| 意味 | 例文 |
For testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6752件
The semiconductor testing device 1 includes a driver pin block 11, a determination part 12 for adjustment, and a variable delay amount data generation part 14 or the like.例文帳に追加
半導体試験装置1は、ドライバピンブロック11、調整用判定部12、及び可変遅延量データ発生部14等を備える。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having a laminated layer CSP, which is capable of testing for every semiconductor chip at a low cost and has no restriction in a chip size.例文帳に追加
低コストで半導体チップ毎にテスト可能でチップサイズの制約のない積層CSPを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁
A circuit and a method for testing a memory cell of a ferroelectric memory device equipped with an array consisting of ferroelectric memory is provided.例文帳に追加
強誘電体メモリセルからなるアレイを具備する強誘電体メモリ装置のメモリセルをテストする回路及び方法が提供される。 - 特許庁
To provide a method of testing a superconductive cable line for evaluating the integrity of the superconductive cable line by a simple facility.例文帳に追加
簡単な設備で超電導ケーブル線路の健全性を評価することができる超電導ケーブル線路の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an apparatus and method for testing durability that reproduces a state of a person who rides on a two-wheeled inverted pendulum vehicle.例文帳に追加
倒立二輪車に人が搭乗した状態を再現することができる耐久試験装置及び耐久試験方法を提供する。 - 特許庁
A vibration testing device 100 places the object 13 to be tested in a 1 freedom degree system on a table 1 and excites the object to be tested by a shaker 2 for excitation tests.例文帳に追加
振動試験装置100は、一自由度系の被試験体13をテーブル1に搭載し、加振機2で加振して加振試験する。 - 特許庁
To provide a method for easily and quickly testing genetic toxicity, capable of applying to several mg of a quantity of a specimen.例文帳に追加
本発明の課題は、数mgの検体量に適用可能であり、簡便かつ迅速な遺伝毒性の試験法を提供することにある。 - 特許庁
To provide a semiconductor inspection device and a method of inspecting a semiconductor device for testing contact resistance under the same conditions.例文帳に追加
接触抵抗が同じ条件でテストを行うことができる、半導体検査装置、及び半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of shortening time for development of the semiconductor device, and to provide a method of testing the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の開発時間を短縮することができる半導体装置及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a test tool and a test method for efficiently testing basic software corresponding to the difference of the specifications of hardware.例文帳に追加
ハードウェアの仕様の違いに対応した基本ソフトウェアを効率的にテストする、テストツール及びテスト方法を提供することができる。 - 特許庁
The device 100 for testing flexibility includes a pendulum mechanism 10, a driving mechanism 20, a ball screw actuator 23 and a back and forth moving mechanism 30.例文帳に追加
耐屈曲性試験装置100は、振り子機構10、駆動機構20、ボールねじアクチュエータ23および往復機構30を備える。 - 特許庁
A test data generation means 53 generates test alarm data for testing the operation of the information processing means 51 in accordance with user's operation.例文帳に追加
テストデータ生成手段53は、ユーザの操作に従って、情報処理手段51の動作をテストするためのテスト用アラームデータを生成する。 - 特許庁
To facilitate an access to each board, even when a large number of boards are fitted in a testing device for semiconductor integrated circuits.例文帳に追加
半導体集積回路の試験装置に多数の基板を組み込んだ状態であっても、個々の基板に対するアクセスを容易化する。 - 特許庁
A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a protection device for protecting attack to a communication device.例文帳に追加
試験装置900は、通信装置に対する攻撃を防御する防御装置として機能する通信制御装置10を試験する。 - 特許庁
By using a measuring instrument 30 for calibration and inputting an error correction value in the digital display gauge 15, precision of a testing machine is improved by calibration.例文帳に追加
校正用計測器30を使用して、デジタル表示計15に誤差の補正値を入力して、校正することで試験機の精度を高める。 - 特許庁
DIAGNOSTIC COMPOSITION, ELEMENT, METHOD AND TESTING KIT FOR AMPLIFYING AND DETECTING TWO OR MORE DNAs HAVING SIMILAR MELTING POINTS例文帳に追加
似通った融点を有する2つ以上のDNAを増幅及び検出するための診断用組成物、要素、方法並びに試験キット - 特許庁
To provide a method and apparatus for centering a disk (50) on a spindle (11), a spinstand (1), and a method of testing with the spinstand.例文帳に追加
スピンドル(11)上のディスク(50)をセンタリングする方法及び装置、スピンスタンド(1)並びにスピンスタンドを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁
