「TEST OPERATION」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

LOAD IMPARTING METHOD AND DEVICE AT OPERATION TEST OF LIFEBOAT例文帳に追加

救命艇作動試験時における積載荷重付与方法及び積載荷重付与装置 - 特許庁

To inexpensively realize an environment capable of further efficiently performing a test on game control operation.例文帳に追加

遊技制御動作に関する試験をより効率的に行うことができる環境を低コストで実現する。 - 特許庁

The fourth pads 140, 240 receive a fourth power supply TVss during the test operation of the AC characteristic.例文帳に追加

第４パッド１４０，２４０はＡＣ特性テスト動作の間に、第４電源ＴＶｓｓを受け入れる。 - 特許庁

To enable a vehicle traveling test to be carried out more similarly to an actual operation.例文帳に追加

車両の走行試験を行うにあたり、実際の運転により近い試験を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

Delay pulse width is adjusted in accordance with voltage of the second power source terminal Vcc2 and an operation test is performed.例文帳に追加

第２の電源端子Ｖｃｃ２の電圧に応じて遅延パルス幅を調整して動作テストを行う。 - 特許庁

The shift from the test mode to the normal operation is made by the switch provided on the main control board.例文帳に追加

テストモードから通常動作へは、メイン制御基板上に設けたスイッチによって移行させる。 - 特許庁

OPERATION TEST SYSTEM, AND JIG AND METHOD FOR ADJUSTING POSITION OF PROBE TERMINAL例文帳に追加

動作試験装置、プローブ端子の位置調整用治具及びプローブ端子の位置調整方法 - 特許庁

Calibration, test and operation monitoring procedures, for using head position status, are described.例文帳に追加

ヘッド位置状態を使用するため、較正処理、検査処理、動作監視処理について説明されている。 - 特許庁

The test program 200 executes processing for testing an operation of a communication device 125.例文帳に追加

テストプログラム２００は、通信デバイス１２５の動作をテストする処理を実行する。 - 特許庁

To provide a system which can test easily an operation of a microcomputer board for an uninterrupted power supply apparatus.例文帳に追加

無停電電源装置に用いるマイコン基板8の動作を容易に検査できる方式を提供する。 - 特許庁

To prevent an operation mode setting circuit from being erroneously shifted to a test mode just after power supply.例文帳に追加

電源投入直後に誤ってテストモードへ移行することを防止する。 - 特許庁

To provide a means of facilitating an operation for adjusting the posture of a test head relative to a probe card.例文帳に追加

プローブカードに対するテストヘッドの姿勢調整作業を容易にする手段の提供。 - 特許庁

A decision circuit 23 decides a maximum operation state of the microprocessor based on test results of the CPO.例文帳に追加

ＣＰＯのテスト結果に基づいて決定回路でマイクロプロセッサの最大動作状態を決定する。 - 特許庁

To attain improvement in work efficiency and accuracy in the operation test of a sequencer program.例文帳に追加

シーケンサプログラムの動作試験時における作業効率および精度の向上を図る。 - 特許庁

When the parameter is reset, the test operation of the work flow is started again.例文帳に追加

前記パラメータが再設定されると、再度ワークフローのテスト動作が開始される。 - 特許庁

To automatically generate call display data for test to confirm the operation at equipment execution.例文帳に追加

自動的に試験用呼出表示データを作成して、機器施工時における動作確認を行う。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR IMPLEMENTING AT LEAST ONE OF TEST OF, DIAGNOSIS, AND OBSERVATION OF OPERATION OF ELECTRONIC CIRCUIT例文帳に追加

電子回路の動作の試験、診断および観測の少なくとも１つを行う方法および装置 - 特許庁

To enable safe operation for courses in facilities, including a test course and a circuit.例文帳に追加

テストコース、サーキットをはじめとする施設において、コースの安全運用を可能にすること。 - 特許庁

To provide an improved monitoring of operation of test equipment in a relatively continuous base.例文帳に追加

比較的連続ベースでその試験装置の作動の改善されたモニタリングを提供する。 - 特許庁

To provide a test method for controlling the operation state of an activated sludge method and a biological denitrification method.例文帳に追加

