「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(96ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing apparatus for diaphragm type pressure regulator for a gas fuel engine capable of measuring flow-rate characteristic by carrying out test of an individual pressure regulator before fitting the same onto an actual engine.例文帳に追加

実際のエンジンに組み込む前に圧力レギュレータ単体で試験を行ってその流量特性を求めることができるガス燃料エンジン用のダイヤフラム式圧力レギュレータの試験装置を提供する。 - 特許庁

Sludge A and pulverized coal B having a certain moisture content are mixed in a mixing adjusting machine 2, and a refined sludge C for generating a heating value equivalent to that of the sludge to be used for the performance testing of the incinerator is provided.例文帳に追加

一定の含水率を有する汚泥Ａと微粉炭Ｂとを混合調製機２で混合し、炉の性能試験に供すべき汚泥と同等の発熱量を発現する調質汚泥Ｃを得る。 - 特許庁

To effectively prevent generation of date faults caused by cross contamination, while shortening or eliminating the testing time of the cross contamination test time which takes a long time for reducing cost for samples, reagents, etc to be borne by customer.例文帳に追加

時間のかかるクロスコンタミネーション試験の試験時間を短縮あるいは省略し、試料，試薬などの顧客の費用負担を軽減し、クロスコンタミネーションが原因となるデータ不良を効率的に防止する。 - 特許庁

The system has a monitor means, which is suitable for monitoring document processing peripheral apparatuses, and a test means which is suitable for testing monitored processings by pre-selected determination criteria.例文帳に追加

本発明のシステムは、文書処理周辺装置を監視するのに適した監視手段、および監視された処理を予め選択された判定基準に対してテストするのに適したテスト手段を有する。 - 特許庁

This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a compact semiconductor device for SiP or PoP, a method of manufacturing it, and a testing method suitable for SiP and PoP which achieve simplification of a system and enhancement of its efficiency.例文帳に追加

小型化を図ったＳｉＰ又はＰｏＰに向けた半導体装置及びその製造方法とシステムの簡素化及び効率化を実現したＳｉＰ又はＰｏＰに好適なテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a heat radiation performance tester on an enclosure for removing variable factors by natural environment or an installation location, and variable factors caused by internal heat generation distribution independently of time for testing.例文帳に追加

試験のための時期によらず、また自然環境や設置場所に起因する変動要素、内部発熱分布による変動要素を排除することができる筐体の放熱性能試験装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 comprises at least one memory 21 for storing data, and at least one BIST (Built-In Self Test) circuit 10 for testing the memory 21.例文帳に追加

半導体集積回路１は、データを記憶する少なくとも１つのメモリ２１と、メモリ２１をテストする少なくとも１つのＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ−Ｉｎ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）回路１０と、を備える。 - 特許庁

To provide an apparatus for accelerated wheathering testing specimens having discharge lamps as a concentrated light source for accelerating fading, and deteriorating of composition and structure of specimens and also having an improved control, calibration structure, and operations method.例文帳に追加

試料の退色、組成、構造の劣化を促進する集中光源である放電ランプを有し、制御、較正構造及び動作方法の改良された耐候性試料促進装置の提供。 - 特許庁

This testing machine is provided with a vacuum chamber 27, a film fixing part 26 for regulating tensile strength of the film in the vacuum chamber 27, and a gas measuring means for measuring released gas from the film.例文帳に追加

真空チャンバー２７と、この真空チャンバー２７中にフイルムの張力を調節可能なフイルム固定部２６と、フイルムの放出ガスを測定するガス測定手段とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To obtain an oligonucleotide combination suitable for constituting a rapid and specific genetic testing reagent of for Shiga toxin group gene type 2 (stx2) of enterohemorrhagic Escherichia coli (EHEC).例文帳に追加

腸管出血性大腸菌（ＥＨＥＣ）の志賀毒素群遺伝子２型（ｓｔｘ２）の迅速かつ特異的な遺伝子検査試薬を構成するのに好適なオリゴヌクレオチドの組み合わせを提供すること。 - 特許庁

