「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(114ページ目) - Weblio英語例文検索

A BB memory 7 backed up by a battery 6 on the motherboard 10 is provided to write unique data in the BB memory 7 in a product testing process, and then the contents of an EEPROM 5 for BIOS storage are updated to a product BIOS for shipment.例文帳に追加

マザーボード１０上に電池６でバックアップされるＢＢメモリ７を設け、製品の試験工程でこのＢＢメモリ７に固有のデータを書き込み、その後、ＢＩＯＳ格納用のＥＥＰＲＯＭ５の内容を、製品ＢＩＯＳに更新して出荷する。 - 特許庁

(3) Where an application for approval for product types pursuant to the provisions of Article 18 or of Article 23, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act or an application for authorization for product types pursuant to the provisions of Article 25-3, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act was filed by a person who had passed the testing set forth in Article 21, paragraph (1) of the Old Electrical Appliance and Material Control Act prior to the enforcement of Article 10, or where such an application was filed by a person who had filed an application for testing for which the provisions then in force are to remain applicable pursuant to the provisions of the preceding paragraph and who had passed said testing, where either of said persons has filed such an application for approval or authorization for such product types by attaching a test certificate therefor within 10 days from the day of having passed said testing, the provisions then in force shall remain applicable to the disposition on such an application. 例文帳に追加

３　第十条の規定の施行前にされた旧電気用品取締法第二十一条第一項の試験について合格とされた者が第十条の規定の施行の日から十日以内にその試験に合格したことを証する書面を添付してする旧電気用品取締法第十八条若しくは第二十三条第一項の規定の例による型式の認可の申請若しくは旧電気用品取締法第二十五条の三第一項の規定の例による型式の承認の申請又は前項の規定によりなお従前の例によることとされた試験の申請をした者であって当該試験に合格とされたものがその合格とされた日から十日以内にその試験に合格したことを証する書面を添付してする旧電気用品取締法第十八条若しくは第二十三条第一項の規定の例による型式の認可の申請若しくは旧電気用品取締法第二十五条の三第一項の規定の例による型式の承認の申請についての処分については、なお従前の例による。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a wire rod for a spring excellent in surface properties and applicable not only in the case a surface quality control system executing EC testing is introduced before SV treatment but also in the case the system is not introduced.例文帳に追加

ＳＶ処理前にＥＣ検査を行う表面品質管理システムを導入する場合は勿論のこと、該システムを導入しない場合においても適用可能な表面性状に優れたばね用線材を提供する。 - 特許庁

This running testing device 50 for the railway vehicle is equipped with a rail wheel 16, a rail wheel motor 7, a rail wheel hydraulic shaker, truck hydraulic shakers 34, 35, a car body hydraulic shaker 36, a hydraulic system, a flywheel device and a control means.例文帳に追加

鉄道車両用走行試験装置５０は、軌条輪１６、軌条輪電動機７、軌条輪油圧加振機、台車油圧加振機３４、３５、車体油圧加振機３６、油圧システム、フライホイール装置、制御手段を備える。 - 特許庁

The measurement method uses the testing apparatus for determination of the shrinkage amount, length and/or crimp properties such as the number of crimps, crimp removal and crimp stability of individual staple fiber.例文帳に追加

本発明は、特に、この試験装置を利用することによる、個々のステープルファイバの収縮量、長さ及び／または、捲縮数、捲縮除去及び捲縮安定性のような、捲縮特性の決定のための方法に関する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a model structure, which can test physical phenomena occurring when a mobile object moves in a structure, by using a simple model, and to provide the model structure.例文帳に追加

構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法及び模型構造物を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device, for a prescribed item with reference to an apparatus to be measured, by which a noise is detected in real time and at once and which can urge the early solution of a problem when a test result is affected.例文帳に追加

ノイズをリアル・タイムに、又即時に検知し、試験結果に影響が出てくる際には、問題を早期に解決することを促すことができる被測装置に対する所定試験項目の試験測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.例文帳に追加

広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁

To provide a compact shaft center adjusting device for a material testing machine that allows a user to easily adjust a position and an angle of a gripper and can be attached without forming through holes on a load frame.例文帳に追加

全高を小さくしてもつかみ具の位置および角度を容易に調整することができ、また、負荷枠に貫通孔等を形成することなく取付が可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁

