| 意味 | 例文 |
failure analysisの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 534件
MOUNTING FAILURE ANALYSIS SYSTEM AND PROCESS ABNORMALITY MONITORING SYSTEM例文帳に追加
実装不良解析システム及び工程異常モニタリングシステム - 特許庁
ELECTROMAGNETIC FAILURE NOISE ANALYSIS METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
電磁障害ノイズ解析方法及び半導体集積回路 - 特許庁
SEMICONDUCTOR FAILURE ANALYSIS SYSTEM AND METHOD, AND RECORDING MEDIUM STORING SEMICONDUCTOR FAILURE ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加
半導体不良解析装置、半導体不良解析方法、及び半導体不良解析プログラムを格納した記録媒体 - 特許庁
Next, data on the failure hierarchy are updated as data on a failure hierarchy of a failure analysis work table (S2).例文帳に追加
続いて、障害階層のデータを障害解析作業テーブルの障害階層のデータとして更新する(S2)。 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR ANALYZING FAILURE OF SEMICONDUCTOR AND PROGRAM FOR FAILURE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体の不良解析方法及びそのシステム並びに半導体の不良解析プログラム - 特許庁
To provide an analysis method and an analysis program of wafer map data which can easily classify failure types into a system failure and a random failure.例文帳に追加
システム不良とランダム不良との不良種別の分類を簡単に行うことができるウエーハマップデータの解析方法および解析プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a mounting failure analysis system which allows reliable analysis of the cause of failure in the mounting process while limiting cost increase.例文帳に追加
コストアップを抑え、かつ、実装工程での不良原因の解析が確実に行うことのできる実装不良解析システムを得る。 - 特許庁
MICRO CONTROL UNIT, AND FAILURE ANALYSIS METHOD FOR MICRO CONTROL UNIT例文帳に追加
マイクロコントロールユニット及びマイクロコントロールユニットの不良解析方法 - 特許庁
FAILURE ANALYSIS METHOD AND ITS DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の不良解析方法および不良解析装置 - 特許庁
To efficiently conduct failure analysis by easily and surely identifying the position of an arbitrary semiconductor chip under failure analysis.例文帳に追加
不良解析中の任意の半導体チップの位置を容易に、かつ確実に確認することにより、効率よく不良解析を行う。 - 特許庁
To provide a data analysis system that is useful for a failure analysis in software development.例文帳に追加
ソフトウェア開発において不具合解析時に用いると有用なデータ解析システムを提供すること。 - 特許庁
To provide an information terminal by which failure analysis and a test are performed when a failure occurs.例文帳に追加
不具合が発生した場合、不具合解析と試験が行える情報端末を提供する。 - 特許庁
To provide a failure analyzing device for detecting any failure, and for performing correlation analysis in a short time.例文帳に追加
不良の検出後、短時間で相関分析が行える不良解析装置を提供する。 - 特許庁
To provide a vehicle failure analysis system, a vehicle failure analysis apparatus and a vehicle failure analysis method capable of providing sufficient information useful for control at a failure occurrence time, without increasing a processing load.例文帳に追加
処理負荷の増加を招くことなく、故障発生時の制御に有用な情報を十分に提供することができる車両故障解析システム、車両故障解析装置及び車両故障解析方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus which is capable of appropriately supporting the analysis of a factor of a failure caused by a program, information processing apparatus, failure analysis supporting method, and failure analysis support program.例文帳に追加
プログラムによる障害の原因解析を適切に支援することのできる画像形成装置、情報処理装置、障害解析支援方法、及び障害解析支援プログラムの提供を目的とする。 - 特許庁
A failure information display part 301 of a monitoring person terminal 300 displays the failure data, and a failure information analysis part 302 analyzes the failure data.例文帳に追加
監視者端末300の障害情報表示部301は、障害データの表示を行い、障害情報解析部302は、障害データの解析を行う。 - 特許庁
To provide a failure analysis apparatus and a failure analysis method for a semiconductor device, allowing the influence of an imaging position shift in a heat generation analysis image of the semiconductor device to be reduced.例文帳に追加
