| 意味 | 例文 |
For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6752件
In this toilet stool device 1 with an urine testing function provided with an urine sensor for detecting concentrations of substances in an urine such as saccaride, protein, occult blood, vitamins and the like contained in the urine, a capillary passage 415a capable of holding liquid by a capillary phenomenon is provided in a detection head 3 having the urine testing sensor for detecting concentrations of the substances in the urine.例文帳に追加
尿に含まれる糖、タンパク、潜血、ビタミン等の尿中物質の濃度を検出する尿センサーを備えた検尿機能付き便器装置1において、尿中物質の濃度を検出する検尿センサーを備えた検出ヘッド3には、毛細管現象により液体を保持可能な微細通路415aを設けたことを特徴とする検尿付き便器装置。 - 特許庁
In the LSI tester for testing whether an LSI for outputting an analog signal waveform is good or not, at least a part of an arithmetic processing part for processing an output signal from an LSI to be tested (DUT) is configured by logical synthesis based on an FPGA.例文帳に追加
アナログ信号波形を出力するLSIの良否をテストするLSIテスタにおいて、被測定対象LSI(DUT)の出力信号を処理する演算処理部の少なくとも一部がFPGAによる論理合成で構成されたことを特徴とするもの。 - 特許庁
To provide a radiation performance testing device of a radiator which is used for cooling an engine of, for example, a vehicle and can safely and promptly collects cooling water of the radiator, and a method for collecting the radiator cooling water.例文帳に追加
車両等のエンジン冷却用に用いられるラジエータの放熱性能試験装置に関し、安全で迅速にラジエータの冷却水の回収が行えるラジエータの放熱性能試験装置及びラジエータ冷却水の回収方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a load testing machine for performing a plurality of tests, such as a test for simultaneously applying loads of a plurality of weights to a test object and a test for applying a load to the test object while increasing the load in steps, without requiring any attachment/detachment of a dedicated tool.例文帳に追加
被試験物に複数の分銅の荷重を同時に負荷する試験、被試験物に荷重を段階的に増加させて負荷する試験等複数の試験を専用の治具の着脱を要することなく行うことができる荷重試験機を提供する。 - 特許庁
This testing machine comprises a common shaft 3 for interfitting inner rings of a plurality of insulated bearings 46, 47, a plurality of respective housings 11, 12 for interfitting respectively outer rings of each insulated bearing 46, 47, and a common base 4 for installing thereon the respective housings 11, 12.例文帳に追加
複数の絶縁軸受46,47の内輪を嵌合させる共通の軸3と、各絶縁軸受46,47の外輪をそれぞれ嵌合させる複数の個別ハウジング11,12と、これら個別ハウジング11,12を設置する共通の基台4とを備える。 - 特許庁
To provide a serial communication apparatus test device for specifying which circuit out of a plurality of circuits in a serial communication card for performing transmitting/receiving processing of a serial communication apparatus generates a trouble and to provide a method for testing the serial communication apparatus.例文帳に追加
シリアル通信装置の送受信処理を行なうシリアル通信カードにおいて、そのシリアル通信カード上の複数の回路のうちいずれの回路に不具合があるかの特定する、シリアル通信装置試験装置及びシリアル通信装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of measurement for a new onset case of venous thrombosis, in which gene mutation becoming a risk of the venous thrombosis as reported so far can not be found, and a new method for testing the easiness of becoming the thrombosis for a subject.例文帳に追加
従来から報告されている静脈血栓症のリスクとなるような遺伝子変異が見つからない静脈血栓症の新規発症例のための測定方法、及び、被検者の血栓症へのかかり易さを試験する新規の方法の提供を課題とする。 - 特許庁
This semiconductor testing apparatus is provided with a plurality of holding implements 11 for respectively holding a plurality of semiconductor packages 10, a test board 12 where the plurality of holding implements 11 are arranged, and a fluid feed portion 13 for feeding fluid F for heating or cooling the semiconductor packages 10.例文帳に追加
複数の半導体パッケージ10をそれぞれ保持する複数の保持治具11と、複数の保持治具11が配置されるテストボード12と、半導体パッケージ10を加熱又は冷却するための流体Fを供給する流体供給部13とを備える。 - 特許庁
This testing machine is constituted of a tool for holding the test piece, the vibration rod for applying vibration pressure to the held test piece to generate strain, and a ceramic piezoelectric element actuator provided in the vibration rod for imparting the high-frequency vibration to the rest piece.例文帳に追加
