「process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, the film forming process is inspected by the film inspection part 215 on the basis of the evaluation score of the substrate and the separation degree.例文帳に追加

そして、工程検査部２１５により、基板の評価点および乖離度に基づいて膜形成工程の検査が行われる。 - 特許庁

To provide a recorder in which a total inspection step or an extraction refuse removing step can be eliminated from a process for boring a cord strip.例文帳に追加

コードストリップに穴を加工する工程において全数チェックや抜きカスを除去する工程を無くすことができる記録装置を提供する。 - 特許庁

To at least relieve complication in a configuration of a communication device, signal processing and a product inspection process caused by preparation of a plurality of TTIs.例文帳に追加

複数のTTIを用意することに起因する通信装置の構成、信号処理及び製品検査工程の複雑化を少なくとも緩和すること。 - 特許庁

To provide a method for writing application software at the time of an inspection process of an electronic system without changing the constitution of production lines.例文帳に追加

生産ライン構成を変更することなく、電子システムの検査工程時にアプリケーションソフトを書き込む方法を提供すること。 - 特許庁

Erroneous determination that a good product is determined as a defective product in the inspection process is avoided, and correct determination is performed as originally expected.例文帳に追加

検査工程で不良と誤判定されることが回避され、所期通りに正しく良判定されることになる。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatically analyzing and controlling a loss factor generated in an inspection process.例文帳に追加

検査工程で発生する損失要因を自動的に分析し管理する損失要因自動分析管理システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

An open-short inspection and a repair treatment of an electrode pattern after the electrode pre-calcining process can be done without any problem.例文帳に追加

電極仮焼成工程後の電極パターンに対してオープンショート検査およびリペア処理を問題なく実施できる。 - 特許庁

A voltage monitor terminal 110 is provided in order to measure the reference voltage Vref in the inspection process.例文帳に追加

電圧モニタ端子１１０は、検査工程において基準電圧Ｖｒｅｆを測定するために設けられる。 - 特許庁

In the defect detection method, a captured image creating process S1 of an inspection region captures an image of a to-be-inspected object and creates a captured image.例文帳に追加

本発明の欠陥検出方法において、検査領域の撮像画像作成工程Ｓ１は、検査対象物を撮像し、撮像画像を作成する。 - 特許庁

To provide a foreign-body inspection apparatus by which defects in large quantities can be prevented and by which a yield is maintained in the mass-production line of a semiconductor production process.例文帳に追加

半導体製造工程の量産ラインにおいて、大量の不良を未然に防ぎ、歩留りを維持させるための異物検査装置を提供する。 - 特許庁

The PC server is provided with a network (LAN) function, and an inspection process exists even in a production line to execute a test about the function.例文帳に追加

ＰＣサーバはネットワーク（ＬＡＮ）機能を備えており、生産ラインにおいてもこの機能に関するテストを実施する検査工程が存在している。 - 特許庁

To detect a defect in a groove part as a part of a manufacturing process by executing the inspection of the defect in the groove part at the stage of a film.例文帳に追加

溝部の欠陥検査をフィルムの段階で実行することにより、製造工程の一環として上記欠陥の検出を行う。 - 特許庁

Due to the location where this re-boxing occurred, the product did not go through the normal plant inspection process.例文帳に追加

再箱詰めが行われていた場所の関係から、この箱は通常行われている施設の検査プロセスを経ていなかった。 - 厚生労働省

Therefore, the Food Safety and Inspection Service (FSIS) must continue to ensure a high level of integrity, security, and accuracy within the process.例文帳に追加

したがって、FSISは、このプロセスにおける統一性・安全性・正確性を今後も高いレベルで確保していかなければならない。 - 厚生労働省

(2) If there is any disagreement regarding the rating results following completion of the on-site inspection, the inspected financial institution may, pursuant to the opinion submission process, file a statement to that effect with the Director-General of the Inspection Bureau and request a review. 例文帳に追加

（２）被検査金融機関は、立入検査終了後、評定結果について認識の相違がある場合は、意見申出制度に則り、その旨を検査局長に申し出て審理を求めることができるものとする。 - 金融庁

A inspection information automatic composition server 17 makes printing process data, by executing automatic composition processing, by using the inspection information database 15 on the basis of the line unit template.例文帳に追加

検査情報自動組版サーバ１７は、行単位のテンプレートをもとに検査情報データベース１５を用いて自動組版処理を行い、印刷用の製版データを作成する。 - 特許庁

To provide an inspection device and inspection method capable of inspecting whether or not ions are injected to a desired position in an ion injection process by use of a stencil mask.例文帳に追加

ステンシルマスクを用いたイオン注入工程においても、所望の位置にイオンが注入されたか否かを検査できる検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

