「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a building panel 41 having a design surface provided with unevenness (undulation), further having acute angle cavity surfaces in its design surface and eliminating a feeling of physical disorder by making a defect inconspicuous even if the defect of a printing pattern due to gravure- offset printing is generated.例文帳に追加

凹凸（起伏）のある意匠面を有する建築板４１であって、更に、意匠面に鋭角な窪み部分があるものにおいて、グラビアオフセット印刷による印刷柄抜けが生じても、それを目立たなくして、違和感をなくす。 - 特許庁

Detection time is shortened and the cost is reduced by scanning the surface of a substrate, while irradiating with a focused zone laser beam 11, thereby detecting a defect on the surface of the substrate regardless of the directivity of the defect 6.例文帳に追加

集光輪帯レーザビーム１１を基板表面上に照射して走査させることにより、欠陥６の方向性に依存しない基板表面の欠陥検出を実現し、検出時間の短縮とコストの低減を図る。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection unit for a ceramic roller which is capable of inspecting surface defect and an internal defect in a single sitting, in a short time, and free from restrictions due to the surface hue of the ceramic roller.例文帳に追加

表面の欠陥と内部の欠陥との両方を１度に、短時間で検査でき、かつ転動体の表面の色相による制約を受けない、セラミックス製の転動体の検査方法および検査ユニットを提供すること。 - 特許庁

In the surface treating method of the coating defect article of which the surface is formed with the coating film having the coating defect part, at least a part of the coating film is peeled off by spraying a projecting material to the coating film.例文帳に追加

表面に、塗装欠陥部を有する塗膜が形成されてなる塗装不良品の表面処理方法であって、塗膜に投射材を吹き付けることにより塗膜の少なくとも一部を剥離する表面処理方法である。 - 特許庁

In this repair method of the reactor structure, which is a repair method of the reactor structure having the metal material on whose surface the crack defect is generated, first of all, a noble metal material is provided on the crack defect surface.例文帳に追加

本発明による原子炉構造物の補修方法は、表面に亀裂状欠陥の発生している金属材料を有する原子炉構造物の補修方法であって、まず、該亀裂状欠陥表面に貴金属材料体を設ける。 - 特許庁

To provide a method of evaluating a surface or a surface layer of a semiconductor wafer capable of measuring a defect and contamination of the surface or the surface layer of the semiconductor wafer with high sensitivity and improving reliability of an evaluation result.例文帳に追加

半導体ウェーハの表面または表層の欠陥および汚染を高感度に測定し、評価結果の信頼性を高めることが可能な半導体ウェーハの表面または表層評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and a surface inspection device capable of detecting accurately the position of a defect on a surface to be inspected, without increasing the time required for inspecting the surface to be detected of a specimen.例文帳に追加

被検体の被検面を検査することに要する時間の増大を招くことなく、被検面における欠陥の位置を正確に検知することができる表面検査方法および表面検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.例文帳に追加

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁

To keep flatness of a glass substrate surface, to remedy roughness of the glass substrate surface, and to remove defect on the glass substrate surface, in a polishing process of polishing the locally-worked glass substrate surface for remedying the roughness by the local working and removing the defect.例文帳に追加

局所加工が施されたガラス基板表面を、局所加工による面荒れの改善や表面欠陥の除去を目的として研磨するにあたり、この研磨工程において、ガラス基板表面の平坦度を維持しつつ、ガラス基板表面の面荒れを改善するとともに、ガラス基板表面の表面欠陥を除去する。 - 特許庁

Preferably, the ultrasonic waves are oscillated from the side of the outside surface 2a of the face part 2 toward the side of the inside surface thereof, and reflected waves are received on the inside surface 2b side to detect the size of the defect S and the distance of the defect S from the inside surface 2a.例文帳に追加

好ましくは、前記フェース部２の外表面２ａ側から内表面２ｂ側に向かって超音波を発振させ、且つ前記内表面２ｂ側で反射した反射波を受振することにより、前記内部欠点Ｓの大きさと、該内部欠点Ｓの前記内表面２ａからの距離とを検出する。 - 特許庁