試験片の保持具、保持された試験片に振動圧力を加えて歪を発生させるための駆動棒、試験片に高周波振動を付与するための駆動棒に設けられたセラミック圧電素子アクチュエータから構成されるセラミック圧電素子駆動型材料試験機。 - 特許庁
PWM DRIVING METHOD AND PWM DRIVER FOR PELTIER ELEMENT, ON-BOARD TEMPERATURE CONTROLLER AND CAR SEAT TEMPERATURE CONTROLLER, PWM DRIVING CHARACTERISTIC CHART OF PELTIER ELEMENT AND METHOD FOR PREPARING AND UTILIZING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING PWM DRIVING CHARACTERISTIC OF PELTIER ELEMENT例文帳に追加
ペルチェ素子のPMW駆動方法およびPMW駆動装置、車載温度調節装置およびカーシート温度調節装置、ペルチェ素子のPWM駆動特性チャートならびに同チャートの作図方法および利用方法、ペルチェ素子のPWM駆動特性試験方法 - 特許庁
To make an immunoassay analyzer for analyzing electrochemically an immunoassay, and a chip electrode and a test chip used for the immunoassay analyzer suitable for a POCT (point of care testing), and to keep running costs thereof low.例文帳に追加
本発明は、イムノアッセイを電気化学的に分析するイムノアッセイ分析装置、並びに、そのイムノアッセイ分析装置に用いるチップ電極および検査チップに関し、POCT(point of care testing)に適するとともに、ランニングコストを安価に抑える。 - 特許庁
Donor screening is not required for autologous stem cells, but consideration should be given to testing for HBV, HCV, and HIV to mitigate risks of cross-contamination during processing and for the safety of processing staff.例文帳に追加
自己由来のヒト幹細胞を用いる場合は必ずしも提供者のスクリーニングを必要としないが、調製工程中での交差汚染の防止、製造者への安全対策等の観点からHBV、HCV又はHIV等のウイルスに対する検査の実施を考慮すること。 - 厚生労働省
To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.例文帳に追加
被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁
This tester has a memory part for storing a test program for testing the tested object, and a control means for conducting control by the per-pin system and the shared system by the test program stored in the memory part, based on the per-pin system and the shared system.例文帳に追加
本装置は、被試験対象を試験するテストプログラムを記憶する記憶部と、パーピン方式、シェアード方式に基づいて、記憶部のテストプログラムにより、パーピン方式またはシェアード方式で制御を行う制御手段を有することを特徴とする装置である。 - 特許庁
To provide a highly reliable plant failure diagnostic device for achieving the failure diagnosis of a plant in a short period of time and a plant test device for accurately testing a plant in a short period of time without increasing the scale of this system.例文帳に追加
システムを肥大化させること無く、プラントの故障診断を短時間に正確に行える信頼性の高いプラント故障診断装置、およびプラントの試験を短時間に正確に行えるプラント試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an impact load response evaluation method for a track pad, which provides the track pad with excellent cushioning performance by grasping impact load response characteristics of the track pad under a quasi-static load, and an impact testing apparatus for the track pad.例文帳に追加
準静的荷重下における軌道パッドの衝撃荷重応答特性を把握し、緩衝性能に優れた軌道パッドを得るための軌道パッドの衝撃荷重応答評価方法及びその衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁
Furthermore, when the intensity Ib of mirror reflection light from the testing image for fixing and light emitting intensity Ia of a halogen lamp are detected by an image information detection part, the glossiness of the test image for fixing is calculated utilizing these data (S5).例文帳に追加
また、画像情報検出部43が定着テスト画像Tの正反射光の強度Ib、およびハロゲンランプの発光強度Iaを検出すると、これらを用いて定着テスト画像の光沢度を算出する(S5)。 - 特許庁
To provide a wafer level packaging cap and its manufacturing method for preventing the damage of the connection part of a connection bar and a cap substrate at the time of testing temperature-proof performance, and for easily machining the connection hole of a wafer having a high cross-section rate.例文帳に追加
本発明は耐温度性能の実験時に接続棒とキャップ基板との連結部分の破損が発生せず、高断面比を有するウエハーの連結穴の加工が容易なウエハーレベルパッケージングキャップおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a molding for medical use having well-balanced stiffness, impact resistance and transparency, and satisfying the quality of dialysis fluid supply sections and dialysis fluid circuits, and the testing method 1(2) specified in the Production Acceptance Criteria for Dialysis-type Artificial Kidney Apparatuses.例文帳に追加
