「TEST OPERATION」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

By setting each test switch 4, etc., into a collectively closed state, a test signal from the test signal control circuit 1 is transmitted to the direct current indicators 3, etc., to thereby enable operation confirmation.例文帳に追加

試験スイッチ４、…、４を一括閉状態にすることにより、試験信号制御回路１からの試験信号を直流電流指示計３、…、３に流し、動作確認が可能となる。 - 特許庁

Fire sensors 3-1 to 3-4 equipped with an automatic test part for executing a test operation under an instruction from a test instructing part 14 of the receiver 1 are connected to sensor circuits 2-1 to 2-3 pulled out of a receiver 1.例文帳に追加

受信機１から引き出された感知器回線２−１〜２−３に、受信機１の試験命令部１４から指示により試験動作を実行して試験結果を応答する自動試験部を備えた火災感知器３−１〜３−４を接続する。 - 特許庁

As for the question, a user selects one piece of music from among a plurality of test listening pieces of music, and when a test listening piece button 104a on a screen is operated, the test listening piece corresponding to the operation is transmitted to the terminal unit from the server device.例文帳に追加

この質問は、複数の試聴曲の中から一つの曲をユーザが選択するものであり、画面上の試聴曲ボタン１０４ａが操作されると、同操作に対応した試聴曲がサーバ装置から端末装置に送信される。 - 特許庁

When the consequence of this memory test is abnormal, the operation processing section 23 and the coincidence discriminating section 24 repeat the memory test until the consequence of the memory test becomes normal.例文帳に追加

このメモリテストの結果が異常の場合、演算処理部２３および一致判定部２４はメモリテストの結果が正常となるまでメモリテストを繰り返す。 - 特許庁

Into the test module 15, two or more kinds of test program are written, and only a test program selected by a user with the operation section 9 is executed with the MPU 1.例文帳に追加

テストモジュール１５には複数種のテストプログラムが書き込まれており、ユーザが操作部９で選択したテストプログラムのみがＭＰＵ１で実行される。 - 特許庁

An operation test is performed by an external test device 1, a BIST 4 formed in a chip 2, and a BOST 3 arranged between the external test device 1 and the chip 2.例文帳に追加

外部試験装置１と、チップ２内に形成されるＢＩＳＴ４と、外部試験装置１とチップ２との間に介在されるＢＯＳＴ３とでチップ２の動作試験が行われる。 - 特許庁

The remote tester is provided with a test control part which sends test signals so that operation times by test signals of fire sensors connected to the same sensor line do not overlap with each other.例文帳に追加

遠隔試験器には、同じ感知器回線に接続された各火災感知器の試験信号による作動時間が重複しないように試験信号を送出する試験制御部を設ける。 - 特許庁

The analogue switch 411 selecting a voltage applied to the variable resistor VR1 in a game machine operation time is switched so as to select a strength test signal when a test switching signal (low active) from a trial shooting test device reaches a low level.例文帳に追加

アナログスイッチ４１１は、遊技機稼働時には可変抵抗器ＶＲ１にかかる電圧を選択し、試射試験装置からの試験切替信号（ローアクティブ）がローレベルになると強度試験信号を選択するように切り替えられる。 - 特許庁

To recognize failure without causing misoperations due to failure of a test switch when forced operation is carried out by the test switch, while taking into account the system test.例文帳に追加

システム試験を考慮し、テストスイッチによる強制動作を行なわせる場合、テストスイッチの不良等による誤動作を発生させず、不良を認識可能とする。 - 特許庁

To provide a test diagnostic method for a computer system for starting test diagnosis even in a status that the normal operation of an input/output port is not sufficiently secured without using any input/output port for the transfer of a test diagnostic program.例文帳に追加

試験診断プログラムの転送に入出力ポートを使わず、入出力ポートの正常動作が十分に保証されない状態でも試験診断を開始できるコンピュータシステムの試験診断方法を提供する。 - 特許庁

