「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(111ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a command transmission control device for transmitting a command to a sound reproduction device at optional timing, and to provide an integrated circuit device, a sound reproduction evaluation system and a testing method of the sound reproduction device.例文帳に追加

音再生装置に対して、任意のタイミングでコマンドを送信することが可能なコマンド送信制御装置、集積回路装置、音再生評価システム及び音再生装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sensor capable of shortening a test time in the case of testing even if the sensor is provided with an abnormality deciding function (e.g. a function for deciding fire/non-fire) and to provide a monitoring and controlling system.例文帳に追加

異常判断の機能（例えば火災／非火災の判断を行なう機能）を備えた感知器であっても、試験時の試験時間を短縮することの可能な感知器および監視制御システムを提供する。 - 特許庁

To provide the acceleration testing method of a computer for specifying a part where any failure is generated by reducing the reproducing period of any latent failure such as memory leak due to memory release leakage.例文帳に追加

メモリ解放漏れによるメモリリークなど潜在的な不具合は、不具合を持ったプログラムを計算機上で長期間動作させることではじめて顕在化するため、再現試験に長期間を要する。 - 特許庁

This materials testing machine, during a test, controls the movement of a projector 71 for dimensional measurements and a light-receiving unit 72 following a detection arm 52, and makes a detector 70S of a dimension measuring device 70 follow the movement of the detection arm 52.例文帳に追加

試験中、検出腕５２に追従して測寸用投光器７１と受光器７２を移動制御して測寸装置７０の検出器７０Ｓを検出腕５２の移動に追従させる。 - 特許庁

To provide an integrated circuit which cannot be reverse-engineered easily by a third party, to provide a testing method for the integrated circuit, and to provide an integrated-circuit component.例文帳に追加

本発明は、第３者が容易にリバースエンジニアリングを行うことができない良好な集積回路と、この集積回路の試験方法及び、集積回路部品とを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a board-mounted component and a mounting method therefor which is applied, for example, to a wireless LAN module, design and manage easier than the conventional types and simplify testing facility.例文帳に追加

本発明は、基板実装部品及び基板実装部品の実装方法に関し、例えば無線ＬＡＮモジュールに適用して、従来に比して設計、管理が容易で、かつ検査設備を簡略化できるようにする。 - 特許庁

The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.例文帳に追加

検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁

Settings and control for realizing this reproduction are automatically carried out by the testing control apparatus 44 using predetermined setting information 45a, 45b, 45c and control information 47a, 47b and 47c.例文帳に追加

この再現を行うための設定および制御を、予め定められた設定情報４５ａ，４５ｂ，４５ｃおよび制御情報４７ａ，４７ｂ，４７ｃを用いて試験制御装置４４により自動で行う。 - 特許庁

A transparent probe card is provided and covers a wafer for electrically connecting the testing pads of the LED chips via the contacts so as to perform a light-up test on the LED chips.例文帳に追加

透明プローブカードが備えられ、その透明プローブカードは、ＬＥＤチップにおいて照明試験を実行するようにコンタクトを介してＬＥＤチップの試験パッドに電気的に接続するためのウェーハを覆う。 - 特許庁

First, the engine in a sufficiently cooled state is started, shifted from the second to the fifth gear for testing, and an allowable work load is provided by the change of a fan rotational speed with time.例文帳に追加

まず、エンジンが十分冷却された状態からエンジンを始動し、２速から５速へと変速を行う試験を行い、ファン回転数の経時変化から許容限度仕事量４５を求める。 - 特許庁

The monitor/method also has a control part for emitting the light signal with the second condition applied, from the testing device, when the attenuation amount determining part determines the presence of the terminal device of which the reflected light intensity is attenuated.例文帳に追加

また、反射光強度が減衰している終端装置があると減衰量判定部が判定した場合に、第２の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁

The fire detector 24 operated by an environmental factor in fire is provided on the elevator shaft 1, and a testing means 25 for tentatively generating the environmental factor in fire is provided on an elevating body 2.例文帳に追加

火災時の環境要因によって動作する火災検出器２４を昇降路１に設け、また火災時の環境要因を試験的に発生する試験手段２５を昇降体２に設ける。 - 特許庁

To provide an IC test system for testing IC functioning at high speed in real functioning speed using a general-purpose tester with low functioning frequency without reducing the functioning frequency.例文帳に追加

高速動作するＩＣを、動作周波数の低い汎用テスタを用いて、その動作周波数を低減させることなく、実動作速度にて試験を行なうことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the parts to be inspected are colored on the prepared layout drawing, and a file 5 of visually-inspected parts specifying drawings for each testing machine is prepared.例文帳に追加

更に、試験機別目視検査対象部品一覧３に従って、作成されたレイアウト図上で目視検査の対象となる部品が色塗りされ、試験機別目視検査部品指定図ファイル５が作成される。 - 特許庁

