「process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

Then in the inspection process, an alligator clip short-circuits both the wires 13, 14 placed in parallel on the opening 12.例文帳に追加

そして、検査工程では、開口部１２に並設された両線１３，１４をワニ口クリップでショートする。 - 特許庁

Since merely observation using X-rays from a surface is required, a non-destructive inspection for dislocation amount is possible in a manufacturing process.例文帳に追加

また、表面よりＸ線にてマークを観察すれば良いので、製造工程内での位置ズレ量の非破壊検査が可能となる。 - 特許庁

To improve the process rate (test speed) of wafer inspection.例文帳に追加

ウエハー検査の工程速度（検査スピード）を向上させることのできるウエハー表面照射装置及び方法の提供 - 特許庁

To provide a thin film transistor substrate capable of removing an additional process necessary for cutting the wire for inspection.例文帳に追加

検査用配線切断のために必要な付加工程を除去することができる薄膜トランジスタ基板を提供する。 - 特許庁

The electrolytic capacitor 7, after undergoing the aging process, is inspected by an inspection means 5.例文帳に追加

エージング手段３によってエージング処理の施された電解コンデンサ７は、検査手段５によって検査される。 - 特許庁

The present invention relates to an inspection system for a process apparatus which processes a substrate such as a semiconductor wafer, a flat panel display or the like.例文帳に追加

本発明は、半導体ウエハまたはフラットパネルディスプレイ等の基板を処理するプロセス装置の検査システムに関する。 - 特許庁

The mass production line of the semiconductor manufacturing process is constituted so that a foreign matter inspection device is downsized and is set on an input port and an output port of processors of semiconductor manufacturing line or a conveyance system between the processors.例文帳に追加

また、半導体製造工程の量産ラインにおいて、大量の不良を未然に防ぎ、歩留りを維持することを可能にする。 - 特許庁

To realize a nondestructive inspection method, capable of inspecting in a semiconductor manufacturing process before forming bonding pads and contributing cost cut, the production and reliability improvement of semiconductor devices.例文帳に追加

ボンディングパッド形成以前の半導体製造工程中で、検査可能な非破壊検査方法とする。 - 特許庁

When an EOL process is started, an inspection program and a storage program are stored in a RAM in an initial setting step.例文帳に追加

ＥＯＬ工程が開始されると、初期設定ステップにおいて、検査プログラムと記憶プログラムとがＲＡＭに記憶される。 - 特許庁

To provide a method of inspecting a wireless LAN module, which allows a stable inspection process to be executed without using an expensive shield box.例文帳に追加

高価なシールドボックスを用いずに安定した検査工程を実行できる無線ＬＡＮモジュールの検査方法を提供すること。 - 特許庁

In an electronic control apparatus 40, a first constant "0X00" is written in a prescribed area of a memory 46 in the finished product inspection process.例文帳に追加

電子制御装置４０は、完成品検査工程においてメモリ４６の所定の領域に第１の定数“０Ｘ００”が書込まれる。 - 特許庁

To provide a shape inspection system in which changes in patterns during a developing process of a micropattern such as a semiconductor integrated circuit can be browsed.例文帳に追加

半導体集積回路等の微細パターンの開発工程におけるパターンの変遷を閲覧可能な形状検査システムを提供する。 - 特許庁

To enhance the reliability of the inspection data on a process apparatus and to be able to grasp the condition of the apparatus at any time, thereby increase manufacturing yields of products.例文帳に追加

この発明は、検査資料の信頼性を上げることと、随時、装置の状態を把握し、製品の歩留まりを上げることを課題とする。 - 特許庁

This shortens the standby time of the inspection part 21 when conducting the needle polishing process to improve the throughput of the test.例文帳に追加

これにより針研処理を行うときの検査部２１の待機時間を短縮して、テストのスループットを向上させる。 - 特許庁

Electrical inspection is performed after the second punching process is finished to measure whether or not there is electrical conduction between the terminals 13.例文帳に追加