Remaining gas in the test finishing high pressure tank 2 is recovered by a recovering apparatus 13, and, preferably, the test finishing high pressure tank 2 is replaced with a high pressure tank for a test as a next testing object.例文帳に追加

試験終了高圧タンク２内における残りのガスを回収器１３により回収し、当該試験終了高圧タンク２を次の試験対象たる供試用高圧タンクと入れ替えることも好ましい。 - 特許庁

To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.例文帳に追加

本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inexpensive anemometer for a weather/light resistance testing machine capable of measuring wind speed accurately even when a sample is rotated around a light source without disturbing wind passing along the sample surface.例文帳に追加

安価で、試料表面を通過する風を乱すことなく、試料が光源の周囲を回転した場合においても、風速を精度良く測定することが可能な、耐候光試験機用の風速計を提供する。 - 特許庁

The geological survey equipment 1 is equipped with a penetration rod 3 wherein a sampling section 2 for sampling the ground specimen is provided and a sounding testing screw point 4 put on the front end of the penetration rod 3.例文帳に追加

本発明の地質調査装置１は、地盤試料をサンプリングするサンプリング部２が設けられた貫入ロッド３と、該貫入ロッド３の先端に装着されたサウンディング試験用のスクリューポイント４とを備えている。 - 特許庁

In the dummy terminal forming step, dummy terminals for testing which are wider than the terminal 17 is formed with a gap narrower than the gap part 65 mutually kept therebetween by cutting the dummy terminal forming region 64 in the extending direction of the gap portion 65.例文帳に追加

ダミー端子形成工程では、ギャップ部６５が延びる方向にダミー端子形成領域６４を切断して互いにギャップ部６５よりも狭い間隙で端子１７よりも幅が広いテスト用ダミー端子を形成する。 - 特許庁

To provide a material testing machine preventing collision of a crosshead to a test piece or the like for a next test even when there is a remaining test piece after a test or a change in size or the like of a next test piece.例文帳に追加

試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。 - 特許庁

An intermediary computer 10 acquires personal data and test data from a user's terminal 20 and from a testing institution's terminal 40, and selects, based on the thus collected data, a medical institution suitable for the user.例文帳に追加

仲介者のコンピュータ装置１０は、利用者および検査機関の端末装置２０，４０から個人情報および検査情報を取得し、これらの情報に基づいて利用者に適した診療機関を選定する。 - 特許庁

To solve problems that a multiple probe card for testing simultaneously several integrated circuits can not be used hitherto, and that thereby a test time of the integrated circuits is elongated, to increase an additional cost in a series of manufacturing processes.例文帳に追加

従来、いくつかの集積回路を同時に試験するための多重プローブカードの使用は不可能であり、これが集積回路の試験時間を延ばし、一連の製造工程における追加の費用を増大している。 - 特許庁

To provide a general purpose friction and wear testing machine for an artificial joint which can easily test the rubbing and worn states of each artificial joint when the joint is actually used with high accuracy by reproducing the motion made by the joint when the joint is actually used.例文帳に追加

現実使用時の各人工関節の動作を再現し、その時に生じる摩擦、摩耗状態の試験を容易かつ高精度に行うことのできる汎用型の人工関節摩擦摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

For that reason, whether the DMA information generated after the initialization which a recording and reproducing device verifies is decoded and processed well can be easily confirmed by using the testing disk having the well-known physical deficiency.例文帳に追加

したがって、周知の物理的な欠陥を有するテストディスクを使用して、記録及び再生装置が検証する初期化後に生成されたDMA情報をうまく解読し処理しているかどうかを容易に確認できる。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

The duct 10 is connected to a gas supplying pipe 17 and a steam supplying pipe 18, the efficiency of the filter can be tested using various kinds of gas, and the humidity of the gas for testing can be adjusted.例文帳に追加

ダクト１０にはガス供給配管１７とスチーム供給配管１８が接続しており、多様な気体をもってフィルターの性能試験を行うことができ、また試験用気体の湿度を調整することができる。 - 特許庁

To prevent excessive radiation exposure of a subject by controlling cumulative exposure dose in particular in a system controlling the exposure dose received by the subject for every individual by a radiation testing device.例文帳に追加

放射線検査装置によって被検者が被曝した放射線量を、個人ごとに管理するシステムであって、特に、累積被曝線量を管理することによって、被検者に対する過剰な放射線被曝を防止する。 - 特許庁

