「scattering data」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A load scattering section 4 specifies a coding/decoding part (7, 8, and 9) where the processing load is the smallest by means of a descriptor or the like which can know the load conditions for each coding/decoding section (7, 8, and 9), and it requests the specified coding/decoding sections in order for the coding or decoding processing of received data.例文帳に追加

負荷分散部４が、暗号・復号部（７，８，９）ごとの負荷状態が知得できるディスクリプタ等によって最も処理負荷の小さな暗号・復号部（７，８，９）を特定し、特定した暗号・復号部に対して順に、受信したデータの暗号処理または復号処理を依頼する。 - 特許庁

To provide a measuring method for a color characteristic free from dispersion in measured values, and stable in precision of data value measurement for the color characteristic, even when scattered particles are dispersed ununiformly, and even in scattered light, when the color characteristic of an LCD color filter having a scattering layer is measured.例文帳に追加

散乱層を有するＬＣＤ用カラーフイルタの色特性を測定する際、記散乱粒子の分散は不均一であっても、散乱光の場合であっても、測定値にバラツキがなく、色特性のデータ値測定の精度が安定する色特性に関する測定方法を提供。 - 特許庁

Moreover, this visualizing apparatus 14 calculates the randomness of each octet and a port number constituting an IP address included in the communication information of a particular terminal and quantitatively evaluates a scanning range of the transmitting source or a destination IP address in order to provide numerical data to show the scattering of the particular terminal.例文帳に追加

また，特定の端末装置の通信情報に含まれるＩＰアドレスを構成する各オクテットやポート番号のランダム性をそれぞれ算出し，送信元あるいは宛先ＩＰアドレスの走査範囲を定量的に評価し，特定の端末装置の拡散性として数値化する。 - 特許庁

A measuring surface S1 is scanned by an electron beam B2 and the detection of an electron beam back scattering diffraction pattern by a detection part 6 and the analysis of data D1 by a data processing part 9 are performed in relation to the respective pixels in the measuring surface S1 to obtain the two-dimensional distribution data K1 of a crystal orientation related to the measuring surface S1.例文帳に追加

電子ビームＢ２によって測定面Ｓ１を走査し、測定面Ｓ１内の各ピクセルに関して、検出部６による電子線後方散乱回折パターンの検出、及び、データ処理部９によるデータＤ１の解析を行うことにより、測定面Ｓ１に関する結晶方位の二次元分布データＫ１が得られる。 - 特許庁

An optical part D comprises a microscope illuminating optical system D1, which detects the surface of a semiconductor wafer 2 as first surface data with microscope illumination and a laser scattering type optical system D2, which detects the surface of a semiconductor wafer 2 as second surface data detecting scattered laser rays from a semiconductor wafer 2 by the use of laser rays.例文帳に追加

光学部Ｄは、顕微鏡照明によって半導体ウェハ２表面を第１表面情報として検出する顕微鏡照明光学系Ｄ１、レーザ光を用いて半導体ウェハからのレーザ散乱光を検出することによって半導体ウェハ２表面を第２表面情報として検出するレーザ散乱式光学系Ｄ２を含む。 - 特許庁

This method includes the step of obtaining input image data (86) containing backward scattering strength about the ablation range (72) and the step of applying a dynamic gain curve (84) from the image data (86) in order to obtain an output signal (88) used for raising the visibility of the ablation range (72).例文帳に追加

この方法は、アブレーション領域（７２）について後方散乱強度を含む入力画像データ（８６）を得るステップと、アブレーション領域（７２）の視認性を高めるのに用いられる出力信号（８８）を得るために、画像データ（８６）に基づいて動的ゲイン曲線（８４）を適用するステップとを含んでいる。 - 特許庁

Writing of information is performed only once by generating a photochromic phenomenon by two photon absorption at a core layer in which information is to be written by using gate light GL introduced as a wave light to the core layer and data light WL on which information is superimposed and which is introduced from an interface of a plane type optical waveguide and forming a scattering factor of the wave light.例文帳に追加

情報を書き込むコア層に導波光として導入したゲート光ＧＬと、情報が重畳され平面型光導波路の界面から導入したデータ光ＷＬとにより、情報を書き込むコア層に、２光子吸収によるホトクロミック現象を生じさせ、導波光の散乱要因を形成することにより、１度だけ情報の書込を行う。 - 特許庁

To provide an evaluation method of crystal orientation capable of suppressing effectively scattering of a background, to thereby improve measurement data to have the readable quality, even when strong background scatterings are overlapped, and separating its diffraction intensity distribution into the intensity of only an objective plane index, and an evaluation device used therefor.例文帳に追加