２回の打ち抜き工程が終了した後に電気検査を行い、前記端子間１３の導通の有無を測定する。 - 特許庁

To rapidly improve the inspection accuracy when defective appearance is inspected in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良を検査するに際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることを可能とする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device, which has an inspection process capable of accurately specifying the position of a chip to be inspected on a wafer.例文帳に追加

ウェーハ上の検査対象チップの位置を正確に特定可能な検査工程を有する、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

When the repair is required in the inspection process, a repair number (repair ID) is written in addition to the product ID.例文帳に追加

そして、検査工程で、修理が必要となった場合は、上記製品ＩＤに加えて修理番号（修理ＩＤ）が書き込まれる。 - 特許庁

To provide an inspection method of sheetlike product (original fabric of a polarization plate) capable of easily performing process for detecting or specifying defective position.例文帳に追加

欠陥位置の検出や特定をする処理を簡単に行うことができるシート状製品（偏光板原反）の検査方法を提供する。 - 特許庁

The order in which the multiple feature inspection parameters are considered is predefined so as to most efficiently complete an automatic tool recovery process.例文帳に追加

複数の特徴検査パラメータを考慮する順序は、最も効率的に自動ツールリカバリープロセスを実行できるように予め決まっている。 - 特許庁

To perform a highly accurate factor analysis of fault occurrence even in a production process where a sufficient number of sets of inspection data can not be obtained.例文帳に追加

検査データ数を十分に得られない生産工程の場合でも高精度な不良発生の要因分析を行う。 - 特許庁

To provide an inspection system for paper quality for inspecting the watermarking imparted in a papermaking process, watermarking code data and a printing pattern on a papermaking machine.例文帳に追加

抄造工程で付与されるすき入れ、すき入れコード情報及び印刷模様を抄紙機上で検査する用紙品質検査装置を提供する。 - 特許庁

To reduce cost of a product by performing inspection of the defect in a pixel in the process of manufacture, in a light emission device.例文帳に追加

発光装置において、画素における不良の検査を作製工程の途中で行うことで、製品の低コスト化を図る。 - 特許庁

To prevent deterioration of quality by improving inspection accuracy concerning existence of cracks generated in a manufacturing process.例文帳に追加

製造過程において生じ得るクラックの有無について検査精度の向上を図ることで、品質の低下を防止する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a sheet-like product (original fabric of a polarization plate) capable of easily performing a process for detecting or specifying a defective position.例文帳に追加

欠陥位置の検出や特定をする処理を簡単に行うことができるシート状製品（偏光板原反）の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of microgap groove possessing matter capable of eliminating the time loss of a microgap groove possessing matter manufacturing process.例文帳に追加

微小間隙溝保有物体の作製工程時間ロスをなくすことができる微小間隙溝保有物体の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To discharge and dry a face cleaning liquid without leaving or splashing the face cleaning liquid in a head including a face cleaning process after shipping inspection during the manufacturing of the head.例文帳に追加

ヘッド製造時に出検後にフェイス洗浄工程を含むヘッドにおいて、フェイス面洗浄液の残留や飛散なく、排出乾燥する。 - 特許庁

In the system for visually inspecting liquid crystal substrates, visual inspection is performed after a film deposition process in the manufacture of liquid crystal substrates 5.例文帳に追加

液晶基板５の製造における製膜工程後の目視検査を行う液晶基板検査装置である。 - 特許庁

Two kinds; a line pattern and a space pattern formed by a negative-to-positive reversal thereof are used as a dimensional inspection pattern to be used in a wafer process.例文帳に追加

ウェハプロセスで用いる寸法検査パタンとして、ラインパタンとこれをネガポジ反転したスペースパタンの２種類を用いるようにする。 - 特許庁

To carry out the inspection of the drain discharging means of a ceiling-embedded type air conditioner efficiently in the relatively early period of the construction process of a building.例文帳に追加

