「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To inspect a surface defect of a magnetic disk using continuous recording system, as well as a surface defect of a magnetic disk using discrete track recording system and patterned media recording system, with only one inspection apparatus.例文帳に追加

一台の検査装置で従来の連続記録磁性媒体の磁気ディスクの表面欠陥の検査とディスクリートトラック方式、パターンドメディア方式の磁気ディスクの表面欠陥の検査を行うことを可能にする。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SEPARATOR OF SOLID POLYMER ELECTROLYTE TYPE OF FUEL CELL, METHOD FOR INVESTIGATING DEFECT OF THE SEPARATOR, METHOD FOR HEATING AND PROCESSING SEPARATOR, SURFACE COATING METHOD OF THE SEPARATOR, AND METHOD FOR INVESTIGATING SURFACE COATING DEFECT OF THE SEPARATOR例文帳に追加

固体高分子電解質型燃料電池のセパレータの製造方法、そのセパレータの欠陥検査方法、そのセパレータの加熱処理方法、そのセパレータの表面被覆方法、そのセパレータの表面被覆欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting a surface defect, capable of highly accurately inspecting a state of a disk substrate itself with wave-like distortion and a defect on a surface of a sample caused with local wave-like distortion.例文帳に追加

ディスク基板そのものがうねりを持つ状態や、局所的なうねりが生じた試料の表面の欠陥を高精度に検査できるようにした表面欠陥検査方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a thermal recording medium which is suitable, particularly, for use in medical image display etc., and which prevents a defect or uneven color development in printing by obtaining a uniform coating surface with no coating defect such as unevenness in the coating surface.例文帳に追加

塗布面ムラ等の塗布欠陥がなく均一な塗布面を得ることにより、印画時に欠陥や発色ムラのない特に医療画像表示用途等に好適な感熱記録体の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Subsequently, the lattice defect region 4 is irradiated with laser light to pattern a P type region 5 in the lattice defect region 4 as the activated region of the surface layer in the lattice defect region 4 (Fig. 2(b)).例文帳に追加

この後、格子欠陥領域４にレーザ光を照射することにより、格子欠陥領域４に当該格子欠陥領域４の表層部を活性化させた活性化領域としてのＰ型領域５をパターン形成する（図２（ｂ））。 - 特許庁

To achieve high efficient defect inspection with a high defect capture rate in a surface defect inspection device for a wafer and the like by enabling detection of forward scattered light with high sensitivity and at the same time enabling detection of specularly reflected light with high sensitivity.例文帳に追加

ウエーハ等の表面欠陥検査装置において、前方散乱光を高感度で検出し、正反射光をも同時に高感度検出可能とすることで、欠陥捕捉率の高い高効率の欠陥検査を実現。 - 特許庁

To accurately inspect a defect such as a hole opening defect penetrating to an internal space, a peeling defect occurring in a surface layer or a deep part, etc., in a method and an apparatus for inspecting shape defects of a plate material having the internal space.例文帳に追加

内部空間を有する板材の形状欠陥検査方法及び装置において、内部空間にまで貫通する孔開き不良や、表層及び深部において発生する剥離不良などの高精度の欠陥検査を可能とする。 - 特許庁

To provide a defect repairing method for positively sealing a defect such as a crack opened in the surface of a structure inside a reactor pressure vessel and positively isolating the defect from the external environment of the structure.例文帳に追加

本発明の目的は、原子炉圧力容器内部の構造物表面に開口した亀裂等の欠陥を確実に封止でき、この欠陥を構造物の外部環境から確実に隔離できる欠陥補修方法を提供することにある。 - 特許庁

The method for repairing the fissure-like defect 2 occurring on the surface 1a of the nuclear reactor structure 1 comprises the steps of disposing a sacrificial anode 7 on the fissure-like defect 2 and isolating the defect 2 from the outer environment.例文帳に追加

原子炉構造物１の表面１ａに発生したき裂状欠陥２を補修する補修方法は、き裂状欠陥２上に犠牲アノード７を配置する工程と、き裂状欠陥２を外部環境から隔離する工程と、を備えている。 - 特許庁

To provide a rinse liquid for lithography which can improve the pattern collapse, surface roughness, and surface defect; and a pattern forming method using the same.例文帳に追加

パターン倒れ、表面粗さ、および表面欠陥を改良することができる、リソグラフィー用リンス液とそれを用いたパターン形成方法の提供。 - 特許庁

To provide a finder finding a position on a surface over a hole easily with a small tool in the measurement of hole defect depth on a material surface and the like.例文帳に追加

