「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(101ページ目) - Weblio英語例文検索

Even when the obtained absorptive multilayer film ND is left in an environmental testing machine under the temperature of 80°C and humidity of 90% for 24 hours, no crack occurs in the absorptive multilayer film.例文帳に追加

得られた吸収型多層膜ＮＤフィルターは、温度８０℃、湿度９０％の環境試験機に２４時間放置しても、吸収型多層膜にヒビ割れが発生しない。 - 特許庁

To prevent contamination due to dust and lead terminals from being bent, when housed by testing semiconductor devices, as it is, in a tray with a lid for semiconductor devices.例文帳に追加

蓋付きの半導体装置収納用トレイに収納したまま半導体装置のテストを行なうことで、塵埃による汚染及び収納時のリード端子の湾曲を防止する。 - 特許庁

To provide a device used for testing acaricides exterminating mites, such as Varroa jacobsoni being an ectoparasite of honeybees, and a mite extermination member applied with the acaricides to be examined.例文帳に追加

ミツバチの外部寄生害虫であるミツバチヘギイタダニ等のダニを駆除する駆除剤の試験に用いる装置及び試験される駆除剤を塗布するダニ駆除部材を提供する。 - 特許庁

To reduce consumption power by reducing the number of uses and thereby lessening the circuit scale as a whole, when a timing pulse generator is applied to an apparatus for testing semiconductors.例文帳に追加

半導体試験装置に適用した場合に、その使用個数を減少でき、これにより全体の回路規模を小さくでき、しかも消費電力の低減化を図ること。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NEOPLASTIC LESION OR PRENEOPLASTIC LESION OF LIVER IN MAMMAL EXCEPT HUMAN BY MEASURING EXPRESSION LEVEL OF GENE OF CARBONIC ANHYDRASE ENZYME II例文帳に追加

ヒトを除く哺乳動物における肝臓腫瘍性病変又は前腫瘍性病変の炭酸脱水素酵素ＩＩの遺伝子の発現レベル測定による検定方法 - 特許庁

To shorten a test time and to reduce waste of water and pressurization gas and further to improve responsiveness of a pressure fluctuation in a method for detecting and testing the membrane damage of a filtration membrane.例文帳に追加

ろ過膜の膜損傷検知試験方法において、試験時間を短縮し、かつ水や加圧気体の浪費を低減し、さらに圧力変動の応答性を向上する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control apparatus 10 that functions as a network address and port translating apparatus for translating a network address and a port number of a communication device.例文帳に追加

試験装置９００は、通信装置のネットワークアドレス及びポート番号を変換するネットワークアドレスポート変換装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

The test system for testing a semiconductor package 1, having an electrode face arranged with electrodes over the whole surface, and its opposite back face, is flat.例文帳に追加

本発明にかかるテストシステムは、一面に電極が配置された電極面を有し、電極面に対向する背面が平坦である半導体パッケージ１のテストシステムに関する。 - 特許庁

This surge tester 100 is for performing a surge test on a testing object correspondingly to an input signal input from an impressed waveform generator 11 generating an impressed waveform.例文帳に追加

サージ試験装置１００は、印加波形を発生する印加波形発生器１１から入力される入力信号に応じて被試験対象のサージ試験を行う。 - 特許庁

This threshold value testing circuit provided for a threshold value voltage of an I/O circuit in the semiconductor device is provided with a sampling/holding circuit and a sampling control circuit.例文帳に追加

半導体装置においてＩ／Ｏ回路の閾値電圧の試験用に設けられる閾値試験回路は、サンプル／ホールド回路およびサンプリング制御回路を備えて構成される。 - 特許庁

To provide a system and method for testing electrification, capable of evaluating the temperature dependence of electrification characteristic and capable of performing the measurement of exposure and potential.例文帳に追加

帯電特性の温度依存性を評価することができ、また、露光と電位測定とを同時に行うことができる帯電試験システムおよび帯電試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive elution testing device used for immersing a solid preparation in a test solution to measure the elution degree of a preparation component and simple in constitution.例文帳に追加

試験液中に固形製剤を浸漬させて製剤成分の溶出程度を測定するために用いられ構成が簡易で廉価な溶出試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which easily inputs into a semiconductor device, test information necessary for an operation test of the semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスである半導体装置の動作テストに必要なテスト情報を、容易に半導体装置に入力することのできる、半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

A visually-inspected parts specifying drawing preparing section 12 for each testing machine prepares the layout drawing of the printed circuit board based on circuit design data 1B and a parts information database 4.例文帳に追加

試験機別目視検査部品指定図作成部１２において、回路設計データ１Ｂと部品情報データベース４に基づいてプリント回路板のレイアウト図が作成される。 - 特許庁

To provide a socket for a semiconductor integrated circuit in which appropriate contact pressure is applied to all external terminals of a semiconductor package when testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験時、半導体パッケージの全ての外部端子に適切な接触圧力が加わる半導体集積回路用ソケットを提供する。 - 特許庁

