「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(80ページ目) - Weblio英語例文検索

There are provided a plurality of programmable distribution type testing units 12, individually communicating with a related device in a plurality of devices; networks 24, 36 for transmitting information among the plurality of distribution type testing units 12; and a system monitoring unit 16 for communicating with a plurality of programmable distribution type testing units 12 via the networks 24, 36.例文帳に追加

複数のデバイスの内の関連するデバイスと個別に通信を行う複数のプログラム可能な分散形試験ユニット１２と、複数の分散形試験ユニット１２の間で情報を伝達させるネットワーク２４，３６と、このネットワーク２４，３６を通して複数のプログラム可能な分散形試験ユニット１２と通信を行うシステムモニタユニット１６とを備える。 - 特許庁

Article 65 (1) A person who carries on the business of product testing at its testing laboratory located in a foreign country may apply to the competent minister to have the laboratory Accredited for each Division of the Testing Method pursuant to the provisions of the applicable Ordinance of the competent ministry. In this case, the procedures required to be taken for the Accreditation shall be specified in the Ordinance of the competent ministry. 例文帳に追加

第六十五条　外国にある試験所において製品試験の事業を行う者は、その試験所について、試験方法の区分ごとに、主務省令で定めるところにより、主務大臣に申請して、登録を受けることができる。この場合において、登録に関して必要な手続は、主務省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions.例文帳に追加

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。 - 特許庁

To simplify production work to enhance the productivity, and to enhance the production accuracy for a microreactor chip, for a method for testing a chemical reaction, and for a thin film material for the microreactor chip.例文帳に追加

マイクロリアクタチップ，化学反応試験方法及びマイクロリアクタチップ用薄膜部材において、製作作業を簡便化して生産性を向上させることができるとともに、製作精度を向上させることができるようにする。 - 特許庁

According to an identification result, a state holding buffer 13 holds a hypothesis state (adoption, rejection, and under testing) for each object.例文帳に追加

状態保持バッファ13は、識別結果に従って、各オブジェクトについての仮説の状態(採択・棄却・検定中)を保持する。 - 特許庁

To simplify a device and to reduce cost without needing to provide an exclusive terminal for an output monitor in adding a testing function.例文帳に追加

テスト機能を付加するに際し、出力モニタ専用に端子を設ける必要がなく、デバイスの簡素化およびコストの低減を図る。 - 特許庁

To provide a sampler for testing bacteria designed to assay the bacteria from a liquid specimen with a simple manipulation.例文帳に追加

簡便な操作で液体の検体から細菌を測定するための細菌検査用サンプルを収集し得る装置を提供する。 - 特許庁

An outlet, formed at the second end of the hollow body, is adapted for coupling a testing device to an interior volume of the hollow body.例文帳に追加

中空体の第２の端に形成される出口が、試験装置を中空体の内容積部に結合するようになっている。 - 特許庁

Blades 53 for a helicopter are supported on a stand 54, rotated by a driving device in the testing device 11, and tested in relation to various items.例文帳に追加

スタンド５４にはヘリコプタ用のブレード５３が支持され、テスト装置１１の中で駆動装置により回転し、各種テストを行う。 - 特許庁

To provide an improved method and device for programming and operating automatic testing equipment that are improved more, as compared with those of prior art.例文帳に追加

従来技術に対して、より改善された自動テスト機器をプログラミングし操作する方法および装置が要求される。 - 特許庁

To provide a device testing equipment capable of constantly maintaining a contact pressure for a device as a test object at an optimal value.例文帳に追加

被試験対象のデバイスに対するコンタクト圧力を、常に最適値に維持することが可能なデバイス試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method for testing a motion simulation of a test model which can efficiently execute the simulation of this type within a predetermined time.例文帳に追加

この種のシミュレーションを所定時間内で効率よく行える試験模型の移動シミュレーション試験方法を提供する。 - 特許庁

Thereby, the magnetic head for testing having dirt (surface state) which is the same as the sample magnetic head subjected to the floating test is completed.例文帳に追加

これにより、浮上試験を経た試料磁気ヘッドと同様の汚れ（表面状態）を有する試験用磁気ヘッドが完成する。 - 特許庁

To provide a data transmitter-receiver and its testing method for carrying out a test while miniaturizing a circuit scale.例文帳に追加

本発明は、回路規模を小型化しながらテストを実行することができるデータ送受信装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component handling device for testing an electronic component to be tested having input/output terminals provided on both sides.例文帳に追加

両面に入出力端子が配置された被試験電子部品を試験するための電子部品ハンドリング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing rocking rotation, capable of performing both endurance test and performance test of a machine component or the like.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing the azimuth of an electronic component together with verification of the completeness of connection by X-rays.例文帳に追加

接続の完全性のＸ線検証と一緒に電子部品の方位を検査するための装置および方法を提供する。 - 特許庁

To increase the speed of testing a power supply switch used for supplying power to an arbitrary function block provided on a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に設けられた任意の機能ブロックに電源を供給する電源スイッチのテストを高速化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a time necessary for skew adjustment, and to provide a method of adjusting the same.例文帳に追加

スキュー調整に要する時間を短縮することができる半導体試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide an exchange debug system where management of pseudo call data required for testing an exchange and of a test procedure document is facilitated.例文帳に追加

交換機の試験で必要となる擬似呼データと試験手順書の管理が容易となる交換機デバッグシステムを提供する。 - 特許庁

SUCCESSIVELY TRANSPORTING TYPE REACTION VESSEL, METHOD FOR PRODUCING SUCCESSIVELY TRANSPORTING TYPE REACTION VESSEL, AND TESTING METHOD BY USING SUCCESSIVELY TRANSPORTING TYPE REACTION VESSEL例文帳に追加