An analysis part AN detects foreign object defect data from the first and second surface data, and the foreign object defect data are classified into three categories of a first mode which is indicated only in the first surface data, a second mode which is indicated only in the second surface data, and a third mode which is indicated in both the first and second surface data.例文帳に追加

解析部ＡＮは、第１及び第２表面情報から異物欠陥情報を検出し、異物欠陥情報を、第１表面情報のみに示された第１モード、第２表面情報のみに示された第２モード、第１及び第２表面情報の両方に示された第３モードに区別する。 - 特許庁

That is, a micro crystal defect existing in the surface layer part of the silicon wafer is actualized to be counted, by etching the silicon wafer surface selectively after forming the nitride film on the silicon wafer surface, in this method of inspecting the crystal defect in the surface layer part of the silicon wafer of the present invention.例文帳に追加

すなわち、本発明は、検査対象シリコンウェハ表面に窒化膜を形成した後、該シリコンウェハ表面を選択エッチングすることによりシリコンウェハ表層部に存在する微小な結晶欠陥を顕在化させて計数することを特徴とするシリコンウェハ表層部結晶欠陥検査方法である。 - 特許庁

The glare shielding substrate 10 is obtained, and the surface treatment film 11 is formed by applying the surface treating agent on the surface 10a of the obtained glare shielding substrate 10 to produce a glare shielding surface-treated plate 1 without a surface defect.例文帳に追加

本発明の製造方法により防眩性基板(10)を得、得られた防眩性基板(10)の表面(10a)に表面処理剤を塗布して表面処理膜(11)を形成することにより、表面欠陥のない防眩性表面処理板(1)を製造できる。 - 特許庁

The surface defect inspection device comprises: the illumination part 3 equipped with a plurality of light emission elements 30; the imaging camera 4 for photographing the inspection part illuminated by the irradiation light by the illumination part 3; and the defect evaluation means for detecting the defect on the inspection surface by evaluating the output signal of the imaging camera 4.例文帳に追加

複数の発光素子３０を有する照明部３と、この照明部３による照射光によって照明された被検査面を撮像する撮像カメラ４と、撮像カメラ４の出力信号を評価して被検査面における欠陥を検知する欠陥評価手段とを備えた表面欠陥検査装置。 - 特許庁

To provide a quality inspection method and device for a micro surface defect in a magnetic metal zone, capable of detecting automatically such the micro surface defect as usually difficult to be visually confirmed and detectable by grinding inspection using a grinding stone, in an objective specimen having a coarse surface roughness.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認が困難で砥石がけ検査により検出しているような微小表面欠陥を自動検出することができる磁性金属帯の微小表面欠陥の品質検査方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this way, the surface defect which becomes problems so that defects are caused by working in the succeeding working stage by the rolling deformation can not be generated and the products made of the bar material which is excellent in the surface quality which deals with the severe warranty of the surface defect in the late years can be provided.例文帳に追加

それにより、圧延変形によって後続の加工工程で加工欠陥を引き起こすような問題となる表面疵が発生えず、近年の厳しい表面疵保証にも対応できる表面品質の優れた条材製品を提供することが可能となる。 - 特許庁

The surface of the steel sheet 100 flowing the production line is inspected by a surface inspection device 20, and the surface defect of the steel sheet 100 is automatically dressed by a grinding mechanism 20 according to the type and degree of a defect without stopping the production line.例文帳に追加

生産ラインを流れる薄鉄鋼１００の表面を表面検査装置２０４により検査し、この検査により発見された薄鋼板１００の表面欠陥を、生産ラインを止めず、かつ欠陥の種類や程度に応じて、研磨機構２０７により自動的に手入れする。 - 特許庁

