| 意味 | 例文 |
For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6759件
To provide a game nail height testing device for a game board which efficiently tests the propriety of the height of the game nail driven into the game board without complicating a post processing process after a test.例文帳に追加
検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。 - 特許庁
The cylindrical roller bearing 3 is provided for testing between the inner circumference surface of a movable housing 4 arranged around the intermediate part of the rotation axis 2, and the intermediate part peripheral surface of this rotating axis 2.例文帳に追加
上記回転軸2の中間部周囲に配置した可動ハウジング4の内周面とこの回転軸2の中間部外周面との間に、供試軸受である、上記円筒ころ軸受3を設ける。 - 特許庁
To provide a governor rope lifting tool enabling to conduct lifting work of a governor rope easily and securing safety of an operator, and a device for testing an elevator governor capable of conducting a test of the elevator governor accurately.例文帳に追加
業者の安全性が確保でき、かつ容易にガバナロープの引上げ作業が行えるガバナロープ引上げ治具及び精度良くエレベータ調速機の試験が行えるエレベータ調速機試験装置を提供する。 - 特許庁
It is further measured whether or not the selected testing material causes immature chromosomal condensation in a culture cell phased to a specific stage of a cell cycle as an additional step for confirmation.例文帳に追加
確認のための追加工程として、選択された被験物質が、細胞周期の特定段階に同調された培養細胞に未成熟染色体凝縮を起こすか否かを測定する。 - 特許庁
To shorten the test time of the testing method which tests an address line for a memory device formed on a printed wiring board and to make it easy to find a fault position.例文帳に追加
プリント配線板に形成されているメモリデバイス用のアドレス線をテストするアドレス線のテスト方法に関し、テスト時間の短縮化と、故障個所の発見の容易化とを図ることができるようにする。 - 特許庁
To provide a spindle stage for testing a magnetic head which can perform highly accurate servo following by an inexpensive VCM mechanism without using a piezoelectric element and a magnetic head which can perform automatic loading/unloading device.例文帳に追加
ピエゾ素子を使用せずに、安価なVCM機構により高精度なサーボフォローイングが可能な磁気ヘッド試験用スピンドルステージおよび磁気ヘッドを自動着脱できる磁気ヘッド自動着脱装置を提供する。 - 特許庁
To provide a test method and a test apparatus for testing integrated-circuit technology and, to be more precise, provide a probe card constituted in such a way as to reduce crosstalk between probes of a probe card.例文帳に追加
集積回路技術をテストするためのテスト方法及びテスト装置、さらに詳しくは、プローブカードのプローブ同士の間におけるクロストークを減少させるように構成されたプローブカードを提供すること。 - 特許庁
The testing device includes a towing face, the first support body constituted to support the towing face while allowing rotation of the towing face, and a driving mechanism for rotating the towing face.例文帳に追加
試験装置には、牽引面、牽引面の回転を可能としながらその牽引面を支えるように構成された一番目の支持体、および当牽引面を回転させるための駆動機構が含まれる。 - 特許庁
The reactor 20 for power includes an iron-core main leg 24 wound with the testing wiring 26 in the reactor wiring 21, an iron core-side leg 22 and a yoke 23 retained at a common end of each of these legs.例文帳に追加
電力用リアクトル20は、リアクトル巻線21に試験用巻線26を巻き込んである鉄心主脚24と、鉄心側脚22と、これらの脚の共通の端部に保持される継鉄23とを備える。 - 特許庁
To provide a biaxial tensile testing machine for enabling a tensile test in four directions, along two orthogonal axes by a drive means, such as one hydraulic cylinder, and preventing a test piece from being displaced.例文帳に追加
1台の油圧シリンダ等の駆動手段によって直交する二軸に沿った四方向への引張試験が可能となり、試験片の位置が変動することがない二軸引張試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing the fracture toughness of a thin-walled pipe material which can easily perform a three-point bending test by fixing a holding member to the test piece sampled from the thin-walled pipe material.例文帳に追加
薄肉管材から採取した試験片に対し、保持部材を固定することにより、容易に3点曲げ試験を行うことができる薄肉管材の破壊靭性試験方法を提供する。 - 特許庁
To perform highly accurate quality determination in measurement at high pushing-down speed during a line application time, concerning a quality determination method of a button of an electronic apparatus, a method for manufacturing the electronic apparatus, and an electronic apparatus button testing device.例文帳に追加