To provide an oil absorbency testing method of paper and cardboard for measuring the oil absorbency of paper and cardboard for a short period of time without causing the measuring error due to the judge error of a final point, and also to provide an oil absorbency tester therefor.例文帳に追加

紙及び板紙の吸油度を短い時間で測定し、且つ終点判定の誤差による測定誤差を生じない紙及び板紙の吸油度試験方法及び吸油度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe contactor that is used for testing semiconductor wafer, LSI package, printed-circuit board, and the like being formed on the flat surface of a substrate by a photolithography technique, and a method for forming a contactor.例文帳に追加

基板の平面上にフォトリソグラフィ技術により形成した、半導体ウエハ，ＬＳＩパッケージ、プリント回路基板等をテストするために用いるプローブコンタクタ及びコンタクタを形成する方法を提供する。 - 特許庁

The low pressure environment only inside the chamber 20 allows a very small size and a simple structure and thus, very inexpensive manufacturing is made possible by the diverted use of the testing equipment for evaluating performance of the reciprocal engine for an automobile.例文帳に追加

チャンバ２０の内部のみを低圧環境とするから極めて小型で構造が簡単であり、自動車用レシプロエンジンの性能評価用試験設備を流用して極めて安価に製作できる。 - 特許庁

To realize a testing system for radios capable of generating interfering waves and a signal for inspecting a television reception function, or the like incorporated into a communication terminal additionally by a single unit of inspection apparatus.例文帳に追加

妨害波、および、通信端末に付加的に組み込まれたテレビ受信機能等の検査用信号の発生を１台の検査装置で行うことが可能な無線機用テストシステムを実現する。 - 特許庁

To provide a test facility for fire alarm that is suitable for testing an actual operating condition of a fire alarm by visually presenting a realistic condition in the occurrence of fire.例文帳に追加

実際の火災発生状況に近い状況等を視覚的に演出して、火災警報器の実際の作動状況を試験することに適した火災警報器の試験設備を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method and its system for accurately measuring electric characteristics of a circuit board which is heated or cooled in advance, with no inspecting device side affected by heat, for environmental test and the like.例文帳に追加

環境試験などのために、予め加熱または冷却した回路基板を、検査装置側で熱影響を受けることなく、正確に電気的特性を計測する試験方法とそのシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a cover for a passive sensor operation test which can remarkably reduce a work load by making a cover part be floated using helium gas, and to provide a method for testing a passive sensor operation using the cover.例文帳に追加

この発明は、ヘリウムガスを用いてカバー部を浮き上がらせるようにし、作業負荷を著しく軽減できるパッシブセンサ動作試験用カバーおよびそれを用いたパッシブセンサの動作試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a constitution in which testing pads are separated from an internal circuit after an all lighting test is conducted for the substrate that constitutes a flat panel display of a liquid crystal panel or the like having dedicated pads for the test.例文帳に追加

全点灯試験用の専用パッドを備えた液晶パネル等のフラットパネルディスプレイを構成する基板において、全点灯試験後に試験用パッドが内部回路から切り離される構成とすること。 - 特許庁

The flexible board circuit wires are provided up to the projected areas 31A, 31B from the circuit structure for propagating low-frequency signals, and these are connected with contact electrodes 27A, 27B for testing at the projected areas 31A, 31B.例文帳に追加

低周波信号が伝搬する回路構成部から突出部３１Ａ，３１Ｂまでフレキシブル基板回路配線を設け、突出部３１Ａ、３１Ｂで検査用のコンタクト電極２７Ａ、２７Ｂと接続する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening time required for a gradation test of a device to be tested by shortening time for quality determination based on a differential value between positive output and negative output.例文帳に追加

正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.例文帳に追加

手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁

The utility cartridge 20 is composed of a computer readable magnetic storage medium 22 for executing the testing operations 70, 84 and 90, and a nonmagnetic cleaning medium 24 for cleaning a drive head 14.例文帳に追加

