「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(103ページ目) - Weblio英語例文検索

This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

In the spindle used for a product testing apparatus etc., such as a magnetic disk and a disk head, the rotation of a turntable (a hub 1 having a rotary table 1a) for supporting the disk as a rotation object is supported by a dynamic pressure bearing.例文帳に追加

磁気ディスクやディスクヘッドの製品検査装置等に用いられるスピンドルにおいて、回転対象物としてのディスクを支持するターンテーブル（回転台１ａを備えるハブ１）の回転を、動圧軸受により支持する。 - 特許庁

The invention relates to use of the transgenic non-human mammals for screening agonists, inverse agonists and antagonists of human C5aR, and for testing efficacy of C5aR agonists, inverse agonists and antagonists in various animal models of disease.例文帳に追加

ヒトC5aRのアゴニスト、逆アゴニスト、およびアンタゴニストをスクリーニングする方法における、ならびに様々な疾患動物モデルにおいてC5aRアゴニスト、逆アゴニスト、およびアンタゴニストの有効性を試験するための、トランスジェニック非ヒト哺乳動物。 - 特許庁

Also, the solderability- testing device is provided with a temperature measuring unit with a temperature measuring member 5 for measuring the temperature of solder paste 1 and a temperature display part for displaying temperature being measured by the temperature measuring member 5.例文帳に追加

また、はんだペースト１の温度を測定する温度測定部材５と、温度測定部材５により測定された温度を表示させる温度表示部とを有する温度測定ユニットを具備することも特徴とする。 - 特許庁

The display panel is provided with a panel test terminal for testing the display panel and a driver output terminal electrically connected to a pad for the data driver of the integrated circuit device and to the panel test terminal as well.例文帳に追加

表示パネルには、表示パネルをテストするためのパネルテスト端子と、集積回路装置のデータドライバ用パッドに電気的に接続されると共にパネルテスト端子に電気的に接続されるドライバ出力端子が設けられる。 - 特許庁

This generator comprises a digital signal generating part for generating a digital signal, and a band-pass filter for inputting the digital signal of the digital signal generating part and outputting it to the object of testing.例文帳に追加

本装置は、デジタル信号を発生するデジタル信号発生部と、このデジタル信号発生部のデジタル信号を入力し、被試験対象に出力するバンドパスフィルタとを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a device power supply system for a semiconductor tester to suppress variation in power supply voltage for a testing-object semiconductor device without consuming extra current, and also to provide a voltage correction data generating method.例文帳に追加

余分な電流を消費することなく試験対象の半導体デバイスの電源電圧の変動を抑えることのできる半導体試験装置用デバイス電源システムおよび電圧補正データ生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the detection voltage level kept by the voltage detection circuit of the semiconductor voltage detection circuit with a small number of DC measurement units for the semiconductor integrated circuit with a built-in voltage detection function.例文帳に追加

電圧検出機能を内蔵した半導体集積回路において、その半導体集積回路の電圧検出回路が保持する検出電圧レベルを少ないＤＣ測定ユニットで検査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit pattern for inspecting blind via hole misregistration, which inspects within a short time the misregistration of the blind via hole by a wiring test for testing the electrical continuity between required points in a wiring.例文帳に追加

配線内の要所間の電気的導通を検査する布線検査によってブラインドビアホールの位置ずれを短時間内に検査することを可能とするブラインドビアホール位置ずれ検査用回路パターンを提供すること。 - 特許庁

To quantitatively research the IT level for each department of an enterprise by automatically testing whether proper talent and capability are available for each of the departments and taking analysis according to statistic data.例文帳に追加

企業内の各部門毎に適切な人材・能力が備わっているかを自動的にテストし、統計データに基づいて解析し企業の各部門毎にＩＴ化のレベルを定量的に調査できるようにすること。 - 特許庁

An output circuit 10 for the semiconductor integrated circuit has a resistance 1 connected between its GND wire 24 and the ground of a testing device for detecting a current flowing in the resistance 1 with a comparator 3.例文帳に追加

