「component testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

ILLUMINATION CONDITION SPECIFYING METHOD, COMPONENT RECOGNITION DEVICE, AND SURFACE MOUNTING EQUIPMENT AND COMPONENT TESTING DEVICE PROVIDED THE DEVICE例文帳に追加

照明条件特定方法、部品認識装置、同装置を備えた表面実装機および部品試験装置 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method which are utilized for an accommodation of an electronic component having a pressurizing housing with a conductor.例文帳に追加

加圧ハウジングが導電体を有した電子コンポーネントの収容に利用される試験装置と試験方法とを提供すること。 - 特許庁

COMPONENT AND METHOD FOR FORMING AND TESTING ELECTRO-OPTICAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

電気光学表示装置を形成および検査するための構成部品および方法 - 特許庁

COMPONENT PART AND METHOD FOR FORMING AND TESTING ELECTRO-OPTICAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

電気光学表示装置を形成および検査するための構成部品および方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMPONENT OF COMPUTER SYSTEM BY USING VOLTAGE MARGINING例文帳に追加

電圧マージニングを使用してコンピュータシステムのコンポーネントをテストするシステムおよび方法 - 特許庁

To provide an electronic component testing device optimizing throughput and a cost.例文帳に追加

スループットとコストの最適化を図ることができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT HANDLER AND ITS OPERATION METHOD, AND TESTING TRAY AND PUSHER例文帳に追加

電子部品ハンドリング装置およびその運用方法、ならびに試験用トレイおよびプッシャ - 特許庁

This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to the plurality of test sockets Sc of a component test part.例文帳に追加

部品試験装置は部品試験部の複数のテストソケットＳｃに電子部品Ｔを搬送する２つの搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂを有する。 - 特許庁

To obtain a volatile component testing apparatus by which a volatile component is analyzed and evaluated carefully and with high accuracy.例文帳に追加

揮発成分に対するきめ細かな分析、評価を高精度で行うことができる揮発成分試験装置を得る。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OF BONDING STRENGTH OF STRAND CONNECTION PART IN SMALL ELECTRIC COMPONENT例文帳に追加

小型電気部品におけるストランド接続部の接着強度試験装置及び方法 - 特許庁

CONTINUITY TESTING DEVICE AND ITS MECHANISM FOR PRINTED CIRCUIT BOARD WITH SURFACE MOUNTED COMPONENT例文帳に追加

表面実装部品を搭載したプリント回路基板の導通検査装置およびその機構 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING AND EVALUATING MACHINE COMPONENT UNDER SIMULATED IN-SITU THERMAL OPERATING CONDITIONS例文帳に追加

模擬現場熱作動条件下で機械部品を試験及び評価する装置及び方法 - 特許庁

To provide a finger tester for testing a circuit board not formed into a component.例文帳に追加

本発明は、コンポーネント化されていない回路基板を試験するためのフィンガー・テスターに関する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMPONENT IN COMPUTER SYSTEM USING FREQUENCY MARGIN例文帳に追加

周波数マージンを使用してコンピュータシステム内のコンポーネントをテストするシステムおよび方法 - 特許庁

To provide an electronic component handling device for testing an electronic component to be tested having input/output terminals provided on both sides.例文帳に追加

両面に入出力端子が配置された被試験電子部品を試験するための電子部品ハンドリング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scan test system for testing operations of a component module of an integrated circuit and the interconnection between their component modules.例文帳に追加

集積回路の成分モジュールと、それらの成分モジュール間の相互接続と、の動作をテストする走査テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device comprising a pin assign converter capable of converting a logical pin number of a testing unit into a physical pin number.例文帳に追加

試験ユニットの論理ピン番号を物理ピン番号に変換することができるピンアサインコンバータを備えた電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

When the test body 3b is a material for a rolling motion component, a rolling motion component simulated body 3 which is a simulated component for testing is manufactured and included in components, and the rolling motion component simulated body 3b is immersed in the lubricant and a testing device is actuated.例文帳に追加

被試験体３ｂが転動部品用の材料である場合、転動部品を試験用に模した部品である転動部品模擬体３を、前記被試験体３ｂを構成要素に含めて製作し、この転動部品模擬体３ｂを潤滑油に浸漬して動作させる。 - 特許庁

The accessory component is constituted to receive and support the testing material with respect to the towing face.例文帳に追加

当付属部品は、牽引面に対して試験材料を受け止め、支えるように構成されている。 - 特許庁

To provide an electronic component tester, capable of securing high testing accuracy and of increasing the efficiency of testing operations.例文帳に追加

試験作業の効率化を図ることができるとともに、高い試験精度を確保することができる電子部品試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Particularly, at least one head unit includes a sucking head 5 for sucking an electronic component E supplied from the component supplying section 22 and carries this component E to the area on the substrate P, and a testing device 6 for testing the substrate P.例文帳に追加

とくに、ヘッドユニットの少なくとも１つが、部品供給部２２から供給された電子部品Ｅを吸着し、電子部品Ｅを前記基板Ｐ上に搬送する吸着ヘッド５と、基板Ｐの検査を行う検査装置６とを有する。 - 特許庁

On the assembly stand 201, there is provided a connector component for testing to be connected to the connector 7 of the module 1.例文帳に追加

組立台２０１には、モジュール１のコネクタ７と接続される検査用コネクタ部が設けられている。 - 特許庁

To provide a vibration/excitation testing machine capable of removing a harmful vibration component without impairing workability of an actuator.例文帳に追加

アクチュエータの作動性を損なわずに有害振動成分を除去する振動／加振試験機を提供する。 - 特許庁

To heighten test work efficiency, and to heighten versatility, in a testing device of an electronic component.例文帳に追加