ユーティリティカートリッジ（２０）はテスト動作（７０，８４，９０）を実行するコンピュータが読み取り可能な磁性記憶媒体（２２）およびドライブヘッド（１４）を清掃するための非磁性のクリーニング媒体（２４）からなる。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.例文帳に追加

被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁

The semiconductor-testing device has been improved, which tests a liquid crystal drive driver, incorporating a relay for connecting output from the positive-electrode amplifier and negative-electrode amplifier provided for each pin to the pin.例文帳に追加

ピンごとに設けられる正極アンプ、負極アンプからの出力をピンに接続させるリレーを内蔵した液晶駆動ドライバの試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

(2) The conditions laid down in Article 106(3) to (5) shall be assessed in the course of the procedure for state registration or on the basis of the results of experimental testing carried out for the purposes of the procedure concerning plant variety protection.例文帳に追加

(2) 第106条(3)から(5)までに定める条件は，国家登録手続の過程において又は植物品種保護に関する手続の目的で行われた実験的試験の結果に基づいて評価する。 - 特許庁

The system 10 for testing and cleaning a removable medium drive 12 such as a tape drive is provided with a utility cartridge 20 and a program code 60 for starting utility operations 70, 84, 94 and 100.例文帳に追加

テープドライブのような取り外し可能媒体ドライブ（１２）をテストおよび清掃するシステム（１０）は、ユーティリティカートリッジ（２０）およびユーティリティ動作（７０，８４，９４，１００）を開始するプログラムコード（６０）を有する。 - 特許庁

In the PACHINKO game machine 1, the unrewritable performance image memory device 340 has stored therein performance image data for use in the performance display operation and the test display data for use in testing the display operation.例文帳に追加

パチンコ機１において書き換え不可能な演出画像記憶装置３４０には、演出表示動作に用いる演出画像データおよび、表示動作の試験に用いるテスト表示データを記憶している。 - 特許庁

A delay characteristic by edge search is detected with no time for stabilization of the delay characteristic in order to stabilize a test, and is stored in a memory, in a testing-objective chip for conducting the function test at first.例文帳に追加

最初にファンクション試験を行なう試験対象チップで、試験を安定させるためにエッジサーチによる遅延特性を、遅延特性が安定するのにかかる時間をおかずに検出してメモリに保持する。 - 特許庁

In the electrode 22, an upper surface is used as a terminal 24 for making electrical connection to an external circuit device, and a lower surface is used as a terminal 26 for testing the operation of the circuit device 10.例文帳に追加

この電極２２は、上面が外部の回路装置との電気的な接続用の接続用端子２４として用いられ、下面が回路装置１０の動作試験用の試験用端子２６として使用される。 - 特許庁

(ii) The Specified Electrical Appliances and Materials used for testing and the assessment facilities for said Specified Electrical Appliances and Materials which are in the Notifying Supplier's plant or workplace, and other matters as specified by Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry. 例文帳に追加

二　試験用の特定電気用品及び当該特定電気用品に係る届出事業者の工場又は事業場における検査設備その他経済産業省令で定めるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an improved signal for testing a communication system and communication device according to a noise profile that is not only used for the communication system and communication device but also specifically stipulated (standardized).例文帳に追加

通信システム及び通信装置に使用するための、特に規定の（規格化された）ノイズプロファイルに従って上記システム及び装置を試験するための改良された信号を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a refrigerator condensation unit capable of reducing manufacturing cost required for manufacturing units with different refrigerator capacities and development cost and development periods required for design and testing.例文帳に追加

冷凍機容量の異なるユニットを製造する際の製造コスト、設計や試験にかかる開発コストおよび開発期間を低減化することのできる冷凍機凝縮ユニットが要求されている。 - 特許庁

To provide a method for testing a fault existing in an electrocasting belt to increase manufacturing efficiency for a fixing belt and realize the high durability and high quality fixing belt.例文帳に追加