To provide a strength testing apparatus having a configuration for obtaining the stagnation of work and an experimental result as the result at a work field by achieving the strength experiment at an actual bar arrangement field.例文帳に追加

実際の配筋現場での強度実験を可能にすることにより作業の停滞や実験結果を作業現場での結果として得られる構成を備えた強度試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a lamp for testing weather and light resistant property capable of reducing estrangement between deterioration due to sunlight including energy of a visible area with 500 nm as a center and a result of the weather and light resistant property test, at the weather and light resistant property test of a sample.例文帳に追加

試料の耐候光性試験において５００ｎｍを中心とした可視域のエネルギーを含む太陽光による劣化と耐候光性試験の結果との乖離を低減することができること。 - 特許庁

The electronic circuit has the at least one test module 30 provided for testing the electronic circuit, and connected to at least one wire 38, 40 and/or one terminal of the electronic circuit.例文帳に追加

この電子回路は、電子回路を試験するために提供され、電子回路の、少なくとも１つの線（３８、４０）および／または１つの端子と接続される、少なくとも１つの試験モジュール（３０）を有する。 - 特許庁

To provide a test result verification server having a test result verification part separated from a specimen testing device for performing test result verification with excellent variety and flexibility.例文帳に追加

検査結果検証部を検体検査装置より切り離した検査結果検証サーバとし、多様性、融通性に優れた検査結果検証を行うことができる検査結果検証サーバを提供すること。 - 特許庁

A target apparatus M is selected from among a plurality of signal processing apparatuses, and a test circuit K is constituted on a reconfigurable circuit 31 of a support ECU 3 for testing the target apparatus M.例文帳に追加

複数設けられた信号処理装置の中から対象装置Ｍを選択し、この対象装置Ｍの検査のために、サポートＥＣＵ３のリコンフィギュアラブル回路部３１上に検査回路Ｋを構築する。 - 特許庁

To provide a burn-in method for an integrated semiconductor laser device that can constantly hold temperatures of a plurality of semiconductor laser elements when they are to be tested respectively and can shorten a testing time.例文帳に追加

複数の半導体レーザ素子のそれぞれの試験時の温度を均一に保持し且つ試験時間を短くすることができる集積型半導体レーザ装置のバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor memory device, which detects a minute defect in an SRAM memory cell without finely controlling a voltage or excessively increasing measuring time.例文帳に追加

電圧を細かく制御させることなく、かつ測定時間を極端に増大させることなく、ＳＲＡＭメモリセルの微小欠陥を検出可能な半導体記憶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system, method and computer readable medium of instructions, which are useful for determining whether an evaluation testing method or device is clinically equivalent to a reference test method or device.例文帳に追加

評価試験方法または機器が基準試験方法または機器と臨床的に等価であるかどうかを判定する際に役立つ、システム、方法、および命令のコンピュータ読取り可能媒体を提供する。 - 特許庁

Since the servo press body is provided with a sequence for performing brake performance testing, there is no need of entrusting emergency stop confirmation inspection to inspection institutions, and the inspection can be performed in accordance with the convenience of working.例文帳に追加

サーボプレス本体がブレーキ性能試験を行うシーケンスを備えているので、非常停止確認検査を検査機関などに依頼する必要がなく、作業の都合に合わせて検査を行うことができる。 - 特許庁

The test kit comprises a liquid impermeable support 12. a test part 13 containing a reagent for testing the humor components, and a treating part 14 which contains a viscosity reducing reagent and into which the humor components permeate.例文帳に追加

液体不浸透性の支持体１２と、体液成分検査用試薬を含有する検査部１３と、粘性低減試薬を含有し体液成分が浸透する処理部１４とを有する検査具とする。 - 特許庁

Consequently, uniformization of speed over the parallel direction X for the blown-off airgases having passed the resistant substance 80 is accelerated, and the deviation in the speed of the testing wind over the parallel direction X can be suppressed.例文帳に追加

これによって外部抵抗体８０を通過した送風気体について、並列方向Ｘの速度の均一化を促進し、並列方向Ｘにわたる試験風の速度の偏りを抑えることができる。 - 特許庁

To provide a testing method for evaluating segregation resistance of fresh concrete with a slump value of 18-23 cm which can be easily conducted by using a simple apparatus or device.例文帳に追加

簡単な器具ないし装置を用いて容易に実施することのできる、スランプ値が１８〜２３ｃｍのコンクリートのフレッシュ時の材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing nuclear fuel pellets which enable accurate and efficient tests on the whole surface of them without being affected by inspectors'vision and the like.例文帳に追加

原子力燃料ペレットの全表面を検査員の視力等によって影響されることなく正確に効率良く検査することのできる原子力燃料ペレット検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the cost and to improve the reliability with regard to a test socket for testing an mounted electronic component, its manufacturing method and the semiconductor device using the socket.例文帳に追加