半導体集積回路の出力回路１０において、そのＧＮＤ配線２４と試験装置の接地との間に抵抗１を接続し、この抵抗１に流れる電流をコンパレータ３で検出するようにした。 - 特許庁

Each is the de facto standard unit testing framework for its respective language.PyUnit supports test automation, sharing of setup and shutdown code for tests, aggregation of tests into collections, and independence of the tests from the reporting framework.例文帳に追加

PyUnitでは、テストの自動化・初期設定と終了処理の共有・テストの分類・テスト実行と結果レポートの分離などの機能を提供しており、unittestのクラスを使って簡単にたくさんのテストを開発できるようになっています。 - Python

To restrain a damage in an early stage of a dropping weight body for an impact test used when carrying out the impact test using a dropping weight type impact testing machine for a component requiring impact safety, and to enhance durability.例文帳に追加

衝突安全性を要求される部品に対して落錘式衝撃試験機を用いて衝撃試験を行う際に用いられる衝撃試験用落錘体の早期の損傷を抑制して耐久性を向上する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device including a temperature detection function for detecting a predetermined temperature with little variation and optimizing an operation condition according to the detected predetermined temperature.例文帳に追加

所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置の試験方法を提供することを目的とすること - 特許庁

To obtain a wear-testing machine in a simple configuration that can arbitrarily set the relationship between the revolution and rotation on its own axis for a test piece that is supplied for a wear test by agitation and can be adapted to various kinds of test environments.例文帳に追加

攪拌による摩耗試験に供される試験片に対して公転と自転との関係を任意に設定することができ、種々の試験環境に適応可能な簡易な構成の摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a real time automatic monitoring control system for an artificial satellite test capable of performing data evaluation on a real time basis and improving safety/reliability for a ground test without requiring personnel involved in the ground test to go to the execution place for testing.例文帳に追加

地上試験に関わる人員が試験実施場所に赴むくことなく、リアルタイムでのデータ評価を行い、地上試験の安全性／信頼性の向上を図ることが可能な人工衛星試験リアルタイム自動監視制御システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for estimating such a factor that a contact force between a pad of a semiconductor device and a probe of a tester is changed concerning a method for manufacturing the semiconductor device, a method for testing the semiconductor device, the tester of the semiconductor device, and the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造方法、半導体装置の試験方法、半導体装置の試験装置、及び半導体装置に関し、半導体装置のパッドと試験装置のプローブとの接触力が変化した要因を推定する方法の提供。 - 特許庁

The structure testing machine for applying a load repeatedly on a specimen includes a hydraulic cylinder for applying the load repeatedly on the specimen, and a connection part including a swivel joint for connecting a cylinder rod and the specimen, and between a cylinder tube and a reaction wall, respectively.例文帳に追加

供試体に繰り返し負荷を与える構造物試験機は、供試体に繰り返し負荷を与える油圧シリンダと、シリンダロッドと供試体との間、およびシリンダチューブと反力壁との間をそれぞれ連結するスイベルジョイントを含む連結部とを備えている。 - 特許庁

The jig for testing in-plane shearing has a first holding member 12 for holding a test piece T comprising a sheet material along a predetermined straight line direction and a second holding member 22 for holding the test piece T along the direction parallel to the predetermined straight line direction.例文帳に追加

シート材料からなる試験片Ｔを所定の直線方向に沿って保持する第１の保持部材１２と、前記所定の直線方向と平行する方向に沿って試験片Ｔを保持する第２の保持部材２２とを有する。 - 特許庁

To improve piping for thermostatic equipment used for a testing device called a wafer prober and used to test the performance of a semiconductor wafer and so on, the piping for thermostatic equipment being developed which dissipates less heat and is easily moved in the device.例文帳に追加

ウエハプローバと称される様な半導体ウエハの性能試験等に使用される試験装置で使用される恒温機器用配管を改良するものであり、放熱が少なく、且つ装置内で動かし易い恒温機器用配管の開発を課題とする。 - 特許庁