Especially, the method for testing can identify and select effective ingredients which may inhibit the enzyme activity of phospholipase A2.例文帳に追加
この試験方法は特にホスホリパーゼA2の酵素活性を阻害することが可能な有効成分の同定および選別を可能にする。 - 特許庁
To provide an apparatus for testing packet transmission characteristics capable of analyzing whether streaming data can be reproduced in real time.例文帳に追加
本発明は、ストリーミングデータがリアルタイムで再生可能か否かを解析可能なパケット伝達特性試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁
To provide an apparatus for testing power transmission systems capable of sufficiently following high-frequency velocity variations of a dynamometer.例文帳に追加
ダイナモメータの高周波の速度変動に対しても十分に追従させることが可能な動力伝達系の試験装置を提供する。 - 特許庁
A contactor 30 for testing has a measurement terminal 32 that is composed so that it is compressed to a terminal 1a of the plurality of semiconductor devices 1.例文帳に追加
試験用コンタクタ30は、複数の半導体装置1の端子1aに圧接されるよう構成された測定端子32を有する。 - 特許庁
To provide a simple method of quickly testing performance of a cargo pump for a tanker with high reliability.例文帳に追加
タンカーにおけるカーゴポンプの性能試験方法において、簡略、かつ、迅速にして、信頼性の高い試験方法を得ることを目的とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device which improves an operating ratio by shortening the time required for reloading pattern data after memory diagnosis.例文帳に追加
メモリ診断後のパターンデータの再ロードにかかる時間を短縮し、稼働率を上げることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
To provide a testing method which tests certainly and readily a defoaming performance of a drip-proof material for preventing a wetness in electronic parts.例文帳に追加
電子部品の防湿を行なう防滴材の消泡性能を、確実且つ容易に検査することのできる検査方法を提供する。 - 特許庁
The method and the device for testing the complicated integrated circuit include an integrated circuit constituted of input/output pads provided with architecture optimized to a test.例文帳に追加
本発明は、テストに合わせて最適化されたアーキテクチャを備える入力/出力パッドから構成される集積回路を包含する。 - 特許庁
To provide a device for testing piping, which can be moved in a desired direction in a bent pipe, a branched pipe and the like, with a simple structure.例文帳に追加
簡単な構造で、曲がり管、分岐管等にて、所望の方向に移動させることができる配管検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a technique for testing the performance of protocols and messages against terminals and access points in CDMA systems.例文帳に追加
CDMA通信システムにおいて、端末およびアクセスポイントに対するプロトコルおよびメッセージの性能をテストするための技術を提供する。 - 特許庁
To provide a machine and a method for testing Rockwell hardness in which variation in the value of hardness due to variation in the shape of a jig can be corrected.例文帳に追加
圧子形状のバラツキによる硬さ値のバラツキを補正できるロックウェル硬さ試験機及びロックウェル硬さ試験方法を提供する。 - 特許庁
In the testing device, at least a part of a support for the device has a reflectivity which does not obstruct an error detection means in a measuring device.例文帳に追加
この試験器具において、装置の支持材の少なくとも一部は計測器のエラー検出手段を妨害しない反射性を有する。 - 特許庁
To provide a method for more accurately and simply testing skeletomuscular toxicity-inducing ability possessed by a substance than ever.例文帳に追加
物質が有する骨格筋毒性誘発能力をより正確にかつ簡便に検定するための方法等を提供可能とすること。 - 特許庁
To provide a mounting method of a terminal fitting for a fretting corrosion testing equipment and a fixing tool capable of accurately making a micro-sliding test.例文帳に追加
微摺動試験を正確に行うことができるフレッチング腐食試験装置の端子金具の取り付け方法と固定具を提供する。 - 特許庁
To provide a covered electric wire abrasion testing method for maximally reproducing an environment, at an automobile mounting time in conducting abrasion test.例文帳に追加
自動車搭載時の環境を限りなく再現して摩耗試験を行うことの可能な被覆電線の摩耗試験方法を提供する。 - 特許庁
The vibration sensor S2 for testing is held by a cap member 43 capable of screwing to the tip of the waveguide bar via a spring body 42.例文帳に追加
そして、試験用の振動センサS2は導波棒先端に螺着可能なキャップ部材43によってバネ体42を介して保持される。 - 特許庁
To provide a test circuit for testing a synchronous memory circuit 3 which is operated with a high clock frequency and which is capable of adjusting test latency.例文帳に追加
高クロック周波数で動作する、テストレイテンシーが調節可能な、同期メモリ回路3をテストするためのテスト回路を提供する。 - 特許庁
To provide a load tester which accomplishes load testing under better desired conditions as done for flexible members such as anti-seismic rubbers.例文帳に追加