In the surface defect evaluation, the surface area defined by a mismatching measurement point group as the surface defect, on the basis of a distribution density of the mismatching measurement point group, including a plurality of measurement points that do not properly correspond to the reference point and adjacent to one another.例文帳に追加

表面欠陥評価において、基準点と適正に対応せず互いに隣接する複数の測定点からなる誤対応測定点群の分布密度に基づいて当該誤対応測定点群によって規定される表面領域を表面欠陥と判定する。 - 特許庁

To provide a temperature variable heater that includes a small connector, is not bulky and excellent in usability even when applied to a surface heater which uses a surface heat generation body as a heat generation source, and is free of a failure factor due to an insulation defect, a component defect, etc., even if the surface heater gets wet with urine of a small animal.例文帳に追加

発熱源に面状発熱体を用いた面ヒーターに実施しても、小さなコネクターで済み、嵩張らずに使い勝手も良好であり、小動物の排尿などで面ヒーターが濡れても、絶縁不良や部品不良などを招いて故障要因となるおそれがないようにする。 - 特許庁

In an IC chip wherein one surface of a substrate 12 is a face surface FF wherein a circuit is formed and the rear of the face surface is a rear face RF, defect preventive means for preventing a defect by a crack 13 are formed at four sides of the rear face RF of the substrate.例文帳に追加

基板１２の一面を回路が形成されているフェース面ＦＦとし、このフェース面の背面を反フェース面ＲＦとしたＩＣチップにおいて、前記基板の反フェース面ＲＦの四辺に、欠け１３による欠損を防止するための欠損防止手段を形成する。 - 特許庁

To inspect a surface defect of a metal band at the same detection angle by use of a two-dimensional imaging means.例文帳に追加

２次元撮像手段を使用して、同一の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査できるようにする。 - 特許庁

To improve the yield of an alloy slab by eliminating porous flaw and reducing blow-hole defect and the developing degree of surface wrinkle.例文帳に追加

ザク欠陥の解消に加えて気泡欠陥や湯じわの発生程度を低減して、合金スラブの歩留まりを改善する。 - 特許庁

Consequently, a void defect elimination rate is accelerated in at least the surface layer of the wafer and the void defects are eliminated.例文帳に追加

これにより、少なくともウェーハ表層のボイド欠陥の消滅速度が促進し、このボイド欠陥が消滅される。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF ROLLED STEEL BLOCK FOR PREVENTING SURFACE DEFECT CAUSED DURING CONTINUOUS CASTING AND FOLLOWING BLOOM ROLLING例文帳に追加

連続鋳造及び引き続く分塊圧延における表面疵発生を防止した圧延鋼片の製造方法 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a device improving detection sensitivity by restraining temperature rise on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の温度上昇を抑えて検出感度を向上させる欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provided an improved highly sensitive optical inspection system for detecting a defect on a diffraction face including a surface pattern.例文帳に追加

表面パターンを含む回折面上の欠陥を検出するための改良された高感度光学検査システムの提供 - 特許庁

The defect 3 becomes a bright spot 3D, when it is viewed from the surface of the optical film 2 (in the direction of arrow D).例文帳に追加

このため、欠点３は、光学フィルム２の表面（矢符Ｄの方向）から見ると輝点３Ｄとなって現れる。 - 特許庁

To provide a bipolar semiconductor device that suppresses generation of a surface defect, and prevents a forward voltage from rising.例文帳に追加

表面欠陥の発生を抑制でき、順方向電圧の増大を防止できるバイポーラ半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a silicon wafer, the method eliminating a defect on a surface where a device is formed.例文帳に追加

デバイスが形成される表層の欠陥を消滅させることができるシリコンウェーハの製造方法について提案する。 - 特許庁

The grinding device 1 corrects a projection defect present on the surface of a substrate 2.例文帳に追加

研磨装置１は、走行する研磨テープにより、基板２表面に存在する突起欠陥を修正する研磨装置である。 - 特許庁

To provide an inkjet recording medium without causing surface defects such as pits and removal defect, and is manufactured by casting.例文帳に追加