本発明は電子部品を装着してテストを行なうテスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置に関し、低コスト化及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁

To provide a blood bag for testing and a blood sampling instrument, having good operability in sampling blood (sampling the initial flow blood), and surely sampling a required quantity of blood (initial flow blood).例文帳に追加

採血（初流血の採取）を行う際、その操作性がよく、また、確実に必要量の血液（初流血）を採取することができる検査用血液バッグおよび採血器具を提供すること。 - 特許庁

The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.例文帳に追加

回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁

This method has wide specificity over main first generation β-lactams, and can be used for testing milk, meat or the like on the existence of the remaining β-lactam antibiotic.例文帳に追加

本発明は、主な第１世代β−ラクタムにわたる広範な特異性を有し、そして残留β−ラクタム抗生物質の存在について牛乳および食肉などを試験するために使用することができる。 - 特許庁

To provide a method for testing many word lines of a semiconductor memory assembly in a multiple WL wafer test in which a multiple wafer test can be performed quickly without needing much cost.例文帳に追加

迅速に、そして多大の費用を伴わずにマルチプルＷＬウエハテストを実施できるような、マルチプルＷＬウエハテストにおける半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor device by which the reliability parameters of wiring can be found individually and accurately at conducting of reliability evaluation tests on the wiring in the state of a wafer.例文帳に追加

ウェハ状態での配線の信頼性評価試験において、配線の信頼性パラメータを個別にかつ正確に求めることができる半導体装置の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a test method for it.例文帳に追加

簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a ceramic plate for semiconductor manufacturing/testing device which bears up against rapid temperature increase, with small temperature dispersion, without breaking semiconductor wafer by heat shock.例文帳に追加

迅速な昇温を行うことが可能であり、加熱面の温度ばらつきが小さく、半導体ウエハ等が熱衝撃により破損することのない半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。 - 特許庁

An on-board vehicle emissions testing system includes a flowmeter module adapted to be detachably connected to the exhaust pipe of a vehicle to provide for flow of exhaust gas therethrough.例文帳に追加

車両搭載型の排気物試験システムの中に、車両の当該排気管に対して取外し可能に接続されるように成した排気ガスの流れを規定する流量計モジュールを包含する。 - 特許庁

To shorten, remarkably compared with hitherto, a time required for display of a response signal by applying to emulation of an integrated circuit by a logic circuit, concerning a testing device.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、ロジック回路による集積回路のエミュレーションに適用して、応答信号の表示に要する時間を従来に比して格段的に短くすることができるようにする。 - 特許庁

The testing machine 300 for pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 to test the durability of the pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4, can test the durability of a plurality of pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 at the same time.例文帳に追加

ピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験を実行可能なピックアップ装置１，２，３，４の試験機３００であって、複数のピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験が同時に実行可能とされた。 - 特許庁

To provide a device and method for precisely evaluating the hydrogen embrittlement of a thin steel sheet by loading the thin steel sheet with stress while charging hydrogen by improving a conventional stress corrosion testing machine of a thick steel sheet.例文帳に追加

従来の厚鋼板の応力腐食試験装置を改良し、水素チャージしながら応力を負荷して、薄鋼板の水素脆化を精度良く評価するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The kit for testing bladder cancer contains a primer capable of efficiently amplifying a gene polymorphism site-containing region present in the ABO-type blood group gene in the No.9 chromosome.例文帳に追加

本発明に係る膀胱癌検査キットは、９番染色体のＡＢＯ式血液型遺伝子に存在する遺伝子多型部位を含む領域を効率的に増幅できるプライマーを含んでいる。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device for accurately analyzing events in a short time when simultaneously displaying waveform of loss distribution characteristics and analysis result of the events appearing on the waveform.例文帳に追加

損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。 - 特許庁

The system and the apparatus include a simultaneous code checker for testing the error in an encoded data packet through a static characteristic of a data packet and a dynamic characteristic of a data stream including a packet.例文帳に追加

システム及び装置は、データパケットの静的特性及びパケットを含むデータストリームの動的特性を通じて符号化済みデータパケット内のエラーを検査するための同時コードチェッカーを含むことができる。 - 特許庁

To surely detect overshoot and undershoot and accurately measure peak voltages thereof in a device for testing a semiconductor having a voltage generation circuit the output voltage of which is changed stepwise.例文帳に追加

出力電圧がステップ状に変化する電圧発生回路を有する半導体試験装置において、オーバシュート及びアンダーシュートを確実に検出し、かつそのピーク電圧を精密に測定する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of detecting an open failure without increasing a test cost, a semiconductor tester for testing this semiconductor device, and a semiconductor test system using this semiconductor tester.例文帳に追加

テストコストを増大させることなく、オープン不良を検出することができる半導体装置、これを試験するための半導体テスタおよびこの半導体テスタを用いた半導体テストシステムを実現する。 - 特許庁