「component testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To prepare operating-component data that allow to execute the same key-operation testing as that of executed by a skilled worker in a short period of time for each operation unit.例文帳に追加

熟練者と同じキー操作試験を操作単位毎に短時間で行うことを可能にする操作部品データを作成する。 - 特許庁

To provide an electronic component unit capable of performing continuity test, without a continuity testing conductor in contact with a clip piece in a terminal fitting.例文帳に追加

端子金具の挟持片に導通試験用導体を接触させることなく導通試験を行える電気部品ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing whiskers in a tinning film where the testing of whiskers is performed for a short period through, regarding the testing of the growing conditions of whiskers for securing the reliability of a tinned electronic component or the like, an extremely long period in the range from a half year to two years (in the case it is long) has been taken heretofore.例文帳に追加

錫めっきを施した電子部品などの信頼性を確保するためにウイスカの成長状態を検査するには、従来は半年から長い場合は２年間の非常に長い時間がかかっていたが、錫ウイスカを短期間で行う錫めっき皮膜のウイスカ検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a component testing device and a component conveyance method for arranging flexibly an electronic component even onto a function station whose configuration of arrangement or the like is changed according to a test content or the like, by heightening flexibility of conveyance or arrangement of the electronic component by conveyance hands.例文帳に追加

搬送ハンドによる電子部品の搬送、配置にかかる自由度を高めることにより、試験内容等に応じて配列等の形態が変更される機能ステーションに対しても電子部品を柔軟に配置させることのできる部品試験装置及び部品搬送方法を提供する。 - 特許庁

Then each component that is taken out of the tray Tr is subjected to image recognition based on the imaging of the component, recognition camera 34, and the control means of a component-testing apparatus 1 is composed so that the operation of a head 23 and the like are controlled for transferring the component to a fixed position of the table 32 based on the recognition result.例文帳に追加

そして、トレイＴｒから取出した各部品を部品認識カメラ３４の撮像に基づき画像認識し、この認識結果に基づいてテーブル３２の定められた位置に部品を移載すべくヘッド２３等の動作を制御するように部品試験装置１の制御手段を構成した。 - 特許庁

The electronic component mounting apparatus (10) images a reference mark (16) arranged on an electronic component mounting apparatus body for recognizing a component mounting position (31) by a first imaging means (40), and images an electronic component (20) for testing, absorbed by a nozzle (12) by a second imaging means (50).例文帳に追加

本発明にかかる電子部品実装装置（１０）が、部品搭載位置（３１）を認識するため電子部品実装装置本体に配設される基準マーク（１６）を第１撮像手段（４０）により撮像し、ノズル（１２）が吸着したテスト用電子部品（２０）を第２撮像手段（５０）により撮像する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device capable of effectively preventing dew condensation around a socket when a test is performed under conditions below room temperatures and capable of preventing failure of an electronic component for a testing circuit mounted around the socket when a test is performed under high-temperature conditions.例文帳に追加

常温以下の状態での試験に際し、ソケットの付近での結露を有効に防止し得ると共に、高温状態での試験に際し、ソケット付近に装着される試験回路用電子部品の故障を防止することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a direct-current testing device capable of measuring highly accurately at high speed, a current changing rate or a ripple component without great cost increase, and a semiconductor testing device equipped with the device.例文帳に追加

大幅なコスト上昇を招かずに電流変化率やリップル成分を高精度且つ高速に測定することとができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a static electricity applying device which can stably apply output current waveform due to air discharge by small labor, and to provide a static electricity countermeasure component evaluating characteristics thereby, a method of testing the static electricity countermeasure component, and the static electricity countermeasure component evaluating characteristics by the testing method.例文帳に追加

少ない手間で気中放電による出力電流波形を安定して印加することができる静電気印加装置およびこれにより特性が評価された静電気対策部品ならびに静電気対策部品の試験方法およびその試験方法により特性が評価された静電気対策部品を提供することを目的としている。 - 特許庁