剛性と耐衝撃性、透明性のバランスに優れ、かつ透析型人工腎臓装置承認基準のうち、透析液供給部及び透析液回路の品質及び試験法1(2)を満足する医療用成形品を提供する。 - 特許庁
The personal computer system is provided with a service aid device for deciding the faults of multiple equipment arranged in a power system on the basis of information obtained from these equipment and a simulator type testing device for simulatively driving the service aid device and inspecting its functions.例文帳に追加
電力系統に設けられる複数の機器からの情報に基づいて機器の故障判定を行う保守支援装置と、この保守支援装置を模擬的に動作させてその機能を点検するシミュレータ式試験装置とを備える。 - 特許庁
To provide a testing device for a control device capable of easily performing rearranging work of a needed test circuit in the case of performing a confirmation test for a control device housed in a control panel and appropriately performing test data collection and decision work.例文帳に追加
制御盤に収納された制御機器の確認試験を行う際に必要な試験回路の組替え作業を容易に行え、試験データの採集や判定作業を適切に行える制御機器試験装置を得ることである。 - 特許庁
To a plurality of analogue circuit blocks (Anlg_Cir1... Anlg_CirN), a plurality of switching circuits for testing (Tcnt_Sw1... Tcnt_SwN) for switching the signal paths from normal signal path in the test mode to that in the normal operation mode are connected.例文帳に追加
複数のアナログ回路ブロックAnlg_Cir1…には、テストモードでの信号経路と通常動作モードでの信号経路とを切り換える複数のテスト用スイッチ回路Tcnt_Sw1…Tcnt_SwNが接続される。 - 特許庁
This instrument of the present invention comprises an oscillation type liquid testing deive U for viscosity measurement and visco-elasticity measurement, a frequency detecting circuit 7, an amplitude detectting circuit 8, an impedance computing circuit 9 and circuits 10a, 10b for computing the respective values herein.例文帳に追加
並びにこれら粘性測定と粘弾性測定を行うための振動形検液装置Uと周波数・振幅検出回路7,8と、インピーダンス演算回路9と上記各値を演算する回路10a,10bとから成る装置。 - 特許庁
In this semiconductor testing apparatus for connecting a wafer mother board with a probe card through a connector and performing a test of an IC, each of the wafer mother board and the probe card has a connector class recognizing means for recognizing the class of the connector.例文帳に追加
ウエハマザーボードとプローブカードをコネクタにより接続してICのテストを行う半導体テスト装置において、前記ウエハマザーボードとプローブカードのそれぞれに前記コネクタの種別を認識するためのコネクタ種別認識手段を設けた。 - 特許庁
The device 100 also comprises a pad 1 for bonding electrically connected to an internal circuit 4 and bonded to a bonding member, and a pad 2 for testing electrically connected to an internal circuit 4 and to which a test probe contacts.例文帳に追加
また、内部回路4と電気的に接続されるとともにボンディング部材と接合されるボンディング用パッド1と、内部回路4と電気的に接続されるとともにテストにおいてテストプローブが接触するテスト用パッド2とを備えている。 - 特許庁
To provide an on-vehicle testing apparatus for ETC capable of simplifying and shortening the required time for the performance measuring test of an ETC vehicle-mounted device, without having to change the setting of the vehicle-mounted device in the state of actually performing a communication.例文帳に追加
ETC車載器の性能測定試験を、車載器を実際に通信を行う状態での設定を変更する必要がなく、簡単にし、所要時間を短縮することができる、ETC車載器用テスタを提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor device where increase of the number of terminals for testing a memory unit can be suppressed in the semiconductor device composed by integrating a plurality of chips containing at least a memory chip and a logic chip for controlling the memory chip into one package.例文帳に追加
メモリチップと該メモリチップを制御するロジックチップを少なくとも含む複数のチップを1パッケージ化した半導体装置において、メモリ単体検査のための端子数増加を抑制できる半導体装置を提供する。 - 特許庁
For conducting a development test, etc. on an electric vehicle which employs a motor as a power source, a test measuring system for the electric vehicle 1 reproduces a driving state of the electric vehicle to be tested by using a reproduction object testing device 10.例文帳に追加
モータを動力源とする電動車両の開発試験等を行うために試験対象電動車両の走行状態を再現対象試験装置10において再現する電動車両用試験測定システム1である。 - 特許庁
Also the semiconductor testing apparatus 10 comprises: a data compression section 16a for compressing the fail data FD according to a prescribed rule; and region fail memories 17, 18 for storing the fail data compressed by the data compression section 16a.例文帳に追加
