「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(78ページ目) - Weblio英語例文検索

When a fire is occurred inside the aging device 3 for testing performance of the secondary batteries, foam containing the inactive gas is discharged in the aging device 3 for extinguishing the fire.例文帳に追加

二次電池の性能テストをするエージング装置３の内部火災時に、このエージング装置３内に不活性ガスの入る泡を放出して消火するようにした。 - 特許庁

To provide a frame delay generator for changing delay time while frame delay generating function is not suspended and for enhancing efficiency of testing.例文帳に追加

フレームの遅延発生機能を停止せずに遅延時間を変更することができ、試験の効率を高めることができるフレーム遅延発生装置を提供すること。 - 特許庁

Moreover, this animal model can be used for screening methods to identify new anti-amyloidogenic compounds and for testing their therapeutic effect.例文帳に追加

その上、この動物モデルは、新規抗アミロイド形成化合物を同定する方法をスクリーニングするために、およびその治療効果を調べるために用いることができる。 - 特許庁

To provide a testing device for a rolling bearing capable of performing a test for applying an axial load, while rotating an outer ring of a sample bearing.例文帳に追加

試料軸受の外輪を回転させた状態でアキシアル荷重を付与した試験を行うことが可能な転がり軸受用試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for turning performances of a carriage capable of easily measuring a carriage turning resistance, a wheel load, and a lateral pressure when turning the carriage for railroad vehicles.例文帳に追加

鉄道車両用台車の旋回時の台車旋回抵抗、輪重及び横圧を簡便に計測可能な台車旋回性能試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for an air-conditioner, helpful in saving a space and resources and adaptable for evaluation in a shorter time than conventional one.例文帳に追加

省スペ−ス、省資源で行うことができるとともに、従来より短時間で評価することが可能な空気調和機の試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 2 contains a unit 23 for assignment in which assignment to physical address of memory is stored in readable, for the environmental model variable.例文帳に追加

テスト装置２は環境モデル変数の、メモリの物理アドレスに対する割り当てが読み出し可能に格納されている割り当てのためのユニット２３を含んでいる。 - 特許庁

To provide a windproof fan to retrieve the energy of winds and generate electric power upon being installed for wind shield on a testing device for wind shield plates or blades, a car, bridge, building, etc.例文帳に追加

防風ファンに関し、防風板、ブレードのテスト装置、自動車、橋、ビル等の防風用に設置すると共に、風のエネルギーを回収して電力を得る。 - 特許庁

To provide a test program creation device creating a test program for testing a program receiving a structure group having a hierarchical structure and operating, for example.例文帳に追加

例えば、階層構造を持つ構造体群を受け取って動作するプログラムをテストするためのテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a movable part test apparatus for testing the operability and durability of movable parts provided for a closed room by moving the movable parts.例文帳に追加

閉鎖室内に設けられた可動部位を動かすことにより前記可動部位の操作性や耐久性を試験する可動部位の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a stimulation threshold energy for using together with a double-chamber or a single-chamber heart pacemaker pulse generator (IPG).例文帳に追加

二重室又は単一室心臓ぺースメーカーパルス発生器（ＩＰＧ）と共に使用するための刺激しきい値エネルギーを試験するための装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a high frequency module for a stable inspection even if the height of the high frequency module varies.例文帳に追加

高周波用モジュールの高さがばらついた場合でも、安定した検査ができる高周波用モジュールのテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an information processor and a power source connection/disconnection device for automatically testing the connection/disconnection of a power source.例文帳に追加

電源を接続／切断する試験を自動的に行うことができる情報処理装置の製造方法および電源接続切断装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR IDENTIFYING, INSPECTING OR LICENSING SYRINGE OR SYRINGE FILLED WITH MEDICINE BEFORE USING IT, AND TESTING DEVICE FOR PERFORMING THE METHOD例文帳に追加

注射器または薬剤充填済み注射器について、使用前に識別、検査または使用許可を行う方法、及び、この方法を実施する試験装置 - 特許庁

To provide a testing method for checking operation and function of a single LSI for proximity IC card before mounting it to a card, in a proximity IC card.例文帳に追加