The inspecting apparatus for a semiconductor device for testing durability of the semiconductor device against a temperature, comprises: a match plate; and a contact module connected with the match plate, and having a radiating part radiating the heat generating from the semiconductor device to the outside and a test part for press-contact of lead wires of the semiconductor device.例文帳に追加

このように正確なテストが行われ、テスト時発生する半導体素子の熱によって良品の半導体素子を不良品と判定する誤判定が抑制されることにより、生産性向上及び費用を節減することができる。 - 特許庁

The semiconductor memory testing apparatus constructed to allow fail bit map display for every wafer based on fail data taken from a fail memory is provided with a section for setting a chip retrieving condition for arbitrarily setting the fail chip retrieving condition.例文帳に追加

フェイルメモリから取り込んだフェイルデータに基づきウェハ単位でフェイルビットマップ表示するように構成された半導体メモリ検査装置において、フェイルチップ検索条件を任意に設定できるチップ検索条件設定部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a vibration testing apparatus for a superconducting magnet for a superconducting magnetic levitation type railroad which has high reliability, and which can diversely reproduce the vibration modes generated during the traveling of the superconducting magnet for the superconducting magnetic levitation type railroad.例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道用超電導磁石の走行中に発生する振動モードを多様に再現させることができる信頼性の高い超電導磁気浮上式鉄道用超電導磁石の振動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for relevancy testing of an identifier able to be transmitted to a communication means by way of a communication network in a message, a test module therefore and a generating module for building a relevancy table provided for the testy method.例文帳に追加

メッセージ中にあり、通信ネットワークを介して通信手段への伝達が可能な識別子の関連性テストのためのテスト法、そのためのテストモジュール及び上記のテスト法のために提供される関連表を作り上げる作成モジュールの提供。 - 特許庁

To provide examination techniques compatible with each tooth and periodontal tissue including those of utilizing reagents for testing each tooth and periodontal tissue in high accuracy, particularly utilizing reagents for culturing bacteria, namely media used for culturing bacteria.例文帳に追加

個々の歯牙や歯周組織を精度良く検査する試薬を有効利用する技術であり、とくに細菌を培養する試薬すなわち細菌培養に供する培地を有効利用する技術など、個々の歯牙や歯周組織に対応する検査技術の提供。 - 特許庁

In this embodiment, a balance merit grade of G 100 or less based on JIS B0905, is set to a rotary body, for example, an input shaft, a disc and a power roller for constituting the toroidal continuously variable transmission, by using, for example, a balance testing machine 200.例文帳に追加

本発明の実施形態では、例えば釣合い試験機２００を用いて、トロイダル型無段変速機を構成する回転体、例えば入力軸、ディスク、パワーローラに対してＪＩＳ Ｂ０９０５に基づくＧ１００以下の釣合い良さ等級を設定している。 - 特許庁

To provide a method and a device which is provided with semiconductor switching means for calculation control for high-voltage load, capable of precisely and continuously tracking the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

Specifically, whether review implementation plans for checking the reviews conducted on a stage-by-stage basis and managing the quality condition, or a testing plan suitable for the development associated with system integrations is formulated and a system for implementation is developed. 例文帳に追加

具体的には、工程毎のレビュー実施状況を検証し、品質状況を管理するためのレビュー実施計画や、システム統合に伴う開発内容に適合したテスト計画が策定され、実施するための体制が整備されているか。 - 金融庁

To provide a method for testing therapeutic or preventive effect of a sample for diseases selected from a group consisting of arteriosclerosis, diabetes, thrombosis, inflammation, immune abnormality, allergy and metastasis of cancer and obtain a DNA used for the method.例文帳に追加

動脈硬化、糖尿病、血栓、炎症、免疫異常、アレルギー、癌および癌の転移からなる群から選択される疾患に対する、被験物質の治療または予防効果を試験する方法および該方法に用いられるＤＮＡを提供する。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: test condition setting means for setting the test condition; execution instructing means for instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test; and a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by the test.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０とを備える。 - 特許庁