また、この半導体試験装置10は、フェイルデータFDを所定の規則に従って圧縮するデータ圧縮部16aと、データ圧縮部16aで圧縮されたフェイルデータを記憶するリージョンフェイルメモリ17,18とを備える。 - 特許庁
To provide an XY stage device used for manufacturing or testing various boards such as flat display panel boards for example which deals with enlarged panel boards and reduces the manufacturing cost and the transport cost.例文帳に追加
例えばフラットディスプレイパネル基板等の各種基板の製造又は検査工程に用いられるXYステージ装置において、パネル基板の大型化に対応できる、製造コスト及び運送コストの低いXYステージ装置を提供する。 - 特許庁
To provide a material testing method for a steel plate for identifying the microstructure configuration of the steel plate and estimating tensile strength, yield strength, and the amount of extension quickly in the manufacture line or offline of the steel plate.例文帳に追加
本発明の目的は、鋼鈑の製造ラインあるいはオフラインにおいて、鋼板のミクロ組織構成を同定するとともに、引張強度、降伏強度、伸び量を迅速に推定可能な鋼板の材質試験方法を提供することにある。 - 特許庁
In a reflector element 1 for material testing reactor structured with a box 6, small balls of a reflector material are filled in the gap between the outer wall of the box and a pipe 5 for loading a capsule by controlling filling density.例文帳に追加
筐体6構造になる材料試験炉用の反射体要素1において、該筐体の外壁とキャプセル装荷用パイプ5との間の空隙に、反射体材料の小球体を、その充填密度を調整しつつ充填する。 - 特許庁
To provide a method and system for preventing any medical accident such as taking a patient for another, the administering medicine, using a wrong syringe, and medical error of testing and operation in medical facilities by using a computer, a recording medium, and a bar code or the like.例文帳に追加
医療施設における患者間違い、薬の間違い、注射器の間違い、検査・手術の医療ミスを防止するための、コンピュータ・記憶媒体・バーコード等を利用した防止方法及び防止するシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a nucleic acid decomposer used for completely removing nucleic acids from a testing tool or device before the detection operation of a target gene, and having an ability for effectively decomposing the nucleic acid in a state (non-wet state) except a liquid phase.例文帳に追加
ターゲット遺伝子の検出作業に先だって、検査器具装置から核酸を完全に排除するために、液相以外の状態(非ウェット状態)で、核酸を有効に分解する能力を備えた核酸分解剤を提供する。 - 特許庁
To provide a guide for a probe allowing stable electrical connection and being kept from leaving a scrub trace on a projection apex of a projecting connection electrode, a cantilever-type probe card, and a method for testing a semiconductor device.例文帳に追加
安定した電気的接続を可能にし、かつ、突起状接続電極の突起頂点にスクラブ跡を付けることのないプローブ針のガイド部材、カンチレバー型プローブカード、並びに、半導体装置の試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor-testing apparatus for generating a pulse (application waveform or the like) at a different period without using a number of timing memories for storing a timing set to a DUT having a plurality of ports of a different period (frequency).例文帳に追加
周期(周波数)の異なる複数ポートを持つDUTに対して、タイミングセットを格納するタイミングメモリを多数使用することなく、異なる周期のパルス(印加波形等)が発生可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a conveyer of microplates capable of realizing the improvement in both high throughput and flexibility in system constitution, in a test processing system for performing a series of work processings for biochemical testing.例文帳に追加
生化学試験のための一連の作業処理を行う試験処理システムにおいて、ハイスループットとシステム構成におけるフレキシビリティの向上をともに実現することができるマイクロプレートの搬送装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide stable quality by predicting the number of read errors of a sync byte (SB) caused by very small defects even without testing based on a data block length for each user regarding a method for inspecting a storage disk device.例文帳に追加
ディスク型記憶装置の検査方法に関し,各ユーザに応じたデータブロック長で試験を行わなくても,微小欠陥によるシンクバイト(SB)のリードエラー発生個数を予測し,安定した品質の提供を可能にすることを目的とする。 - 特許庁
To provide a method for deciding necessity for exchanging a dialysis device by testing clearance of the dialysis device in a simple and reliable at- home blood dialysis system requiring minimum labor of a patient by automating all processes.例文帳に追加