To enhance accuracy and reduce the scale of installation of a zero gravity simulation testing device by reducing the effect of a component force in the horizontal direction.例文帳に追加

水平方向からの分力の影響を小さくし、これにより無重力模擬試験の高精度化および設備の小規模化を図る。 - 特許庁

The direct-current voltage containing a ripple component in conformity with a use condition is impressed to the testing direct-current capacitors 1, 2 to be tested.例文帳に追加

これにより供試直流コンデンサ１および２に使用状態に則したリップル分を含む直流電圧を印加して試験することができる。 - 特許庁

The electronic component is measured by the second testing measuring implement, and the electrical characteristic measured by the reference measuring implement is calculated by using the relative correction coefficient.例文帳に追加

電子部品を第２の試験測定治具で測定し、相対補正係数を用いて、基準測定治具で測定した電気特性を算出する。 - 特許庁

To provide an acceptance-testing terminal device, an acceptance test support system, and a program, allowing an easy acceptance test of a component incorporated in a commodity.例文帳に追加

商品に組み込まれた部品を容易に検収することができる検収用端末装置、検収支援システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING SYSTEM USING LINE SENSOR CCD CAMERA FOR CONVEYER INCORPORATED IN TEST HANDLER UNIT FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT SUCH AS IC CHIP例文帳に追加

ＩＣチップ等の電子部品を試験するテストハンドラ装置に組み込まれる搬送装置用のラインセンサーＣＣＤカメラを用いた画像処理システム - 特許庁

To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.例文帳に追加

被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁

The mastication judging kit comprises the testing food containing ascorbic acid and/or an ascorbic acid derivative and/or ethanol as a detecting component and the indicator reacted with the detecting component.例文帳に追加

検出用成分としてアスコルビン酸及び／またはアスコルビン酸誘導体，及び／またはエタノールを含有した試験用食品と、前術の成分に反応する指示薬とからなる咀嚼判定用キットとする。 - 特許庁

To provide a method for testing an electronic component, capable of also detecting a defect easily such as lacking adhesion and the like between layers in a multi-layered electrode.例文帳に追加

多層電極における層間の密着力不足などの不良をも容易に検出することができる電子部品の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing arrangement capable of reducing external noises as much as possible when performing duration test or acceleration test of an electronic equipment, electronic component, etc.例文帳に追加

電子機器、電子部品等の寿命試験又は加速試験を実行するに際し、外部からのノイズを出来る限り減少し得る試験装置を提供すること - 特許庁

This testing agent is prepared by sealing a solution containing a dental plaque dyeing component into a hard or soft capsule made mainly of gelatin, or the like.例文帳に追加

歯垢染色成分を含む溶剤溶液が、ゼラチンなどを主体とするハードカプセル又はソフトカプセル内に封入された歯垢染色用検査薬である。 - 特許庁

To provide an electronic component tray, a tray carrier and a testing apparatus which can be quickly moved in an approximately vertical direction or in an approximately horizontal direction.例文帳に追加

素早く略垂直方向または略水平方向に移動させることが可能な電子部品用トレイ、トレイ搬送装置および試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a more efficient weld metal crack sensitivity evaluation testing method when a component-system welding wire which is difficult to be produced is developed.例文帳に追加

製造が難しい成分系の溶接ワイヤを開発する際において、より効率のよい溶接金属の割れ感受性評価試験方法を提供する。 - 特許庁

This electronic component testing device 10 has a detecting unit 18 for taking out the signal from a terminal 16 of a semi-conductor device 14 mounted on a printed circuit board 12.例文帳に追加

電子部品試験装置１０は、プリント基板１２に実装された半導体装置１４の端子１６から信号を取り出す検出ユニット１８を有する。 - 特許庁

To provide a driver testing system for effectively preventing a driver having taken a component such as alcohol prohibited in driving an automobile from performing the driving task.例文帳に追加

