「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(105ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor testing device with an event pulse generating part capable of eliminating practically or reducing, storage updating for a storage memory provided inside the event pulse generating part.例文帳に追加

イベントパルス発生部内に備える格納メモリへの格納更新を実用的に解消若しくは低減可能とするイベントパルス発生部を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A measuring tube 30 holding a test filter 50 is connected to an aperture 25 formed in a duct 10 that introduces gas for testing so that the filter plane of the test filter 50 is vertically set.例文帳に追加

試験用気体を導入するダクト１０に形設した開口部２５に、テストフィルター５０を保持する測定管３０を、テストフィルター５０のフィルター面が垂直になるように接続する。 - 特許庁

To obtain a control method and a material-testing device for performing control so that the amplitude of load fluctuation being applied to a test piece becomes a target value more accurately.例文帳に追加

試験片に加わる負荷変動の振幅が、より正確に目標値となる様に制御している材料試験装置における制御方法及び材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a light stability-testing apparatus that has a reliable signal transmission means that is stable for a long time and a signal transmission mechanism having a large degree of freedom of installation.例文帳に追加

長期にわたり安定した信頼度の高い信号伝達手段を持ち、且つ設置の自由度の大きい信号伝達機構を有する光安定性試験装置を提供する。 - 特許庁

After the delay time is adjusted, an input signal for testing is inputted again, the comparison result data are read again from the comparison result register, and the delay time is confirmed after the adjustment.例文帳に追加

遅延時間が調整された後にテスト用入力信号を再度入力し、比較結果レジスタから比較結果データを再度読み出して、調整後の遅延時間を確認する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing individually a functional block out of a plurality which are provided, reducing the number of terminals for setting an operation mode to a minimum when a test is performed.例文帳に追加

テスト時の動作モードを設定するための端子数を最小限に抑えたうえで、複数備えられる機能ブロックを個別にテストすることができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

A buffer for testing 110 fixes a signal level given to the comparison circuit from the channel exchanger when a plurality of output nodes of the channel exchanger 100 are in an open state.例文帳に追加

テスト用バッファ１１０は、経路交換器１００の複数の出力ノードが開放状態である場合、経路交換器１００から比較回路５０に与えられる信号レベルを固定する。 - 特許庁

To implant the tip of an introducer to the depth of a vein in the same pathway as a pathway for passing the tip of a 23G testing puncture needle in performing the depth venipuncture operation using Seldinger technique.例文帳に追加

セルディンガー法による深部静脈穿刺術を行う際に、２３Ｇ試験穿刺針先端が通過した経路と同一の経路で、イントロデューサー先端を深部静脈に刺入する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a method for opening, short circuit, a neck-down or inappropriate etching in which a trace is not brought into physical contact and is not excessively wasting time.例文帳に追加

トレースが物理的に接触されるものではなく、また過度に時間を費やすことのない開放、ショート、ネックダウンまたは不適切なエッチングのためのテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁

An obtained supporting element provides a minimum residual pressure of at least 4 psi for holding the brittle structure within the housing after testing at 900°C, at 200 cycles.例文帳に追加

得られた支持要素は、９００℃で２００サイクルの試験後に前記ハウジング内に前記脆弱構造体を保持するために少なくとも４ｐｓｉの最小残留圧力を提供する。 - 特許庁

To provide a simulated application test apparatus for a computer system that facilitates changes in testing conditions, and dispenses with the new programming of test programs, when the hardware of a computer system is changed.例文帳に追加

テスト条件の変更を容易とし、かつ計算機システムのハードウェアが変更となった場合にテストプログラムの新規製作を不要とする計算機システムの模擬アプリケーション試験装置を得る。 - 特許庁

To perform at low cost the durability test of a test target, in a durability testing method for performing the durability test of the test target arranged between a drive body and the load and that receives twisting.例文帳に追加

本発明は、駆動体と負荷との間に配置されて、ねじりを受ける被試験体の耐久試験を行なう耐久試験方法等に関し、被試験体の耐久試験を安価に行なう。 - 特許庁

The package substrate 300 includes pads 303, 903 arranged on the upper surface 3a, a pad 904 arranged on the lower surface 3b, and an exclusive pad 905 for testing arranged on the lower surface 3b.例文帳に追加

パッケージ基板３００は、上面３ａに配置されたパッド３０３、９０３と、下面３ｂに配置されたパッド９０４と、下面３ｂに配置されたテスト専用パッド９０５と、を備える。 - 特許庁

To provide a common terminal and an inputting means capable of using in common a writing function and a testing function in order to satisfy a requirement of the reduction of the number of pads for reducing a chip size.例文帳に追加

チップサイズを小さくするためにはパッド個数の減少が望まれており、路書き込み機能と、テスト機能とを共通に使用できる共通端子及び入力手段を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing an optical property of an optical fiber device which is capable of conducting loss measurement and reflection loss measurement by easily switching between them without need of processing of an optical fiber end.例文帳に追加

