「For testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(82ページ目) - Weblio英語例文検索

To accurately carry out a test of a man-powered steering device of an aircraft without the need for a testing device imitating an actual machine.例文帳に追加

飛行機の人力操縦装置の試験を、実機を模した試験装置を必要とせずに精度良く行えるようにする。 - 特許庁

To stably maintain test conditions and suppress deviations in the evaluation of delayed fracture in a device for testing delayed fracture.例文帳に追加

遅れ破壊試験装置において、試験条件を安定に維持して、遅れ破壊の評価のばらつきを抑制することである。 - 特許庁

To raise screening effect by IDDQ test, and further reduce a time for testing the attainment of a target commercial defective fraction.例文帳に追加

ＩＤＤＱテストによるスクリーニング効果が上がり、さらに、目標市場不良率の達成に必要なテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device whose measurement accuracy will not be lowered, even when the temperature fluctuates, while an IC chip is being measured.例文帳に追加

ＩＣチップを測定中に温度が変動しても測定精度が低下しない半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

SYSTEM, METHOD AND DEVICE FOR TESTING SIMPLE IP CONNECTION OF ATM LINE例文帳に追加

ＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験システム、ＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験方法、ＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験装置 - 特許庁

A method for testing an allergic disorder using the expression level of a gene in a peripheral blood monocyte as an index is provided based on the discovery of gene defensin 1 exhibiting a different expression level between an allergic disorder patient and a healthy subject.例文帳に追加

アレルギー性疾患の患者と健常者との間で発現レベルに差が見られる遺伝子defensin 1を見出した。 - 特許庁

In this state of the sheet, a test instrument is connected to a terminal 25 for testing to perform various kinds of tests to each semiconductor chip 50.例文帳に追加

このシートのままの状態で、テスト用端子２５にテスト装置を接続して各半導体チップ５０の各種テストを行う。 - 特許庁

To provide a passive optical network testing apparatus for simplifying the structure of the apparatus and reducing the cost.例文帳に追加

装置の構成を簡略化することができ、コストを削減することが可能な受動的光ネットワーク試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a tire testing device for measuring accurate tire characteristics by fully increasing a temperature of treads by traveling.例文帳に追加

走行によりトレッドの温度を十分に上昇させ、正確なタイヤ特性を測定可能とするタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

Pharisees came to him testing him, and asked him, “Is it lawful for a man to divorce his wife?” 例文帳に追加

ファリサイ人たちが彼を試そうとしてやって来て，彼に尋ねた，「男が自分の妻を離縁することは許されているのですか」。 - 電網聖書『マルコによる福音書 10:2』

The testing method for making the determination of good or no-good by means of a current test in static state in a wafer level testing step 5 of the semiconductor integrated circuit is characterized in that the reference current value for judging soundness is determined for each product on the basis of characteristic values of a transistor in a basic characteristics measurement step 2 for determination.例文帳に追加

半導体集積回路のウェハ状態試験工程５での静止状態電流試験によって良否判定を行う検査方法で、その良否判定基準となる基準電流値を基礎特性測定工程２でのトランジスタの特性値を基に製品ごとに決定して判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

In this case, the input/output circuit for non-inspection outputs the non-inspection data supplied to the probing pad from the testing apparatus to the internal circuit via the internal bus for non-inspection, and outputs the response data for non-inspection based on such output to the testing apparatus via a transfer circuit, input/output circuit for inspection and probing pad.例文帳に追加

このとき、非検査用入出力回路は、テスト装置からプロービングパッドに供給された非検査用データを内部回路に非検査用内部バスを介して出力し、これに基づく非検査用応答データを、トランスファー回路、検査用入出力回路、プロービングパッドを介してテスト装置に出力する。 - 特許庁

To provide an optical pickup device reliably testing electric conduction while preventing a connection failure between a testing device and the optical pickup device, and preventing damaging of the circuit of an important part such as a semiconductor laser part, an electronic device having the optical pickup device mounted thereon, and a device and a method for testing the optical pickup device.例文帳に追加

検査装置と検査対象である光ピックアップ装置との接続不良を回避して導通検査を確実に行い、かつ半導体レーザ部などの重要部の回路の破損を防ぐことができる光ピックアップ装置、それを搭載する電子機器、光ピックアップ装置の検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for evaluating strength of a friction material, capable of performing an evaluation testing by applying a compressive load and at the same time a shearing load to a friction material and capable of accurately performing the evaluation by matching the use conditions of the friction material and the conditions at the evaluation testing time.例文帳に追加