活性汚泥法及び生物学的脱窒素法の運転状況を管理する試験方法を提供する。 - 特許庁

Accordingly, it is possible to reliably prevent any other apparatus under operation during test from being accidentally operated.例文帳に追加

これにより、試験中において他の運転中の機器に対する誤操作を確実に防止できる。 - 特許庁

• Prohibition of the utilization of personal data as test data when confirming the operation of information system 例文帳に追加

・情報システムの動作確認時のテストデータとして個人データを利用することの禁止 - 経済産業省

Ensure that personnel from the user department and the operation department are involved in user-acceptance tests, and that they review the user-acceptance test results.例文帳に追加

ユーザ受入れテストは、ユーザ及び運用の担当者もテストに参画して確認すること。 - 経済産業省

This software will test all features on the chip and all modes of operation. 例文帳に追加

このソフトはチップ上のあらゆる機能をテストし、あらゆるオペレーションのモードをチェックする。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

The LSI 1 is transited from a general operation mode to a test mode by asserting a test mode signal TM1 and a test mode signal TM2 to H-level.例文帳に追加

ＬＳＩ１は，テストモード信号ＴＭ１およびテストモード信号ＴＭ２がＨレベルにアサートされることによって，通常動作モードからテストモードに遷移する。 - 特許庁

A test circuit for the fire sensor tests its operation by applying a test voltage and the fire sensors DH and DS are provided with an adapter AD which generates the test voltage when specified.例文帳に追加

火災感知器の試験回路は、試験電圧を加えることにより動作試験を行うものであり、特定されたときにその試験電圧を発生するアダプタＡＤが火災感知器ＤＨ、ＤＳに設けられている。 - 特許庁

In normal operation mode, both the TEST 1 for a first measurement mode signal and the TEST 2 for a second test mode signal are set at a low level.例文帳に追加

通常動作モードにおいては、第１の測定モード信号ＴＥＳＴ１および第２のテストモード信号ＴＥＳＴ２をいずれもローレベルに固定する。 - 特許庁

The test mode circuit 280 detects power source voltage Vcc1 having a voltage level at normal operation in accordance with a test mode shift signal MRS1 and generates a test mode signal TM of a L level.例文帳に追加

テストモード回路２８０は、テストモード移行信号ＭＲＳ１に応じて通常動作時の電圧レベルを有する電源電圧Ｖｃｃ１を検出してＬレベルのテストモード信号ＴＭを発生する。 - 特許庁

A test mode signal TM is inputted from a test mode determining circuit 30 to the POR circuit 25 in the test mode for testing the operation of an internal circuit.例文帳に追加

内部回路の動作をテストするテストモードにおいて、テストモード判定回路３０からテストモード信号ＴＭをＰＯＲ回路２５に入力する。 - 特許庁

To provide a memory error correction and detection circuit test system which utilizes the validity/invalidity switching function of an ECC circuit and simply performs an operation test of the ECC circuit without adding a circuit for test, and also to provide its testing method.例文帳に追加

ＥＣＣ回路の有効／無効切り替え機能を利用して、試験用の回路を追加することなく簡単にＥＣＣ回路の動作試験を行うことができるメモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

And the test mode circuit 280 detects power source voltage Vcc2 having a higher voltage level than a voltage level at normal operation in accordance with a test mode shift signal MRS2 and generates a test mode signal TM of a H level.例文帳に追加

そして、テストモード回路２８０は、テストモード移行信号ＭＲＳ２に応じて通常動作時の電圧レベルよりも高い電圧レベルを有する電源電圧Ｖｃｃ２を検出してＨレベルのテストモード信号ＴＭを発生する。 - 特許庁

A test interface circuit TICa performs an operation test based on a signal inputted to a test pin terminal group TPG by directly accessing a DRAM core.例文帳に追加

テストインタフェース回路ＴＩＣａは、テストピン端子群ＴＰＧに入力される信号に基づく動作テストを、ＤＲＡＭコアに直接アクセスして実行する。 - 特許庁

Test data and test sequence required for test operation are set in a register, in an input signal region of the functional block to be tested from the outside of the LSI or the CPU.例文帳に追加