光ファイバの終端処理が不要で、損失測定と反射減衰量測定を容易に切り替えて行える、光ファイバデバイスの光学特性検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a liquid crystal panel, the apparatus capable of easily attaching or detaching a polarizer by forming a groove in a polarizer fixing unit and inserting a polarizer tool to fix the polarizer.例文帳に追加

偏光板固定部に溝を形成して偏光板治具を挿入して偏光板を固定することで、偏光板の着脱が容易な液晶パネル検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pathological condition examination apparatus for the coronary artery evaluating changes in the pathological conditions of microtubules of the coronary artery in real time using an image analysis by a noninvasive and monitoring exercise testing.例文帳に追加

非観血的で監視的な運動負荷試験による画像解析を用いて冠微小血管の病態変化をリアルタイムに評価できる冠動脈病態検査装置を提供すること。 - 特許庁

The method and the apparatus for testing the NQR enable the test of the existence of a nucleus selected in the sample (especially a nucleus in an integral spin quantum number such as ^14N).例文帳に追加

本発明はまた、試料における選択された核（特に、^１４Ｎの如き整数スピン量子数の核）の存在についてテストするＮＱＲテストの方法および装置に関する。 - 特許庁

To dispense with a line testing device exclusive for FCS check and to enable a normal operation confirmation test of FCS check during service in which a subscriber device is constantly stored.例文帳に追加

ＦＣＳチェック専用の回線試験装置を不要にし、かつ、加入者装置を常時収容している運用中でのＦＣＳチェックの正常動作確認試験を可能にする。 - 特許庁

To provide a method and a device for economically and speedily testing a complicated integrated circuit without introducing a delay to the timing of a critical path.例文帳に追加

本発明の目的は、クリティカル・パスのタイミングに遅延を導入することなく、より経済的かつ迅速に、複雑な集積回路をテストするための方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

Testing equipment applies tensile force to a base material 19 where a screw member 17 is mounted in a direction for pulling the screw member 17 from the base material 19 to measure the tensile force.例文帳に追加

ねじ部材１７を取り付けた母材１９に、母材１９からねじ部材１７を引き抜く方向に加えた引張力を測定するための引張強度試験器に関する。 - 特許庁

To provide a testing piece for an immunological measuring method based on an immunochromatograph method, provided with a detection level regulating means and capable of detecting an examined substance quickly, easily and favorably.例文帳に追加

検出レベルの調整手段を備え、被検物質を迅速、簡便に、かつ良好に検出しうる、免疫クロマトグラフ法に基づく免疫測定法用試験片を提供すること。 - 特許庁

To improve the reliability of a microbiology validation system for monitoring and validating clinical culture laboratory test results occurring throughout a testing lifecycle of a clinical culture.例文帳に追加

臨床培養の検査サイクルの期間を通して生じる臨床培養実験室検査結果をモニタしかつ確証する微生物確証システムをより信頼性のおけるものに改善する。 - 特許庁

To provide a testing device of an IC capable of shortening a test time of the IC having a detection circuit and a circuit for changing an output signal corresponding to an output signal of the detection circuit.例文帳に追加

検波回路と検波回路の出力信号に応じて出力信号を変化させる回路とを有するＩＣの試験時間を短縮するＩＣの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high speed bus interface of a semiconductor testing device for increasing transfer capacity, reducing the number of signal conductors of a bus, and capable of freely setting order of the signal conductors.例文帳に追加

本発明は、転送容量を増加し、バスの信号線数を削減し、信号線の順番を自由に設定できる半導体試験装置の高速バスインタフェースを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for an information processor which efficiently test a function by instruction code constitution and operand dependency relation between instructions and a storage medium stored with its program.例文帳に追加

命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行う情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing cytotoxicity, capable of quantifying the toxicity of a chemical subjected to the toxicity test with higher accuracy by accurately measuring the activities of cultured cells one by one.例文帳に追加

培養細胞の細胞活性を１個ずつ正確に計測し、被毒性試験化学物質の毒性をより高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法を提供する。 - 特許庁

Then the access server 6 reads and analyzes the fault information from the fault management database 8 and instructs a test detection circuit 7 for testing a subscriber line to perform a test according to the result of analysis.例文帳に追加

次に、故障情報を故障管理データベース８から読み出して分析し、分析結果に従って、加入者回線の試験を行う試験装置７へ試験実施の指示を行う。 - 特許庁

To provide a flooring made of a fiber which is capable of preventing static electricity by simply placing it on a floor, and a test method for measuring its static electricity preventive function without causing differences among people involved in testing.例文帳に追加

単に床に置くだけで静電気を除電することができる繊維製床敷物の提供、並びに個人差を生ずることなく除電性能を測定する試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing of cytotoxicity determinable toxicity of a chemical substance having a property to be poisoned in a high accuracy by directly, respectively and correctly measuring cytoactivity of a cultured cell.例文帳に追加

