductor chips 2.例文帳に追加

隣接する半導体チップ2間を分離するダイシング領域3上に、前記半導体チップ2をダイソート・テストに使用するメモリBIST回路4およびそのテスト専用コンタクトパット8を形成する。 - 特許庁

To provide an animal model involving transgenic manipulation of amyloid precursor protein, useful for testing potential therapeutic agents for the treatment of neurodegenerative disorders, in particular Alzheimer's disease (AD).例文帳に追加

神経変性疾患、特にアルツハイマー病(AD)の処置用の潜在的治療剤を試験するのに有用なアミロイド前駆体タンパク質の遺伝子導入(トランスジェニック)操作に関する動物モデルを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

例文

Data verification, artificial intelligence pattern matching of extremely high predictability, network data integration and a negative file check are used for testing an extremely large number of factors for calculating the unfair transaction risk.例文帳に追加

データ検証、極めて予測性の高い人工知能パターンマッチング、ネットワークデータ総合及びネガティブファイルチェックが、不正取引リスクを計算するための極めて多数の要因を試験するために用いられる。 - 特許庁


例文

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor relay capable of remarkably reducing leakage current toward downstream side in a semiconductor relay to be used for a semiconductor testing device, for example.例文帳に追加

本発明は、例えば半導体試験装置などにおいて用いられる半導体リレーにおいて、下流側への漏れ電流を著しく低減することが可能な半導体リレーを提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an accelerated drying method for a hydraulic material for dramatically shortening a test period having required a half year to one year in a conventional test method and to provide a length change testing method for a hydraulic material.例文帳に追加

従来の試験方法で必要であった半年から1年の試験期間を飛躍的に短縮できる水硬性材料の促進乾燥方法および水硬性材料の長さ変化試験方法を提供することにある。 - 特許庁

例文

To provide a heat resistance testing method for evaluating a color tone of a molten substance of an aliphatic terminal diol material including an aromatic for obtaining a thermoplastic resin with a good color tone and a method for producing a thermoplastic resin by using the same.例文帳に追加

色相に優れる熱可塑性樹脂を得るための芳香族を含む脂肪族末端ジオール原料の溶融色相を評価する耐熱試験方法およびそれを用いた熱可塑性樹脂の製造方法を提供する。 - 特許庁

例文

The posture changing device 100 is provided with a rotor 110 positioned inside the soaking chamber, and for changing a posture by grasping the testing tray, and the first power source 111 for providing power for posture-changing the rotor.例文帳に追加

姿勢変換装置100はソークチャンバーの内部に位置しテストトレーを把持することで姿勢変換を可能にさせる回転体110と、回転体を姿勢変換させるための動力を提供する第1動力源111とを備える。 - 特許庁

This device is equipped with the test chamber 12 for testing leakage, burning and explosion of hydrogen; an air supply device 14 for supplying combustion air into the test chamber; and a flue gas treating device 16 for treating exhaust gas generated in the test chamber.例文帳に追加

水素の漏洩、燃焼、及び爆発を試験する試験室12と、試験室に燃焼用空気を供給する給気装置14と、試験室内で発生した排ガスを処理する排煙処理装置16とを備える。 - 特許庁

The durability testing method for inspecting durability of the tire includes a process for accelerating deterioration of the pneumatic tire and a process for performing drum durability traveling test by applying load on the pneumatic tire of which the deterioration is accelerated.例文帳に追加

空気入りタイヤの耐久性を調べるための耐久性試験方法であって、空気入りタイヤの劣化を促進させる工程と、劣化を促進させた空気入りタイヤに負荷をかけてドラム耐久走行テストを行う工程とを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function.例文帳に追加

テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

This test pattern generator 10 for generating a test pattern for scan-testing the semiconductor integrated circuit is provided with a risky portion extracting part 110, and an ATPG 150 of a pattern generation executing part for executing the generation of the test pattern.例文帳に追加

半導体集積回路をスキャンテストするためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置100は、危険箇所抽出部110と、テストパターンの生成を実行するパターン生成実行部であるATPG150を備える。 - 特許庁

The current conduction-testing device 1 consists mainly of the bulb socket 10 for holding a bulb 5, a switch 40 for controlling a current conduction state and a current non-conduction state, and a battery box 30 for storing a battery 7.例文帳に追加

通電実験装置1は、電球5を保持するための電球ソケット10と、通電状態及び非通電状態を制御するスイッチ40と、電池7を収納するための電池ボックス30とから主に構成されている。 - 特許庁

To provide a laser scanning machining method by which the reduction of a machining material for testing for confirming the time required for setting of laser scanning conditions and the scanning conditions can be attained, and highly accurate laser scanning machining can be performed.例文帳に追加

レーザスキャン条件の設定に要する時間及びスキャン条件確認のための試験用加工材料の低減を図ることが可能で、かつ高精度なレーザスキャニング加工を行うことが可能なレーザスキャニング加工方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fluidity testing device for sediment and a fluidity test method for sediment capable of performing fluidity evaluation suitable for pump pressure feeding, evaluating quantitatively fluidity of the sediment, and readily predicting and evaluating ground supporting force.例文帳に追加

