「frequency interferometer」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

An interferometer system measures the position of the substrate table, and generates a disturbance frequency by optical feedback.例文帳に追加

干渉計システムは、基板テーブルの位置を測定し、且つ、オプティカル・フィードバックによって妨害周波数を生成する。 - 特許庁

The multi-rate receiver includes a single demodulator 80 such as a photo interferometer used at frequency division data rates.例文帳に追加

マルチレート受信機は複数の分周データレートに使用される、光干渉計のような単一の復調器８０を含む。 - 特許庁

In the low noise optical frequency conversion device, a Mach-Zehnder interferometer type SSB modulator wherein first and second Mach-Zehnder interferometer type phase modulators are provided in respective optical paths is used.例文帳に追加

この低雑音光周波数変換装置には、第１と第２のマッハ・ツェンダ干渉計型位相変調器とをそれぞれの光路に設けた、マッハ・ツェンダ干渉計型ＳＳＢ変調器を用いる。 - 特許庁

To simplify the adjustment of a center frequency of a delay Mach-Zehnder interferometer used for optical phase modulation adopting the DQPSK system.例文帳に追加

ＤＱＰＳＫ方式の光位相変調に用いる遅延マッハツェンダ干渉計の中心周波数の調整を簡略化する。 - 特許庁

To make it possible to detect fine waviness component having high spatial frequency with high precision by means of interferometer for face shape measurement.例文帳に追加

本発明は、面形状測定用の干渉計で空間周波数の高い微細なうねり成分を高精度に検出する。 - 特許庁

A frequency-shifting interferometer 10 measures an optical profile of a specimen 12 with a continuous turning type light source 16.例文帳に追加

連続同調型光源１６により被検体１２の光学プロファイルを測定する周波数偏移干渉計１０が提供される。 - 特許庁

In this system or this method for measuring group delay of an optical device under test(DUT), a test interferometer and a linked optical frequency counter are utilized in order to compensate a non-uniform frequency change generated in an input light signal used in the interferometer for group delay measurement.例文帳に追加

光学被測定物（ＤＵＴ）の群遅延を測定するためのシステムまたは方法において、群遅延測定用の干渉計で用いられる入力光信号に生じる一様でない周波数変化を補償するために、テスト干渉計と連携した光周波数カウンタを利用する。 - 特許庁

To provide a system for spectroscopic analysis so as to preclude a stand-by time for obtaining an interferogram of an average frequency of a CPU and a period during which an interferometer does not obtain the interferogram from being generated during a prescribed frequency of scanning executed by the interferometer, so as to output spectroscopic analysis results continuously in plural channels.例文帳に追加

干渉計が行う所定の回数の走査中に、ＣＰＵの平均回数分のインターフェログラム取得時の待機時間と干渉計がインターフェログラムを取得していない期間が発生せず、複数チャンネルで連続して分光分析結果を出力する分光分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a demodulator of an optical continuous phase frequency shift keying (CPFSK) signal without using a delay interferometer.例文帳に追加

本発明は，遅延干渉計を用いない光位相連続周波数変調（ＣＰＦＳＫ）信号の復調装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a frequency-shifting interferometer capable of stably measuring an optical profile of a specimen at high speed, and to provide a method thereof.例文帳に追加

安定且つ高速に被検体の光学プロファイルを測定することができる周波数偏移干渉計及びその方法を提供する。 - 特許庁

The laser beam projected through modulation of intensity and frequency is further changed into a heterodyne interference beam 34 by using a heterodyne interferometer.例文帳に追加

また、強度および周波数が変調されて出射されたレーザ光を、さらに、ヘテロダイン干渉計を用いて、ヘテロダイン干渉光３４に変える。 - 特許庁

A filter 21, whose center frequency is matched with the conterminous wavelength receives an output signal from the interferometer structure 10 via a coupling means 14.例文帳に追加