Operation information that records operation data generated by an operation unit 3a of a target device 3 and a temporary stopping instruction waiting for completion of operation of a machine unit 3b is stored in a storage means 1a of a testing device 1.例文帳に追加

試験装置１の記憶手段１ａには、予め、対象装置３の操作部３ａが生成する操作データと、機械部３ｂの動作終了を待つ一時停止指令と、を記録した操作情報が記憶される。 - 特許庁

This testing piece (10) for checking the components of the prescribed ratios in the dialyzate includes a first medium capable of indicating the concentration of bicarbonate ions and a second medium capable of indicating the concentration of the glucose.例文帳に追加

重炭酸イオンの濃度を示すことができる第１の媒体、及びグルコースの濃度を示すことができる第２の媒体を包含する、透析液中の所望の割合の成分を確認するための試験片（１０）。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a rotary balance of a crankshaft which facilitates an automation of a measurement and which can precisely measure the rotary balance of the crankshaft even when an error is included in a phase of a crank pin.例文帳に追加

測定の自動化が容易であり、かつクランクピンの位相に誤差が含まれている場合であってもクランク軸の回転バランスを正確に測定可能なクランクバランス試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a suspension system and a movable load testing vehicle for performing various track characteristic tests and quantitative seizure of the influences of vibration on a track or a ground by making the supporting rigidity of a vehicle body adjustable.例文帳に追加

懸架装置及び移動式載荷試験車において、車体の支持剛性を変更可能とすることで多種類の軌道特性試験を実施し、振動が軌道や地盤に及ぼす影響を定量的に把握可能とする。 - 特許庁

The specimen testing device is provided with a dispensing mechanism 40 which dispenses the liquid such as the reagent or the like to a plurality of recesses U1, for liquid dispensing, formed on a microplate U and a control part which controls the operation of the dispensing mechanism 40.例文帳に追加

マイクロプレートＵに形成された複数の液体分注用凹部Ｕ１に試薬等の液体の分注を行う分注機構４０と、この分注機構４０の動作を制御する制御部とを備える。 - 特許庁

To provide a method capable of determining the quality of a semiconductor element, even after a sealing resin or the like is formed on a wafer, with regard to a semiconductor device testing method for determining the quality of the semiconductor device.例文帳に追加

本発明は半導体手装置の不良品判別を行う半導体装置の試験方法に関し、ウエーハ上に封止樹脂等を形成した後であっても半導体素子の良否判定を行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide a practical high temperature corrosion evaluation method of metallic material capable of evaluating quantitatively the influence of a temperature in the actual atmosphere without increasing a testing cost, and a projection used for the evaluation method.例文帳に追加

試験コストを増大させることなく、実際の雰囲気で温度の影響を定量的に評価できる金属材料の実用的な高温腐食評価方法と該評価方法に用いる突起物を提供すること。 - 特許庁

A testing or verifying device of suspension has a first track section having a first rugged section for displacing the wheel of a vehicle by a first predetermined amount when the wheel overcomes at least a part of the rugged section.例文帳に追加

サスペンションの試験あるいは実証装置は、車両の車輪がその少なくとも一部を乗り越えるとき第１の所定量だけ上記車輪を変位させる第１の起伏部を有する第１の軌道セクションを備える。 - 特許庁

To provide a nondestructive method and a nondestructive apparatus for testing a ceramic coating film, which can test cracks causing separation of the ceramic coating film and measure the thickness of the ceramic coating film.例文帳に追加

セラミックス被覆材の剥離を引き起こし得る亀裂の検査と、好ましくはセラミックス被覆材の膜厚の測定も行うことができるセラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a monitor and a method for monitoring an optical path, which specify the optical path where a trouble is generated, even when splitters and terminal devices are multi-stage connected by the optical path in a testing device.例文帳に追加

試験装置に、スプリッタ、終端装置が光線路により多段接続されている場合であっても、障害が発生した光線路を特定することができる光線路監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a loop back test circuit which has a band sufficient for testing a Bluetooth(R) element and is capable of setting an attenuation quantity suited to a loop back test thereof to set a great amplification gain while suppressing oscillation.例文帳に追加

ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a portable twisting tester for simply measuring the elastic constant and twisting strength of an existing structure and an elastic constant/twisting strength testing method, using a twist to measure the elastic constant and destruction constant of the existing structure on the spot, in real time.例文帳に追加

本発明は、既存構造物の弾性定数とねじり強度とを簡易に測定する携帯型ねじり試験器およびねじりを利用した弾性定数とねじり強度の試験方法に関する発明である。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting a printed board that are capable of easily and inexpensively performing electrical testing of a printed board the position of which should be determined in such a state that a plurality of inspection probes are made close to each other.例文帳に追加

複数の検査用プローブを接近させた状態で位置決めすることが必要なプリント基板の電気検査を簡単、かつ低コストで行えるプリント基板の検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁

A hybrid vibration testing device for structure excites an actual model 6 imitating the part of the structure and, at the same time, analyzes the vibration response of a numerical model imitating the rest of the structure by using the computer 10.例文帳に追加

構造物のハイブリッド振動試験装置は、構造物の一部を摸擬した実物モデル６を加振するとともに、構造物の残りを摸擬した数値モデルの振動応答を計算機１０を用いて解析する。 - 特許庁

To easily and surely create, collect and store patient data as statistical information for every research or clinical testing purposes while securing confidentiality, in a medical information providing/obtaining system through a two-way communication network.例文帳に追加

双方向通信ネットワークによる医療情報提供・取得システムにおいて、研究や治験の目的ごとに患者データを秘匿性を確保しながら統計情報として容易かつ確実に作成して収集・保管する。 - 特許庁

In this condition, testing and inspection are performed in real time by setting a circuit, which is so integrated as to make the packet transmitting pattern and the packet receiving function (for confirming the filtering) be a pair, to each of the FPGAs of both the transmitting and receiving sides.例文帳に追加

この状況で、パケット送出パターンとパケット受信機能（フィルタリングの確認用）を一対になるように統合した回路を送受信双方のＦＰＧＡにセットして、リアルタイムでの試験検査を行なう。 - 特許庁

To provide an environmental testing device without requiring an exclusive carrying mechanism for delivering a workpiece between a horizontal carrying passage and a vertical carrying passage, even when the vertical carrying passage exists in the middle of the horizontal carrying passage.例文帳に追加

水平搬送路の途中に垂直搬送路がある場合でも、水平搬送路と垂直搬送路の間のワークの受け渡しに専用の搬送機構を必要としない環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

To contemplate miniaturization, thinning and cost reduction on a mounting structure of a semiconductor device socket, for mounting the semicon ductor device socket, where a semiconductor device is mounted, on a testing circuit board.例文帳に追加

本発明は半導体装置が装着される半導体装置用ソケットを試験用回路基板に取り付ける半導体装置用ソケットの取付構造に関し、小型薄型化及び低コスト化を図ることを課題とする。 - 特許庁

A test signal generated by a test signal generating part disposed in the main body of the testing device is outputted for a prescribed time after a power supply is made, and this signal is read out and compared with expectation in each pin card.例文帳に追加

電源が投入されてから一定時間、試験装置本体に配置されたテスト信号生成部が生成したテスト信号を出力し、各ピンカードでこのテスト信号を読み出して期待値と比較するようにした。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

To enable execution of probe cleaning and contact check or the like during measurement of a wafer in the wafer testing step for a wafer fixing jig and a manufacturing method of semiconductor device.例文帳に追加

本発明はウエハ固定治具および半導体装置の製造方法に関し、ウエハテストの工程において、ウエハの測定途中にプローブのクリーニングやコンタクトチェック等を実施することを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

Further, the testing device 1 includes a compact range 12 for reflecting a radio wave from the radio wave generation device 11, converting a radio wave which is a spherical wave into a plane wave, and introducing the plane wave to the antenna B.例文帳に追加

さらに、試験装置１は、電波発生装置１１からの電波を反射すると共に球面波である電波を平面波に変換し、平面波をアンテナＢへと導くコンパクトレンジ１２をさらに備えることが望ましい。 - 特許庁

To provide a semiconductor element where a probe for testing hardly protrudes from an external electrode even if adjacent semiconductor element regions (IC region) are simultaneously inspected, and to provide a semiconductor wafer and a method of manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

隣接した半導体素子領域（ＩＣ領域）を同時に検査しても、検査用のプローブが外部電極から食み出し難くい、半導体素子、半導体ウエハ、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