「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(77ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a head slider for accurately testing glide height even when ruggedness is present on an air bearing surface.例文帳に追加

エアベアリング面に凹凸がある場合であっても、グライドハイトを正確に検査することの可能なヘッドスライダを提供する。 - 特許庁

To provide a surface pressure durability tester for solar battery panels which can maintain uniform surface pressure, while shortening the testing time.例文帳に追加

試験時間の短縮と共に均一な面圧の維持できる太陽電池パネルの面圧耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and structure for testing a semiconductor wafer prior to the execution of flip chip bumping process.例文帳に追加

フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するための方法および構造を提供すること。 - 特許庁

To provide an electrostatic charge testing device for clarifying the relation between the voltage value applied from the outside, and the amount of electrostatic charge.例文帳に追加

外部から印加した電圧値と静電気帯電量との関係を明確にする静電気帯電試験装置を得る。 - 特許庁

A semiconductor testing device 1 tests a semiconductor device 3, which is an object to be tested, for predetermined electric characteristics.例文帳に追加

半導体試験装置１は、試験対象物の半導体装置３について所定の電気的特性のテストを行う。 - 特許庁

When a hard component is detected in the water for testing water quality, the ion exchange resin R is regenerated with the regeneration unit 2.例文帳に追加

水質検査用水の硬度成分を検出したときに、再生ユニットを用いてイオン交換樹脂Ｒを再生する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication controller 10 functioning as the mail filtering device for filtering a spam mail.例文帳に追加

試験装置９００は、スパムメールをフィルタリングするメールフィルタリング装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

Once the user testing is completed, individualized compensation coefficients are created to optimize the listening experience for the user.例文帳に追加

テスト動作が完了すると、個々の補償係数はユーザに対するリスニング体験を最適化するために作成される。 - 特許庁

To provide a radio testing method for a mobile station which automatically tests the entire transmitter-receiver and antenna.例文帳に追加

送受信機及びアンテナの全体にわたって自動的に試験を行なう移動局の無線試験方法を提供すること。 - 特許庁

To realize a semiconductor testing device which uses a semiconductor relay for switching signal generators.例文帳に追加

信号発生器の切り換えに、半導体リレーを用いることができる半導体検査装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

GENETIC TESTING METHOD FOR CANCER BY ANALYSIS OF EXPRESSION OF CANCER-RELATING GENE UTILIZING MONOCYTE CONTAINED IN BLOOD SAMPLE例文帳に追加

血液試料に含まれる単核球細胞を用いた癌関連遺伝子の発現解析による癌の遺伝子検査方法 - 特許庁

To minimize as much as possible setting of control procedures for modules provided in a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置に備えられるモジュールの制御手順の設定をできる限り少なくすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus for improving the efficiency of the test as a whole by shortening the period of data readout.例文帳に追加

データ読み出しの時間を短縮して、試験全体の効率の向上を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for examining colonography and computer tomographic data obtained from a lung testing.例文帳に追加

コロノグラフィ及び肺検査から得られるようなコンピュータ断層撮影データの検討のための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, quality standards should be established, as necessary, for human stem cells during processing, and testing and inspections implemented.例文帳に追加

(2) 最終調製物の品質管理の試験として、例えば、次に掲げるような項目について実施するものとする。 - 厚生労働省

Exact and efficient data dependence testing is a key to success of loop-parallelizing compiler for computationally intensive programs. 例文帳に追加

正確で効率的なデータ依存性テストは、計算集約的プログラムのためのループ並列化コンパイラを成功させる鍵である。 - コンピューター用語辞典

You can create as many users as you need for testing purposes, just use the registration form in the sandbox. 例文帳に追加

テスト用のユーザは、いくつでも作成することができます。 作成するには、サンドボックス内の登録フォームを使用します。 - PEAR

This circuit is provided with a test circuit 24 for delaying transmission data to be inputted to a driver 4 at the testing time.例文帳に追加

この発明は、テスト時にドライバ４に入力する送信データを遅延させるテスト回路２４を備えるようにした。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor integrated circuit device capable of screening according to a power source current at the time of standing still.例文帳に追加

静止時、電源電流によるスクリーニングが可能な半導体集積回路装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a transient voltage protective device disposed in a circuit including a power supply and a load.例文帳に追加

電源および負荷が設けられるように構成された回路内の過渡電圧保護デバイスをテストする方法を提供する。 - 特許庁

To easily perform a test for arbitrarily setting the distance from a light source to a sample surface in a weathering light property-testing apparatus.例文帳に追加

耐候光性試験装置において、光源から試料面までの距離を任意とする試験を容易に行うこと。 - 特許庁

To provide a charging and discharging control circuit that has shortened the testing time for overcharge detecting voltage and an overdischarge detecting voltage.例文帳に追加

