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gray defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 34件
METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN GRAY TONE MASK, METHOD FOR MANUFACTURING GRAY TONE MASK AND GRAY TONE MASK, AND METHOD FOR TRANSFERRING PATTERN例文帳に追加
グレートーンマスクの欠陥修正方法、グレートーンマスクの製造方法及びグレートーンマスク、並びにパターン転写方法 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN GRAY TONE MASK, METHOD FOR MANUFACTURING GRAY TONE MASK, GRAY TONE MASK, AND METHOD FOR TRANSFERRING PATTERN例文帳に追加
グレートーンマスクの欠陥修正方法、グレートーンマスクの製造方法及びグレートーンマスク、並びにパターン転写方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF GRAY TONE MASK, AND DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF PHOTOMASK例文帳に追加
グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにフォトマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE FOR GRAY TONE MASK, DEFECT DETECTION METHOD FOR PHOTOMASK, METHOD FOR MANUFACTURING GRAY TONE MASK, AND PATTERN TRANSFER METHOD例文帳に追加
グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、フォトマスクの欠陥検査方法、グレートーンマスクの製造方法、並びにパターン転写方法 - 特許庁
To automatically inspect a defect of a pattern 5 having some kinds of gray areas.例文帳に追加
複数種類の濃淡域を有したパターン5の欠陥を自動的に検査する。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF GRAY TONE MASK AND THOSE FOR INSPECTING DEFECT OF PHOTO MASK例文帳に追加
グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにフォトマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
To provide a method for correcting a defect in a gray tone mask, by which the defect occurring in a light semitransmitting part can be suitably corrected.例文帳に追加
半透光部に発生した欠陥を好適に修正できるグレートーンマスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image processor suppressing occurrence of gray level defect in an image.例文帳に追加
画像内の階調段差の発生を抑制するようにした画像処理装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of making an organic light emitting diode display represent many kinds of gray level while solving defects of a known technology that is able to represent many kinds of gray level on a display and has a defect in contrast between a gray level and a gray level.例文帳に追加
周知の技術の、ディスプレイに多種類のグレイレベルを現出させることができず、またグレイレベルとグレイレベルの間のコントラストの不良の欠点を解決する、有機発光ダイオードディスプレイに多種類のグレイレベルを表現させる方法の提供。 - 特許庁
A defect pixel on the image to be inspected is specified by comparing the gray level value of the corresponding pixel with the mask.例文帳に追加
被検画像上の欠陥画素を、互いに対応する画素グレーレベル値と上記マスクとの比較により特定する。 - 特許庁
To provide an inspection method of a gray tone mask by which performance evaluation and defect inspection of a gray tone mask can be preferably carried out, to provide a method for manufacturing a gray tone mask for manufacturing a liquid crystal device by using the inspection method of a gray tone mask, and to provide a pattern transfer method.例文帳に追加
グレートーンマスクの性能評価及び欠陥検査を良好に行うことができるグレートーンマスクの検査方法を提供し、また、このグレートーンマスクの検査方法を用いた液晶装置製造用グレートーンマスクの製造方法及びパターン転写方法を提供する。 - 特許庁
Defect inspection is conducted for a liquid crystal panel 11 performing a gray scale display by controlling fluctuation of transmitted light quantity.例文帳に追加
光透過量の増減を制御することにより階調表示を行う液晶パネル11の欠陥検査を行う。 - 特許庁
To provide a defect correction method of photomasks that efficiently corrects even huge black defect, and can suitably correct, in particular, a black defect occurring a transflective part of a gray-tone mask without damaging a transflective film in the defect part.例文帳に追加
巨大黒欠陥であっても効率的に修正することができ、特にグレートーンマスクの半透光部に発生した黒欠陥を欠陥部分の半透光膜にダメージを与えることなく好適に修正できるフォトマスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁
The image processing section 104 subtracts the average gray scale value for each pixel column from a gray scale value of each pixel in the image data, applies threshold processing to the difference obtained, and identifies the defect region.例文帳に追加
画像処理部104は、上記画像データにおける各画素の濃淡値から、画素列毎の平均濃淡値を減算し、得られた差分値に対して閾値処理を行って欠陥領域を特定する。 - 特許庁
This defect inspection device 1 is equipped with a gray level difference detecting part 25 for detecting a gray level difference between corresponding pixels, relative to pixels whose both gray level values of the corresponding pixels are smaller than a prescribed threshold, among each pixel included in the inspection image and each pixel of the reference image, respectively corresponding to the pixel.例文帳に追加
欠陥検査装置1は、検査画像に含まれる各画素とこれら画素にそれぞれ対応する参照画像の各画素のうち、対応する画素の両方のグレイレベル値が所定の閾値より小さいものについて、対応する画素間のグレイレベル差を検出するグレイレベル差検出部25を備える。 - 特許庁
Inspection results detected under the plurality of defect detecting conditions are found preliminarily by changing a parameter of the defect detecting condition for detecting the defect based on a Gray level difference between corresponding partial images in the two inspection images, and the optimum inspection result is selected out of the plurality of inspection results.例文帳に追加
2つの検査画像の対応する部分画像のグレイレベル差から欠陥を検出するための欠陥検出条件のパラメータを変えて、複数の欠陥検出条件で検出した検出結果を求めておき、これら複数の検査結果のうちから選んで最適な検出結果を得る。 - 特許庁