非接触ＩＣカードにおいて、非接触ＩＣカードＬＳＩをカードに組み込む前に単体で、動作および機能確認を行なう試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a CMIP protocol test automating device, capable of saving power for confirming the result of testing and for preparing the test environment of a CMIP protocol level.例文帳に追加

テスト結果確認及びＣＭＩＰプロトコルレベルのテスト環境の作成を省力化可能なＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can store address data of a defective memory cell and which is inexpensive, a method for testing a semiconductor, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

不良メモリセルのアドレスデータを記憶可能で、且つ安価な半導体試験装置、半導体試験方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrical system for testing a communication system having a function for checking whether the function boards are present, and whether these two function boards are identical.例文帳に追加

機能ボードの存在及び２つの機能ボードが同一であるかどうかを合わせてチェックする機能を有する通信システムテスト用電気システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test program for an application program for accurately testing the picture of an application program without manually indicating a verification object.例文帳に追加

検証対象を手動により指定することなくアプリケーションプログラムの画面を正確にテストできるアプリケーションプログラムのテストプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for testing a nonvolatile memory element which does not separately execute operations for masking failed bits when the nonvolatile memory element is tested on a wafer.例文帳に追加

不揮発性メモリ素子をウェーハ上でテストするとき、フェールしたビットのマスキング動作を別途に行わない不揮発性メモリ素子のテスト方法の提供。 - 特許庁

To provide a thin plate gripping jig for stably pinching a thin plate material as a test piece to be supplied for a tensile testing without damaging it.例文帳に追加

引っ張り試験に供される試験片としての薄板材を傷付けることなしに安定に挟持することのできる薄板掴み治具を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating storage life of a product in a package, and to provide a system for accelerating penetration of testing gas inside the package.例文帳に追加

パッケージ内の製品貯蔵寿命を評価するための方法、ならびにパッケージ内への試験気体の透過を加速させるための装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an external covering system which is the external covering system for medical consumables, especially for a testing element, and which carries out moisture removal within a stored object effectively.例文帳に追加

医療用消耗品、特に試験素子のための外装システムであって、収納物内の水分除去を効果的に行う外装システムを提供する。 - 特許庁

To achieve, for use in probe testing of semiconductor devices, a reduction of the number of probe needles to the necessary minimum and power supply margins for the semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置のプローブ試験で、プローブ針の数を必要最小限にすることと、半導体装置への電力供給マージンを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for coating and an apparatus for developing to avoid disadvantageous layout, with narrow occupying area when a substrate testing unit is assembled.例文帳に追加

基板検査ユニットを組み込むにあたって占有面積が狭く、不利なレイアウトを避けることができる塗布装置及び現像装置を提供すること。 - 特許庁

CAVITATION-GENERATING DEVICE UNDER ELECTROMAGNETIC IMPACT FORCE, METHOD FOR EVALUATING/TESTING DAMAGE ON MATERIAL USING THE SAME, AND METHOD FOR REFORMING MATERIAL SURFACE例文帳に追加

電磁式衝撃加力によるキャビテーション発生装置、その装置による材料の損傷評価試験方法、及び材料の表面改質方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method for the semiconductor device and tester for the semiconductor device, capable of realizing a high speed timing test at a low cost.例文帳に追加

低コストで高速なタイミングテストを実現できる半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a word line driving device for easily detecting a defective word line, a semiconductor memory device including the same, and a method for testing the semiconductor memory device.例文帳に追加

ワードラインの不良検出を容易にするためのワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of testing a separator for a storage device, in which resistance to the polarity of an electrode of the separator for the storage device can be easily confirmed.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイス用セパレータの耐電極性を簡便に確認しうることができる試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

An interleave circuit for performing data diffusion processing is set in an output portion of the scan chain set as a path used for testing an integrated circuit such as an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩなどの集積回路のテスト用パスとして設定されたスキャンチェインの出力部にデータ拡散処理を行うインターリーブ回路を設定した。 - 特許庁