過充電検出電圧や過放電検出電圧の試験時間を短縮した充放電制御回路の提供。 - 特許庁

To provide a signal generator which generates a test signal for correctly testing a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスを正確に試験するための試験信号を発生する信号発生装置を提供することができる。 - 特許庁

To provide a method for testing that a chemical material as a to-be-tested object has physiological activity which is similar to that of lithium.例文帳に追加

被検体となる化学物質がリチウムと同様の生理活性をもつことを検定する方法を提供すること。 - 特許庁

To prevent a testing property and a maintaining property of soldering balls for signals from degrading when L type leads and the soldering balls are used together.例文帳に追加

Ｌ型リードと半田ボールを併用したときの信号用半田ボールの試験性、保守性の低下を防止する。 - 特許庁

The testing-service firm provides a cellular phone of a person for the medical examination with test results and information on medical institutions.例文帳に追加

検査サービス会社は、受診者の携帯電話機に対して、検査結果と共に医療機関情報を提供する。 - 特許庁

He reflected awhile, rubbing his nose and cheeks, then skirted to the left, stepping gingerly and testing the footing for each step. 例文帳に追加

鼻と頬をこすりながらしばし考え、左に迂回し、慎重に慎重に、1歩ずつ足場を確かめながら歩を進めた。 - Jack London『火を起こす』

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING POWER SUPPLY, METHOD FOR SUPPLYING POWER, TESTING DEVICE EMPLOYING THE SAME, POWER UNIT WITH EMULATION FUNCTION AND METHOD FOR EMULATING POWER SUPPLY ENVIRONMENT例文帳に追加

電源の評価方法、電源評価装置、電源の供給方法、それらを用いた試験装置、エミュレート機能付きの電源装置、電源環境のエミュレート方法 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a semiconductor integrated circuit in which the time required for manufacturing the semiconductor integrated circuit (including the time required for examinations) is shortened.例文帳に追加

半導体集積回路の製造（検査に要する時間を含む）に要する時間を短縮できる半導体集積回路の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an encephalitis/cerebropathia detecting method, an examination method for a drug for testing an encephalitis/cerebropathia crises risk, and a screening method for an encephalitis/cerebropathia treatment drug.例文帳に追加

脳炎・脳症の検出法、脳炎・脳症発症リスクを検定するための薬剤の検査法および脳炎・脳症処置用薬剤のスクリーニング法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a composition for stabilizing a clinical sample (namely, a cell in a biological sample) for its transport and subsequent testing for diagnosis.例文帳に追加

臨床標本（すなわち、生物学的試料中の細胞）を輸送用およびその後の診断検査用に安定化する方法および組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method for a fare adjustment program for easily testing the fare adjustment program, and for easily developing the highly reliable fare adjustment program.例文帳に追加

容易に精算プログラムをテストすることができ、信頼性の高い精算プログラムを容易に開発することができる精算プログラムの検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a what is called, two- stage blow head which is used for the production of glass product, especially for the final blow operation of a glass product producing machine.例文帳に追加

ガラス製品の製造、特に、ガラス製品製造機械の最終吹込操作に使用されるいわゆる２段階ブローヘッドを試験するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

REAGENT FOR DIAGNOSING ACTIVE TUBERCULOSIS/ACTIVE MYCOBACTERIOSIS, PLATE FIXED WITH REAGENT FOR TESTING, AND METHOD FOR DIAGNOSING THE SAME USING THEM例文帳に追加

活動性結核・活動性抗酸菌症診断用試薬、この試薬を固着した検査用プレート並びにこれらを用いた活動性結核・活動性抗酸菌症診断方法 - 特許庁

Although the Community Bus Yawata Route was at first established for testing purpose to conduct a real-world evaluation for the period of one year, the operation period of the route was later extended for another year from the first expiration date of the test in 2006, and again another year from the second expiration date of the test in 2007. 例文帳に追加

この経路は、当初は1年間の試験運行とされていたが、現在はその期間を1年延長し、2007年に更に1年延長している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The semiconductor-testing apparatus that is requested to generate a timing edge pulse of a period M that is different from a period N that is the testing period of the semiconductor-testing apparatus has a period- converting means for generating a timing edge pulse of a period M that is different from a period N of a test rate without applying a specific number of plurality of timing sets that the semiconductor-testing apparatus has.例文帳に追加

半導体試験装置の試験周期である周期Ｎとは異なる異周期Ｍのタイミングエッジパルスの発生を行うことが求められる半導体試験装置において、半導体試験装置が備える所定複数個のタイミングセットを適用すること無く、テストレートの周期Ｎとは異なる異周期Ｍのタイミングエッジパルスが発生できる周期変換手段を備える、半導体試験装置。 - 特許庁