培養細胞の細胞活性を直接、1個1個、正確に計測し、被毒性試験化学物質の毒性を高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new method for testing a therapeutic or prophylactic agent of the destruction of bone in osteoporosis or rheumatoid arthritis, and further to provide a DNA usable in the method.例文帳に追加

骨粗鬆症または慢性関節リウマチにおける骨破壊の治療または予防剤を試験するための新規な方法および該方法において用いられるＤＮＡを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a micro-component capable of being arranged on a sample mount within a sample chamber of an electronic microscope and applying outside force while observing a sample.例文帳に追加

電子顕微鏡の試料室内の試料台に配設可能であって、試料の観察を行いながら外力を加えることができる微小部品用試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a bearing which generates static electricity without relying on external voltage and can check white detachment and which can also measure durable life in a short time.例文帳に追加

外部電圧に頼らずに静電気を発生させ白色はく離を確認できると共に、短時間で耐久寿命を測定できる軸受試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A concave surface adhesion test device 1 for testing an adhesion state of the adhesive sheet includes a concave surface bonding jig 30 and a concave surface pressing device 10.例文帳に追加

粘着性シートの接着状態を試験する凹曲面接着試験装置１において、凹曲面接着試験装置１は、凹曲面貼り付け冶具３０と、凹曲面押圧装置１０を有する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

Further, desirable human RUP3 for use in screening and testing is provided as a specified nucleic acid sequence or as an amino acid sequence corresponding to the nucleic acid sequence.例文帳に追加

更にスクリーニングおよび試験の際に使用するため好ましいヒトＲＵＰ３が、特定の核酸配列として、およびその核酸配列に、対応するアミノ酸配列として提供される。 - 特許庁

The moderate and low-speed input and output circuits are more flexible, for example, having preset, enable, and clear as control line inputs, and can support JTAG boundary testing.例文帳に追加

中低速入力および出力回路は、例えば制御ライン入力としてプリセット、イネーブルおよびクリアを有してより柔軟であり、ＪＴＡＧバウンダリ・テストを支援することができる。 - 特許庁

To manufacture a coping which fits with an abutment tooth model more appropriately relating to a method for testing a coping and a method of manufacturing a coping using the same.例文帳に追加

本発明は、コーピングの検査方法および、それを用いたコーピングの製造方法に関するもので、支台歯模型に、さらに適切に嵌合するコーピングを作ることを目的とするものである。 - 特許庁

A substrate 206 for temperature characteristic inspection is constituted by a receiving side signal generator 12 using self-testing function incorporated IC 17, an error detector 13 and a transmitting side signal generator 14.例文帳に追加

セルフテスト機能内蔵ＩＣ１７を用いたる受信側信号発生器１２、エラー検出器１３および送信側信号発生器１４により、温度特性検査用基板２０６を構成する。 - 特許庁

To prevent ground water flowing out of a test drilled hole from flowing out to an outside of a hole, while elevating a device support member for inserting a testing device into the test drilled hole.例文帳に追加

試験装置を試錘孔内に挿入するための装置支持部材を昇降させながら尚且つ試錐孔から湧き出る地下水の孔外への流出を防止することを可能とする。 - 特許庁

To provide an electric property testing device for a semiconductor device capable of effectively preventing unfavorable appearance due to particles and improper electrical property (shoot, etc.), in the next test process.例文帳に追加

半田屑による概観不良、及び次テスト工程での電気的特性不良（シュート等）を効果的に防止することができる半導体装置の電気的特性試験装置を提供する。 - 特許庁

In advance of testing the semiconductor device, the relation between the noise quantity and the delayed time is determined by using an LSI 10 for evaluation having a delay measuring circuit 11 and a noise generating circuit 12.例文帳に追加

半導体装置の試験にあたって、遅延測定回路１１とノイズ発生回路１２とを有する評価用ＬＳＩ１０を用いて、ノイズ量と遅延時間の関係とを求めておく。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a magnetic recording medium, by which an environment inside the magnetic disk drive is reproduced with higher fidelity by using particles which are finer than the conventional particles.例文帳に追加

従来よりも微細な粒子を用いて、磁気ディスク装置内の環境をより忠実に再現することができる磁気記録媒体の試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

To identify new polymorphism lowering a drug metabolism activity of CYP3A4 and to provide a method for testing related to the drug metabolism activity using the polymorphism as an index.例文帳に追加

ＣＹＰ３Ａ４の薬物代謝活性を低下させる新たな多型を同定し、該多型を指標とした薬物代謝活性に関する検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To achieve a semiconductor-testing device for speedily determining whether a semiconductor is appropriate, based on a difference between a positive-electrode voltage from a positive electrode amplifier and a negative-electrode voltage from a negative electrode amplifier.例文帳に追加

正極アンプからの正極電圧と負極アンプからの負極電圧との差分に基づいての良否判定を高速に行なう半導体試験装置を実現することにある。 - 特許庁