電子機器のボタンの良否判定方法、電子機器の製造方法及び電子機器ボタン試験装置に関し、ライン適用時に高速の押下速度による測定で精度の高い良否判定を行う。 - 特許庁
To achieve the size reduction of a power converter testing device for executing a loading test by allowing a power converter to simulate motor behavior instead of using a large motor whose mounting and replacement are troublesome, as a load.例文帳に追加
大型で取り付けや交換が面倒なモータを負荷とする替わりに電力変換器にモータの挙動を模擬させて負荷試験を行う電力変換器試験装置の小型化を実現する。 - 特許庁
The biosubstance-inspecting device is constituted by separating chip components for individual testing specimens each loading reagents/solution-sending elements, and control/detection components as inspection main bodies.例文帳に追加
本発明の生体物質検査デバイスは、試薬類・送液系用のエレメントを搭載した、検体ごとのチップコンポーネントと、検査デバイス本体として、制御・検出コンポーネントとを別個にするシステム構成である。 - 特許庁
To provide an operational test apparatus for a USB interface capable of testing an operation of the USB interface solely by an electric device, without using a specific additional test apparatus.例文帳に追加
USBインターフェースの動作試験を実施するに際して、特別な付加的試験装置を用いることなく、当該電子機器単独で実施することが可能なUSBインターフェースの動作試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an emergency operation controller capable of easily testing the emergency operation of each elevator in its actual installation environment when the elevator is simply tested for emergency operation.例文帳に追加
管制運転の試験をエレベーター毎に簡単に実施するにあたり、エレベーター毎に簡単に実設備環境下で管制運転の試験を行うことが可能な管制運転制御装置を提供する。 - 特許庁
To provide a hardness testing machine for ensuring accurate test-force holding time by sensing the moment a test force is exerted completely on a sample and the instant, when the test force is removed from the sample.例文帳に追加
試験力が完全に試料へ加わった瞬間の感知、及び、試験力が試料から除かれた瞬間の感知をすることにより、正確な試験力保持時間を確保する硬さ試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a material testing machine for reducing power consumption by a servo amplifier or a servo motor in a non-operation time when a material test or an operation relating to the material test is not executed.例文帳に追加
材料試験または材料試験に関連する操作が実行されていない非稼働時に、サーボアンプまたはサーボモータによる消費電力を低減することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁
Apparatus for testing an opto-switch includes a first sense resistor coupled between a power source and an input of the opto-switch, and a second sense resistor coupled to an output of the opto-switch.例文帳に追加
光スイッチをテストする装置は、電源と光スイッチの入力部との間に接続する第1の検出抵抗器と、光スイッチの出力部に接続する第2の検出抵抗器とを含む。 - 特許庁
To provide a method of finding a gene-testing system for identifying animals and food products.例文帳に追加
本発明は、動物及び食品の完全な追跡可能性を保証する遺伝子検査システムに関するものであり、データ収集、記録管理及び検索目的で動物を唯一のものとして同定する方法を含む。 - 特許庁
To inexpensively detect a loop including an orderwire communication system for testing an orderwire line, which occurs in an orderwire system, without mounting special means on the other orderwire communication systems.例文帳に追加
オーダワイヤ回線のテストを行うオーダワイヤ通信装置に関し、オーダワイヤシステム内において発生した自装置を含むループを、他のオーダワイヤ通信装置に特別な手段を実装することなく、安価に検出する。 - 特許庁
To provide an apparatus for simply and inexpensively testing termite repellency performance of a wood or insulating material to be used in a building in a stringent condition corresponding to an actual status of use.例文帳に追加
建物に使用される木材や断熱材の防蟻性能を、実際の使用状況に即した厳しい条件下において、簡単且つ安価に把握することがきる防蟻性能試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a mount for a rotating equipment vibration test that evaluates vibration resistance of rotating equipment in a state near to an operation state, and also evaluates weatherability of the rotating equipment, and also to provide a vibration testing method of the rotating equipment.例文帳に追加
回転機器の耐振性を稼働状態に近い状態で評価でき、且つ回転機器の耐候性も評価できる、回転機器振動試験用マウントと回転機器の振動試験方法とを提供する。 - 特許庁