連続波波長に中心合わせされたフィルタ２１は、結合手段１４を介して、干渉計構造体１０の出力信号を受け取る。 - 特許庁

The interferometer comprises light sources (110, 220) by which a first beam equipped with a first polarization and a first frequency and a second beam equipped with a second polarization and a second frequency are output.例文帳に追加

本発明の干渉計は、第１の偏光と第１の周波数を備えた第１のビームと第２の偏光と第２の周波数を備えた第２のビームとを出力する光源（１１０、２２０）を有する。 - 特許庁

An optical filter 14 is composed of an asymmetric Mach-Zehnder interferometer and converts a frequency modulation component of the modulated optical signal into an amplitude modulation signal.例文帳に追加

光フィルタ１４は、非対称マッハツェンダ干渉計から成り、変調光信号の周波数変調成分を振幅変調信号に変換する。 - 特許庁

To precisely transmit a beam without mixing a polarization with a frequency component while a light-source laser or the like is isolated from the temperature environment of an interferometer.例文帳に追加

干渉計の温度環境から光源レーザ等を離隔しつつも、偏光／周波数成分を混合することの無い精密なビーム伝達を可能にする。 - 特許庁

High frequency noise and noise with a characteristic frequency are both removed from the value measured by the interferometer 4 through the use of a notch filter 10 and a low pass filter 5 each consisting of numeric filters and then input to a compensation output value calculator 6.例文帳に追加

干渉計４の測定値は、数値フィルタからなるノッチフィルタ１０とローパスフィルタ５を通って、高周波ノイズと固有振動数を有するノイズを除去され、補正出力値計算装置６に入力される。 - 特許庁

To provide a high-output frequency stabilization He-Ne laser for a optical heterodyne interferometer light source by taking three vertical modes out of five vertical modes using a polarizer.例文帳に追加

５本の縦モードから偏光子を用いて３本の縦モードをとり出し、光ヘテロダイン干渉計光源用の高出力周波数安定化Ｈｅ−Ｎｅレーザーを提供する。 - 特許庁

In the heterodyne laser Doppler interferometer with the optical excitation function for the sample, the sample is irradiated with modulated light rays using the output signal of the heterodyne laser Doppler interferometer, the vibration of the sample is excited by the irradiated light rays, and the frequency characteristics or the mechanical characteristics of the sample are measured.例文帳に追加

試料の光励振機能を有するヘテロダインレーザドップラー干渉計において、このヘテロダインレーザドップラー干渉計の出力信号を用いて前記試料に変調された光を照射し、この照射光により試料の振動を励起し、前記試料の周波数特性や機械的特性を計測する。 - 特許庁

A conversion circuit 90 transmits a signal acquired by applying prescribed conversion to the voltage to the piezo- element 42, thereby always allows the frequency at a resonance curve operating point of the interferometer 40 to coincide with the oscillation frequency of the second laser beam L_2.例文帳に追加

変換回路９０は、かかる電圧に所定の変換を施して得られた信号をピエゾ素子４２に送出することにより、干渉計４０の共振曲線動作点における周波数を第二レーザビームＬ２の発振周波数に常時一致させる。 - 特許庁

An interference signal from a laser interferometer as a displacement sensor of a probe is output as a two-phase sinusoidal wave consisting of a high-frequency component caused by the probe vibration and a low-frequency component caused by irregularities of the surface to be measured by a probe displacement signal output circuit 42.例文帳に追加

探針の変位センサであるレーザ干渉計からの干渉信号を探針変位信号出力回路４２によって探針振動による高周波成分と被測定面の凹凸による低周波成分とからなる二相正弦波を出力させる。 - 特許庁

To provide a control method and a control circuit for electric power to be supplied to a heater in an optical interferometer which controls a transmitted light frequency by refractive index variation of an optical waveguide due to heat.例文帳に追加

熱による光導波路の屈折率変化により透過光周波数を制御する光干渉計において、ヒータに供給する電力の制御方法および制御回路を提供する。 - 特許庁

A cutoff frequency of a filter part for removing a nonlinear error component included in a measurement signal of the laser interferometer is set to an inverse number (1/Ta) of a cycle Ta of digital control of acceleration of the stage.例文帳に追加