摩擦材に対して圧縮荷重とせん断荷重とを同時に付与して評価試験を行うことが可能とされ、当該摩擦材の使用条件と評価試験時の条件とを合致させてその評価を精度よく行わせることができる摩擦材の強度評価試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a specific testing method and device capable of performing testing without any influence of bending moment generated by applying forced displacement to the edge of a specimen having a crack at one side in a crack development testing method and device for making a crack to develop while maintaining a stress intensity factor fixedly.例文帳に追加

応力拡大係数を一定に維持しつつき裂を進展させるき裂進展試験方法及び装置において、片側にき裂を有する試験片の端部に強制変位を加えることにより発生する曲げモーメントの影響なく試験を行うことができる具体的な試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of reducing the dead space generated in the upper side of the testing machine, and capable of reducing the required space, for example, in storage or transportation, in the material testing machine having structure arranged with a crosshead on a table via support columns, and capable of changing the vertical position of the crosshead.例文帳に追加

テーブル上に支柱を介してクロスヘッドを配置するともとに、そのクロスヘッドの上下方向の位置を変更可能な構造を持つ材料試験機において、試験機の上方に生じるデッドスペースをなくすることができ、例えば格納時や輸送時における所要スペースを小さくすることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To obtain a solderability-testing method and device for improving the accuracy and reliability of test data by reducing influence due to the temperature difference between the temperature of a metal test piece and that of solder paste when testing solderability and the difference between a setting temperature and actually measured temperature of the testing device.例文帳に追加

はんだ濡れ性試験時の金属試料片温度とはんだペーストとの温度差及び、試験装置の設定温度と実測温度との差による影響を減少させ、試験データの精度及び信頼性を向上させるはんだ濡れ性試験方法及びはんだ濡れ性試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The evaluation method for the movement performance of tires evaluates the movement performance of the vehicle with the method, by using the time series response data of the same steering angles each time, when mounting different testing tires to the vehicle; and it conducts relative evaluation of this evaluation result as the movement performance of the testing tires, among a plurality of the testing tires.例文帳に追加

タイヤの運動性能評価方法は、車両に異なる試験タイヤを装着するたびに、同じ操舵角の時系列入力データを用いて上記方法で車両の運動性能を評価し、この評価結果を試験タイヤの運動性能として、複数の試験タイヤの中で相対評価を行う。 - 特許庁

To provide a low-temperature condition testing device for a handler and its method capable of reducing a maintenance and management cost and a device manufacturing cost by simple constitution, of holding high cooling efficiency, of freely taking and putting a semiconductor device of a tested object out and in from a testing device, and of shortening a testing work time.例文帳に追加

簡単な構成で維持管理コスト及び装置製造コストが低廉であり、しかも高い冷却効率を保持し、さらに、被試験対象の半導体デバイスの装置内からの出し入れを自在に行なえて試験作業時間を短縮し得るハンドラの低温条件試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To shorten a delivery date while enabling a through-hole 76 to be formed at a required position in a constant temperature bath 1 keeping the interior of a testing chamber 35 at least at a predetermined temperature, the constant temperature bath having a testing chamber 35 for housing a test specimen, and at least one through-hole 76 communicating the outside of the testing chamber 35 with the inside thereof.例文帳に追加

供試体が収容される試験室３５と、試験室３５の内外を連通させる少なくとも１の導通孔７６と、を有し、試験室３５内を少なくとも所定の温度に保つ恒温槽１において、所望の位置に導通孔７６を形成可能にしつつも、その納期を短縮する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing shear bond strength of a tile capable of being appropriately installed as an apparatus, reasonably applying shearing stress to bonded portions of a tile as a method, improving testing accuracy and definitely testing shear bond strength itself of a tile.例文帳に追加

装置として適切な設置が可能であるとともに、方法としても合理的にタイルの接着個所にせん断力を作用させることが可能であって、試験精度の向上およびタイルのせん断接着強度そのものを的確に試験することができるタイルのせん断接着強度試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a composition for resistors adhering to copper surface without requiring an initial passivation of the copper surface, exhibiting stability to all of an accelerated aging testing in environment of 85°C and 85% relative humidity, thermal cycling performance testing and solder exposure resistance testing, and to provide a conductive phase designed to have a temperature coefficient of resistance.例文帳に追加