ポンプ圧送に適した流動性評価が可能であり、土砂の流動性を定量的に評価でき、地盤支持力を簡易的に予測評価できる土砂の流動性試験装置および土砂の流動性試験方法を提供すること。 - 特許庁

For tea leaves for drinking, satisfying the following condition (i) or (ii), it has been confirmed that the radioactive cesium concentrations in ready-to-drink states do not exceed 10 Bq/kg. Thus, tests under ready-to-drink states stipulated in the Testing Method Notification are not required for these tea leaves.例文帳に追加

また、飲用に供する茶の試験については、以下の①、②の場合、飲用に供する状態で10Bq/kg を下回ることが確認できるものであるため、試験法通知に基づく飲用に供する状態での検査を不要とする。 - 厚生労働省

The antenna for observing the electromagnetic noise is formed by connecting a core wire 6 of an SMA connector with, for example, a wiring lead to a read head via a pad 9a of a terminal 9 for testing set on the edge of a wiring pattern 3 of the head-gimbal assembly (HGA).例文帳に追加

ヘッド・ ジンバル・アセンブリ(HGA)の配線パターン3の端部に設けられたテスト用端子部9のパッド9aにSMAコネクタの芯線6を、例えばリードヘッドへ接続される配線に接続し、電磁ノイズ観測用のアンテナとする。 - 特許庁

When the user interface 304 is displayed, the user is able to see the boundary scanning test data, generated by a boundary scanning testing device 314, in a form which is suitable for a debugging operation.例文帳に追加

該ユーザ・インタフェース表示によって、ユーザは、境界走査テスト装置によって生成された境界走査テスト・データをデバッグに適切な形式で見ることができる。 - 特許庁

In the figure, a vertical sectioned picture where a radial superconductivity bearing 8 for testing is mounted on a revolution loss measuring device known as a prior art.例文帳に追加

図1は、本発明が適用された公知の回転損失測定装置に供試用ラジアル型超電導軸受8が装着された状態の縦断面図を示している。 - 特許庁

There are provided the improved IC tester for connecting the performance board connected electrically to a tested object electrically with a testing head to test the tested object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象と電気的に接続するパフォーマンスボードとテストヘッドを電気的に接続し、被試験対象の試験を行うICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a method for testing the tacking property of a pasting agent, capable of reflecting the actual pasting state, and high in autocorrelation with the evaluation of functionality, and to provide a device thereof.例文帳に追加

実際の粘着状態を正確に反映し、官能性評価との相関性が高い、貼付剤のタック性を試験できる方法および装置を提供する。 - 特許庁

Further, the sensor element is put between at least two reference element D3 and D3', and the reference element is used for testing whether the intensity of radiation is within an allowable range or not.例文帳に追加

さらに、センサ要素は少なくとも2つの基準要素D3、D3’で挟まれ、基準要素は放射線の強度が許容範囲内か否かのテストに使用される。 - 特許庁

To provide a test module used for verifying proper arrangement of a light-emitting device on an electronic assembly, by testing light color and light intensity on the light-emitting device.例文帳に追加

発光デバイス上で色及び光度試験を実施することにより、電子アセンブリ上の発光デバイスの適正な配置を検証するために用いられるテストモジュールを提供する。 - 特許庁

To provide a compact and lightweight impact testing machine, capable of easily changing the strength of impact force and repeatedly giving impact force, and shortening the time required for setting.例文帳に追加

衝撃力の強さを容易に変更することができ、セットに要する時間が短くて、繰り返し衝撃力をも与え得る、小型で軽量な衝撃試験装置の提供。 - 特許庁

This invention is the inspection apparatus 101 for checking whether a solid medicine 5 of a fixed shape used in comparative testing is packed as requested or not.例文帳に追加

本発明は、比較試験中に用いられる一定の形状を有する固形製剤5が所望通りに包装されているか否かを検査するための検査装置101である。 - 特許庁

Test systems (10, 25) contain generators (12, 22) and analyzers (13, 21) that co-operate for testing a device (11) provided with a plurality of device communication channels.例文帳に追加

本発明のテストシステム(10,25)は、複数の装置通信チャネルを有する装置(11)をテストするために共働動作する発生器(12,22)及び解析器(13,21)を含む。 - 特許庁

To obtain a logic LSI which is shortened in testing time by making the preparation of an input pattern for test extremely easier and, at the same time, is improved in measurement accuracy by making measurement extremely easier.例文帳に追加

テスト用入力パターンの作成を極めて容易にし、試験時間を短縮すると共に、測定を極めて容易にし、測定効率を改善した論理LSIを得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of performing testing at an actually operating speed of the semiconductor memory device, and capable of reducing the number of input/output terminals of a tester required for connection.例文帳に追加

半導体記憶装置の実動作速度でテストを行い、且つ接続に要するテスターの入出力端子数を削減できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To conduct a loop-back test including the intermediate testing device as an intermediate element even for an exchange where an intermediate element can not be specified as the address of the device conducting the loop-back test.例文帳に追加

