「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(99ページ目) - Weblio英語例文検索

This attraction system is provided with an attraction device provided in a play zone for directing the play of testing courage which surprises the player and a portable item 40 carried and moved by the player.例文帳に追加

アトラクションシステムは、プレーゾーンに設けられ、プレーヤを驚かす肝試しのプレー演出を行うアトラクション装置と、プレーヤが携帯して移動する携帯アイテム４０とを含む。 - 特許庁

To obtain not only pass/fail decision of an instrument to be tested but also a test result which enables evaluation of its immunity to interference waves, with a testing apparatus for performing immunity tests.例文帳に追加

イミュニティ試験を行う試験装置において、供試機器の合否判定だけでなく、妨害波に対する耐性を評価し得る試験結果が得られるようにする。 - 特許庁

Correlation between an AE signal and drill workability (cutting resistance) is preliminarily found to evaluate and determine workability for a testing material based on an output of the AE wave.例文帳に追加

予めＡＥ信号とドリル加工性（切削抵抗）との相関を求めておき、ＡＥ波の出力信号に基づいて試験材の加工性を評価判定する。 - 特許庁

To solve the problem that manufacturing defect location cannot be specified even if manufacturing defect can be judged by a scan path method for testing a circuit to be inspected in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路をテストするスキャンパス手法では製造不良を判定することはできても、製造不良箇所を特定することはできない。 - 特許庁

A lithography method includes a step of obtaining a temperature as a function of time, in a bake step after exposure for a different location on a testing substrate on which a chemistry amplification resist is coated.例文帳に追加

化学増幅型レジストがコーティングされた試験基板上の異なるロケーションについて、露光後ベークステップの中の、時間の関数としての温度を得るステップが含まれている。 - 特許庁

To provide an electrode part support structure of a tracking testing device for easily performing assembling and attaching work of the electrode part and easily adjusting a measuring condition and the assembling positional relationship.例文帳に追加

電極部分の組立や着脱作業が容易で測定条件や組立位置関係の調整が容易なトラッキング試験装置の電極部支持構造を提供する。 - 特許庁

To provide a clock generating device or the like for reducing power consumption during a normal operation when testing circuit blocks operated by clocks different from each other by a single test clock.例文帳に追加

互いに異なるクロックで動作する回路ブロックを単一のテストクロックでテストする場合に通常動作時の低消費電力化を図るクロック生成装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for judging an extension degree of a diabetic nephropathy by early detecting the diabetic nephropathy before judgment of a regular urine testing paper method or a clinical symptom is conducted.例文帳に追加

通常の尿試験紙法や臨床症状による判定がなされるより前に、早期に糖尿病性腎症を検出し進展度を判定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can increase the margin in the accuracy for the positioning of a probing stylus, in the wafer testing process of the manufacturing process of semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の製造工程におけるウェハテスト工程でのプローブ針の位置合せにおける精度余裕を大きくすることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing an insulation monitoring device, capable of obtaining test results of higher accuracy by performing a test using a reactive leakage current as a parameter.例文帳に追加

無効漏れ電流をパラメータとする試験を行うことにより、より高い精度の試験結果を得ることができる絶縁監視装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

A plurality of the first measurement modules receive the trigger signal through the trigger bus, and the IC tester for testing a to-be-tested object is modified.例文帳に追加

本発明は、複数の第１計測モジュールがトリガバスを介してトリガ信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The first substrate 1 has on a second surface 12 a first semiconductor chip 20 and a first test point 15 for testing the first semiconductor chip 20.例文帳に追加

第１基板１の第２表面１２には、第１半導体チップ２０と、この第１半導体チップ２０をテストするための第１テストポイント１５とが形成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspecting device capable of testing a substrate for holding a contact shoe at high temperatures and at low temperatures with preventing an occurrence of a distortion and an expansion caused by the temperature.例文帳に追加

この発明は、接触子を保持する基板を温度による歪や膨張を発生させなくして高温や低温の試験を行える半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a rubber abrasion testing machine for measuring the loss in weight by abrasion with high accuracy with respect to the rubber including a compound of low conductivity such as silica.例文帳に追加

シリカのような導電性の低い配合物を含有するゴムであっても、高い精度で摩耗減量の測定を行うことが可能なゴム摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

In this method and this system, multi-ported memory is separated into at least two parts used for testing one or a plurality of ports which is not directly accessible.例文帳に追加