銅表面の初期の不動態化を必要とせず、銅表面に接着し、８５℃と８５％相対湿度の環境での加速エイジング試験、熱サイクル性試験、はんだ暴露抵抗性試験でも安定性を提供する抵抗器組成物、さらに温度抵抗率を有するように設計した導電性相の提供。 - 特許庁

The present invention includes a testing turn-on device 14 for making a liquid crystal panel turn on for testing, a timing device 22 for generating a signal of a predetermined timing, a photographing device 16 for photographing an image of the liquid crystal panel 10 in synchronization with the signal, and a turning-off device for detecting a turning-on pixel or a turning-off pixel from the photographed image.例文帳に追加

液晶パネルを試験的に表示させる試験点灯装置１４と、所定のタイミングの信号を発生させるタイミング装置２２と、前記信号と同期して液晶パネル１０の画像を撮影する撮影装置１６と、撮影した画像から点灯画素または消灯画素を検出する消灯装置を有するものである。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

When the test body 3b is a material for a rolling motion component, a rolling motion component simulated body 3 which is a simulated component for testing is manufactured and included in components, and the rolling motion component simulated body 3b is immersed in the lubricant and a testing device is actuated.例文帳に追加

被試験体３ｂが転動部品用の材料である場合、転動部品を試験用に模した部品である転動部品模擬体３を、前記被試験体３ｂを構成要素に含めて製作し、この転動部品模擬体３ｂを潤滑油に浸漬して動作させる。 - 特許庁

The pair of tools for testing piping withstand pressure are provided inside a pipe 4 in a connected state with each other with a connecting component 3, and each of the tools is brought into close contact with an internal surface of the pipe to close a section 6 to be tested for the testing of withstand pressure.例文帳に追加

この１対の配管耐圧試験用治具は、連結部材３で互いに連結された状態で配管４の内部に設置され、その状態でそれぞれが配管の内周面に密接することにより試験対象部６を耐圧試験用に閉止する。 - 特許庁

To provide a network testing apparatus which when testing whether or not a relay device for establishing an Ethernetwork mounts an Ethernet-OAM, easily carries the test and carries out the test only with the relay device which is minimally necessary for a various test.例文帳に追加

イーサネットワークを構築する中継装置がＥｔｈｅｒｎｅｔ−ＯＡＭを実装しているか否かを試験するのに際して、簡単に試験を実施することが可能であることと、各種試験に必要な最低限の中継装置のみで試験を実施することを課題とする。 - 特許庁

To provide an IC-testing apparatus, and a control method and a memory medium in an IC-testing apparatus whereby a throughput is improved by individually and concurrently executing a signal application process for measurement and a process for communication control.例文帳に追加

本発明の課題は、測定用の信号印加処理と、通信制御用の処理とを個別に並行して実行することにより、スループットを向上させるＩＣ試験装置、及びＩＣ試験装置における制御方法及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

The control unit outputs an optical signal for testing the dummy signal transmission unit, according to a fault search instruction outputted from a monitoring terminal and confirms the reception of the optical signal for testing via the signal monitoring unit, thereby verifying the alarm information stored in the log memory unit.例文帳に追加

制御部は、監視端末が出力する障害探索指令に応じて、ダミー信号送信部の試験用光信号を出力し、信号モニタ部で試験用光信号の受信を確認することでログ記憶部に記憶されている警報情報を検証する。 - 特許庁

To provide a memory device which realizes cost reduction and which shortens time required for writing and reading data, and to provide a semiconductor testing device which shortens time for testing a semiconductor device by being provided with the memory device.例文帳に追加

コストの低減を図ることができ、且つデータの書き込み及び読み出しに要する時間を短縮することができる記憶装置、及び当該記憶装置を備えることによって半導体デバイスの試験時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To make a transition to a test mode easily, quickly and reliably by previously forming two electrodes for testing, which are short-circuited to each other in the test mode of a wiring board, and contriving the configuration of the two electrodes for testing.例文帳に追加

配線基板のテストモードで互いに短絡される２つのテスト用電極をあらかじめ基板本体に形成しておくと共に、２つのテスト用電極の構成に工夫を講じることによって、テストモードへの移行を容易かつ迅速に、しかも確実に行う。 - 特許庁

To provide a testing and recording device for dies and a testing and recording method for dies which can surely distinguish and view minute irregularity on a test object such as dust and blemish on a non-plane molding face of a die from a specific reflection area.例文帳に追加