ループバック試験を行う装置のアドレスとして中間要素を指定できない交換機であっても、中間試験装置を中間要素としたループバック試験を実施する。 - 特許庁

A material and a method for chemically and/or physically controlling a conductive domain and reagent deposition in the use of a multispecific testing method is disclosed.例文帳に追加

多重特異的試験法で使用するための導電性ドメインと試薬沈積の化学的および/または物理的制御のための材料と方法が提供される。 - 特許庁

This sample substrate for use in biological testing has a first member, defining at least one sample well and a second member including at least one sample well closure element.例文帳に追加

本発明のサンプル基板は、少なくとも1つのサンプルウェルを規定する第1の部材、および少なくとも1つのサンプルウェル閉鎖要素を備える第2の部材を有する。 - 特許庁

To provide a test facility of a smoke detector suitable for testing actual operation conditions of the smoke detector under conditions resembling actual smoke generation conditions.例文帳に追加

実際の煙発生状況に近い状況下において、煙感知器の実際の作動状況を試験することに適した煙感知器の試験設備等を提供する。 - 特許庁

The base sequence of any of the sequence numbers 1-4 (refer to the specification) or a part thereof is used for testing on the human pituitary or therapy of human pituitary-associated diseases.例文帳に追加

本発明は、配列番号1〜4のいずれかの塩基配列又はその部分の、ヒト下垂体に関する検査又はヒト下垂体関連疾患の治療のための使用である。 - 特許庁

The test circuit chip 21 for testing the electric characteristics of at least part of an LSI chip on a wafer to be inspected is mounted to the surface of a card main body 11.例文帳に追加

カード本体11表面には、検査対象ウエハ上のLSIチップの少なくとも一部の電気的特性をテストするためのテスト回路チップ21が実装される。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine capable of preventing favorably a dimension of a formed recess from being erroneously recognized when read, without requiring a long time for measurement.例文帳に追加

測定に時間をかけることなく、形成されたくぼみの寸法を読み取る際の誤認を好適に防止することができる硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing a load measuring instrument, capable of reducing the amount of work sequence needed to test the load measuring instrument and improving its work efficiency.例文帳に追加

荷重測定器の検定に要していた作業手順の低減と作業効率の向上を為し得る荷重測定器の検定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical transmission system for sufficiently and surely testing normality by expanding a test range based on a return test.例文帳に追加

折り返し試験による試験範囲を拡大することができるようにし、これにより正常性を十分かつ確実に試験することの可能な光伝送システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a screed and a method for testing gas sealability of the screed which enable economical test of gas sealability in a shorter time with a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で、より短時間で経済的なガスシール性の検査を行うことを可能にしたスクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法を提供する。 - 特許庁

An engine testing device 10 comprises: a dynamometer 14 for applying a load to an engine 12 to be tested; and a control device 20 that controls the engine 12 and the dynamometer 14.例文帳に追加

エンジン試験装置10は、試験対象であるエンジン12に負荷を与えるダイナモメータ14と、エンジン12及びダイナモメータ14を制御する制御装置20とを備える。 - 特許庁

To provide a drop testing device capable of carrying out a drop test by easily holding the desired attitude of even a large and heavy packing box for large-sized AV equipment.例文帳に追加

大型AV機器用の大きくて重い梱包箱であっても、所望の姿勢を容易に保持して落下試験を行うことができる落下試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a vehicle passing through a tunnel capable of performing simulation of tunnel-passing by using a launching means provided with a pair of rotary role.例文帳に追加

一対の回転ロールを備えた発射手段を用いて、トンネル走行の模擬実験を正確に行うことを可能とするトンネル走行実験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

When the initial two properties are not within a predetermined ceiling, or when intensity distribution are not normal distributions, the arrangement for testing is adjusted, and this process is repeated.例文帳に追加

はじめの2つの特性が所定限度内にない場合、又は強度分布が正規分布でない場合には、試験用配置が調整され、この過程が反復される。 - 特許庁

To provide a device for testing semiconductor capable of continuously using hardware without replacing it, even when a failure occurs in a storage part, and capable of reducing warranty cost.例文帳に追加

記憶部に故障が発生した時でもハードウェアを交換することなしに継続して使用することができ、ワランティコストの削減が可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method for rating the sensitizing potential of a testing specimen more easily and in high accuracy using cultured cells easy to handle and available stably.例文帳に追加

取扱いが容易であり安定して入手可能な培養細胞を用いて、被検物質の感作性をより簡便に且つ精度良く評価できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加

テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a method for testing a collision of a vehicle which can further simulate by data at the time of the collision of real vehicles by using an MDB(moving deformable barrier).例文帳に追加

MDB(ムービング・デフォーマブル・バリア)を用いた上で実車同士の衝突時のデータにより一層近似させることができる車両衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a file system managing apparatus and a method for managing a file system which can perform testing processing of a storing apparatus more efficiently and activate a navigation apparatus quickly.例文帳に追加

記憶装置の検査処理を効率化してナビゲーション装置を高速に起動することが可能な「ファイルシステム管理装置及びファイルシステム管理方法」を提供すること。 - 特許庁




  
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