In the system for voluntary test for communication facility, a server 10 for voluntary testing the communication facility, generates a plan for the voluntary test by referring a selection table for testing items stored in a voluntary test database 20, a data for test team members stored in a tester name list database 30, and items, purposes, and method of the voluntary test and a desision criterion stored in a decision criterion database 40.例文帳に追加

設備自主検査サーバ１０は、自主検査データベース２０に格納された検査項目選定表，検査実施者名簿データベース３０に格納された検査体制の構成員のデータおよび判定基準データベース４０に格納された自主検査の項目とその目的，方法および判定基準を参照して自主検査計画書を作成する。 - 特許庁

Testing food material A is material A is dished out by a moderate weight according to the amounts of food ingested in the morning, noon and evening for the past several weeks of each subject as a tested subject, and testing food C for three days, that is, nine times in total is prepared.例文帳に追加

試験用食品素材（Ａ）を、検査の対象となる被験者１人１人の過去数週間の朝昼晩の摂食量に基づいて、適度な重量に取り分けると共に、３日分・計９回の試験用食品（Ｃ）を作る。 - 特許庁

To provide a washing-unrequired rice producing device for testing so as to determine processing conditions when a washing-unrequired rice producing device installed in a rice milling plant is operated in earnest, the device for testing producing washing-unrequired rice by using only about 1 kg of a rice grain raw material.例文帳に追加

精米工場に設置した無洗米製造装置を本稼動する際の加工条件を決定するために、わずか１kg程度の量の原料穀粒を使用して無洗米を製造することが可能なテスト用無洗米製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element and a testing method for the semiconductor element, capable of reducing the number of probes in a probe card by rotating the semiconductor element to carry out a probing test by twice measurements, and capable of reducing a manufacturing cost of the probe card.例文帳に追加

半導体素子を回転させて２回の測定でプロービングテストを行うことによりプローブカードのプローブの数を減らせるとともに、プローブカードの製作コストを低減する半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

The Pharmaceutical Affairs Law and the Agricultural Chemicals Regulation Law specify that any person who seeks approval for a drug product or registration of an agricultural chemical must include materials on the results of testing when filing for the disposition. In order to have test results, it is necessary to conduct testing. 例文帳に追加

薬事法、農薬取締法は、それぞれ、医薬品の承認、農薬の登録を受けるためには、試験成績に関する資料を提出して申請する旨規定しており、この成績を得るためには試験を行うことが必要である。 - 特許庁

To provide a reliability testing method for a part-packaged printed wiring board capable of surely testing and evaluating the reliability on the joint parts between parts and a printed wiring board in a comparatively short time for an actual part-packaged printed wiring board.例文帳に追加

実際の部品実装プリント配線板に対して、部品とプリント配線板の接合部との間の信頼性を、比較的短い時間にて、確実に試験・評価することを可能とする部品実装プリント配線板の信頼性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a disk for testing reproduction of stable quality which is a disk for testing reproduction of reloadable optical disk recording media (CD-RW disk, DVD-RAM disk, DVD-RW disk, DVD+RW disk, etc.).例文帳に追加

書換え可能な光ディスク記録媒体（ＣＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭディスク、ＤＶＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ＋ＲＷディスク等）の再生テスト用ディスクに関し、安定した品質の再生テスト用ディスクを提供することを課題とする。 - 特許庁

A load indicator LM for indicating a load value that is test data to a cross head 5 of a testing machine, a cross yoke 6, or a post 18, and a displacement indicator DM for displaying displacement are installed in the machine frame of the testing machine, namely the cross head 5 or the cross yoke 6.例文帳に追加

試験機のクロスヘッド５もしくはクロスヨーク６もしくは支柱１８に試験データである荷重値を示す荷重表示器ＬＭや、変位を表示する変位表示器ＤＭを試験機の機枠すなわちクロスヘッド５あるいはクロスヨーク６に設置する。 - 特許庁

To provide a method for testing the withstand voltage, which prevents a deteriorated part having an inferior insulation property from being heated and deteriorated, due to an overcurrent flowing therethrough, so that confirmation of the phenomenon that actually causes the deterioration in insulation is facilitated, in the method for testing the withstand voltage of a printed wiring board.例文帳に追加

プリント配線板の耐電圧試験において、絶縁性が悪い劣化した箇所に過電流が流れ、発熱し劣化することを抑制して、絶縁劣化の真の原因となる現象を確認しやすくする耐電圧試験方法を提供する。 - 特許庁