アルコール等の運転時の禁止成分を摂取した運転者による運転職務の遂行を効果的に防止する運転者検査システムを提供する。 - 特許庁

A test method for an electronic component for realizing the optimization of a testing period is composed of selecting earliest measurement day (Dm) by a first test day (D0).例文帳に追加

テスト期間の最適化を実現する電子部品のテスト方法は、最初のテスト日（Ｄ０）から最先の測定日（Ｄｍ）を選択することから成る。 - 特許庁

To provide a socket capable of surely and simply connecting and simply detaching an electronic component with a lead wire to and from the wiring of a testing device or the like.例文帳に追加

リード線を持つ電子部品をテスト装置等の配線に対して簡単かつ確実に接続し、かつ、簡単に取り外せるソケットを提供する。 - 特許庁

To provide an abrasion gage for simulating the abrasion of a magnetic recording component in an interface with a magnetic storage medium, and a testing method using the same.例文帳に追加

磁気記憶媒体とのインターフェースにおける磁気記録コンポーネントの磨耗をシミュレートするための磨耗ゲージ及びそれを使ったテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device, capable of easily and inexpensively supplying plural analog signals to an electrical component, or capable of supplying an analog signal an digital signal to the electrical component by highly accurately synchronizing these signals with each other.例文帳に追加

容易且つ安価に複数のアナログ信号を電気部品に供給する、または、アナログ信号とデジタル信号とを高精度に同期させて電気部品に供給することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a reproducible impact force to a test object, and acquiring an accurate test result, concerning the impact testing device for performing an impact test of the test object or the like in the state where an electronic component is loaded on a substrate.例文帳に追加

電子部品を基板に搭載した状態の被試験物等の衝撃試験を行う衝撃試験装置に関し、被試験物に再現性のある衝撃力を加えることができ、正確な試験結果が得られる衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a vehicle travel virtual testing system capable of dispensing with an actual traveling test course and a large-scaled testing device, capable of modeling each component before structure is determined, and capable of constructing a vehicle model to verify a vehicle and a travel thereof.例文帳に追加

実走行用のテストコース及び大規模な試験装置の必要がなく、構造が確定される前に各部品をモデル化し車両モデルを構築して車両及びその走行を検証し得る車両走行仮想試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a component testing device for improving a throughput on a test of an electronic component by shortening a time required for replacement into a test socket of the electronic component, even when a plurality of test sockets having the same function are arrayed along a moving direction of a conveyance hand.例文帳に追加

同一機能のテストソケットが搬送ハンドの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

ARTICLE RECOGNITION METHOD AND ITS SYSTEM, SURFACE MOUNTING MACHINE EQUIPPED WITH THE SYSTEM, COMPONENT-TESTING ARRANGEMENT, DISPENSER, MOUNTED SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND PRINTED BOARD INSPECTION DEVICE例文帳に追加

物品認識方法及び同装置、並びに同装置を備えた表面実装機、同部品試験装置、同ディスペンサ、同実装基板検査装置及び同印刷基板検査装置 - 特許庁

To provide a fish sauce having a reduced unpleasant odor such as a fishy smell or a fermented odor without deteriorating an aroma or a testing component unique to the fish soy and a method for producing the same.例文帳に追加

魚醤油独特の香気や旨味成分は損なわずに、生臭さや発酵臭などの不快な臭みを低減した魚醤油及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

With an arbitrary electronic component mounted on the testing implement, electric characteristics are measured concerning the non-independent ports, a measured value by the reference implement is calculated by using the second mathematical equation.例文帳に追加

任意の電子部品を試験治具に実装した状態で非独立ポートについて電気特性を測定し、第２の数式を用いて基準治具測定値を算出する。 - 特許庁

To provide an elution testing method that allows measurement of an elution amount of a component having elution property from an inorganic substance such as steel making slag with higher accuracy in shorter time.例文帳に追加

製鋼スラグ等の無機物からの可溶出成分の溶出量をより高精度かつ短時間で測定することが可能な溶出試験方法を提供する。 - 特許庁

By this scanning, a signal component of low frequency originating in the swell of the surface of the magnetic recording medium is separated from the signal emitted from the testing head.例文帳に追加