この方法およびシステムでは、直接アクセス可能ではない１つまたは複数のポートをテストするために使用する少なくとも２つの部分にマルチポート化メモリを分離する。 - 特許庁

To provide a connection testing method in replacing a railway electronic interlocking device capable of shortening the total number of working days required for a connection test of a new electronic interlocking device.例文帳に追加

新設の電子連動装置の接続試験に要する延べ作業日数を短縮化できる鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit for accurately testing the error rate characteristics of a fine soft decision error correction circuit without receiving interference from other devices inside a laboratory or the like.例文帳に追加

実験室内等の他の装置からの干渉を受けずに微妙な軟判定誤り訂正回路の誤り率特性を精度よく試験するための回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for testing whether or not a power shut-off circuit normally operates even while suppressing increase in wiring area.例文帳に追加

配線領域の増大を抑制しつつも、電源遮断回路が正常に機能しているかを試験することのできる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ex-vivo test kit for testing the effectiveness of a reverser in the blood, serum, or plasma of a patent containing the reversers of multidrug resistance.例文帳に追加

多重薬剤耐性のリバーサ−を含む患者血液、血清又は血漿中の当該リバーサ−の効果を検査するためのｅｘ−ｖｉｖｏ検査キットを提供する。 - 特許庁

A photosynthesizer 27 synthesizes the first optical signal and the second optical signal P2, and outputs the optical signal obtained by the synthesis as an optical signal P3 for testing.例文帳に追加

光合成器２７は、第１光信号Ｐ１と第２光信号Ｐ２とを合成し、その合成によって得られた光信号を試験用光信号Ｐ３として出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a method for testing the same, which use a clock signal gating technique capable of reducing a power consumption in a test operation.例文帳に追加

テスト動作時の消費電力を低減することのできるクロック信号ゲーティング技術を利用した半導体集積回路およびそのテスト方法の提供を図る。 - 特許庁

To provide a sorting machine of an acoustic input product for testing a lot of acoustic input products at high speed and performing sorting work based on the test results.例文帳に追加

高速に多量の音響入力製品をテストして、検査結果による分類作業を行うことができる音響入力製品の選別装置に提供すること。 - 特許庁

A bit error map for testing a semiconductor memory is formed, the prescribed data value A is written in a memory cell, successively read out, and compared with a written data value.例文帳に追加

半導体メモリのテストのため、ビットエラーマップが形成され、その際、所定のデータ値がメモリセル内に書き込まれ、続いて、読み出され、書き込まれたデータ値と比較される。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of performing a tRCD test adapted to the reduction in time between command inputs even when the test employs a memory testing apparatus inoperable for a high speed clock.例文帳に追加

高速なクロックで動作できないメモリ試験装置を用いる場合でも、短縮化に対応したｔＲＣＤ試験を可能にする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a frequency characteristic measuring device capable of easily performing frequency characteristic evaluation test of a vibration sensor for testing in any heating state.例文帳に追加

試験用の振動センサを、簡単に、任意の加熱状態において周波数特性評価試験を行うことができる周波数特性の測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of dispensing with use of an expensive transmission cable for a high-frequency characteristic and prevention of a mixed noise, when distributing a clock from a clock board.例文帳に追加

クロックボードからのクロック分配の際に、高周波特性やノイズ混入防止のために高価な伝送ケーブルを使用する必要がない半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To perform test more precisely in the test device for testing both or either of a control model and the control program created based on its control model.例文帳に追加

制御モデル及びその制御モデルをもとに作成される制御プログラムの両方又は一方を検査する検査装置において、検査をより精密に行えるようにする。 - 特許庁

To generate destruction without causing the deformation of a rubber test piece quickly in a rubber destructive testing machine for generating destruction such as cutout in the rubber test piece.例文帳に追加

ゴム試験片に対して欠け等の破壊を生じさせるゴム破壊試験機において、短時間でゴム試験片の変形を促すことなく破壊を生じさせるようにする。 - 特許庁

To realize a temporally parallel test between a predetermined circuit block having a self-diagnosis circuit and another circuit block in a testing method for an IC having a plurality circuit blocks.例文帳に追加

複数の回路ブロックを有するＩＣのテスト方法において、自己診断回路を有する所定の回路ブロックと、その他の回路ブロックとの時間的な並列テストを実現する。 - 特許庁

To provide a parts testing device capable of effectively preventing the generation of dewing in a chamber at generating a temperature alarm and a continuous operation for a long period.例文帳に追加