半導体デバイスの発熱解析画像における撮像位置ずれの影響を抑制することが可能な半導体故障解析装置及び方法を提供する。 - 特許庁
In the event of a failure during inspection, information about the failure is automatically sent to the inspection management server 01 and a log analysis part 02 automatically performs failure analysis.例文帳に追加
図1における検査管理サーバ01は障害情報データベース04を有し、データベース情報分析部03にてデータベース上の情報を分析し、検査プログラムの構成を最適化する。 - 特許庁
To shorten the test time (failure analysis time) of a semiconductor memory.例文帳に追加
半導体メモリの試験時間(不良解析時間)を短縮すること。 - 特許庁
COLLABORATIVE WEB-BASED AIRPLANE LEVEL FAILURE EFFECTS ANALYSIS TOOL例文帳に追加
協調的なウェブベースの航空機の水平障害影響分析ツール - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND DATA TRANSFER FAILURE ANALYSIS METHOD例文帳に追加
半導体集積回路装置及びデータ転送障害解析方法 - 特許庁
The failure analysis section 13 has an analysis region setting section for extracting a reaction region caused by failure by comparing luminance distribution in the failure observation image with a prescribed luminance threshold, and setting an analysis region used for the failure analysis of the semiconductor device corresponding to the reaction region.例文帳に追加
不良解析部13は、不良観察画像での輝度分布と、所定の輝度閾値とを比較することによって不良に起因する反応領域を抽出し、反応領域に対応して半導体デバイスの不良解析に用いられる解析領域を設定する解析領域設定部を有する。 - 特許庁
In the case of failure detection, an analysis information collection part (failure time) 1122 extracts a section necessary for the factor analysis of a failure generated from the temporarily stored information for analysis, and collects information for analysis when it is possible to newly collect the information for analysis, and stores it in an analysis information DB (saving) 1115.例文帳に追加
障害検出時に、分析用情報収集部(障害時)1122は、一時蓄積した分析用情報から発生した障害の原因分析に必要な部分を抽出し、また、新規に分析用情報を収集可能であれば分析用情報を収集して、分析用情報DB(退避)1115に格納する。 - 特許庁
Also, storage devices 222 and 232 share information for failure analysis when a failure is caused.例文帳に追加
また、障害発生時にはそれぞれの記憶装置222、232が障害解析のための情報を共有する。 - 特許庁
PACKAGE FOR FAILURE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND FAILURE ANALYTICAL METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING IT例文帳に追加
半導体装置の故障解析用パッケージおよびこれを用いた半導体装置の故障解析方法 - 特許庁
To provide a simple failure analysis support terminal with high security and a failure analysis support information providing device.例文帳に追加
本発明の目的は、簡易にしてセキュリティの高い故障解析支援端末および故障解析支援情報提供装置を提供することにある。 - 特許庁
To acquire detailed information useful for failure analysis of an electric product.例文帳に追加
電気製品の故障の分析に有用な詳細情報を取得する。 - 特許庁
FAILURE MODE EFFECT ANALYSIS SYSTEM AND PROGRAM MEDIUM USED FOR SAME例文帳に追加
故障モード影響解析システム及びこれに用いられるプログラム媒体 - 特許庁
To improve efficiency in failure analysis of a semiconductor device by a secondary electron image.例文帳に追加
2次電子像による半導体装置の不具合解析の効率化。 - 特許庁
To provide a microcontroller that can speed up failure analysis.例文帳に追加
不良解析を迅速に進めることができるマイクロコントローラを実現する。 - 特許庁
The correlation of failure contents and a road state at the time of the failure occurrence is analyzed on the basis of information stored by the failure analysis device.例文帳に追加
故障解析装置が該記憶した情報に基づいて故障内容と該故障発生時の道路状況との相関を解析する。 - 特許庁
To provide a failure analysis data sampling system and a method thereof which determines a condition at the occurrence of a failure to sample most suitable failure analysis data and decides sampling data.例文帳に追加
最適な障害解析データを採取するために障害発生時点の状況を判断し、採取データを決定する障害解析データ採取装置およびその方法を得る。 - 特許庁