In a dynamometer for controlling to drive a testing machine body, a shape of a test piece (round bar, rectangle, pipe) is selected from a panel face of an operation display panel part 1 of a control part 20c and a size is input.例文帳に追加
試験機本体を駆動制御する動力計において、制御部20cの操作表示パネル部1のパネル面から試験片の形状(丸棒、矩形、パイプ)を選択し、寸法を入力する。 - 特許庁
To provide a service life testing device for a bearing capable of realizing a long service life of a rolling bearing by acquiring establishment of a service life evaluation method in a slip generation domain, stability and high reliability.例文帳に追加
滑り発生領域での寿命評価法の確立、安定性、高信頼性を得ることにより転がり軸受の長寿命を図ることができる軸受用寿命試験装置を提供する。 - 特許庁
To enable to use a system also with a penetration method by developing the testing system and method operated with incident light which has been used for inspecting a wafer.例文帳に追加
本発明の目的は、ウェーハの検査のために用いられてきた入射光によって操作する試験装置及び方法を発展させ、これらの装置を透過法によっても使用できるようにすることである。 - 特許庁
To provide a material testing machine capable of preventing damages of an upper cross head or a table and a lower cross head by collision even when a limit switch for collision prevention is omitted.例文帳に追加
衝突防止用のリミットスイッチを省略した場合においても、上部クロスヘッドまたはテーブルと下部クロスヘッドとが衝突により損傷することを防止することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁
A testing method is employed for evaluating a permeation resistance to a permeable substance of every kind such as chloride ions or water with respect to the surface impregnation material applied to the surface of an inspection target such as reinforced concrete or the like.例文帳に追加
鉄筋コンクリート等の被検査物の表面に塗布される表面含浸材に対する塩化物イオンや水等の各種透過物に対する透過抵抗を評価する試験方法である。 - 特許庁
To provide a travel testing device for vehicles having multiple power sources whose driving source has a battery as an energy source, performing mode driving evaluation while changing a driving condition of the driving source.例文帳に追加
駆動源がバッテリーをエネルギー源とする複数の動力源を持つ車両の走行試験装置として、駆動源の運転条件を変化させながらモード運転評価を可能とするものが要望されている。 - 特許庁
To provide a load test apparatus and a method of load testing for safely removing a load after reaching the maximum load, without destroying a test specimen, even with respect to specimen having a flexible structure.例文帳に追加
柔な構造をした供試体に対しても、最大荷重に達した後の除荷が供試体を破壊することなく安全に行える荷重負荷装置および荷重負荷試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a tape for wafer processing that has good sensor recognition properties, and also has good productivity and testing accuracy, even if an adhesive layer is thin (≤10 μm), and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加
接着剤層が薄い(10μm以下)場合であっても、センサ認識性が良好であり、生産性や検査精度が良好であるウエハ加工用テープ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device, a high-speed serial controller, and an image processor which don't require preparation of apparatus for error function evaluation when evaluating an error function between connected semiconductors.例文帳に追加
接続された半導体間におけるエラー機能評価を行う際に、エラー機能評価を行うための機器類を用意する必要がないテスト装置、高速シリアルコントローラ及び画像処理装置を提供する。 - 特許庁
A probe card 18 is equipped with a relay 38 for connecting a probe 16A to a voltage source of a tester 14 at the wafer 12 testing time, and grounding the probe 16A at the contact resistance measuring time of the probe.例文帳に追加
プローブカード18は、ウェハ12の試験時にはプローブ16Aをテスタ14の電圧源と接続し、プローブの接触抵抗測定時にはプローブ16Aを接地するリレー38を備えている。 - 特許庁
To provide a portable mobile mold material evaluation system for collecting a minute sample from an actual product structure, processing the minute sample in the field and testing a material.例文帳に追加
実機構造物から微小なサンプル試料を採取し、その場で微小なサンプル試料を加工し材料試験を行うことができる持ち運び可能なモバイル型材料評価システムを提供することである。 - 特許庁
To facilitate production of a test piece so as to provide a friction testing machine and a method thereof for carrying out measurement with good reproducibility by using the test piece requiring no V-shaped notching process.例文帳に追加
V字状切れ込み加工を必要としない試験片を利用することができ、これにより試験片の作製が容易で、再現性のよい計測が可能な摩擦試験機および方法を提供する。 - 特許庁