Then, an inspection facilities relevant to spoken voice input from a microphone 7a is identified by voice identification process based on voice data corresponding to narrowed down inspection facilities.例文帳に追加

そして、マイク７ａから入力された発話音声に該当する検査設備が、絞り込まれた検査設備に対応する音声データに基づいて音声認識処理されて特定される。 - 特許庁

Accordingly, the process can be simplified to shorten time for preparing the inspection when the inspection voltage waveforms H1, H2 are determined.例文帳に追加

そのため、検査用電圧波形Ｈ１、Ｈ２を決定する際に、その工程を簡略化することができ、検査の準備にかかる時間を短縮することができる。 - 特許庁

Inspection data for inspection the cream soldering print condition is created from process (manufacturing) data 2 for a metal mask used in printing cream soldering.例文帳に追加

クリームはんだを印刷する際に使用するメタルマスクの加工（製造）データ２からクリームはんだ印刷状態を検査するための検査データを作成するようにしたものである。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus, whereby the boundary of parts can be surely detected, even when the parts are similar in optical characteristics by applying the method and the apparatus to, e.g. a manufacturing process for lithium ion secondary batteries.例文帳に追加

本発明は、検査方法及び検査装置に関し、例えばリチウムイオン二次電池の製造工程に適用して、部品の光学的な性質が似通っている場合でも、各部品の境界を確実に検出することができるようにする。 - 特許庁

The disk supply section 4 supplies continuously each optical disk to a spindle at each inspection process and takes it up from the spindle after completion of inspection.例文帳に追加

ディスク供給部４は、各光ディスクについてそれぞれの検査工程に際して連続的にスピンドルに対して供給すると共に、検査完了後にスピンドルから引き上げる。 - 特許庁

To provide a wafer prober device that is more excellent in inspection efficiency and cost reduction than a conventional one in a wafer inspection process corresponding to individualized LSI chips, and a transfer tray.例文帳に追加

個片化されたＬＳＩチップに対応したウエハ検査工程において、従来よりも検査効率やコストに優れたウエハプローバ装置及び搬送トレーを提供する。 - 特許庁

To provide a wafer inspection machine and method, which can eliminate the loss time between processes, by integrating individual process required for inspection of wafers.例文帳に追加

ウェハー検査に必要な個別工程を統合することで工程間のロスタイムを解消することができるウェハー検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a circuit board for preventing an advance a flyback transformer mounted on the circuit board from producing a high voltage in an inspection process in a factory production line.例文帳に追加

工場の生産ラインでの検査工程において、回路基板に実装されたフライバックトランスからの高圧の発生を事前に防止し得るようにする。 - 特許庁

A management computer 21 of a receipt inspection support system 20 receiving a reexamination result from an examination payment organization terminal 30 performs a process for storing content inspection data.例文帳に追加

審査支払機関端末３０から再審査結果を受信したレセプト点検支援システム２０の管理コンピュータ２１は、内容点検データを蓄積する処理を行なう。 - 特許庁

To provide a refrigerator easy to assemble, and having high serviceability so that an inspection and repairing in a manufacturing process and a test in service and the inspection can be easily performed.例文帳に追加

組立が容易であるとともに、製造工程における点検や修理・サービス，点検における検査なども容易に行うことができるようにサービス性の高い冷蔵庫を提供する。 - 特許庁

To make an inspection device detect defects with higher sensitivity without preparing a plurality of electron sources, where the inspection device detects the defects in circuit patterns for a semiconductor device on a wafer during a manufacturing process of the semiconductor device by using potential contrast.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の回路パターンの欠陥を電位コントラストにより検出する装置において、電子源を複数備えることなく高感度に検出可能とする。 - 特許庁

An information collecting portion 305 fetches status data and inspection results on substrates under its jurisdiction from manufacturing equipment 1 and inspection equipment 2 in each process at intervals of a predetermined period of time and rewrites databases 302 and 303.例文帳に追加

情報収集処理部３０５は、各工程の製造装置１および検査装置２から、所定の時間毎に、管轄する基板の基板状況データおよび検査結果を取り込んで、データベース３０２，３０３を書き換える。 - 特許庁

To realize defect inspection data processing by which the TAT reduction of a defect inspection process is possible and the precise defect coordinate data of a defect position can be obtained.例文帳に追加

欠陥検査工程のＴＡＴ短縮が可能で、また欠陥位置の高精度な欠陥座標データを得ることができる欠陥検査データ処理を可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device/method for displaying a feature amount so that determination of propriety of a manufacture result of a circuit pattern in inspection of a semiconductor manufacture process becomes easy.例文帳に追加

半導体製造プロセスの検査における回路パターンの製造結果の良否の判定が容易となるように、特徴量を表示することができる半導体検査装置、及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