レーザ干渉計の測定信号に含まれる非線形誤差成分を除去するフィルタ部のカットオフ周波数を、ステージの加速度のデジタル制御の周期Ｔａの逆数（１／Ｔａ）に設定する。 - 特許庁

At an amplitude distribution detecting part 50, vibration amplitude is derived by dividing the vibration speed derived with the laser interferometer 48 by the resonance frequency, and the distribution of the vibration amplitude on the sample surface is derived.例文帳に追加

振幅分布検出部５０は、レーザ干渉計４８が求めた振動速度を共振周波数で割って振動振幅を求めるとともに、試料表面における振動振幅の分布を求める。 - 特許庁

A computer 70 determines transmission time for the lateral waves based on waveform data representing frequency change of the second laser beam detected by an interferometer 50, and determines sound speed of the lateral wave based on the transmission time.例文帳に追加

コンピュータ７０は、干渉計５０で検出された第二レーザビームの周波数変化を表す波形データに基づき当該横波の伝播時間を求め、その伝播時間に基づき当該横波の音速を算出する。 - 特許庁

A phase modulator 5 is arranged on the reference surface luminous flux side of an interferometer part to shift the phase of the reference face luminous flux side by a maximum π with a fixed frequency by the modulation drive signal from a phase modulator controller 6.例文帳に追加

干渉計部の参照面光束側に位相変調子５を配設し、位相変調子制御器６からの変調駆動信号によって参照面光束側の位相を一定の周波数で最大πずらす。 - 特許庁

A filter 57 inputs the measured value of a reticle interferometer 16, a weighted integration value is outputted on the difference of an input to the filter 57 at a certain sampling point and an input to the filter 57 at one sampling point before the sampling point, low frequency noise components are eliminated in the measured value in the reticle interferometer 16.例文帳に追加

フィルタ５７は、レチクル干渉計１６の計測値を入力し、あるサンプリング時点でのフィルタ５７への入力と、そのサンプリング時点の１サンプリング前のサンプリング時点におけるフィルタ５７への入力との差分の重み付け積算値を出力し、レチクル干渉計１６の計測値に含まれる低周波なノイズ成分を除去する。 - 特許庁

In this control system; a filter 53 inputs the measured value of a wafer interferometer 18, a weighted integration value is outputted on the difference of an input to the filter 53 at a certain sampling point and an input to the filter 53 at one sampling point before the sampling point, and low frequency noise components are eliminated in the measured value in the wafer interferometer 18.例文帳に追加

フィルタ５３は、ウエハ干渉計１８の計測値を入力し、あるサンプリング時点でのフィルタ５３への入力と、そのサンプリング時点の１サンプリング前のサンプリング時点におけるフィルタ５３への入力との差分の重み付け積算値を出力し、ウエハ干渉計１８の計測値に含まれる低周波なノイズ成分を除去する。 - 特許庁

The interferometer determines an intensity ratio between a fundamental wave component of the modulated angle frequency ω_m and a double harmonic component in an interference signal, and calculates a line average electron density which is a physical quantity of the plasma 30 based on the intensity ratio and a phase variation.例文帳に追加

干渉計は、干渉信号における変調角周波数ω_ｍの基本波成分と２倍高調波成分の強度比を求め、該強度比と、位相変化量に基づいて、プラズマ３０の物理量である線平均電子密度を算出する。 - 特許庁

A Fabry-Perot interferometer 40 has two reflecting mirrors 41a, 41b constituting a resonator, and detects the change of a frequency of a second laser beam L_2 generated from a cause of an ultrasonic echo by utilizing a resonance characteristic of the resonator.例文帳に追加