テスト対象とする機能ブロックの入力信号領域におけるレジスタにＬＳＩの外部又はＣＰＵからテスト動作に必要なテストデータとテストシーケンスを設定する。 - 特許庁

To enable suppression of test consumption current for every circuit by performing an operation test of a fire detector one by one in order without overlapping test signals and without the need of a dedicated fire receiver.例文帳に追加

専用の火災受信機を必要とせず、試験信号を重ならせずに火災感知器を１台ずつ順送りに動作試験を行うことにより、回線毎の試験消費電流を抑制できることを目的とする。 - 特許庁

A circuit 6 for test derives the above-mentioned data for test read from the RAM 5 to the outside and captures data from the outside after the completion of operation corresponding to the above-mentioned test mode.例文帳に追加

テスト用回路６は上記テストモードに対応した動作が終了した後にＲＡＭ５から読み出される上記テスト用データを外部に導出すると共に外部からのデータを取り入れる。 - 特許庁

To provide a system for extracting significant test items even when test time is limited in a method for creating a test item document necessary in confirming operation of a server after introducing general-purpose software.例文帳に追加

汎用ソフトウェア導入後のサーバーの動作確認の際に必要な試験項目書の作成方法について、試験時間が限られている場合であっても、重要な試験項目を抽出するシステムを提供する。 - 特許庁

The test/registration target master unit designation part 3c includes a rotary switch 3c1, and the test/registration operation part 3d includes a test button 3d1 and a register button 3d2.例文帳に追加

テスト／登録対象親機指定部３ｃはロータリスイッチ３ｃ１を、テスト／登録操作部３ｄはテストボタン３ｄ１と登録ボタン３ｄ２を有する。 - 特許庁

A test data part 12 outputs false input data to a test data transmission part 14, which outputs an operation signal corresponding to the false input data to a test object system 26.例文帳に追加

テストデータ部１２は擬似入力データをテストデータ送信部１４へ出力し、テストデータ送信部１４は擬似入力データに応じた操作信号をテスト対象システム２６に出力する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor memory and a semiconductor memory device having an operation verifying function of a built-in self- test circuit (BIST circuit) or a built-out self-test circuit (BOST).例文帳に追加

内臓自己テスト回路（ＢＩＳＴ回路）または外付自己テスト回路（ＢＯＳＴ回路）の動作検証機能を持った半導体メモリのテスト回路および半導体メモリデバイスを提案する。 - 特許庁

The test circuit 4 is set in a test operation mode including a plurality of modes by switching internal multiplexers 11a, 11b corresponding to a test signal TST[a:b] used as a mode switching signal.例文帳に追加

テスト回路４は、モード切替信号となるテスト信号ＴＳＴ［ａ：ｂ］に応じて内部のマルチプレクサ１１ａ、１１ｂが切り替えられ、複数のモードからなるテスト動作モードに設定される。 - 特許庁

The imaging apparatus has a test operation mode for checking a connection state, and is configured to output a result obtained by processing the digital signal generated by the test signal generation circuit from a digital image output interface in a test mode state.例文帳に追加

撮像装置に接続状態をチェックするテスト動作モードを設け、テストモード状態では該テスト信号発生回路が発生するデジタル信号を処理した結果をデジタルの画像出力インターフェースから出力する。 - 特許庁

To implement a test wave generating method capable of generating test waves for insertion at the time when a request for the insertion of test waves for insertion is inputted during steady operation.例文帳に追加

定常運転中において、挿入用試験波の挿入要求が入力されたときに、挿入用試験波を発生させることができる試験波の発生方法を提供する。 - 特許庁

A test data creating part 16 creates appropriate test data per detected operation component on the basis of preregistered design information and test patterns.例文帳に追加

テストデータ生成部１６は、予め登録された設計情報及びテストパターンを元に、検出された操作部品ごとに適切なテストデータを生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which total test time can be shortened and processing for redundancy operation for each test can be accelerated.例文帳に追加

全体的な試験時間を短縮することが可能であると共に、毎回の試験ごとのリダンダンシ演算に係る処理を高速化できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit that executes a memory test during operation of a computer system and without providing an area exclusive for a memory test.例文帳に追加

メモリテスト専用領域を設けずに、かつ、コンピュータシステム稼働中にメモリテストを実行することが可能なメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