The testing apparatus (100) of a test transceiver (20) comprises a transmitter (130) for transmitting a signal in a first state, a receiver (140) for receiving a signal in a second state, and an electrical power coupler (120) for connecting the transmitter (130) to the receiver (140).例文帳に追加

第１の状態において信号を送信する働きをするトランスミッタ(130)と、第２の状態において信号を受信する働きをするレシーバ(140)と、前記トランスミッタ(130)を前記レシーバ(140)に接続する電力結合器(120)とを含む、試験トランシーバ(20)の試験装置(100)。 - 特許庁

To provide a sample-preparing device for standardizing the preparation of a sample for testing soldering material and for improving the reliability by stabilizing a series of operations from the pull-up of the sample from a heating bath to the cooling of the sample solder.例文帳に追加

試料を加熱槽から引き上げ、試料はんだを冷却させるまでの一連の操作を安定して行えるようにし、はんだ付材料試験用の試料作成の標準化と信頼性の向上を実現可能な試料作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an abnormality discrimination apparatus, an image forming apparatus, and a maintenance system correctly carrying abnormality discrimination for a testing object even when status information is not acquired for a specified number of times which is necessary for extracting featured values used for computing an index value.例文帳に追加

指標値を算出するために用いる特徴量を抽出するために必要な所定回数の状態情報が取得されていなくても、被検対象の異常判定を正しく行うことのできる異常判定装置、画像形成装置および保守システムを提供する。 - 特許庁

The lead wire 1 for measuring and testing circuit breakers is provided with a cable part 2; a first connector 3 for connecting the cable part 2 to a switch gear 10; a second connector 4 for connecting the cable part 2 to a circuit breaker 20; and a connection means for connecting the cable part 2 to a circuit breaker measuring device 40.例文帳に追加

遮断器測定試験リード線１は、ケーブル部２と、ケーブル部２をスイッチギヤ１０に接続するための第１のコネクタ３と、ケーブル部２を遮断器２０に接続するための第２のコネクタ４と、ケーブル部２を遮断器測定器４０に接続するための接続手段とを具備する。 - 特許庁

The bending test for testing the number of times of bending of wires before disconnection due to bending is performed individually for wire 1 comprising the wire harness, then based on the individual results of the bending test for each wire, the bending life span for the whole wire harness is estimated.例文帳に追加

屈曲により断線に至るまでの屈曲回数を試験する屈曲試験を、前記ワイヤーハーネスを構成する各電線１に対して個別に行い、その各個別の電線１の屈曲試験結果に基づいて、前記ワイヤーハーネスの全体の屈曲寿命を推測する。 - 特許庁

The probe card for testing a plurality of semiconductor integrated circuits formed on a semiconductor wafer comprises a plurality of probes 3 for making connection to each electrode for inspection of the semiconductor wafer, and a wiring board 1 having a pad 3 for jointing to the probe 3.例文帳に追加

半導体ウェハ上に形成された複数の半導体集積回路を試験するためのプローブカードであって、半導体ウェハの各検査用電極と接続するための複数のプローブ３と、前記プローブ３と接合するためのパッド２を有する配線基板１とを備える。 - 特許庁

The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.例文帳に追加

ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁

This tester, used for testing the position indicator 100 for the control rod drive mechanism comprising a plurality of reed switches 201 provided at prescribed spaces, is equipped with a position indicator placing stand 300 for placing thereon the position indicator 100 in an operation checking test for the position indicator 100.例文帳に追加

所定間隔を置いて設けられた複数のリードスイッチ２０１を有する制御棒駆動機構用位置指示装置１００を試験する本発明の試験装置は、位置指示装置１００の動作確認試験時に、位置指示装置１００を設置する位置指示装置設置架台３００を備える。 - 特許庁