Since a plurality of smart card chips respond to stimulus at random times in some cases, the system is well adapted for testing of such the plurality of smart card chips.例文帳に追加

複数のスマートカードチップがランダムな時間に刺激に対して応答する場合があるので、そのシステムはそのような複数のスマートカードチップを検査するのに適応する。 - 特許庁

To provide a character testing method for prepreg that can digitalize the half hardening state of prepreg resin independent from the resin kind or structure of the prepreg.例文帳に追加

プリプレグ樹脂の半硬化状態をバラツキなく数値化し、かつプリプレグの樹脂系あるいは構造に依存されないプリプレグ試験方法を提供することが課題である。 - 特許庁

To provide a penetration endurance evaluating testing device for quantitatively evaluating the penetration endurance strength by a cutting tool of a sheet material of a sheet-like material with high reproducibility.例文帳に追加

シート状材料のシート材の刃物による耐貫通強度を長期にわたり、再現性よく、かつ定量的に評価できる耐貫通性評価試験装置を得ること。 - 特許庁

Unnecessary copper foil wiring 2 is cut by irradiating a laser light, the BGA package wiring is completed, and each signal terminal is led out to the terminal 3 for a testing device.例文帳に追加

不要な銅箔配線２は、レーザーを照射して切断することにより、ＢＧＡパッケージの配線を完成させ、信号端子の各々を試験装置用の端子３に引き出す。 - 特許庁

For that purpose, the element contains a test material which interacts with a radiation in the testing wavelength range depending on the contact with the amount of the sample supplied.例文帳に追加

そのためにテストエレメントが、供給された試料量との接触に依存して検査波長領域内の放射線と相互作用をする検査物質を含有する。 - 特許庁

To obtain a test device for integrated circuit devices capable of testing a plurality of integrated circuit devices with a small number of voltage sources and ammeters and reducing the test prices.例文帳に追加

少数の電圧源及び電流計で複数の集積回路装置をテストでき、テスト価格をダウンさせうる集積回路装置用のテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a collision testing device capable of simulating a collision of a vehicle with high reproducibility, a design method for the vehicle and the vehicle design by the design method.例文帳に追加

高い再現性で車両の衝突を模擬することができる衝突試験装置、車両の設計方法、その設計方法により設計された車両を提供する。 - 特許庁

IMMUNE COMPLEX SPECIFIC ANTIBODY FOR REDUCING BLANK VALUE IN ARRAY TESTING SYSTEM, IN DETECTING ANTIBODY OF SPECIFIC IMMUNOGLOBULIN CLASS BONDED ANTIGEN-SPECIFICALLY例文帳に追加

抗原特異的に結合した特定の免疫グロブリンクラスの抗体を検出する際に、アレイ試験方式においてブランク値を低減するための免疫複合体特異的抗体 - 特許庁

This probe card is used for testing of an integrated circuit formed on a semiconductor wafer, and characterized in that it comprises non-oxide cement made ceramic substrate.例文帳に追加

半導体ウエハに形成された集積回路の検査に用いられるプローブカードであって、非酸化物セラミック製のセラミック基板からなることを特徴とするプローブカード。 - 特許庁

The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries so as to contribute to the strengthening of monitoring systems, including improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc.例文帳に追加

本省及び検疫所は、残留農薬等の試験検査技術の向上など、輸出国における監視体制の強化に資する技術協力を行う。 - 厚生労働省

The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries so as to contribute to the strengthening of monitoring systems, including improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, mycotoxins, etc.例文帳に追加

本省及び検疫所は、残留農薬、カビ毒等の試験検査技術の向上など、輸出国における監視体制の強化に資する技術協力を行う。 - 厚生労働省

(2) Researchers, etc. shall keep records as set forth in Chapter 3 Paragraph 2.3(1), so as to make it possible to confirm processing, testing, inspection and shipment records for each lot.例文帳に追加

(2) 研究者等は、ロットごとに、第３章第２の３(1)に掲げる記録、(1)の調製記録、試験及び検査記録並びに運搬記録が確認できるようにするものとする。 - 厚生労働省

The basic test speed is 500 MHz, but this speed can be increased to up to 1 GHz in Double Data Rate Mode (DDR Mode), for at-speed testing of today's faster memory devices. 例文帳に追加

基本的な試験速度は500MHzであるが, 今日のより速い記憶デバイスの速度指向試験用には, DDR(倍速)モードでこの速度を1GHzまで増大させることができる. - コンピューター用語辞典

Having a system that recognizes the drawn widgets gives the designer a tool that can be used for designing, testing, and eventually producing a final application interface. 例文帳に追加

描かれたウィジェットを認識するシステムによって, 設計者は最終的な応用インタフェースを設計し, 試験し, 遂には制作するのに利用できるツールを得ることになる. - コンピューター用語辞典

Support for the JMeter plugins is closely integrated with the IDE's profiling tool.The JMeter plugins enable you to easily create and run JMeter load testing scripts from within the IDE. 例文帳に追加