ピットやトラレ等の表面欠陥がない、キャスト処理により製造されるインクジェット記録媒体を提供することである。 - 特許庁

The defect determination circuit 37 determines that a surface of the film 5 is defective when the light reception signal is inputted.例文帳に追加

欠陥判定回路３７は、受光信号が入力されたときには、フィルム５表面に欠陥があると判定する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CLASSIFYING DEFECT OCCURRING AT SURFACE OF SUBSTRATE USING GRAPHICAL REPRESENTATION OF MULTI-CHANNEL DATA例文帳に追加

マルチチャネルデータのグラフィック表現を用いて基板の表面において生じる欠陥を分類するための方法及びシステム - 特許庁

To effectively prevent an adhesion shape defect due to an excessive flow of an adhesive on an end surface side of a ferrule.例文帳に追加

フェルールの端面側における接着剤の過剰流動による接着形状不良を効果的に防止する。 - 特許庁

The insulating film is formed covering the high defect region 111 on the main surface 113 of the epitaxial wafer 110.例文帳に追加

絶縁膜は、エピウエハ１１０の主表面１１３における高欠陥領域１１１を覆うように形成される。 - 特許庁

To provide a method an device for detecting the flaw of the internal defect of the diffusion surface of a metal material with high sensitivity.例文帳に追加

金属材料の拡散面の内部欠陥を高感度で探傷する方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a recording medium high in surface glossiness of an ink receiving layer with less pore defect.例文帳に追加

インク受容層の表面の光沢度が高く、かつ、小孔欠陥の少ない記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁

SURFACE-COATED TUNGSTEN CARBIDE GROUP SINTERED ALLOW- MADE CUTTING TOOL WHICH DISPLAYS EXCELLENT DEFECT RESISTANCE IN INTERRUPTED DOUBLE CUTTING例文帳に追加

断続重切削ですぐれた耐欠損性を発揮する表面被覆炭化タングステン基超硬合金製切削工具 - 特許庁

The buffer layer prevents a lattice defect existing on the surface of the SiC substrate 1 from propagating to the electron transit layer.例文帳に追加

バッファ層は、ＳｉＣ基板１の表面に存在する格子欠陥の電子走行層への伝播を防止している。 - 特許庁

To detect a low and flat LAD (large area defect) through discrimination from particles in the surface test of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハの表面検査において、高さが低くフラットなLAD（広域欠陥）をパーティクルから区別して検出する。 - 特許庁

METHOD FOR PREDICTING DANGEROUS PORTION CAUSING SURFACE DEFECT IN CONTINUOUSLY CAST SLAB, AND METHOD FOR MANUFACTURING CONTINUOUSLY CAST SLAB例文帳に追加

連続鋳造鋳片における表層欠陥発生危険部位の予測方法および連続鋳造鋳片の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING HIGH MAGNETIC FLUX DENSITY GRAIN ORIENTED SILICON STEEL SHEET EXTREMELY SMALL IN SURFACE DEFECT AND ALSO EXCELLENT IN MAGNETIC PROPERTY例文帳に追加

表面欠陥が極めて少なくかつ磁気特性に優れる高磁束密度方向性電磁鋼板の製造方法 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a hot-dip galvanized steel sheet, which reduces a 'ripple' defect and has superior surface smoothness.例文帳に追加

「さざなみ」欠陥を低減し、表面の平滑性に優れる溶融亜鉛めっき鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method which surely detects a surface defect without being affected by a rust preventive oil and conducts marking.例文帳に追加

防錆油の影響を受けること無く表面欠陥を確実に検出してマーキングを行う方法を提供する。 - 特許庁

To optimize the surface layer film material of an electrifying member and to effectively prevent soil and an image quality defect such as a spotty mark.例文帳に追加

帯電部材の表層フィルム材料の最適化を図り、斑点状の画質欠陥及び汚れを有効に防止する。 - 特許庁