ファブリ・ペロー干渉計４０は、共振器を構成する二つの反射ミラー４１ａ，４１ｂを有し、その共振器の共振特性を利用して、超音波のエコーに起因して生じる第二レーザビームＬ２の周波数の変化を検出する。 - 特許庁

To enable spatial positioning with high sensitivity by detecting weak reflected light from a body to be measured with high sensitivity by providing an interferometer which gives a uniform frequency shift to white light and scans interference fringes so as to actualize heterodyne interference and an interferometer which takes actual measurement separately in an interference method for a light wave by white light with wide spectrum width as a light source.例文帳に追加

光源としてスペクトル幅の広い白色光による光波の干渉法において、ヘテロダイン干渉を実現するために白色光に一様な周波数シフトを与えたり干渉縞を走査する干渉計と、実際に計測する計測用干渉計とを別々に設けることによって、被測定物体からの弱い反射光を高感度で検出し、空間的位置決めなどを高感度で可能とする。 - 特許庁

In this position detecting device for detecting the position of a detection target optically by using an interferometer, the phase of an interference fringe is detected by a phase detector, and a modulation signal for modulating an angular frequency ωs according to a moving quantity of the detection target is obtained.例文帳に追加

干渉計を用いて光学的に検出対象の位置を検出する位置検出装置において、位相検出器で干渉縞の位相を検出し、角周波数ωｓが検出対象の移動量に応じて変調される変調信号を得る。 - 特許庁

To provide a waveguide type optical delay interferometer configured to stably and uniformly perform the temperature control of an optical waveguide substrate, and also minimize deterioration in polarization-dependent frequency, even when mounted on a sub-mount by adhesion or even when driving a Peltier module.例文帳に追加

光導波路基板を安定かつ均一に温度調節すると共に、サブマウントに接着搭載したり、ペルチェモジュールを駆動した際にも、偏波依存周波数劣化量を最小限に留めることが可能な導波路型光遅延干渉計を提供する。 - 特許庁

To provide an optical frequency domain reflectometry capable of inhibiting phase fluctuations of a lightwave caused by a disturbance to a delay fiber of a reference interferometer to allow a high-resolution measurement of even an object having a long measurement distance.例文帳に追加

本発明の課題は、参照干渉計の遅延ファイバが受ける外乱による光波の位相揺らぎを抑庄して、測定距離の長い対象であっても高分解能な測定を行うことが可能な光周波数領域反射測定方法を提供することにある。 - 特許庁

A cutoff frequency of a filter part for removing a nonlinear error component included in a measurement signal of the laser interferometer is set to an inverse number (1/Ts) of a cycle Ts in which servo control for bringing the stage position after control by a stage movement control part close to a target position is executed.例文帳に追加

レーザ干渉計の測定信号に含まれる非線形誤差成分を除去するフィルタ部のカットオフ周波数を、ステージ移動制御部による制御後のステージ位置を目標位置に近づけるサーボ制御が行われる周期Ｔｓの逆数（１／Ｔｓ）に設定する。 - 特許庁

Next, an object to be measured is disposed at the measurement position, and the number of data sets required for an FFT are calculated from measurement data at respective timings in this period by using a linear approximation, and a Fourier transform is applied to an optical beat signal which is obtained by an optical interferometer, at even frequency intervals, thereby obtaining the tomographic image.例文帳に追加

そして測定位置に測定対象を配置し、測定データからこの時間のタイミング毎に直線近似によってＦＦＴに必要な数のデータを算出して、光干渉計より得られる光ビート信号を等周波数間隔でフーリエ変換することにより、断層画像を得る。 - 特許庁

The wavelength scanning interferometer comprises a processing unit for calculating an absolute distance, in which an error component derived from movement of the object is reduced, on the basis of first time and subsequent second time at which the light flux emitted from the light source has the same wavelength, and a first frequency and a second frequency respectively corresponding to frequencies of the signal of the interference light at the first time and the second time.例文帳に追加