免震ゴムなどの可撓性部材を加力試験する際、より所望の条件下で加力試験できる加力試験装置を提供する。 - 特許庁
A control part 8 controls the power distribution system for testing based on calculated values concerning the voltages and currents from the measuring part 7.例文帳に追加
制御部8は、計測部7からの電圧及び電流に関する計算値に基づいた試験をするために配電系統を制御する。 - 特許庁
To provide a close-down apparatus for testing piping withstand pressure that can be easily fitted to piping and can be used repeatedly.例文帳に追加
配管への装着が容易で且つ何度も繰り返し使用することのできる配管耐圧試験用閉止装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor tester capable of reducing the test time for testing pass/fail of multi-value output.例文帳に追加
この発明は、多値出力のパス/フェールを試験する試験時間を短縮した半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide an operation testing device for an elevator governor capable of conducting an operation test without removing a governor rope from a governor sheave.例文帳に追加
調速機ロープを調速機シーブから外すことなく動作試験を行うことができるエレベータ調速機の動作試験装置の提供。 - 特許庁
A chemical substance from the reactive flow is sent to a device for testing the physical properties of the chemical substance exhibiting the state of a chemical reaction.例文帳に追加
反応流からの化学物質が、化学反応の状態を示す化学物質の物理的性質を試験する装置に送られる。 - 特許庁
To provide a system and a method for testing tensile strength of a bond formed from a ball or a bump of molten material such as solder.例文帳に追加
半田などの溶融材料のボール又はバンプから形成されたボンドの引張強度を試験するシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for testing a lighter eliminating the cost and the difficulty occurring when the lighter with fuel is distributed.例文帳に追加
燃料入りのライターが流通される場合に生じる費用と困難を排除することが可能なライターの試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a dew condensation suppression device for improving a suppression function of dew condensation generation, and an environmental testing device equipped therewith.例文帳に追加
結露発生の抑制機能を向上させることが可能な結露抑制装置、およびそれを備えた環境試験装置を提供する。 - 特許庁
To carry out testing and alignment processing for a lens, inexpensively and easily, rapidly and precisely, without using a correction lens, such as null lens.例文帳に追加
ヌルレンズといった補正レンズを用いることなしに、安価で容易、かつ高速、高精度にレンズの検査およびアライメントを行えるようにする。 - 特許庁
To provide a printed circuit board for improving a yield of electric testing due to reduction in the rate of occurrence of open failure.例文帳に追加
オープン不良の発生率が低くなるため、電気検査歩留まりを向上させることができるプリント配線基板を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for testing a battery or electrode capable of correctly and immediately predicting the lifetime of the battery without a short circuit inside the battery.例文帳に追加
電池内部での短絡がなく、電池の寿命を正確に早期予測できる電池あるいは電極の試験方法を提供する - 特許庁
To provide a test piece for a high pressure air-tight testing device and a refrigerating cycle, which may facilitate preparation of a high pressure air-tight test.例文帳に追加
高圧気密試験の準備作業の容易化が図れる、高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクルを提供する。 - 特許庁
(h) Among test equipment for testing semiconductor devices or integrated circuits or those semi-finished products, those that fall under any of the following 例文帳に追加
チ 試験装置であって、半導体素子若しくは集積回路又はこれらの半製品用のもののうち、次のいずれかに該当するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
For example, if the branch used to be called 6.2-STABLE, its name will be changed to 6.3-PRERELEASE to signify the code freeze and signify that extra pre-release testing should be happening. 例文帳に追加
たとえば、4.0-STABLE と 呼ばれていたブランチは名前が 4.1-BETAへと 変えられ、コードフリーズとリリース前のテストが 始まったことを示します。 - FreeBSD
Tekram Technologies sent one each of their DC-390, DC-390U and DC-390F FAST and ULTRA SCSI host adapter cards for regression testing of the NCR and AMD drivers with their cards. 例文帳に追加
Tekram Technologies は NCRドライバや AMD ドライバと自社のカードの逆行テストのため FAST/ULTRA SCSI ホストアダプタDC-390、DC-390U、DC-390F を 各1枚提供してくださいました。 - FreeBSD
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
| この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
| Copyright 1994-2010 The FreeBSD Project. All rights reserved. license |
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