To provide a system, method, and program product for interpreting, optimizing, and customizing data mining models through the use of statistical techniques that utilize diagnostic measures and statistical significance testing.例文帳に追加
診断尺度および統計的有意性検定を利用する統計技術の使用を通じてデータ・マイニング・モデルを解釈し、最適化し、及びカスタマイズするためのシステム、方法およびプログラム製品を提供する。 - 特許庁
The base paper for the corrugated cardboard obtained by the method has ≥50 sec smoothness based on J Tappi paper pulp testing method No. 5, and ≥20% glossiness based on JIS-P-8142.例文帳に追加
J Tappi紙パルプ試験方法No.5に準ずる平滑度が50秒以上で、かつJIS−P−8142に準ずる光沢度が20%以上であることを特徴とする段ボール原紙。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device and a method capable of improving handleability of a user by mitigating a restriction for connection to a DUT (Device Under Test), and utilizing a resource effectively.例文帳に追加
DUTとの接続上の制約を緩和することにより、ユーザの使い勝手を向上することができるとともにリソースを有効利用することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.例文帳に追加
データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁
The model animal for testing pruritus caused by drying is provided, wherein the glabrous skin of a tested animal is dried and the pruritus is caused by physical stimulation on the glabrous skin.例文帳に追加
試験動物の無毛皮膚を乾燥皮膚とし、前記乾燥皮膚に物理的な刺激を与えることにより掻痒が惹起され、乾燥による掻痒を試験するモデル動物を作製できることを見出した。 - 特許庁
To provide a system for measuring maximum value of applied stress voltage which can determine whether burn-in test of a semiconductor device has been performed under proper conditions or not during the burn-in testing.例文帳に追加
本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にバーンインテストが適切な条件で実施されたか否かを判断することができる印加ストレス電圧の最大値を測定する装置を提供する。 - 特許庁
To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.例文帳に追加
対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁
To establish a test method eliminating the effect of reduction in conducting a heating test for baked and densified stability evaluation of gadolinia-added uranium dioxide pellets and prevent the increase of testing cost.例文帳に追加
ガドリニア添加二酸化ウランペレットの焼きしまり安定性評価のための加熱試験を行う場合に、還元による影響を排除する試験方法を確立すると共に、試験コストの増加を防止すること。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for testing a noise reduction performance of a drainage pavement which tests the noise reduction performance without use of an expensive measuring vehicle in a high S/N ratio in real time.例文帳に追加
高価な測定車両を用いることなく、高いS/N比で騒音低減性能をリアルタイムに試験することができる排水性舗装の騒音低減性能試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加
ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数DUT間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加
ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing apparatus for film thickness unevenness by which thickness unevenness of a film formed on a member may be appropriately tested even when a phase characteristic of light may not be recognized.例文帳に追加
部材表面に形成された皮膜の膜厚むらを、光の位相特性を認識することができない場合においても適切に検査することが可能な膜厚むらの検査装置を提供する。 - 特許庁
A flexible printed wiring board is used as wiring for transmitting a vibration signal, which is detected by a vibration detector installed to the vibration base in the vibration testing machine, from this vibration detector to another device.例文帳に追加
振動試験機の振動台の取り付けられた振動検出器で検出した振動信号を前記振動検出器から他の装置に送信するための配線をフレキシブルプリント基板にする。 - 特許庁
To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.例文帳に追加
チップの内部にあるアットスピードの論理BIST回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing an igniter 40 joined to the inside of a gas turbine engine 10 including a combustor 20, a pressure converter 44 joined to the combustor 20, and a spark detector 42.例文帳に追加
燃焼器(20)、該燃焼器(20)に結合された圧力変換器(44)、及びスパーク検出器(42)を含むガスタービンエンジン(10)内部に結合された点火器(40)をテストする方法を提供する。 - 特許庁
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