波長走査干渉計は、前記光源から射出される光束の波長が互いに等しい時刻である第１時刻およびその後の第２時刻と、前記第１時刻、前記第２時刻のそれぞれにおける前記干渉光の信号の周波数である第１周波数、第２周波数とに基づいて、前記被検体の移動による誤差成分が低減された絶対距離を算出する処理部を備える。 - 特許庁

To provide a dispersion interferometer usable for actual time control, and capable of removing an influence of a high-frequency noise, reducing a measurement error caused by signal intensity change, and heightening accuracy, by extracting a phase from a signal intensity ratio of a fundamental wave and a double harmonic which are Fourier components of a modulated signal.例文帳に追加

変調信号のフーリエ成分である基本波、２倍高調波の信号強度比から位相抽出を行うことにより、高周波ノイズの影響を無くすとともに信号強度変化による測定誤差を低減し高精度化することができ、実時間制御での利用が可能なディスパーション干渉計を提供する。 - 特許庁

To correct the deviation of the optical path length easily and in real time between a waveguide through which measuring light and reflection light pass and a waveguide through which reference light passes caused by the variation of ambient temperature of an interferometer in an optical tomographic imaging apparatus to obtain a tomographic image by performing the frequency analysis of the interference light of the measuring light and reference light.例文帳に追加

測定光と参照光の干渉光の周波数解析を行うことにより断層画像を取得する光断層画像化装置において、干渉計の周辺温度の変化に起因して生じる、測定光と反射光が通る導波路および参照光が通る導波路の間の光路長のずれを、リアルタイムで容易に補正可能とする。 - 特許庁

The surface shape of the information recording medium is measured in a prescribed area with an optical interferometer or an AFM, to conduct line analysis in the direction along the circumference, the product of a PSD, corresponding to a prescribed wavelength ν and frequency f being the reciprocal of the prescribed wavelength ν, that is, PSD×f, is computed, and the maximum value of PSD×f is at most a prescribed value.例文帳に追加

情報記録媒体の表面形状を所定領域において、光干渉計またはＡＦＭで測定し、円周方向に沿った方向でライン解析し、所定の波長νに対応するＰＳＤと当該所定の波長νの逆数である周波数ｆとの積ＰＳＤ×ｆを算出し、これの最大値を所定の値以下とする。 - 特許庁

The laser interferometer 1 includes: a laser light source 2 for emitting laser light with its central wavelength stabilized by modulating the laser light by a modulation signal having a predetermined frequency; a reference mirror 4; a measurement mirror 5; and a displacement detector 6 for detecting the displacement of the measurement mirror 5 based on interference light of the light reflected by the reference mirror 4 and the measurement mirror 5.例文帳に追加

レーザ干渉計１は、所定の周波数を有する変調信号にてレーザ光を変調することでレーザ光の中心波長を安定化して射出するレーザ光源２と、参照鏡４と、測定鏡５と、参照鏡４、及び測定鏡５にて反射される光の干渉光に基づいて、測定鏡５の変位を検出する変位検出装置６とを備える。 - 特許庁

The interferometer interferes light of carrier frequencies f0 and f0+Δf and interferes light of carrier frequencies fref and fref+Δf; and a phase comparator performs phase comparison on a frequency component of Δf that the two input signals have, and outputs a signal corresponding to the phase difference.例文帳に追加

２光束の干渉計の一方には参照光を入射し、他方には測定対象となるレーザ光を入射し、これらの光は相互干渉が実質的に無視できる程度に離れた波長に設定され、波長シフタにより測定対象のレーザ光（キャリア周波数ｆ０）と参照光（キャリア周波数ｆｒｅｆ）の両者のキャリア周波数をΔｆだけ変化させ、干渉計は、キャリア周波数ｆ０およびｆ０＋Δｆの光を干渉させると共に、キャリア周波数ｆｒｅｆおよびｆｒｅｆ＋Δｆの光を干渉させ、位相比較器は、２つの入力信号の持つΔｆの周波数成分について位相比較を行い、位相差に応じた信号を出力する。 - 特許庁