「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The surface of a silicon-based nanowire 50 is wet-etched to form a surface defect 56.例文帳に追加

シリコン系ナノワイヤ-50の表面を湿式エッチングし、表面欠陥56を形成する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method and apparatus capable of detecting a minute surface defect and setting and changing in accordance with the depth of the minute surface defect, a criterion for determining the quality of an object under test.例文帳に追加

微細な表面欠陥を検出し、さらには微細な欠陥の深さに基づいて被検査物の良否の判定を設定、変更できる表面検査方法及び装置を得る。 - 特許庁

Discrimination between the VC defect and the surface defect is enabled by paying attention to the difference between displacement of a VC defect generation position to a hole pattern and displacement of a surface defect generation position, to thereby enable classification into each defect.例文帳に追加

穴パターンに対するＶＣ欠陥発生位置のずれ量と表面欠陥発生位置のずれ量との違いに着目することで，ＶＣ欠陥と表面欠陥とを弁別することを可能にし、それぞれに分類するようにした。 - 特許庁

The transcribed surface includes the surface defect, and this method further includes formation of a film on the transcribed surface including the surface defect, and polishing processing relative to the surface of the formed film.例文帳に追加

上記被転写面は表面欠陥を含み、該表面欠陥を含む被転写面上に被膜を形成し、かつ形成された被膜表面に研磨処理を施すことを更に含む。 - 特許庁

The GaN layer 10 includes a high-defect region 10a and a low-defect region 10b lower in defect density than the high-defect region 10a, and has a principal surface 10c.例文帳に追加

ＧａＮ層１０は、高欠陥領域１０ａと、高欠陥領域１０ａよりも欠陥密度の低い低欠陥領域１０ｂとを含み、主表面１０ｃを有する。 - 特許庁

A processing unit detects a defect on a wafer surface, on the basis of image data, and stores the defect information in the defect information storage area.例文帳に追加

処理装置が、画像データに基づいて、ウエハ表面上の欠陥を検出し、欠陥の情報を、欠陥情報記憶部に記憶させる。 - 特許庁

SURFACE DEFECT CONFIRMING APPARATUS, SUBSTRATE DEFECT ANALYZING METHOD USING THE SAME AND SUBSTRATE DEFECT ANALYZING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY APPARATUS例文帳に追加

表面欠陥確認装置ならびに該装置を用いた基板欠陥分析方法および液晶表示装置の基板欠陥分析方法 - 特許庁

SURFACE DISTORTION DEFECT INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

表面歪み欠陥検査装置、検査方法及びコンピュータプログラム - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT ON STAINLESS STEEL PLATE例文帳に追加

ステンレス鋼板の表面欠陥の検査装置および検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECT OF NONMAGNETIC METAL TUBE例文帳に追加

非磁性金属管の表面欠陥検出方法および装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device which can detect a surface defect of a member having fine recessed and projecting parts on a surface thereof.例文帳に追加

表面に細かな凹凸を有する部材であってもその表面の欠陥を検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

MAGNETIC DISC SURFACE DEFECT DETECTOR AND FRICTIONAL TESTER例文帳に追加

磁気ディスクの表面欠陥検出装置及び摩擦試験装置 - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

基板表面欠陥検査方法，基板表面欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN CYLINDRICAL WORK AND ITS DEVICE例文帳に追加

円筒状ワークの表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING DISTRIBUTION PATTERN OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥の分布形態解析装置、方法、及びプログラム - 特許庁

To suppress the extinguishment of a defect echo by the influence of an end surface echo even in the case of a defect present in the vicinity of the side end surface of a subject to be tested and precisely detect the defect.例文帳に追加

検査対象の側端面近傍に欠陥があった場合でも、端面エコーの影響による欠陥エコーの消失を抑えて精度よく欠陥を検出する。 - 特許庁

From the surface of this phosphor powder, a surface crystalline defect layer or a surface strain layer is removed.例文帳に追加

表面から表面結晶欠陥層あるいは表面歪み層が除去されている蛍光体粉末。 - 特許庁

To provide a surface defect detecting device for a steel strip capable of executing surface testing good in precision by using a surface defect gauge in a pickling line.例文帳に追加

酸洗ラインにおいて、表面欠陥計を用いて、精度のよい表面検査を行うことができる鋼帯の表面欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect judging technique for accurately judging the presence of the defect on the surface of an inspection target.例文帳に追加

的確に検査対象の表面上の欠陥の有無を判定する欠陥判定技術を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for surface defects of a sheet-like material, in which the inspection accuracy of the surface defect is high.例文帳に追加

検査精度が高いシート状材料の表面欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

A mark for indicating relationship between a front-surface defect 204 and a rear-surface defect 203a (203b) is further displayed based on a relative position of the front-surface defect 204 within the displayed front-surface image 202 and a relative position of the rear-surface defect 203b within the displayed rear-surface image 201b.例文帳に追加