JMeter プラグインは IDE のプロファイルツールと緊密に統合されています。 JMeter プラグインによって JMeter 負荷テストスクリプトを IDE 上で作成し実行することが簡単に行えるようになります。 - NetBeans

The Run File option, also available from both the Editor context menu and the Run menu, requires that you be in the test file for the class you are testing. 例文帳に追加

「ファイルを実行」オプションは、同様に「エディタ」のコンテキストメニューと「実行」メニューの両方から使用できますが、テスト対象のクラスのテストファイル内にいる必要があります。 - NetBeans

TutorialTutorial-- A short tutorial about PHPUnit A short introduction to the test framework PHPUnit provides a simple framework for creating a test suite to automate testing of functions and classes. 例文帳に追加

チュートリアルチュートリアル--PHPUnit 簡易チュートリアルテストフレームワークの紹介 PHPUnit は、関数やクラスを自動的にテストする"テストスイート" を作成するためのシンプルなフレームワークを提供します。 - PEAR

To provide a method and an apparatus for testing a multi-ported memory especially when one or a plurality of ports thereof are not directly accessible, without using any intermediate logic circuit.例文帳に追加

特にそのポートの１つまたは複数が介在論理回路なしに直接アクセス可能ではないときに、マルチポート化メモリをテストするための方法およびシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide a system which enables a person for a medical examination to simply, easily use a testing service on a specimen such as blood, urine or the like at any place and at any time.例文帳に追加

受診者がいつでもどこでも簡単に且つ容易に血液、尿等の検体サンプルの検査サービスを利用することができるシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a testing equipment of high-accuracy for mechanical characteristics constituted, without causing the number of the seal areas of a high-pressure container to increase, and to prevent a test piece attaching space from being narrowed by a support member.例文帳に追加

高圧容器のシール箇所を増加させず、かつ支持部材が試験片の取付空間を狭くすることのない高精度の機械的特性装置を提供する。 - 特許庁

Sequential data which are received from the testing device 314 are constituted in a parallel shape, and an estimation-to-actual data value is displayed for every node, in order to indicate whether the test of a node has passed or not.例文帳に追加

テスト装置から受け取られた順次データは並列形式に構成され、ノードのテストが合格か否かを示すためノード毎に予測対実際データ値が表示される。 - 特許庁

An engine testing device 10 comprises: a dynamometer 14 for applying a load to an engine 12; and a control device 20 that outputs a control command value to the engine 12 and the dynamometer 14, respectively.例文帳に追加

エンジン試験装置１０は、エンジン１２に負荷を与えるダイナモメータ１４と、エンジン１２とダイナモメータ１４にそれぞれ制御指令値を与える制御装置２０と、を備える。 - 特許庁

To obtain a method for testing the communication path of a network in which the communication path of the network can be verified simply and quickly.例文帳に追加

本発明は、ネットワークの通信経路の試験を行う通信経路試験方法に関し、ネットワークの通信経路の検証を簡易かつ迅速に行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide an abnormality alarm for a residence which can be installed beautifully in a residence, whose daily testing operation confirmation is performed easily and which can be tested surely.例文帳に追加

住宅内に美観良く設置可能で日常の試験動作確認も容易におこなうことができ、また、確実に試験可能な住宅用異常警報器を提供すること。 - 特許庁

To provide a disc-shaped rubber test piece for a rubber testing machine capable of faithfully reproducing the peripheral shearing force within the earthing surface produced in a tire under an actual use environment.例文帳に追加

実際の使用環境下におけるタイヤに発生する接地面内の周方向せん断力を忠実に再現し得るゴム試験機用ゴム試験片を提供すること。 - 特許庁

To provide an endurance testing method for a pneumatic tire properly reproducing aged deterioration in actual use, as well as appropriately and efficiently making a valuation of endurance in the aged deterioration.例文帳に追加

実使用における経年劣化をよく再現し、経年劣化における耐久性評価を適切に、効率よく行いうる空気入りタイヤの試験方法を提供する。 - 特許庁

To prevent contact characteristic from deteriorating by the migration of solder from an IC lead to a contact pin coming into electrical contact with the IC lead in relation to a socket for testing an IC or the like.例文帳に追加

ＩＣ等のテスト用ソケットで、ＩＣリードと電気的接触をするコンタクトピンにＩＣリードからの半田が転移し、コンタクト特性が劣化するのを防止する。 - 特許庁

For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加

半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁

To provide a plane bending fatigue-testing device for obtaining the identical fatigue testing conditions between plane bending rocking to one surface side and that to the other surface side with respect to a test piece, for reducing the influence of vibration, and for accurately performing a plane bending fatigue test even if a metal plate new material is used as the test piece.例文帳に追加

本発明は、試験片に対し、その一面側への平面曲げ揺動時と他面側への平面曲げ揺動時とで同一の疲労試験条件が得られることや、振動の影響を低減すること、金属板新素材を試験片として用いた場合であっても平面曲げ疲労試を精度よくなし得る平面曲げ疲労試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