強い背景の散乱が重なっている場合であっても、効果的に背景の散乱を抑止し、測定データを読み取り可能な品質に高めることができ、しかも、その回折強度分布を、目的の面指数だけの強度に分離することができる結晶配向の評価方法及びそれに用いる評価装置を提供する。 - 特許庁

The negative pressure piping system investigating device is provided with: a bubble generator (10) for generating air bubbles and scattering them into the air; a photographing means for continuously photographing the air bubbles scattered from the bubble generator (10); and a search device for searching for in-leak spots by using an image of an air bubble locus created from data on images picked up by the photographing means.例文帳に追加

気泡を発生させて空中に散布する泡発生装置(10)と、その泡発生装置(10)から散布された泡を連続撮影する撮影手段と、撮影手段にて撮影された画像データから作成された泡の軌跡画像を用いてインリーク箇所を探索する探索装置と、を備えた負圧配管系調査装置とする。 - 特許庁

To accurately obtain mechanical characteristics at the time of plastic deformation of a polycrystalline material by rapidly and certainly estimating the non-uniform deformation state of the microscopic texture of the polycrystalline material when the polycrystalline material receives macroscopic deformation by a simple method using the crystal data of the polycrystalline material receiving no plastic deformation obtained by a back scattering electron beam diffraction (EBSD) method.例文帳に追加

後方散乱電子線回折（ＥＢＳＤ）法により得られた塑性変形を受けていない多結晶材料の結晶情報を用いて、多結晶材料が巨視的変形を受けた際の微視組織の不均一変形状態を、簡易な方法で迅速且つ確実に予測し、多結晶材料の塑性変形時の機械特性を正確に得る。 - 特許庁

In this system 1 for measuring the optical fiber characteristic of the present invention, a plurality of measurement indication/data confirmation PCs 12A, 12B are connected in series via a control PC 11 to a detecting part 2 for detecting return light by reflection or scattering by making a light pulse get incident into the optical fiber F.例文帳に追加

本発明の光ファイバ特性測定システム１は、光ファイバＦへ光パルスを入射して反射又は散乱による戻り光を検出する検出部２に、波形データをデータ単位毎に蓄積して解析処理する処理部を備えた複数の測定指示・データ確認用ＰＣ１２Ａ，１２Ｂが、制御用ＰＣ１１を介して並列に接続されている。 - 特許庁

Another aspect relates to deriving of at least one material characteristic distribution function substantially matching at least some data obtained at least partially from scattering of at least one applied X-ray forming at least one Compton scattered X-ray inside the at least part of the matter of the at least part of the individual.例文帳に追加

別の態様は、少なくとも１つのコンプトン散乱Ｘ線を形成する、個体の少なくとも一部の少なくとも一部の物質内における、少なくとも１つの印加されるＸ線の散乱によって、少なくとも部分的に得られる、少なくとも一部のデータに実質的に一致する少なくとも１つの物質特徴分布関数を導き出すことに関する。 - 特許庁

The transmission power measuring device equalizes the sampling value in each valid data section by the sampling number in each valid data section, equalizes the average value among the multiple valid data sections to output it as transmission power, and attempts to reduce consumption power while reducing scattering of transmission power by having an active mode in each sampling section and a sleeping mode changed from the active mode in other parts than each sampling section.例文帳に追加

送信パワー測定装置は、各有効データ区間のサンプリング値を各有効データ区間のサンプリング点数で平均化し、さらに、この平均値を複数の有効データ区間に亘って平均化して送信パワーとして出力し、各サンプリング区間でアクティブモードになり、各サンプリング区間以外でアクティブモードより低消費電力のスリープモードになることで、送信パワーのばらつきを少なくすると共に、低消費電力化を図る。 - 特許庁

The strength of the localized oscillating peak of the dopant element observed by the Raman scattering spectrometry of a dopant atom dope Ge is determined by standardizing based on the optical phonon peak strength of Ge observed at 290-301 cm^-1, and the concentration of a dopant element doped in Ge is measured from the comparison data (calibration curve) between the concentration of the dopant element and the localized oscillating peak strength that are previously prepared.例文帳に追加

また、ドーパント元素ドープＧｅのラマン散乱分光測定で観測される前記ドーパント元素の局在振動ピークの強度を、２９０〜３０１ｃｍ^−１に観測されるＧｅの光学フォノンピーク強度を基準として規格化することによって求め、予め作成されている前記ドーパント元素の濃度と局在振動ピーク強度の比較データ（検量線）から、Ｇｅ中にドープされたドーパント元素の濃度を測定する。 - 特許庁