表示された状態の表面画像２０２内での表面欠陥２０４の相対位置と、表示された状態の裏面画像２０１ｂ内での裏面欠陥２０３ｂの相対位置とに基づいて、表面欠陥２０４と裏面欠陥２０３ａ（２０３ｂ）との関連性を示すための標識が、さらに表示される。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and defect inspection device capable of stably detecting a defect occurring on the surface of an inspecting object.例文帳に追加

被検査物の表面上に発生する欠陥を安定して検出することができる欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The operator compares a defect mark and an actual surface flaw, when a defect mark is imparted by the error operation of the surface defect detector 14, an erasing command of defect mark is inputted from the setting display board 25.例文帳に追加

オペレータは、欠陥マークと実際の表面疵を対比し、欠陥マークが表面欠陥検出器１４の誤作動によって付されたものであるときは、設定表示盤２５から欠陥マークの消去指令を入力する。 - 特許庁

SIGNAL PROCESSOR, IMAGE PROCESSOR, AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

信号処理装置、画像処理装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

TILE SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

瓦表面欠陥検査装置および瓦表面欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a surface defect inspecting device which secures an S/N ratio required for inspection of a surface defect by certainly removing diffracted light.例文帳に追加

回折光を確実に除去して表面欠陥の検査に必要なＳＮ比を確保できる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

PRODUCTION OF STEEL SLAB WITHOUT DEVELOPING SURFACE DEFECT DUE TO WIDTH REDUCTION例文帳に追加

幅圧下による表面欠陥が生じない鋼片の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN INFORMATION-RECORDING DISK, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

情報記録ディスクの表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

If the surface defect inspecting device detects a surface defect of the wafer, sensor data associated with the processing of the wafer are evaluated.例文帳に追加

表面欠陥検査装置によりウェハの表面欠陥が検出された場合には、当該ウェハの処理に関するセンサデータを評価する。 - 特許庁

To provide a surface defect detection method capable of detecting a defect present on the surface of an object to be tested with high precision.例文帳に追加

被検査体の表面に存在する欠陥を高い精度で検出することができる表面欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN PLATE例文帳に追加

板材の表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SPECIFYING POSITION OF FILM DEFECT ON INNER SURFACE OF LAMINATE CAN例文帳に追加

ラミネート缶内面のフィルム欠陥位置特定方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT ON CYLINDRICAL SURFACE例文帳に追加

円筒状表面の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

To classify a defect detected by a SEM type appearance inspection into an electric defect (VC defect: Voltage Contrast) inside an inspection object and a surface defect.例文帳に追加

ＳＥＭ式外観検査において，検出した欠陥を、検査対象内部の電気的欠陥（ＶＣ欠陥：Ｖｏｌｔａｇｅ Ｃｏｎｔｒａｓｔ）と表面欠陥とに分類する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF SUBSTRATE SURFACE, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

基板面の不良検出装置、不良検出方法、及び不良検出のためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

The differential interface image of the surface of the substrate is supplied to a defect detection means (34), and a defect is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

The differential interference image on the substrate surface is supplied to defect detecting means (34) for detecting a defect.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

STAINLESS STEEL MINIMIZED IN DEFECT OR SURFACE COATING LAYER OF STAINLESS STEEL MINIMIZED IN DEFECT AND FORMED ON SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥の少ないステンレス鋼又は基体に形成されたステンレス綱からなる欠陥の少ない表面被覆層 - 特許庁

The surface of a defect substrate to be subjected to defect inspection is scanned by a light beam and is detected of its defects and their address coordinates.例文帳に追加

欠陥検査すべき基板の表面を光ビームで走査し、欠陥及びそのアドレス座標を検出する。 - 特許庁

The differential interference image on the surface of the substrate is supplied to defect detection means (34) so that a defect therein is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

The outline of the defect is extracted, and the contrast is given to the outline of the defect to discriminate the defect of the front surface 1a and that of the rear surface 1b of a searched object 1 with high accuracy.例文帳に追加

欠陥の輪郭を抽出し、欠陥の輪郭のコントラストにより検査対象物１の表面１ａの欠陥と裏面１ｂの欠陥を高精度に識別することが可能となる。 - 特許庁

To detect a defect inside a substrate or on its back regardless of the depth from the substrate surface, and to detect a defect on the substrate surface and discriminate it from the defect inside the substrate or on its back.例文帳に追加

基板の内部又は裏面の欠陥を基板の表面からの深さに関わらず検出し、かつ基板の表面の欠陥を検出して基板の内部又は裏面の欠陥と区別する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and defect inspection method capable of detecting the defect on the back surface side of a mask blank for a stencil mask with high accuracy.例文帳に追加

ステンシルマスク用マスクブランクスの裏面側の欠陥を精度良く検出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To inspect a painted state of a surface by one image pickup simply and with high efficiency, in a painted surface defect inspection method and a painted surface defect inspection device.例文帳に追加

塗装表面欠陥検査方法及び塗装表面欠陥検査装置に関し、表面塗装状態の検査を１回の画像撮像により簡便に且つ高効率に行う。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.例文帳に追加

エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