素材表面等の穴欠陥深さ測定において、穴上面の位置を容易にかつ小形の道具で求める測定器を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method which enables detection of defects on an edge line of a surface to be inspected, only on the basis of the binarized images of the surface to be inspected.例文帳に追加

被検査面の二値化画像のみに基づいて被検査面のエッジライン上の欠陥を検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

This system includes the osteoanagenesis activation means on the surface of the matrix alone opposed to the surface in the bone defect part where the bone is exposed.例文帳に追加

骨欠損部における骨が露出した面に対向する、前記マトリックスの面のみに前記骨再生活性手段が含有されている。 - 特許庁

Consequently, the slip due to the epitaxial growth heating is not caused and the decrease in surface roughness of the epitaxial film due to the void defect on the wafer surface can be eliminated.例文帳に追加

その結果、エピ成長加熱によるスリップが発生せず、ウェーハ表面のボイド欠陥よるエピ膜の表面粗さの低下も解消できる。 - 特許庁

Dangling bond close to the surface of the nitride semiconductor layer 15 is terminated with hydrogen, so that the inter-electrode leakage caused by a surface defect is suppressed.例文帳に追加

窒化物半導体層１５の表面近傍のダングリングボンドを水素で終端し、表面欠陥に起因する電極間リークを抑制する。 - 特許庁

To simply obtain a surface protection film which is excellent in surface protection of a semiconductor element and visibility of laser marking and has only a little defect.例文帳に追加

半導体素子表面の保護特性およびレーザーマーキングによる視認性が優れ、かつ欠陥の少ない表面保護フィルムを簡便に得ること。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and a surface inspection method capable of detecting precisely even a micro defect depth, without being affected by a noise.例文帳に追加

ノイズの影響を受けずに微小な欠陥深さでも高精度で検出できる表面検査装置および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

Hereby, the growth from the second surface is performed to cover the first surface 1, whereby defect density can be reduced.例文帳に追加

これにより、第２の表面２からの成長が第１の表面１の成長に覆うように成長して、欠陥密度を低減させることができる。 - 特許庁

To provide an evaluating method of a minute defect in a silicon wafer that can detect the minute defect that is smaller than the detection lower limit of a light scattering type surface inspection apparatus on a silicon wafer surface that is smoothed by mirror machining, and can further detect the minute defect that exists not only on the wafer surface but also inside a wafer surface layer that influences the performance of a device formed on the wafer surface.例文帳に追加

鏡面加工により平滑化されたシリコンウエハ表面において、光散乱式表面検査装置の検出下限界よりも小さいサイズの微小欠陥を検出することができ、しかも、ウエハ表面だけでなく、その上に形成されるデバイスの性能に影響を及ぼすウエハ表層内部に存在する微小欠陥をも検出することができるシリコンウエハの微小欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

PROBING METHOD FOR DEFECT OF OUTSIDE WALL MATERIAL, REPAIRING METHOD FOR OUTSIDE WALL MATERIAL, AND COATING MATERIAL FOR SURFACE FINISHING OF OUTSIDE WALL MATERIAL例文帳に追加

外壁材の欠陥の探査方法、外壁材の補修方法及び外壁材表面仕上用塗料 - 特許庁

CAUSE ESTIMATION DEVICE AND CAUSE ESTIMATION PROGRAM AND CAUSE ESTIMATION METHOD OF SURFACE DEFECT OF METAL PLATE例文帳に追加

金属板材の表面欠陥の原因推定装置および原因推定プログラムならびに原因推定方法 - 特許庁

The linear defect exists in the crystal and does not exist on the surface of the crystal.例文帳に追加

また、前記直線状欠陥は、結晶内部に存在し、かつ結晶表面には存在しない欠陥である。 - 特許庁

To provide a distortion defect inspection device unaffected by lighting environment for inspecting surface conditions.例文帳に追加

表面の状態と検査する照明環境などに左右されない表面歪み欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

At the time, the area 16a of a low defect density is formed on a groove upper surface other than the intermediate part of the widthwise direction of the groove.例文帳に追加

この時、溝の幅方向の中間部以外の溝上面に欠陥密度の低い領域16ａができる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a GaN substrate wherein a front surface is flattened and a crystal defect is reduced.例文帳に追加

表面の平坦化及び結晶欠陥の低減が図られたＧａＮ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To inspect a surface defect of a metal band at the same detection angle, using a two-dimensional imaging means.例文帳に追加

２次元撮像手段を使用して、同一の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a patterned crystallized glass article having sufficient strength and no pinhole defect in a surface thereof.例文帳に追加