A test system for the memory device is provided with a tester 102 for applying a plurality of different redundancy tests on the memory device based on a plurality of different testing conditions.例文帳に追加

メモリデバイスのテストシステムは、複数の異なる試験条件に基づいて、複数の異なるリダンダンシテストをメモリデバイスに対して行うテスタ１０２を備える。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE METHOD RECORDED THEREON例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路のテスト方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A computer implemented method, a data processing system and the processor are provided for thermal throttling control for testing of real-time software.例文帳に追加

リアルタイム・ソフトウェアを試験するためのサーマル・スロットリング制御のための、コンピュータによって実施される方法、データ処理システム、およびプロセッサを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for conducing a test in a short time while the accuracy for detecting defects in a semiconductor device is maintained.例文帳に追加

半導体装置に関する不良の検出精度を維持しつつも短時間で試験を実施することができる半導体試験システムを提供することができる。 - 特許庁

A testing machine (1) is equipped with a moving means (7) for moving the pressing surface (5a), and a pressure measuring means (8) for measuring the pressure applied to the particle filled bed (20).例文帳に追加

加圧面(5a)を移動させる移動手段(7)と、粒子充填層(20)に加わる圧力を計測する圧力計測手段(8)とを備えた試験装置(1)で試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加

テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wind resistance testing device using no wind tunnel and a method for wind resistance test by which the stability of the wind resistance of a model which is an object to be tested for wind resistance can be confirmed.例文帳に追加

風洞を用いない耐風試験装置と耐風試験対象物である模型の耐風安定性を確認する試験の方法を実現する。 - 特許庁

Furthermore, a chip manufacturing apparatus 106 for manufacturing the chip 102 for testing is provided, based on chip manufacture data sent from the chip manufacture data storage section.例文帳に追加

チップ製造データ格納部から送られたチップ製造データに基づいて、試験用チップ１０２を製造する試験用チップ製造装置１０６を具えている。 - 特許庁

These control circuits 11 to 14 are operated, according to control commands supplied from the microcomputer 40 for air bag control or a microcomputer 50 for testing.例文帳に追加

これらの各制御回路１１〜１４は、エアバック制御用マイクロコンピュータ４０またはテスト用マイクロコンピュータ５０から供給される制御コマンドに応じて動作する。 - 特許庁

To provide a method for determining a minimum number of tilter masks for the relevance testing of identifiers which can be transmitted to a communication means by way of a communication network in messages.例文帳に追加

メッセージに含まれ通信ネットワークを介して通信手段に送信され得る識別子の関連性テストに関して、最小数のフィルタマスクを決定する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a system between data communication equipment for performing an operation confirmation test of the entire system without arranging a person at the opposite party side.例文帳に追加

対向側に人員を配置することなく、システム全体の動作確認試験を行うデータ通信装置間システム試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device for a fuel cell for accurately evaluating performance of a fuel cell under stable environmental conditions.例文帳に追加

安定した環境条件下で精度良く燃料電池の性能を評価することが可能な燃料電池の環境試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of attaining magnetization testing function for automatically executing a test mode for detecting the magnetization state of a write head.例文帳に追加

ライトヘッドの帯磁状態を検出するテストモードを自動的に実行する帯磁テスト機能を実現できるディスク記憶装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a parallel processing method for it having a plurality of memory banks, a controller, and a data processing processor for performing measurement and data processing in parallel.例文帳に追加

複数のメモリバンクとコントローラとデータ処理プロセッサとを備え、測定の実行とデータ処理を並行して行う半導体試験装置と並列処理方法。 - 特許庁

To provide a new method for testing the effect of a therapeutic or prophylactic agent for hyperlipidemia and obtain a polynucleotide and an antibody used in the method.例文帳に追加

高脂血症の治療または予防剤としての効果を試験するための新規な方法および該方法に用いられるポリヌクレオチドおよび抗体を提供する。 - 特許庁