定着ベルトの製造効率を高めると同時に、高耐久性かつ高品質な定着ベルトを実現するために必要な、電鋳ベルトに存在する欠陥をあらかじめ検査できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test method for a semiconductor integrated circuit in which a testing cost is reduced without providing an exclusive circuit for a memory test to perform a self-test of a memory incorporated in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたメモリの自己テストのためにメモリテスト専用回路を設けることなく、低コスト化を図った半導体集積回路のメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a cup member for an artificial hip joint, capable of allowing a stress distribution in the cup member to be close to uniformity, and considerably suppressing complexity in a device configuration.例文帳に追加

カップ部材における応力分布をより一様に近づけるとともに、装置構成の複雑化を大幅に抑制することができる人工股関節用カップ部材の試験装置を提供する。 - 特許庁

To fix an inspection equipment easily and quickly for inspecting the connection state in the transformer station, and shortening the wiring time and also preventing the wrong wiring for improving the testing precision.例文帳に追加

変電所の機器の結線状態の検査を行うための検査機器を容易かつ迅速に取付可能とし、配線時間を短縮するとともに、誤結線を防止して試験精度の向上を図る。 - 特許庁

With these levels of gene expression in an organic sample as indices, the steroid responsiveness testing method and a method for screening compounds useful for improving steroid responsiveness are provided.例文帳に追加

本発明は、生体試料におけるこれらの遺伝子発現レベルを指標とする、ステロイド応答性の検査方法や、ステロイド応答性の改善に有用な化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing lymph node metastasis in cervical cancer which can determine the presence of lymph node metastasis in cervical cancer with higher accuracy, a device for determining lymph node metastasis in cervical cancer and a computer program.例文帳に追加

子宮頸癌のリンパ節転移の有無をより高い精度で判定することができる子宮頸癌のリンパ節転移の検査方法、子宮頸癌のリンパ節転移判定装置およびコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

Being suitable for high-speed operation, the Kosei Line was utilized for testing the speed improvement of the JNR/JR Limited Express Series 381, JR (West) Suburban Train Series 221, JR (Shikoku) Limited Express Series 8000, etc., beginning in the era of Japan National Railways (JNR). 例文帳に追加

高速運転に最適な路線であるため、日本国有鉄道時代から、湖西線を利用して国鉄381系電車・JR西日本221系電車・JR四国8000系電車などが速度向上試験に取り組んだ。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide electrolytic copper foil for solving the problems of the warpage and twisting of a copper clad laminate after the covering of electrolytic copper foil and the problem of dimensional stability and to provide a testing method for ensuring its quality.例文帳に追加

電解銅箔を張り付けた後の銅張積層板の反り、捻れの問題、寸法安定性の問題を解決するための電解銅箔及び品質を保証するための検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for a semiconductor deice for minimizing fraction defective of the semiconductor device that may be caused depending on temperature conditions, by testing durability of the semiconductor device against a temperature.例文帳に追加

半導体素子の温度に対する耐久性をテストすることによって、温度条件によって発生する半導体素子の不良率を最小化することができる半導体素子検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for converting phospholipid into a solid phase in a stable and directed state, and base material for testing anti phospholipid antigen which is excellent in reproducibility and accuracy by using a solid phase layer.例文帳に追加

リン脂質を安定且つ配向した状態で固相化させる方法、及びその固相化層を利用する事で、再現性、精度に優れた抗リン脂質抗体検査用基材を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing device sets high-level and low-level signals, which a driver 2 inputs to the DUT 4 by adjustment DA converters 15 and 16, to a high level for adjustment and a low level for adjustment, respectively.例文帳に追加

半導体試験装置は、その調整用ＤＡコンバータ１５、１６によりドライバ２がＤＵＴ４に入力するハイレベル、ローレベルの信号を、それぞれ調整用ハイレベル、調整用ローレベルに設定する。 - 特許庁

A protection device 42 is interposed between the input shaft 31a of the testing object 31 and and an output shaft 32a of the motor 32 for supplying the simulation torque for an engine, without using an expensive torque pick-up.例文帳に追加

特に高価なトルクピックアップを用いることなく、供試体３１の入力軸３１ａと、エンジンの模擬動力供給用モータ３２の出力軸３２ａとの間に保護装置４２を介在させる。 - 特許庁