十分な強度を有し、且つ、表面にピンホール欠陥の無い模様付き結晶化ガラス物品を提供すること。 - 特許庁

To accurately detect an irregularity defect on an inspection surface of an inspection object by an inexpensive and simple device constitution.例文帳に追加

低コストかつ単純な装置構成で検査対象の被検査面の凹凸欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁

To reduce the movement of visual point when a visual inspector refers to the inspection information of a surface defect inspection device.例文帳に追加

目視検査員が表面欠陥検査装置の検査情報を参照する場合に視点の移動を少なくする。 - 特許庁

First, the position of at least one defect on the upper surface of the wafer edge is determined and is stored.例文帳に追加

そのため、最初にウエハ縁端部の上部表面の少なくとも１つの欠陥の位置を決定し、記憶する。 - 特許庁

If there is any defect on the surface of the optical disk 9, the photodetection position of the PSD 10 varies with the detect.例文帳に追加

光ディスク９の表面に欠陥があれば、その欠陥に応じてＰＳＤ１０の受光位置が変動する。 - 特許庁

To optically detect a streak-like defect 1 μm or less of the surface of a magnetic record medium such as a magnetic tape or the like.例文帳に追加

磁気テープ等の磁気記録媒体の表面の１μｍ以下の筋状欠陥を光学的に検出する。 - 特許庁

The presence of a recess or protrusion defect on the the copper coated surface within the micropore range is determined when exceeding the set value.例文帳に追加

超えていれば当該微孔範囲内の銅被覆表面に凹みまたは凸起欠陥があると判定する。 - 特許庁

To provide an apparatus 1 for continuously vacuum-carburizing a metal wire rod having little surface defect and small unevenness of the carburization.例文帳に追加

表面欠陥が少なく浸炭ばらつきが小さい金属線材の連続真空浸炭装置１を提供。 - 特許庁

To provide a connector having a multiplex redundant contact that is endurable to the surface defect during card insertion.例文帳に追加

カード挿入中に表面欠陥に耐えることができる多重冗長接点を有するコネクタを提供する。 - 特許庁

To provide means capable of easily inspecting a surface defect of a semiconductor wafer with high reliability.例文帳に追加

半導体ウェーハの表面欠陥を簡便に高い信頼性をもって検査し得る手段を提供すること。 - 特許庁

CAST SLAB COOLING METHOD FOR REDUCING SURFACE DEFECT OF LOW CARBON CASE-HARDENING STEEL DUE TO HOT-ROLLING例文帳に追加

熱間圧延による低炭素肌焼鋼の鋼片の表面疵を低減するための鋳片の冷却方法 - 特許庁

To make a defect existing in the vicinity of a surface of a specimen detected.例文帳に追加

被検査体の表面近傍に存在する欠陥を検出することができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

There is disclosed the method of manufacturing a substantially-relaxed SiGe alloy layer, in which flat surface defect density is decreased.例文帳に追加

平面欠陥密度を低下させた、実質的に緩和したＳｉＧｅ合金層を製造する方法を開示する。 - 特許庁

To obtain a cylinder hole inspecting device capable of detecting a defect such as a cavity, a flaw and burr on the inner surface of a hole with a good S/N.例文帳に追加

孔内面の鋳巣、疵、バリ等の欠陥をＳ／Ｎ良く検出できる円筒孔検査装置を得る。 - 特許庁

Thereby, the defect density of the triangle shape of the surface of the SiC epitaxial layer becomes at most one/cm^2.例文帳に追加

これにより、前記ＳｉＣエピタキシャル層の表面の三角形状の欠陥密度が１個／ｃｍ^２以下となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor laser that can control the generation of a high-density crystal defect and surface roughness.例文帳に追加

高密度の結晶欠陥および表面ラフネスの発生を抑制することの可能な半導体レーザを提供する。 - 特許庁

The wall surface image is picked up by the image pickup device 6 and a defect determining process is carried out by the image processing device 7.例文帳に追加

この壁面像を撮像装置６で撮像して画像処理装置７で欠陥判定処理を行う。 - 特許庁

To provide a method for stably supplying annealed wafers having a desired defect density in the surface layer thereof.例文帳に追加

表層部において所望の欠陥密度を有するアニールウエーハを安定して供給する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface-coated sintered alloy-made cutting tool displaying excellent defect resistance in interrupted double cutting.例文帳に追加

断続重切削ですぐれた耐欠損性を発揮する表面被覆超硬合金製切削工具を提供する。 - 特許庁