In operation of the eddy current test on a bearing ring surface part or a rolling element surface part of the rolling bearing, the eddy current test is carried out on the surface part by using an eddy current test probe with a detection coil diameter of 1 mm or less.例文帳に追加

転がり軸受の軌道輪表層部または転動体表層部を渦流探傷検査するに際して、検出コイル径が１ｍｍ以下の渦流探傷プローブを用いて前記表層部を渦流探傷検査する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

According to the present invention, the integrated circuit for a smart card includes a transceiver which communicates with a host device and a joint test action group (JTAG) test controller for carrying out at least one test operation.例文帳に追加

本発明によれば、スマートカード用の集積回路が、ホスト装置と通信をするトランシーバ、及び少なくとも１個のテスト操作を実施するためのジョイントテストアクショングループ（ＪＴＡＧ）テスト制御器を包含している。 - 特許庁

A processor is used for controlling the operation of the test, according to test instructions and processing radiant energy detected from the sample for evaluating test results.例文帳に追加

試験の運転を試験指令にしたがって制御し、試験結果を評価するためにサンプルから検出される放射エネルギーを処理するためにプロセッサが使用される。 - 特許庁

A control circuit 14 controls test operation about whether main body memory cells 20A are operated normally or not based on the test information held in the test signal register 19.例文帳に追加

テスト信号レジスタ１９に保持されたテスト情報に基づいて、制御回路１４は本体メモリセル２０Ａが正常に動作するか否かのテスト動作を制御する。 - 特許庁

By the light, data are latched by an IC that is operating under the influence of a test program, test pattern output is obtained from the IC, and it is judged whether the IC is in an appropriate operation state or not according to the test pattern output.例文帳に追加

この光により、試験プログラムの影響下で作動中のＩＣにデータがラッチされ、そのＩＣからテストパターン出力が得られ、そのテストパターン出力によってＩＣが正しい動作状態にあるか否かを判定する。 - 特許庁

A test controller 300 collects test data outputted from a test object, i.e. a power converter 20, during the operation of a control power supply 400.例文帳に追加

テスト制御装置３００は、制御電源４００の動作中に、試験対象である電力変換器２０から出力された試験データを収集する。 - 特許庁

A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.例文帳に追加

テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁

An execution means 12 reads a test scenario stored in a scenario DB 11, and makes test object integrated equipment 20 execute an operation based on the test scenario.例文帳に追加

実行手段１２は、シナリオＤＢ１１に記憶されるテストシナリオを読み出し、テストシナリオに基づく動作を試験対象の組み込み機器２０に実行させる。 - 特許庁

The lighting device can be set to a test mode by one operation of a switch 25b at the time a test is performed such as on a range of an object sensor 26a and a lighting retention time at the time of adjustment at installation or after installation, thereby, the test can be performed easily.例文帳に追加

設置時や設置後の調整時に物体センサ２６ａの範囲や点灯保持時間等のテストを行う際に、スイッチ２５ｂ一つの操作でテストモードにすることができるので、容易にテストを行うことができる。 - 特許庁

When a test image to confirm the operation states of the printing elements is printed and outputted by a printing device 12, referring to the test image, the operator inputs the number and operation state of the malfunction printing element through an operation section 16, then, an operation reception section 102 receives information on the operation state.例文帳に追加

印字素子の動作状態を確認するための試験画像を印刷装置１２が印刷出力すると、操作者はこの試験画像を参照し、動作不良の印字素子の番号と動作状態とを操作部１６から入力し、操作受付部１０２が動作状態に関する情報を受け付ける。 - 特許庁

This operation system for the running support road system has a system operation management device performing online-processing of daily operation monitoring of equipment constituting the running support road system at all times in a batch and is provided with functions for giving a remote diagnostic processing command for daily inspection and operation test and recording test operation by this device.例文帳に追加

