「optical microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscope objective lens in which eccentricity of an optical axis, caused by a spring cushioning function, is prevented.例文帳に追加

本発明では、スプリング緩衝機能による光軸偏心を防止した顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

Imaging performance (astigmatism or focus) is compared by observing the light and dark patterns using an optical microscope.例文帳に追加

この明暗のパターンを光学顕微鏡で観察することにより結像性能（非点収差やフォーカス）を比較する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING MAGNIFICATION OF SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

走査型光学顕微鏡の倍率調整方法及びその装置、並びにコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

By this constitution, the specific region of the sample observed by the optical microscope can be rapidly observed.例文帳に追加

これにより、光学顕微鏡により観察した試料の特定部位を迅速に観察することが可能となる。 - 特許庁

To provide an optical microscope and a spectrum measurement method for measuring a spectrum in a short time.例文帳に追加

短時間にスペクトル測定を行うことができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供すること。 - 特許庁

OPTICAL ASSEMBLY MD DEVICE FOR COUPLING LIGHT OF AT LEAST ONE WAVELENGTH TO CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

光学組立物および共焦点走査型顕微鏡に少なくとも１つの波長の光を結合するための装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MULTIBAND UV LIGHTING OF WAFER FOR OPTICAL MICROSCOPE WAFER INSPECTION AND MEASUREMENT SYSTEM例文帳に追加

光学顕微鏡ウエハインスペクション及び計測システムのためのウエハの多重バンドＵＶ光照明方法及びシステム - 特許庁

To provide an electron beam microanalyzer having a means for observing the surface of a sample in place of an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡に代わる試料表面の観察手段を有した電子線マイクロアナライザを提供する。 - 特許庁

OPTICAL MEASURING DEVICE USING PHOTOELECTRON MULTIPLIER FOR PHOTO ACCEPTANCE UNIT, CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

受光素子に光電子増倍管を用いた光学測定装置、共焦点顕微鏡システム及びコンピュータプログラム - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope capable of detecting a near-field signal with a superior S/N ratio.例文帳に追加

近接場信号を良好なＳ／Ｎで検出できる走査型近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT REPLACEMENT DEVICE FOR MICROSCOPE, METHOD OF CONTROLLING THE SAME, CONTROL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

顕微鏡の光学素子交換装置、光学素子交換装置の制御方法、制御プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁

To make it possible to irradiate also a minute defect with a light beam with accuracy while observing a photo mask by using an optical microscope.例文帳に追加

フォトマスクを光学顕微鏡を用いて観察しつつ、微小な欠陥にも精度良くビームを照射する。 - 特許庁

After the illuminating device is combined with the microscope, that is after it is sold, the XY adjustment of the optical fiber 1 is performed and the interval in the optical axis direction of the optical fiber 1 and an image forming lens 11 is adjusted.例文帳に追加

その後、顕微鏡と組み合わせてから、つまり、販売後、光ファイバー１のＸＹ調整、及び、光ファイバー１と結像レンズ１１との光軸方向の間隔調整を行う。 - 特許庁

To provide an optical fiber end face inspection device and its method capable of making the accuracy of inspection higher than before when the condition of an end face of an optical fiber is inspected by using an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡を用いて光ファイバ端面の状態を検査するとき、従来に比べてその検査精度を向上可能な光ファイバ端面検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In this case, the microscope, which has a focus detection optical path and an observation optical path independently of each other, guides the focus detection optical path from the objective lens rather than from a fluorescent observation device.例文帳に追加

ここで、フォーカス検出光路と観察光路を独立に備えた顕微鏡において、フォーカス検出光路を蛍光観察装置よりも対物レンズ側から導光するようにしている。 - 特許庁

That is, the inverted microscope includes an ocular optical system which introduces the light propagating through the optical paths P13 to P17 of the image forming optical system 202 to an observer.例文帳に追加

即ち、図示はしないが、この倒立顕微鏡には、結像光学系２０２の光路P１３乃至光路P１７を伝搬した光を観察者に導く接眼光学系が存在する。 - 特許庁

A lens-housing section 21 of the optical microscope 20 is attached to an optical axis conversion section 22, and the optical axis converting section 22 is attached to the upper end part of the electrically driven zoom lens barrel 23.例文帳に追加

光学顕微鏡２０のレンズ格納部２１は、光軸変換部２２に取り付けられ、光軸変換部２２は、電動ズーム鏡筒２３の上端部に取り付けられている。 - 特許庁

To provide an illumination optical system which requires no operation of the illumination optical system in magnification change in frequently used magnification ranges, and to provide a microscope.例文帳に追加