金型の非平面状成形面上にあるゴミや傷等の微小凹凸検査対象を、非平面状成形面上の特定反射域と区別して確実に視認できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a highly reliable genetic testing method and testing apparatus, with which an abnormal operation associated with a temperature control mechanism of a reaction vessel for amplifying a target nucleic acid can be easily detected, and the temperature locality of the reaction vessel for amplifying a target nucleic acid is reduced.例文帳に追加

標的核酸増幅の反応容器の温度制御機構に係る異常動作を容易に認識し、これによって標的核酸増幅の反応容器の温度ローカリティを低減し、高信頼性の装遺伝子検出方法及び検出装置を提供する。 - 特許庁

To discover a CT (cancer-testis) antigen useful for testing, diagnosing or treating digestive organ cancers, and to provide a new method for diagnosing cancers and a new kit for diagnosing cancers, using the CT antigen as a cancer marker.例文帳に追加

消化器癌の検査、診断あるいは治療に有用なＣＴ抗原を見出し、当該ＣＴ抗原を癌マーカーとする新規な癌診断方法および癌診断キットを提供する - 特許庁

To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加

２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す２Ｗ多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁

A method for testing an allergic disease using the expression level of TRAIL gene in peripheral monocytes as an index and a method for screening a compound for treating the disease, are provided.例文帳に追加

末梢血単核球におけるTRAIL遺伝子の発現レベルを指標とする、アレルギー性疾患の検査方法、および該疾患の治療のための化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for transferring a semiconductor device between trays used for testing the semiconductor device, by using a buffer tray for storing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を収納するためのバッファトレイを用いて前記半導体装置をテストするために用いられるトレイの間で、前記半導体装置を移送する方法と装置が開示される。 - 特許庁

This endurance testing machine is equipped with first and second rollers 3 and 4 for putting a disk 1 therebetween, a pressure applying part 7 for pressing the rollers 3 and 4 against the disk 1, and a drive part 5 for rotatively driving the first roller 4.例文帳に追加

ディスク１を挟み込む第１のローラ３及び第２のローラ４と、各ローラ３，４をディスク１に押しつける加圧部７と、第１のローラ４を回転駆動する駆動部５とを備える。 - 特許庁

For a burn-in test that energizes a semiconductor device 5 in a high-temperature atmosphere for a specific amount of time, the semiconductor device 5 is supplied to a substrate 4 for testing where a number of sockets 3 are arranged on an insulating substrate l.例文帳に追加

そのため、半導体装置を試験用基板に装着する前に実施しているが、少数の不良品のために全数短絡試験をすることは無駄であった。 - 特許庁

To provide a method for testing an application program for inquiring of a client-server type data base system and a recording medium where the program for implementing the method has been recorded.例文帳に追加

クライアント・サーバ型のデータベース・システムへの問合わせを行うアプリケーション・プログラムをテストする方法及びこの方法を実現するためのプログラムを記録した記録媒体を提供すること。 - 特許庁

The suitability testing apparatus is provided with a main shaft 21 for supporting the tire mounted to the tire slip preventing member, a tire weight 3 for pressing the tire and a motor 11 for driving and rotating the main shaft 21.例文帳に追加

タイヤ滑り止め部材が装着されたタイヤを軸支するメインシャフト２１と、前記タイヤを押圧するタイヤ加重部３と、前記メインシャフト２１を回転駆動させるモータ１１とを備える。 - 特許庁

To provide a high-efficiency and high quality power receiving/ distributing equipment testing apparatus for a network, which enables checking for a function test of three principle elements in a power receiving/distributing equipment for the network system as a whole.例文帳に追加

ネットワーク受配電設備における三原則要素の機能試験をシステム全体で確認できる、高効率かつ高品質のネットワーク受配電設備試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a remote testing system for a plant controller which can be easily realized without the need of manual aid on the spot for a test and without the need of new wiring or the like for the test.例文帳に追加

試験のための現地での人手を不要とし、かつ試験のための新たな配線等が不要で、容易に実現できるプラント制御装置の遠隔試験方式を提供する。 - 特許庁

A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁

To provide a pattern insertion circuit for OOR testing for causing disturbance of LM, for confirming that a reception side correctly detects and releases OOR.例文帳に追加

本発明は、受信側がＯＯＲの検出及び解除を正しく行えることを確認するためにＬＭの擾乱を起こすＯＯＲ試験用パターン挿入回路の提供を目的とする。 - 特許庁