走行支援道路システムの運用方式であって、走行支援道路システムを構成する設備機器の日常の常時動作監視を一括オンライン処理するシステム運用管理装置を有し、この装置で日常点検、動作試験のリモート診断処理指令、試験動作記録機能を具えている。 - 特許庁

To eliminate operation for unnecessary simulation, etc., by accurately measuring a description which is not covered by a verification test and preventing an unnecessary test from being generated when the coverage of test data used to test the function of a logic circuit is evaluated.例文帳に追加

論理回路の機能テストをする際に用いられるテストデータのカバレッジを評価する際、検証テストでカバーされていない記述を正確に計測し、不要なテストを作成することを防ぐことによって、不要なシミュレーション等の作業を省略する。 - 特許庁

At the test mode, a selector circuit 75 receives output of the selector circuits 72 and 74, and when an object of an operation test is a spare memory cell, the circuit 75 outputs an output of the selector circuit 74 to a test device as test output data TDout.例文帳に追加

セレクタ回路７５は、テストモード時において、セレクタ回路７２および７４の出力を受けて、動作テストの対象がスペアメモリセルである場合には、セレクタ回路７４の出力をテスト出力データＴＤｏｕｔとして、試験装置に対して出力する。 - 特許庁

To obtain a method for facilitating tests by a frequency divider circuit that verifies a timing, even at test operation by adding a test circuit to the frequency divider circuit so as to reduce a test pattern and to obtain the frequency divider circuit with the test circuit.例文帳に追加

分周回路にテスト回路を追加することによりテストパタンを短縮化し、且つテスト動作時でもタイミング検証を可能にする分周回路によるテスト容易化方法及びテスト回路付き分周回路を提供する点にある。 - 特許庁

When a bender test mode conducting a voltage acceleration test is entered, a test signal TM1 at a low level is input to step-down power circuits 15, 16 from a bender test circuit, a transistor 19 is turned on, and operation as an operational amplifier is stopped.例文帳に追加

電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとベンダテスト回路から降圧電源回路１５，１６にローレベルのテスト信号ＴＭ１が入力され、トランジスタ１９がＯＮし、演算増幅器としての動作が停止となる。 - 特許庁

A control circuit 4 for controlling an operation mode in the test for the logic circuit 2 and the DRAM 3 is provided on the same chip mounted with the logic circuit 2 and the DRAM 3, a scanning test mode is set in the burn-in test in the logic circuit 2, a burn-in test mode is set therein in the DRAM 3.例文帳に追加

ロジック回路２とＤＲＡＭ３が搭載される同一チップ上に、これらの試験時の動作モードを制御するためのコントロール回路４を設け、バーンイン試験時には、ロジック回路２についてはスキャン試験モードに設定させ、ＤＲＡＭ３についてはバーンイン試験モードに設定させる。 - 特許庁

To test by a few operators coping with the field, and to test efficiently, accurately and quickly by operating a test terminal by a single operator, when performing an operation test of a comparison protection relay device represented by a transmission line differential current type protection relay device installed in an adjacent power station.例文帳に追加

隣接する電気所に設置される送電線差動電流式保護継電装置代表される比較保護継電装置の動作試験をするにあたり、少ない現場対応要員で試験可能であり、試験端末を一人で操作することにより、試験が効率的に、正確に、迅速に行うことができること。 - 特許庁

A control section controls so as to operate only the test apparatus selected in the test apparatus selection mode screen C in the test mode screen D, and controls so as not to operate any other apparatus under operation which are not selected in the test apparatus selection mode screen C.例文帳に追加

制御部は、試験モード画面Ｄでは、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択された試験機器のみの操作を可能するように制御し、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択されていない他の運転中の機器は操作できないように制御する。 - 特許庁

Until entirely covered with a test pattern with effective test patterns mapped to the state transition (step 5), the operation of determining a state transition series having a predetermined length for covering the test patterns according to a predetermined standard, and of adding them to the test series (step 7) and performing X-extraction (step) is repeated.例文帳に追加