電子部品の試験装置に関し、試験作業効率を高め、かつ、汎用性も高めることを目的とする。 - 特許庁

A component (symbol) testing part 7 is provided with an operation confirmation monitoring data creation function and a test executing operation function.例文帳に追加

部品（シンボル）試験部７は、動作確認用監視データ作成機能と試験実施操作機能をもつ。 - 特許庁

To enhance handling capacity for a component testing device by contriving lay-out constitution of a tray mounting part and the like.例文帳に追加

トレイ載置部等のレイアウト構成を工夫することにより、部品試験装置の処理能力を高める。 - 特許庁

To provide a mounting component joining strength testing machine for expressing the joining strength of a mounting component to a mounting substrate only by the external force applied to the joining part of the mounting component.例文帳に追加

実装基板に対する実装部品の接合強度を実装部品の接合部に負荷された外力のみにより表現出来る実装部品接合強度試験機の提供。 - 特許庁

To provide a component testing device capable of improving throughput on a test of an electronic component by shortening a time followed by exchange of the electronic component into a test socket.例文帳に追加

電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently cool an objective component before a test, when testing the constitutional component related to a driving system of a vehicle executed in a stationary position.例文帳に追加

定置状態で行われる車両の駆動系に関連する構成部品の試験に際し、その試験に先立って対象部品の冷却を効率的に行う。 - 特許庁

To provide a probe card and a testing device capable of easily coming into contact with electric terminals of an electric component.例文帳に追加

電気部品の電気的端子に容易に接触することができるプローブカード及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an endurance performance testing apparatus performing both an endurance test and a performance test of a mechanical component, or the like.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行う耐久性能試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a terminal capable of shortening a manufacturing period of an interface device for an electronic component testing apparatus.例文帳に追加

電子部品試験装置のインタフェース装置の製造期間の短縮化を図ることが可能な端子を提供する。 - 特許庁

In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled.例文帳に追加

電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which accurately controls, in particular, a temperature in a test tank into a test temperature and to provide a compact variable fin area radiator for use in the electronic component testing device.例文帳に追加

本発明は電子部品試験装置に関し、特に試験槽内の温度を精度よく試験温度に制御する電子部品試験装置と電子部品試験装置に使用するコンパクトなフィン面積可変型ラジエーターに関するものである。 - 特許庁

To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of achieving self-diagnosis function in a state where a DUT is connected to the testing device, without greatly increasing a substrate surface or component cost.例文帳に追加

基板面積や部品コストを大幅に増大させることなく、試験装置にＤＵＴを接続させたまま自己診断機能を実現することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for testing connectability of bidirectional pads in a component or a chip of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路のコンポーネントまたはチップにおける双方向性パッドの接続性をテストするための技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a percussive penetration testing apparatus which eases an impact thereof at the time of raising a hammer, and prevents component parts from being worn out.例文帳に追加

ハンマを上昇させる際の衝撃を緩和し部品の損耗を防止する打撃貫入試験装置の提供。 - 特許庁

To provide an elution testing method of an oral agent containing (1-hydroyethylidene)bis-phosphonate or its salt as an effective component.例文帳に追加

（１−ヒドロキシエチリデン）ビス−フォスフォネートまたはその塩を有効成分とする経口剤の溶出試験法の提供。 - 特許庁

To provide a substrate mounting apparatus for securely mounting a circuit substrate on a mother board of an electronic component testing apparatus.例文帳に追加

電子部品試験装置のマザーボードに診断用の回路基板を確実に装着する基板装着装置を提供する。 - 特許庁

When a hard component is detected in the water for testing water quality, the ion exchange resin R is regenerated with the regeneration unit 2.例文帳に追加

水質検査用水の硬度成分を検出したときに、再生ユニットを用いてイオン交換樹脂Ｒを再生する。 - 特許庁

The method of detecting edge of electronic component comprises the steps of taking an image of a non-testing component, detecting edge position from the image data of component photograph on the basis of characteristic of the body of the same component, and detecting edge position from the image data of component photograph on the basis of characteristic of the protruded part of the same component.例文帳に追加

非検査部品の画像を撮影し、撮影された部品の画像のデータから、その部品の部品本体に関する特徴に基づいてそのエッジ位置を検出し、撮影された部品の画像のデータから、その部品の張出部に関する特徴に基いてそのエッジ位置を検出する段階とよりなる構成である。 - 特許庁

In order to perform inspection, while the conveyer is moving the component, the probe is mounted on the stage that is made to move synchronously with the component throughout the testing area, and facilitates inspection.例文帳に追加

コンベヤが部品を移動させている間に検査を行うために、プローブは検査領域に亘り部品と同期的に運動させるステージに取り付けられて、検査を促進する。 - 特許庁

To provide a light-emitting component test module capable of testing a light-emitting component mounting a semiconductor light-emitting element in an environment at a temperature that is higher or lower than a normal temperature, without mounting the light-emitting component on a substrate or the like, and to provide a light-emitting component test apparatus.例文帳に追加

半導体発光素子を搭載した発光部品を、基板等に実装することなく、常温より高温または低温の環境下で試験することができる発光部品試験モジュールおよび発光部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a safety evaluation testing method and a testing device for the same, which can capture the total amount of gas that is generated in a power storage device while testing and carry out a component analysis while making unnecessary a high pressure durable and high volume testing container for storing the power storage device and carrying out a safety evaluation test.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイスを収容し、安全性評価試験を行なうために高耐圧かつ高容積な試験容器が不要でありながら、試験時に蓄電デバイスから発生したガスの全量を捕獲し、成分分析が可能な安全性評価試験方法およびその試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