全過程を自動化し最小の患者労力で簡単で信頼性のある在宅用血液透析システムにおいて透析器のクリアランス試験を行い前記透析器の交換の必要性を決定する方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus that reduces the number of unusable tester pins even when a pin multiplex function is used, and also reduces the number of processes for creating data necessary for generation of a test signal.例文帳に追加
ピンマルチプレクス機能を用いる場合であっても使用不可となるテスタピンの数を減らすことができ、且つ試験信号の生成に必要なデータ作成の作業工数を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for estimating residual magnetic flux of a transformer for estimating residual magnetic flux after testing or inspection, when an onsite test and inspection accompanying the application of a direct-current voltage to a transformer coil are executed.例文帳に追加
変圧器巻線への直流電圧印加を伴う現地試験や点検を実施した場合において、試験や点検後の残留磁束を推定する変圧器の残留磁束推定方法及び残留磁束推定装置を提供する。 - 特許庁
When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether or not the data contents of the data ROMs 124-1 to 3 are correct using the read out data and the data for confirmation.例文帳に追加
データチェック用の制御データが設定されると、データROM124−1〜3に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データROM124−1〜3のデータ内容が正しいか否かがチェックされる。 - 特許庁
The connecting machine for watt-hour meter 10 is a connecting machine for connecting the watt-hour meter 1 provided with a lower external terminals 2 provided under the meter and a profile external terminals 3 provided on the profile side and the electric power side of the testing apparatus.例文帳に追加
電力量計用結線器10は、下面に設けられた下方外部端子2と側面に設けられた側方外部端子3とを有する電力量計1と、試験装置の電源側とを結線するものである。 - 特許庁
To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer.例文帳に追加
シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。 - 特許庁
The IC tester is characteristically constituted of: a memory for storing the test program composed of pass test and fail test; and performing means for controlling the testing part by performing either all of the test program or performing the pass test.例文帳に追加
本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
To provide an anvil for a hardness testing machine for reducing the irregularity of measurement by attaching a sample support mechanism, which performs measurement even if a measuring person does not lay his hands, to a spot anvil.例文帳に追加
本発明は、測定者が手を添えなくても測定が行える試料支持機構をスポットアンビルに取り付けることにより、測定のばらつきを小さくすることができる硬さ試験機用アンビルを提供することを目的とするものである。 - 特許庁
To provide a testing apparatus for an apnea syndrome which detects a respiratory standstill condition or a low respiratory condition with precision which is close to that for the discrimination of the respiratory standstill condition or the low respiratory condition, which is performed by an expert such as a doctor.例文帳に追加
医者等の専門家が行う無呼吸状態もしくは低呼吸状態の判断の精度により近づいた、無呼吸状態もしくは低呼吸状態を検出する無呼吸症候群の検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a pattern control device for a game machine, for which the variable configurations of patterns of a pattern display means can be easily and inexpensively changed, and at the same time, the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加
図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する。 - 特許庁
To provide an SRAM device having a configuration for effectively detecting a product, which is small in noise margin and has possibility to cause a malfunction in a market, and the defective connection of one of a pair of read-out bit lines, and to provide a method for testing the SRAM device.例文帳に追加
ノイズマージンが小さく市場で誤動作をする可能性が高い物や、読み出しビット線対の片側の接続不良を有効に検出するための構成を有するSRAM装置とそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a pattern control device for a game machine, which can easily and inexpensively change variation configurations of a pattern of a pattern display means, and at the same time, for which the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加
図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する - 特許庁
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