The measuring stage is used in the inspection process of a factory manufacturing a semiconductor device in order to perform continuous inspection operation while maintaining the semiconductor device in a predetermined temperature region.例文帳に追加

半導体素子を製造する製造工場の検査工程で使用され、半導体素子を所定の温度域に維持した状態で連続的な検査動作を可能にした測定用ステージである。 - 特許庁

The manufacturing method has an inspection process for determining the depth from the surface at which a constant carbon concentration is acquired by using the measuring method, and performing nondestructive inspection of the carburized member.例文帳に追加

また、前記測定方法を用いて、一定炭素濃度となる表面からの深さを求め、浸炭部材を非破壊検査する検査工程を有する製造方法とする。 - 特許庁

The production line of the substrate for mounting components has a inspection device 1 deployed for each process and each inspection device 1 is connected with a server 2 through a network line 7.例文帳に追加

部品実装基板の製造ラインにおいて、工程毎に検査機１を配備するとともに、各検査機１をネットワーク回線７を介してサーバー２に接続する。 - 特許庁

In the inspection process of a liquid crystal device having such a constitution, a plurality of inspection terminals for supplying a prescribed driving signal to each wiring is brought into contact with the second part of each wiring.例文帳に追加

かかる構成を有する液晶装置の検査工程においては、各配線に所定の駆動信号を供給するための複数の検査用端子を、当該各配線の第２の部分に接触させる。 - 特許庁

As the result, in the manufacturing process of electronic equipment such as semiconductors or magnetic recording devices, the surface inspection method and the surface inspection apparatus which are capable of detecting ultrafine particles smaller than 0.1 μm deposited on a transferred substrate are achieved.例文帳に追加

その結果、半導体や磁気記録装置等の電子機器製造工程において、搬送した基板に付着した０．１μｍよりも小さい超微小粒子の検出を可能とする表面検査方法及び表面検査装置が実現する。 - 特許庁

To reduce a burden on a worker at work in an inspection process, complete the inspection and improve quality in a cell production system in which the same worker produces products by a plurality of work processes.例文帳に追加

同一の作業者が複数の作業工程により製品を生産するセル生産システムにおいて、作業中の作業者の検査工程における負担を軽減させると共に、検査の徹底および品質の向上を図る。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for speeding up inspection with high resolution for a technique in inspecting defects, foreign materials, residues, and steps, etc., using electron beam for a pattern on a wafer in a manufacturing process for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The fabric inspection machine enables the front surface A and the back surface B of the textile T to be simultaneously visually observed by one inspector to rationalize the process thereof and to reduce the cost by remodeling a fabric inspection machine.例文帳に追加

検反機を改造する事により、一人の検査員で反物Ｔの表面Ａと裏面Ｂを同時に目視可能にし工程の合理化と経費の削減を可能にする検反機である。 - 特許庁

To provide a probe block and a probe unit for inspection of a display panel, which are capable of effectively inspecting a display panel having micro electrodes arrayed with high density and capable of decreasing a pin miss in an inspection process.例文帳に追加

高密度に微細電極が配列されたディスプレーパネルを効果的に検査することができ、検査工程中のピンミスを減少させることができるディスプレー検査用プローブブロック及びプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a method of setting measurement and inspection conditions which enables setting of high-precision measurement and inspection conditions irrespective of process variations and to provide a computer program.例文帳に追加

本発明は、プロセス変動に依らず、高精度な測定，検査条件の設定を可能とする測定，検査条件設定方法、及びコンピュータプログラムの提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a tablet inspection apparatus and a PTP packaging machine for significantly improving the inspection accuracy, when inspecting the appearance of a tablet in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における錠剤の外観検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

After the inspection using one of the sockets, the other of the sockets is immediately connected by a switch for initiating the next inspection for the equipment, and the process continues.例文帳に追加

ソケットのうちの１つを介した検査が終了した後、スイッチは、他のソケットを即座に接続し、スイッチは、次の装置の検査は、それらの装置について始動して継続する。 - 特許庁

To provide a tablet inspecting device for inspecting inclusion of different tablets in a PTP sheet manufacturing process which can improve inspection efficiency and inspection accuracy dramatically, and to provide a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における異種錠の混入検査に関し、検査効率及び検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To supply feeding speeds and regenerative signal output level values of respective frames stored in a storage means to a reproducing output inspection of magnetic information in a camera manufacturing process and to simplify the reproducing output inspection.例文帳に追加

記憶手段に記憶した各駒の給送速度と再生信号出力レベル値を、カメラの製造工程における磁気情報の再生出力検査に供せるようにし、再生出力検査の簡略化を図る。 - 特許庁