温度アラームの発生や長期間の連続運転に際しても、チャンバの内部に結露が発生することを有効に防止することができる部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can realize reduction of the layout area and the testing time for voltage adjustment and generates internal voltages.例文帳に追加

レイアウト面積の低減および電圧調整のためのテスト時間の短縮を実現することのできる内部電圧を発生するための半導体装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a method and device for monitoring static damage, capable of readily testing the presence or absence of the static damage caused, when a processing is effected by use of ions of ion implantation, etc.例文帳に追加

イオン注入等のイオンを用いる加工を行う際に生ずる静電破壊の有無を容易に検査可能な静電破壊モニタリング方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a test system for improving the stability in test quality by self-compensating the noise superimposed on a voltage applied to a device under test.例文帳に追加

半導体試験装置及びテストシステムに関し、被試験デバイスに印加する電圧に重畳されるノイズを自己補償して試験品質の安定性を向上する。 - 特許庁

To reduce cost required for a test by enabling a high-speed LSI test by an inexpensive testing device, and to test also a semiconductor device on a mounting substrate.例文帳に追加

安価な試験装置により高速なＬＳＩの試験を可能として試験に要するコストを削減し、また、実装基板上の半導体装置の試験も可能とする。 - 特許庁

To provide equipment for testing electrical characteristics of a semiconductor device package with a first connector terminal formed on under surface and a second connector terminal formed on upper surface.例文帳に追加

下面に第１連結端子が形成され、上面に第２連結端子が形成された半導体素子パッケージの電気的特性を検査する装置を提供する。 - 特許庁

To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.例文帳に追加

遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a conveying carrier tool for a semiconductor device testing device loadable with a plurality of kinds of BGA (Ball Grid Array) type semiconductor devices, though having a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成でありながら、複数の品種のＢＧＡ型半導体装置を搭載することが可能な半導体装置試験装置用搬送キャリア冶具を提供する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as the communication monitoring device for appropriately monitoring communication data transmitted and received by a specified terminal.例文帳に追加

試験装置９００は、特定の端末が送受信する通信データを適切に監視する通信監視装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide an evaluation test method for durability easily and exactly testing the acceleration durability of a magnetic disk corresponding to a magnetic disk drive utilizing the L/UL method.例文帳に追加

Ｌ／ＵＬ方式の磁気ディスク装置に対応する磁気ディスクの加速耐久性試験を，簡便かつ正確に行う耐久性評価試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method for a slack type emergency stopping device capable of working with various types of elevator devices and performing the motion check simply and quickly.例文帳に追加

種々のエレベータ装置に対応することができるとともに、簡単に、且つ、短時間に動作確認を行うことができるスラック式非常止め装置の試験方法を得る。 - 特許庁

The testing ports 10 and 11 for performing the leakage test of the coated steel pipe 1 are provided on the outer face of the band-like members 8 and 9 so that each communicates with the spaces T1 and T2.例文帳に追加

被覆鋼管１の漏れ試験を行う試験用ポート１０，１１は，帯状部材８，９の外面に，各々が空間Ｔ１，Ｔ２と連通するようにして設ける。 - 特許庁

The Basel Committee should raise capital requirements for complex structured credit instruments and off-balance sheet vehicles, require additional stress testing, and enhance their monitoring. 例文帳に追加

バーゼル委員会は、複雑な仕組み商品及びオフバランス関連会社に関して所要自己資本を引き上げ、追加的なストレス・テストを要求し、モニタリングを強化すべき。 - 財務省

(2) Except for the case as prescribed in the preceding paragraph, no person shall affix the symbol of the same Paragraph or a confusingly similar symbol on a certificate pertaining to product testing. 例文帳に追加

２　何人も、前項に規定する場合を除くほか、製品試験に係る証明書に同項の標章又はこれと紛らわしい標章を付してはならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a change or addition in test items, measuring instruments, devices under test, or the like occurs.例文帳に追加

試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

A vibration-testing apparatus 1 includes a waveform generating device 6, a hydraulic vibration exciting device 3, a sample 2, a measuring device 5, and a control device 4 for controlling the movement of the hydraulic vibration exciter 3.例文帳に追加

振動試験装置１は、波形発生装置６、油圧加振機３、供試体２、計測装置５、油圧加振機３の動きを制御する制御装置４を備える。 - 特許庁