天井埋込型空調機のドレン排出手段の検査を建物の建設工程の比較的早い時期に能率よく実施する。 - 特許庁

To prevent malfunction due to displacement and waste of material in an inspection device used in a manufacturing process of a laminated battery.例文帳に追加

積層電池の製造過程に用いられる検査装置において、位置ズレによる不具合を防止することができるとともに、材料の浪費を防止する。 - 特許庁

Furthermore, by executing the imaging process after masking the regions other than an inspection region being an object to be inspected, the quality of the image can be improved.例文帳に追加

さらに、検査対象の検査範囲以外の領域をマスクして画像化することで画質の向上を図ることができる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an organic EL device of COG (Chip On Glass) type capable of shortening the time required for a leak current inspection process.例文帳に追加

リーク電流検査工程にかかる時間を短縮することが可能なＣＯＧ型の有機ＥＬ装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To at least ease complications of the configuration of a communication apparatus resulting from preparation of a plurality of TTIs, signal processing, and product inspection process.例文帳に追加

複数のTTIを用意することに起因する通信装置の構成、信号処理及び製品検査工程の複雑化を少なくとも緩和すること。 - 特許庁

To provide a schedule determination apparatus determining an inspection schedule so as to allow the minimum number of equipment to be always secured to perform a certain process.例文帳に追加

ある工程を実施するために最低限の数の機材を常時確保できるように点検スケジュールを決定する。 - 特許庁

To provide a sensor module inspection apparatus or the like for easily measuring the characteristic of each sensor, without requiring an accurate axial alignment process.例文帳に追加

精密な軸合わせの工程を必要とせずに、簡易に個々のセンサの特性を測定することができるセンサモジュール検査装置などを提供する。 - 特許庁

To simplify a troublesome inspection process and prevent a motor bearing member from playing and being detached in the thrust direction of the motor.例文帳に追加

煩雑な検査工程を簡略化しつつ、モータ軸受部材がモータスラスト方向に浮いたり、抜けることを防止する。 - 特許庁

As a result, in the shift operation during the inspection process, all the FFs will not operate simultaneously, and maximum power consumption can be reduced.例文帳に追加

このため検査工程中のシフト動作時にはすべてのFFが同時に作動せず、最大消費電力の削減が可能となる。 - 特許庁

To provide a reduction method for power consumption, in which a maximum power consumption is reduced in the inspection process of a scan- designed semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

スキャン設計された半導体集積回路の検査工程における最大消費電力を削減する消費電力削減方法を提供する。 - 特許庁

To attain simplification of an assembling process, while making the assembling of a wire harness possible, by making the continuity inspection work possible simultaneously on one assembling work bench.例文帳に追加

一つの組立作業台上でワイヤハーネスを組立可能とすると共に、導通検査も同時に行い組立工程の簡素化を図る。 - 特許庁

Image data obtained by imaging the reproduced model defect by an imaging means of the inspection device are acquired in an image processing process.例文帳に追加

撮像工程において、再現されたモデル欠陥を検査装置の撮像手段によって撮像した撮像データを取得する。 - 特許庁

To find out a temporarily emphasized part formed during a transfer and development simulation process of the image of an inspection object sample.例文帳に追加

検査対象試料の画像の転写・現像シミュレーション処理の過程で生じる一時的な強調部分を見出すこと。 - 特許庁

To immediately detect anomaly of an analog output signal when it occurs in an inspection process for IC components.例文帳に追加

ＩＣ部品の検査工程において、アナログ出力信号の異常が発生した際に、それを直ちに検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip with which appearance visual inspection after a completion of a wire bonding process is facilitated, using a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成でワイヤボンディング工程終了後の外観目視検査を容易にした半導体チップを提供する。 - 特許庁

To speed up the transport and positioning of a work and to solve the problem to be solved in the inspection process of the work.例文帳に追加

ワークの移送、およびワークの位置決めを高速化し、ワークの検査工程での解決課題を解決する。 - 特許庁