使用頻度の高い倍率間での倍率変換において照明光学系の操作を不要とした照明光学系及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An optical inspection mechanism 5 detects an unopened contact hole by detecting the amounts of the fine particles attached to the insulating films by using an optical microscope, etc.例文帳に追加

光学式検査機構５は、光学顕微鏡等によって、絶縁膜に付着した微粒子の量を検出し、未開口のコンタクトホールを検出する。 - 特許庁

A control part 108 acquires installation state information indicating an installation state of an optical member inserted into an observation optical path of the microscope 101.例文帳に追加

制御部１０８は、顕微鏡１０１の観察光路中に挿入される光学部材の設置状態を示す設置状態情報を取得する。 - 特許庁

Light from a halogen lamp 13 housed in a light source part 2 is caused to travel to the optical system part 4 of the microscope or the like through the optical unit 3, whereby the sample is lighted.例文帳に追加

光源部２に収容したハロゲンランプ１３からの光を光学ユニット３を経て顕微鏡などの光学系部４に向かわせ試料を照明する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope that is highly rigid and capable of attaching an optical device to an observation optical system between an objective lens and an ocular lens.例文帳に追加

対物レンズから接眼レンズに至る観察光学系に光学装置を装着可能であって、かつ、剛性に優れた倒立顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This near-field optical microscope is provided with a light source unit 10, the probe 20 of optical fiber, an oscillation unit 30 and a signal feedback unit 40.例文帳に追加

この近視野光学顕微鏡は、光源ユニット１０と、光ファイバの探り針２０と、発振ユニット３０と、信号フィードバックユニット４０とを備える。 - 特許庁

A laser microscope 100 is provided with a laser optical system 1 including a laser light source 10 and a white light optical system 2 including a white light source 20.例文帳に追加

レーザ顕微鏡１００は、レーザ光源１０を含むレーザ光学系１と、白色光源２０を含む白色光光学系２を備えている。 - 特許庁

A moving part 420 is disposed to move on a line on a plane orthogonal to the optical axis of a microscope main body of a finite correction optical system.例文帳に追加

有限補正光学系の顕微鏡本体の光軸に対して直交する平面上で直線上に移動可能に移動部４２０を配設する。 - 特許庁

To provide a spectroscope whole of which can compactly be assembled and a confocal optical system using it, and a scanning optical microscope.例文帳に追加

装置全体をコンパクトに構成できる分光器およびこれを用いた共焦点光学系、走査型光学顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

This scanning microscope is provided with an optical element 4 which produces at least partially spectrally diffusing illumination light within its illumination optical path 8.例文帳に追加

走査顕微鏡においては、照明光路（８）内に、少なくとも部分的にスペクトル拡散する照明光を生じさせる光学要素（４）を設ける。 - 特許庁

The probe microscope 1 includes: a cantilever 2 having a probe 21; a displacement detecting optical system 3; an observation optical system 4; an objective lens 6; and a parallel glass 7.例文帳に追加

プローブ顕微鏡１は、探針２１を有するカンチレバー２と、変位検出光学系３と、観察光学系４と、対物レンズ６と、平行ガラス７とを備える。 - 特許庁

The housing 3 is fixed in the housing of the microscope 101 so that the position thereof can be adjusted in the optical axis direction of the optical system 210.例文帳に追加

このズームハウジング３は、立体顕微鏡１０１のハウジング内に、クローズアップ光学系２１０の光軸方向に位置調整可能に固定されている。 - 特許庁

Light from the object 1 for observation is formed by an image formation optical system (microscope optical system 20) and an observed image 12 is projected in the space.例文帳に追加

観察対象物１からの光が結像光学系（顕微鏡光学系２０）によって結像されて空間中に観察像１２が投射される。 - 特許庁

To provide a microscope which has a shading correction device for correcting shading by an illumination optical system and a photographing optical system and can yield a high-quality image.例文帳に追加

照明光学系や撮影光学系によるシェーディングを補正するシェーディング補正装置を有し、高品質の画像が取得可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF NEAR FIELD PHOTOPROBE, NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR FIELD LIGHT FINE PROCESSING DEVICE AND NEAR FIELD OPTICAL RECORD PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁

Also, the extension axis of the piezoelectric element is freely adjustable in order to strictly parallel the extension axis of the piezoelectric element and the optical axis for the optical microscope.例文帳に追加