To provide a radio base station apparatus with a failure analysis function for reproducing a state having been on the occurrence of a failure immediately and performing failure analysis, and dealing quickly with restoration of the failure by prestoring information necessary for failure restoration.例文帳に追加
障害復旧に必要な情報を記憶させておくことにより、直ちに障害発生時の状態を再現させて障害解析を行い、障害復旧に迅速に対応できる障害解析機能を備えた無線基地局装置を提供する。 - 特許庁
STORAGE MEDIUM FAILURE DETECTION SYSTEM AND VEHICLE OPERATION INFORMATION ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加
記憶媒体故障検出システムおよび車両運行情報解析システム - 特許庁
METHOD FOR PREPARING FMEA (FAILURE MODE EFFECT ANALYSIS) SHEET AND AUTOMATIC PREPARATION APPARATUS OF FMEA SHEET例文帳に追加
FMEAシートの作成方法およびFMEAシート自動作成装置 - 特許庁
A failure analysis result (a failure cause candidate) obtained during failure analysis processing is analyzed to find which failure cause candidates other than the failure cause candidate are related to a device abnormality failure event as grounds for deriving the failure cause candidate, so that the failure cause candidates are classified by each range of effect of being dealt therewith.例文帳に追加
障害解析処理中に得られた障害解析結果(障害原因候補)を、その導出根拠となった機器異常状態の障害イベントに他のどの障害原因候補が関連しているかを解析することによって、その障害原因候補に対応した場合の影響範囲ごとに、障害原因候補を分類する。 - 特許庁
To provide a primitive cell which can improve the efficiency of failure analysis and yield analysis and to provide a semiconductor device.例文帳に追加
不良解析や歩留り解析の効率を向上できるプリミティブセルおよび半導体装置を提供する。 - 特許庁
In the failure analysis, the failure propagation route is followed up by comparing the output with the created memory block internal state output.例文帳に追加
故障解析では、作成されたメモリブロック内部状態出力と比較して故障伝搬経路を追跡する。 - 特許庁
Next, position information of a failure information table is updated as position information of the failure analysis work table (S3).例文帳に追加
続いて、障害情報テーブルの位置情報を障害解析作業テーブルの位置情報として更新する(S3)。 - 特許庁
DIAGNOSIS RULE STRUCTURING METHOD BASED ON FAILURE MODE ANALYSIS, DIAGNOSIS RULE CREATING PROGRAM, AND FAILURE DIAGNOSIS DEVICE例文帳に追加
故障モード解析に基づく診断ルール構築方法及び診断ルール作成プログラム並びに故障診断装置 - 特許庁
To verify, in real time, effectiveness of a failure cause determination rule used in a failure cause analysis system.例文帳に追加
障害原因解析システムで使用する障害原因判定ルールの有効性をリアルタイムに検証可能とする。 - 特許庁
To provide a method for preparing the failure analysis data of a program capable of quickly specifying the possible part of the factor of failure when the failure is generated, and validly using the area of the failure analysis data by preventing the capture miss of data necessary for the analysis of the failure in a large scale software.例文帳に追加
特に大規模なソフトウェアにおいて、障害発生時に障害原因の可能性のある箇所を素早く特定することができ、障害解析に必要なデータの取得漏れをなくして障害解析データの領域を有効に用いることのできるプログラムの障害解析データ作成方法を提供する。 - 特許庁
PROGRAM, DEVICE, AND METHOD FOR FAILURE ANALYSIS, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
障害解析プログラム、障害解析装置、記録媒体及び障害解析方法 - 特許庁
To provide electronic apparatus capable of improving the efficiency of failure analysis.例文帳に追加
不具合解析の効率を向上させることができる電子機器を提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE FAILURE ANALYSIS SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
半導体装置の不良解析システムおよび半導体装置の不良解析方法 - 特許庁
To provide a system and a method for performance analysis and failure restoration.例文帳に追加
性能分析および障害修復のためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
To provide an effective etching method for performing the failure analysis of LSI.例文帳に追加
LSIの不良解析を行う上で、有効なエッチング方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD AND SYSTEM FOR FAILURE ANALYSIS例文帳に追加
半導体装置の製造方法、不良解析方法および不良解析システム - 特許庁
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