This defect inspection method of a gray tone part in a gray tone mask is characterized by including a process (a drawing 1 (3)) of applying gradating processing for flattening the signal when there is a periodic change as indicated in a drawing 1 (2) in the transmissivity signal obtained by scanning a gray tone part as indicated in a drawing 1 (1).例文帳に追加
グレートーンマスクにおけるグレートーン部の欠陥検査方法であって、図1(1)に示すようなグレートーン部を走査して得られる透過率信号に、図1(2)に示すような周期的な変動がある場合に、その信号を平坦化するためのぼかし処理を施す(図1(3))工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁
To reduce the influence by the noise components contained in an inspection image, when detecting a gray level difference or determining a detection threshold, in defect inspection for detecting the difference between each pixel, by comparing the gray level difference between each pixels which should be mutually identical, with a prescribed detection threshold.例文帳に追加
互いに同一であるべき画素同士のグレイレベル差を所定の検出閾値と比べて画素同士の違いを検出する欠陥検査において、グレイレベル差を検出し又は検出閾値を決定する際に、検査画像に含まれるノイズ成分による影響を低減する。 - 特許庁
To enhance defect detection sensitivity at a pattern edge portion by improving the method of determining a correction amount, as to correction of gray level difference at the pattern edge portion performed in an image defect inspection method used for a visual inspection device for a semiconductor circuit.例文帳に追加
半導体回路の外観検査装置に使用される画像欠陥検査方法で行う、パターンエッジ部分におけるグレイレベル差の補正において、補正量の決定方法を改善して、パターンエッジ部分における欠陥検出感度を向上する。 - 特許庁
The color conversion matrix generating device can suitably adjust a color conversion matrix causing a defect such as change in hue and deterioration in gray scale.例文帳に追加
上記の色変換行列作成装置によれば、色相が変わったり、階調性が悪くなったりするなどの不具合が生じるような色変換行列を、適切に調整することが可能となる。 - 特許庁
A light defect 42 is determined as a location where the brightness of the image pattern exceeds the brightness of the upper pattern image by comparing the brightness at each location in each gray area of the image pattern picked up by the image pickup apparatus with the brightness at each location in each gray area of the upper pattern image.例文帳に追加
そして、画像読取装置で読取った画像パターンの各濃淡域における各位置の輝度と上限パターン画像の各濃淡域における各位置の輝度とを比較して、画像パターンの輝度が上限パターン画像の輝度を超えた位置を明欠陥42と判定する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display device capable of preventing a defect in image quality under a super-pixel gray pattern by making respective green pixel cells receive data under the same charge conditions, and a method of driving the same.例文帳に追加
各緑色画素セルが同一の充電条件下でデータを受けることで、スーパーピクセルグレーパターン下での画質不良を防止できる液晶表示装置及びその駆動方法を提供する。 - 特許庁
To detect a defect in each display region with high accuracy, in the case that an inspection pattern simultaneously having at least two kinds or more display regions with mutually different gray scale levels exists on a transmissive display panel.例文帳に追加
透過型表示パネルに、少なくとも2種類以上の異なる階調の表示領域を同時に有する検査パターンを有する場合において、表示領域毎の欠陥を高精度に検出する。 - 特許庁
To construct an active matrix driven liquid crystal element, capable of gray scale displaying by using fast responsiveness of a liquid crystal exhibiting a chiral smectic phase and improving contrast, by preventing alignments defect due to difference in level of wiring.例文帳に追加
カイラルスメクチック相を示す液晶の高速応答性を利用し、配線の段差に起因する配向欠陥を抑制してコントラストを向上し、階調表示が可能なアクティブマトリクス駆動型の液晶素子を構成する。 - 特許庁
To provide an aluminum alloy rolled sheet stably exhibiting gray even in the case of a thin anodically oxidized film of about 10 μm, that the defect of stripes is hard to occur, excellent in bending workability and having strength equal to or above that of the conventional material.例文帳に追加
10μm程度の薄い陽極酸化皮膜でも安定に灰色を呈し、しかも筋目不良が生じにくく、曲げ加工性が優れ従来材と同等以上の強度を有するアルミニウム合金圧延板を提供する。 - 特許庁
For example, after a correction film 8 is formed in the region including a white defect, the correction film 8 is partially removed according to the form and/or arrangement which produces the gray tone effect equivalent to the normal pattern to form a correction pattern 3a', 3b' having mutually different widths and position from the normal pattern 3a, 3b.例文帳に追加
例えば、白欠陥を含む領域に修正膜8を形成した後、正常パターンと同等のグレートーン効果を奏する形状及び/又は配列にて前記修正膜8を部分的に除去して、正常パターン3a、3bとは幅や位置が異なる修正パターン3a’、3b’を形成する。 - 特許庁
This image defect inspection device 10 is equipped with an image alignment part 22 for detecting a sub-pixel offset amount between two images which are objects under inspection, and a correction amount determination part 25 for determining a correction amount for a gray level difference detected by a difference detection part 26 at pattern edge parts of the two images based on the detected offset amount.例文帳に追加
画像欠陥検査装置10は、検査対象たる2つの画像のサブピクセルずれ量を検出する画像アライメント部22と、検出したサブピクセルずれ量に基づいて、差分検出部26により検出されるグレイレベル差の、前記の2つの画像のパターンエッジ部における補正量を決定する補正量決定部25とを備えることとする。 - 特許庁
To provide an image processing and inspecting method and an image processing and inspecting device capable of extracting the whole shape of a defect quickly and precisely even if a defective image includes many gray-white- flecked noises caused by the surface characteristic of a rubber material and is intermittent, e.g. a defective image existing on the surface of the rubber material.例文帳に追加
たとえば、ゴム材料の表面に存在する欠陥の画像のように、画像中にゴム材料の表面特性に起因したゴマ塩ノイズが多く含まれ、欠陥画像が途切れがちな画像であっても、欠陥の全体的な形状を迅速かつ精度良く抽出することができる画像処理検査方法および画像処理検査装置を提供する。 - 特許庁
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