この走査により、感熱素子を有する検査ヘッドから出力された信号から、磁気記録媒体表面のうねりに起因する低周波の信号成分を分離する。 - 特許庁

To efficiently conduct a test by an inexpensive facility, and to quickly obtain a test result, when testing a light resistance of an optical component for coping with a specified short wavelength light source.例文帳に追加

特定の短波長光源に対応する光学部品の耐光性試験を行う場合に、廉価な設備で効率的な試験を行い、迅速に試験結果を得る。 - 特許庁

To provide a method for heating and cooling test, capable of testing by imparting a thermal conduction phenomenon the same as self-heating to an electronic component mounted on a circuit board.例文帳に追加

回路基板に実装された電子部品に、自己発熱と同様の熱伝導現象を与えて試験できる加熱冷却試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a contact substrate for testing semiconductor device for conducting a test of an electronic component to be tested having fine electrode structure, while holding satisfactory electric contact.例文帳に追加

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体装置試験用コンタクト基板を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive elution testing device used for immersing a solid preparation in a test solution to measure the elution degree of a preparation component and simple in constitution.例文帳に追加

試験液中に固形製剤を浸漬させて製剤成分の溶出程度を測定するために用いられ構成が簡易で廉価な溶出試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a connector in which an insertion force required in the insertion process of an electronic component is reduced, and a pressing force for pushing a contact portion to an electronic component can be secured, and to provide a semiconductor testing device equipped with the connector.例文帳に追加

電子部品の挿入過程において必要とされる挿入力を低減すると同時に、接触部を電子部品に押し付ける力を確保することのできるコネクタ、及びコネクタを備える半導体試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a test system that makes testing automatically only measurement items where a plurality of component parts used for each measurement item uses only component parts normally connected with a controller controlling those operations.例文帳に追加

各測定項目に使用する複数の構成品が、それらの動作を制御する制御器に正常に接続されている構成品のみを使用する測定項目のみを、自動的に試験するようにした試験システムを提供する。 - 特許庁

The pair of tools for testing piping withstand pressure are provided inside a pipe 4 in a connected state with each other with a connecting component 3, and each of the tools is brought into close contact with an internal surface of the pipe to close a section 6 to be tested for the testing of withstand pressure.例文帳に追加

この１対の配管耐圧試験用治具は、連結部材３で互いに連結された状態で配管４の内部に設置され、その状態でそれぞれが配管の内周面に密接することにより試験対象部６を耐圧試験用に閉止する。 - 特許庁

In this card torsion testing device, the card can be mounted or dismounted easily, and the card can be set simply without replacing a component of the testing device even to a card having the different card length such as an extended specification.例文帳に追加

本発明のカードのねじり試験は、カードの取付け取外しを容易にし、エクステンデット規格等のカード長さの異なったカードに対しても試験装置の部品を交換することなく、簡単にカード設定が可能なカードのねじり試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

In this card bending testing device, the card can be mounted or dismounted easily, and the card can be set simply without replacing a component of the testing device even to a card having the different card length such as an extended specification.例文帳に追加

本発明のカードの曲げ試験は、カードの取付け取外しを容易にし、エクステンデット規格等のカード長さの異なったカードに対しても試験装置の部品を交換することなく、簡単にカード設定が可能なカードの曲げ試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

An associated method includes monitoring the microwave energy through the first circuit including at least one radiation sensitive component capable of failing upon exposure to an excessive amount of microwave energy and testing the radiation sensitive component to determine whether the radiation sensitive component has failed.例文帳に追加

関連する方法は、過剰な量のマイクロ波エネルギーに晒されると故障することができる、少なくとも１つの放射線感受性素子を備える第１の回路を介してマイクロ波エネルギーを監視する段階と、放射線感受性素子をテストしその放射線感受性素子が故障したかどうかを決定する段階とを含む。 - 特許庁