状態遷移にマッピングされた有効テストパターンが生成されたテスト系列にすべて被覆されるまで（ｓｔｅｐ５）、所定の基準に従ってテストパターンを被覆する所定長の状態遷移系列を決定してテスト系列に追加し（ｓｔｅｐ７）Ｘ抽出する操作（ｓｔｅｐ）を繰り返す。 - 特許庁

In a status transition table design support portion 230, a test path generation portion 232 generates a test path including a series of test cases to be executed as a status transition test, based on information accepted by an operation specification information input acceptance portion 231.例文帳に追加

状態遷移表設計支援部２３０では、動作特定情報入力受付部２３１が受け付けた情報に基づいて、状態遷移テストとして実行されるべき一連のテストケースからなるテストパスがテストパス生成部２３２によって生成される。 - 特許庁

The operation test or stress test conducted by using a terminal provided on the driver 1 for driving displays and dust detecting test using measuring terminals 6, 7 of the dust detecting circuit are conducted with the wafer test in the same step.例文帳に追加

上記表示装置駆動用ドライバ１上に設置された端子を使用して行う動作テストまたはストレステストと、ダスト検知用回路の測定端子６，７を使用して行うダスト検知テストとを、同工程のウエハテストにて行う。 - 特許庁

An inter-device test program parallel execution means 24 and a test program manual operation parallel execution means 25 respectively leave start for the test program stored in each device of the test device group 4 together with the required start information.例文帳に追加

装置内連続試験プログラム並列実行手段２３、装置間試験プログラム並列実行手段２４、及び試験プログラム手操作並列実行手段２５はそれぞれ必要な起動情報とともに試験装置群４の各装置に格納された試験プログラムに起動を渡す。 - 特許庁

To provide a member information management system using an information system which accepts application to various test groups together from personal computers, portable terminals, etc., through the Internet and supports test application and test information distributing operation between members as applicants and various test conducting groups.例文帳に追加

インターネット上でパソコンあるいは携帯端末等から各種試験団体への申込み受付け業務を一括して行ない、申込者である会員と各種試験実施団体間の試験申込み及び試験情報配信業務を支援する情報システムを用いた会員情報管理システムを提供する。 - 特許庁

When reproducing the test, a test ID is inputted, information held in the bug management database is used, an input signal time serially reproduced by the test data, and a control signal of the operation history are inputted to the test equipment, and the generated bug is reproduced.例文帳に追加

また、テストの再現時には、テストＩＤを入力して、そのバグ管理データベースに保持されている情報を利用し、時系列的にテストデータによって再現される入力信号と、操作履歴の制御信号をテスト機器に入力することにより、発生したバグを再現させる。 - 特許庁

An automatic test device 1 includes a test procedure execution engine part 12 for performing the automatic test of a picture program 23 of a programmable display unit 2 by reading a test scenario 11 in which the operation procedure of the programmable display unit 2 and a procedure for confirming the response display state and the timing are written.例文帳に追加

自動試験装置１は、プログラマブル表示器２の操作手順とその応答表示状態を確認するための手順とそのタイミングを記した試験シナリオ１１を読み込んで同表示器２の画面プログラム２３の自動試験を行う試験手順実行エンジン部１２を含む。 - 特許庁

Consequently, in a test mode, the transmitter 4 for test is mounted on the remote control receiver 3 to receive the communication confirmation signal transmitted by the transmitter 4 for test with the receiver 5 for test, thereby the transmission and reception of the operation signal sent from the remote control transmitter 2 to the remote control receiver 3 can be confirmed.例文帳に追加

そのため、テストモード時は、リモコン受信器３にテスト用送信器４を装着して、テスト用送信器４が送信した通信確認信号をテスト用受信器５で受信することにより、リモコン送信器２から送リモコン受信器３への動作信号の送受信を確認することができる。 - 特許庁