逐次移送式反応槽、逐次移送式反応槽の製造方法及び逐次移送式反応槽を用いた試験方法 - 特許庁

To provide an impedance matching device having a test function for testing whether or not the mechanical part of a variable impedance element is normal.例文帳に追加

可変インピーダンス素子の機構部が正常であるか否かを検査する機能を備えたインピーダンス整合装置を提供する。 - 特許庁

The water testing port 66 is used as an opening for discharging the air, which dispenses with a special air discharge opening.例文帳に追加

またエアを排出する開口として検水口６６を利用するので、特別のエア排出開口を設ける必要がない。 - 特許庁

An evaluation region partitioned with the second light shielding layer 122 is disposed on the region 200 for testing accuracy of landing.例文帳に追加

着弾精度試験用領域２００には、第２の遮光層１２２によって区画される評価領域が設けられている。 - 特許庁

Further, a testing means for acquiring the information on the operation of the switching elements integrated on the substrate is provided on the substrate.例文帳に追加

基板には、さらに、基板上に集積された、スイッチング素子の動作についての情報を取得するテスト手段が設けられる。 - 特許庁

To provide a terminal pad structure of which ESD durability of a terminal part for testing a protection circuit module of a battery pack is improved.例文帳に追加

本発明は電池パック用保護回路モジュールのテスト用端子部分のＥＳＤ耐量の向上を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide an automatic data logging kit which is used together with a hydraulic pressure maintainable test kit used for testing a liquid-cooled stator bar system.例文帳に追加

自動データロギングキットは、液体冷却固定子バーシステムを試験するための油圧保全性試験キットと共に使用される。 - 特許庁

(i) Has the institution specified the policy and procedures concerning the provision of product data for use in system testing? 例文帳に追加

（ⅰ）システムテスト等において、本番データを使用する場合の当該データの貸与に係る方針、手続きを明確に定めているか。 - 金融庁

The engine testing device 10 comprises a shaft 20; a motor 42 for rotating the shaft 20; and a chuck unit 50.例文帳に追加

本発明に係るエンジン試験装置１０は、主軸２０と、主軸２０を回転させるモータ４２と、チャックユニット５０を備える。 - 特許庁

To provide a testing method for accurately detecting the contact state between unit coils composing stator coils in each phase.例文帳に追加

各相のステータコイルを構成する単位コイル間の接触状態を精度よく検出するための試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test device for testing a semiconductor integrated circuit in a short time without applying excessive stress.例文帳に追加

過剰なストレスを付加することなく、短時間で半導体集積回路を試験することが可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

The memory cell 1 is connected to a current comparison circuit 2 and a reference memory cell 3 for testing is connected to the current comparison circuit 2.例文帳に追加

メモリセル１は電流比較回路２に接続され、該電流比較回路２には試験用基準メモリセル３が接続されている。 - 特許庁

To lower a failure rate of a semiconductor testing device by reducing the number of central processing units necessary for control of a test.例文帳に追加

試験の制御に必要な中央処理装置の数を減少させることで、半導体試験装置の故障率を低下させる。 - 特許庁

To provide a compliant electrical contact which has a low self-inductance in a high frequency for connecting an IC on an IC testing unit.例文帳に追加

ＩＣ試験装置にＩＣを接続するための高周波で低い自己インダクタンスを有する柔軟電気接点の提供。 - 特許庁

To solve such a problem that an automatic inspection device suitable for point of care testing does not support an inspection other than a general biochemistry item in general.例文帳に追加

ポイント・オブ・ケア・テスティングに適した自動検査装置は、一般に、一般生化学項目以外の検査に対応していない。 - 特許庁

To provide a tester of a turbo charger for easily testing and adjusting an egress pressure of a compressor to a predetermined value.例文帳に追加

容易にコンプレッサの出口圧力を所定値に調整して、試験することを可能にするターボチャージャの試験装置を提供する。 - 特許庁

To accurately sort a nondefective product and a defective product in a method for probe-testing a semiconductor device formed on a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板上に形成した半導体装置のプローブテスト方法に関し、良品と不良品とを正確に選別する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR POSITION DETECTION, SINGLE AXIS ROBOT WITH THE DEVICE, SURFACE MOUNTING DEVICE, PART TESTING DEVICE AND SCARA-TYPE ROBOT例文帳に追加

位置検出方法、位置検出装置および同装置を備えた単軸ロボット、表面実装機、部品試験装置、スカラ型ロボット - 特許庁

A 2nd testing device receives only processing data as a result of processing of the tested device for the target data to evaluate the result.例文帳に追加

第２の試験装置は、ターゲットデータに対する被試験装置における処理の結果である処理データのみを受信して評価する。 - 特許庁

The means for arranging the testing object is arranged between the wide range X-ray source and a smaller end face of the X-ray capillary lens.例文帳に追加

テスト物体を配置する手段は、広域Ｘ線源と、Ｘ線キャピラリレンズのより小さい端面との間に配置される。 - 特許庁

To provide a voltage detection circuit test device for testing a voltage detection circuit simply, accurately in a short time.例文帳に追加

本発明は電圧検出回路を短時間に簡単かつ正確に試験する電圧検出回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of shortening a testing time for a plurality of memory circuits having different configurations.例文帳に追加

構成が異なる複数のメモリ回路に対する試験時間の短縮を図ることのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of shortening the time for testing, to two or more memory circuits with few misjudgment.例文帳に追加

判定誤りが少なく、複数のメモリ回路に対する試験時間を短縮することのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.例文帳に追加

少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can markedly shorten time for testing a memory cell part with a small number of additional circuits.例文帳に追加

少ない付加回路でメモリセル部のテスト時間を大幅に短縮することができる半導体集積回路装置を実現する。 - 特許庁