また、ピエゾ素子の伸長軸と、光学顕微鏡の光軸を厳しく平行にさせるために、ピエゾ素子の伸長軸は、自在に調整できる。 - 特許庁

To provide a scan type optical microscope using a wavefront converting element which less deteriorates in imaging performance even when a position in the direction of an optical axis where light is condensed on an object is changed.例文帳に追加

物体に集光する光軸方向の位置を変更しても結像性能の劣化が少ない波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡。 - 特許庁

To provide a compact light source device for lighting of an optical equipment such as an optical microscope and a CCD camera that is capable of freely inserting from the outside of the equipment.例文帳に追加

光学顕微鏡、ＣＣＤカメラ等の光学機器照明用で、機器の外部から嵌装自在のコンパクトな光源装置を提供すること。 - 特許庁

The microscope main body 100 is provided with a plurality of optical devices (electric revolver device 110, etc.), having a plurality of optical members (objective lens 115, etc.), driving motor 112, etc., which moves the optical members on the optical path and so on.例文帳に追加

顕微鏡本体１００は、複数の光学装置（電動レボルバ装置１１０等）を備え、これらは複数の光学部材（対物レンズ１１５等）とこれを光路上に移動させる駆動モータ１１２等とを有する。 - 特許庁

To provide an optical axis adjusting method capable of easily setting an optical axis in the rear surface of a cantilever in a scanning probe microscope equipped with an optical lever type displacement detection system constituted by utilizing the rear surface of the cantilever, an optical axis adjusting auxiliary jig fitted thereto and the scanning probe microscope having optical axis adjusting constitution.例文帳に追加

カンチレバーの背面を利用して構成される光テコ式の光学式変位検出系を備えた走査型プローブ顕微鏡でカンチレバーの背面での光軸設定を容易に行える光軸調整方法、この光軸調整法に適した光軸調整用補助具、およびこの光軸調整の構成を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of improving efficiency of using illuminating light with a simple composition, in the microscope apparatus having an illumination optical system which illuminates a sample from the objective lens side obliquely with respect to the optical axis and from a plurality of directions.例文帳に追加

試料を対物レンズ側からその光軸に対して斜めにかつ複数の方位から照明する照明光学系を有する顕微鏡装置において、簡易な構成で照明光の利用効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a low-cost positioning unit for aligning positions of optical units, each having at least one optical element, on a beam path of a microscope between the observe side of an eye to be observed and an objective lens of the microscope.例文帳に追加

少なくとも一つの光学的素子を有する光学的ユニットを、観察対象の眼の正面と、顕微鏡の対物レンズとの間における顕微鏡のビーム経路において位置合わせするコストが低い位置決めユニットを提供する。 - 特許庁

To provide: an information apparatus capable of highly accurately correcting complicated distortion generated in an image obtained by an optical microscope; an information processing method; a program; and an imaging apparatus including the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡により得られる画像に発生する複雑なディストーションを、高精度に補正することができる情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope with which an image of a specimen without defocusing is observable by correcting defocusing caused by vertical vibration exerted on the microscope, and to provide an optical device used therefor.例文帳に追加

顕微鏡が受ける上下振動による焦点ずれを補正し、焦点ずれのない標本像の観察が可能な顕微鏡と、これに用いられる光学装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical scanning microscope that is small in changes in quantity of light incident on a luminous flux axis displacement detecting section even when the microscope is used while the polarizing direction of a laser beam is changed.例文帳に追加

レーザ光の偏光方向を変化させて使用した場合でも光束の軸ズレ検出部への入射光量の変動が小さい光走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To determine a parameter for easily and surely controlling the operation of a microscope even when a microscope unit to be used for observing samples having respectively different reflection factors has optical dispersion.例文帳に追加

反射率の異なるサンプルの観察に使用する顕微鏡のユニットが光学バラツキを有していても、容易で、確実に、顕微鏡の動作を制御するパラメータを決定できるようにする。 - 特許庁

The measuring method is used for a nanostructure substrate, and also a nanostructure such as an atomic force microscope-use probe, a near-field optical microscope-use probe or the like which uses the enhancing effect.例文帳に追加

本発明は、ナノ構造体基板に限らず、原子間力顕微鏡用プローブ，近接場顕微鏡用プローブなど、増強度を利用するナノ構造体に対しても用いることができる。 - 特許庁

This combined device 1 includes an optical microscope system 2 and an X-ray analysis system 3 while including a revolvable revolver 5 shared between the microscope system 2 and the analysis system 3.例文帳に追加

複合装置１は、光学顕微鏡系２とＸ線分析系３とを備えると共に、光学顕微鏡系２とＸ線分析系３が共有する回転自在のレボルバ５を備える。 - 特許庁