Upon completing test of programmable routing resources in one self test area, an FPGA 10 is reconfigured such that a part of work area during normal system operation becomes a following self test area and at least a part of first self test area is replaced by that part of the work area.例文帳に追加

最初の自己試験区域の１つでのプログラム可能経路指定資源の試験の完了後、ＦＰＧＡ１０は、通常システム動作中の作業区域の一部が後続の自己試験区域になり、また、最初の自己試験区域の少なくとも一部が作業区域のその部分と置き換えられるように再構成される。 - 特許庁

The adapter device for an IC tester, which is detachably electrically connected to a test head and electrically connected to a target under test, has an exclusive OR circuit for subjecting a plurality of digital signals from the test head to an exclusive OR operation and outputting the result to the target under test.例文帳に追加

本発明は、テストヘッドに着脱可能に電気的に接続し、被試験対象に電気的に接続するＩＣテスタのアダプタ装置であって、テストヘッドからの複数のデジタル信号を排他的論理和して被試験対象に出力する排他的論理和回路を有することを特徴とするものである。 - 特許庁

When the evaluation test is executed (S204), the operation PC processes the resultant data of the evaluation test by the evaluation function (S206), extracts two test conditions obtained by changing the condition value (S208), and a three-dimensional graph is created by two extracted test conditions and the control performance (S210).例文帳に追加

評価試験を実行すると（Ｓ２０４）、オペレーションＰＣは、評価試験の結果データを評価関数により処理し（Ｓ２０６）、条件値を変化させた試験条件を２個抽出し（Ｓ２０８）、抽出した２個の試験条件と制御性能とで３次元グラフを作成する（Ｓ２１０）。 - 特許庁

To shift to a test mode without providing a terminal for the exclusive use of a test and to prevent shifting erroneously to a test mode at the time of normal operation in a semiconductor memory provided with a test function and a circuit substrate mounting a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体集積回路を搭載した回路基板に関し、試験専用の端子を設けることなく試験モードに移行し、かつ通常動作時に誤って試験モードに移行することを防止することを目的とする。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 of the invention includes: the external terminal 11; the functional block 14a for receiving the signal from the external terminal 11 during a test operation; a CPU register 12 for applying the signal to the functional block 14a during the test operation instead of the external terminal 11; and the functional block 14b for receiving the test signal from the external terminal 11 during the test operation.例文帳に追加

本発明に係る半導体集積回路１は、外部端子１１と、通常動作時に外部端子１１から信号を受ける機能ブロック１４ａと、テスト動作時に外部端子１１に代わり機能ブロック１４ａに信号を与えるＣＰＵレジスタ１２と、テスト動作時に外部端子１１からテスト信号を受ける機能ブロック１４ｂとを備える。 - 特許庁

A ring oscillator 16 oscillates ring clock signal RCLK at a predetermined frequency out of synchronization with test clock signal TCLK at the time of normal operation mode and changes ring clock signal RCLKA synchronized with test clock signal TCLK at the time of test operation mode.例文帳に追加

リング発振器１６は、通常動作モード時では、テスト用クロック信号ＴＣＬＫとは非同期でリングクロック信号ＲＣＬＫを所定周波数で発振させ、テスト動作モード時では、リングクロック信号ＲＣＬＫＡをテスト用クロック信号ＴＣＬＫに同期させて変化させる。 - 特許庁

The CAN bus monitor 52 monitors the operation of an ECU 54 as the object of verification, and determines whether or not the actual operation of the ECU 54 is matched with the test specifications shown by the test script T22, and outputs a test report T24 showing the determination result to the outside.例文帳に追加

ＣＡＮバスモニタ５２は、検証対象であるＥＣＵ５４の動作を監視し、そのＥＣＵ５４の実際の動作が、テストスクリプトＴ２２が表すテスト仕様に合致するか否かを判断し、判断結果を表すテストレポートＴ２４を外部に出力する。 - 特許庁