The testing method for radioactive substances in food has been notified by Notice 0315Article 4 of the Department of Food Safety (hereinafter referred to as “the Testing Method Notification”) dated March 15, 2012. As for the moisture content data (weight-change rate) of dried mushrooms, etc., after rehydration, weight-change rates for individual items provided in Annex 1 shall be used for the time being, which are based on the “Standard Tables of Food Composition in Japan 2010” published by the Subdivision on Resources, the Council for Science and Technology.例文帳に追加

食品中の放射性物質の試験法については、平成24 年３月15 日付け食安発0315第４号（以下「試験法通知」という。）により通知したところであるが、乾燥きのこ類等の水戻しによる水分含量のデータ（重量変化率）について、当面の間、科学技術・学術審議会資源調査分科会編「日本食品標準成分表2010」を踏まえて、別添１に示す品目ごとに、各々の重量変化率を用いることとする。 - 厚生労働省

To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

In this IC testing system, the chip arrayals to be tested at one time in a wafer prober 200 are made to correspond to the positions on rectangular coordinates for transmitting respective coordinates as character string data to an IC testing device 300, where the location data comprising the character string data are converted into the chip map data to generate the chip map using these chip map data.例文帳に追加

ウェハプローバにおいて一度に試験するチップの配列を直交座標上の位置に対応させ、各座標を文字列データとしてＩＣ試験装置に伝送させ、ＩＣ試験装置ではチップマップ変換手段により文字列データから成るロケーション・データをチップマップデータに変換し、このチップマップデータを使ってチップマップを作成する。 - 特許庁

To reduce the warpage of a probe card substrate by uniformizing the structure for mounting the probe card substrate and its reinforcing member to a probe card holding member with respect to a semiconductor device testing apparatus whose several probe needles are brought into contact with semiconductor devices of a semiconductor wafer, and to provide a semiconductor device testing method using it.例文帳に追加

複数のプローブ針を半導体ウエハの半導体素子に接触させる形式の半導体素子試験装置とそれを用いた半導体素子試験方法において、プローブカード基板と、それに対する補強部材を、プローブカード保持部材に取り付ける構造を均一化し、プローブカード基板の反りを軽減する。 - 特許庁

A testing device main body 4 which is fitted to a drill 1 by a fitting member 3 and mounted on the fitting member 3 to be able to move in the axial direction of the drill 1 is provided, and the testing device main body 4 is rotated during the operation of the drill 1 and has a rotary plate 6 with a reagent surface for receiving the boring powder.例文帳に追加

ドリル削孔機１に取付け部体３をもって取付けられ、ドリル軸方向に移動可能に前記取付け部体３に搭載された検査装置本体４とを備え、前記検査装置本体４が、前記ドリル削孔機１の削孔時に回転して削孔粉を受ける試薬面付き回転板６を有している。 - 特許庁

The genom DNA or mRNA originating from the mites or the fungi collected from testing samples are used as templates, and a nucleic acid probe for detection and discrimination of the mites and fungi that can be hybridized to the testing DNA area that is amplified using mite gene specific primer set and fungi gene specific primer set is used.例文帳に追加

検査対象から採取したダニ類及びカビ類由来のゲノムDNA又はmRNAを鋳型とし、ダニ遺伝子特異的プライマーセット及びカビ遺伝子特異的プライマーセットを用いて増幅された検出対象DNA領域に対してハイブリダイズ可能である、ダニ類及びカビ類の検出及び識別用核酸プローブを使用する。 - 特許庁

A low-temperature testing device for testing a sample in vacuum or low-temperature state is composed, so that at least a part where a sample 1 is placed in a sample stage 2 in that the sample 1 is placed is formed by a light-transmitting material and light 10 is applied fro the side of the sample stage to the sample.例文帳に追加

真空中かつ低温状態で試料の試験を行う低温試験装置において、上記試料１が載置される試料ステージ２の少なくとも試料が載置される部分を透光性材料で形成し、上記試料に上記試料ステージ側から光１０を照射するように構成した。 - 特許庁