| 意味 | 例文 |
surface defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2108件
To provide a surface defect inspecting device capable of rejecting pseudo-defects such as color irregularity and detecting true surface defects such as a bond.例文帳に追加
色ムラ等の疑似欠陥を排除してボイド等の真の表面欠陥を検出できる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To inspect the presence or absence of a defect in the outer surface of a glass tube quickly and accurately without depending on the shape of the outer surface of the glass tube.例文帳に追加
ガラス管の内表面の形状に依存することなく、ガラス管の外表面の欠陥の有無を短時間で正確に検査する。 - 特許庁
The charge defect toner stuck on the surface of photoreceptor 21, is scraped off from the surface of the photoreceptor 21 by a cleaning unit 31.例文帳に追加
感光体21の表面に付着した帯電不良トナーは、クリーニングユニット31で感光体21の表面からかき落とされる。 - 特許庁
To provide a method for evaluating accurately a size defect below 0.02 μm on the extreme surface layer within 10 μm from the surface of a semiconductor wafer.例文帳に追加
半導体ウエハの表面から10μm以内の極表層における、0,02μm以下のサイズの欠陥を正確に評価する。 - 特許庁
To provide a polishing composition to obtain a polishing surface with high quality having no surface defect, while maintaining a high polishing speed.例文帳に追加
高い研磨速度を維持しながら且つ表面欠陥のない高品質の研磨面を生ぜしめる研磨用組成物を提供すること。 - 特許庁
To detect a minute defect on a boundary surface of a semiconductor device having a structure of a plurality of layers.例文帳に追加
複数層の構造を有する半導体装置の界面における微小な欠陥を検出する。 - 特許庁
At this time, the surface defect on the cast bloom can be prevented by casting with a vertical type continuous caster.例文帳に追加
その際、垂直型連続鋳造機により鋳造することで、鋳片表面の欠陥も防止できる。 - 特許庁
The crystal defect density on a surface of substrate 2S is higher in the vicinity of the silicide film than in the periphery of the silicide film.例文帳に追加
当該シリサイド膜付近の基板表面2S内の結晶欠陥密度は周辺よりも高い。 - 特許庁
To accurately detect a change in the depth of a surface defect even if the temperature of a monitor target changes.例文帳に追加
監視対象物の温度が変化しても表面欠陥の深さの変化を正確に検出する。 - 特許庁
To provide a semiconductor substrate having a lower defect density and a good surface profile property, a semiconductor light emitting device and methods for fabrication thereof.例文帳に追加
低欠陥の半導体基板、半導体発光素子、およびそれらの製造方法を提供する。 - 特許庁
With this, the defect on the surface of the work can be stably and effectively corrected.例文帳に追加
本発明によれば、ワーク表面上の欠損を、安定してかつ効率的に修正することができる。 - 特許庁
To shorten an inspection time by improving an inspection throughput in a surface defect inspection of a semiconductor substrate.例文帳に追加
半導体基板の表面の欠陥検査において検査スループット向上させ、検査時間を短縮する。 - 特許庁
To inexpensively provide a joined aluminum plate with a uniform thickness having superior smoothness of the surface and having no defect.例文帳に追加
表面の平滑性に優れ、かつ、欠陥のない同厚のアルミニウム接合板を安価に提供する。 - 特許庁
By using the image, any surface defect such as very small crack can be adequately detected.例文帳に追加
この像を利用することで、微小な割れといった表面欠陥を適切に検出することができる。 - 特許庁
To provide a system and a method for road surface defect detection based on infrared imaging technology.例文帳に追加
本発明は、赤外線撮影技術に基づく路面欠陥検出システム及び方法を提供する。 - 特許庁
To prevent the occurrence of a defect in a plating film caused by the adsorption of bubbles on the surface to be plated.例文帳に追加
被メッキ面における気泡の吸着に起因してメッキ膜中に欠陥が生じることを防止する。 - 特許庁
To prevent the generation of partial corrosion in a metal separator by performing the surface treatment for preventing occurrence of a defect.例文帳に追加
欠陥の生じない表面処理を施してメタルセパレータの部分的な腐食などを防止する。 - 特許庁
Further, a cleaning gas 4 is sprayed onto the surface of a silicon wafer 1, thus dissolving and removing the defect 12.例文帳に追加
さらにこの後、洗浄ガス4をシリコンウェハ1の表面に噴射し、欠陥12を溶解除去する。 - 特許庁
To provide a surface layer defect detector which accurately discriminates between formation noises of a metal analyte and detection signals due to scab defects.例文帳に追加
金属被検体の地合ノイズとヘゲ欠陥に起因する検出信号とを精度良く弁別する。 - 特許庁
To provide a surface acoustic wave device having an excellent filter characteristic with high quality without occurrence of a defect.例文帳に追加
フィルタ特性が良好で、不良の発生がない高品質な弾性表面波装置を提供すること。 - 特許庁
If a defect occurs, an image different from a regular image, such as a strip, is formed on a recording surface.例文帳に追加
不具合品が発生すると、ストライプなどの通常の画像とは異なる画像を記録面に形成する。 - 特許庁
To detect abnormality of coating development processing equipment through surface defect inspection more accurately and speedily.例文帳に追加
表面欠陥検査に基づく塗布現像処理装置の異常検出をより正確により迅速に行う。 - 特許庁
To securely correct a defect of a pattern formed on a substrate surface and to shorten the correction time.例文帳に追加
基板面に形成されたパターンの欠陥修正を確実に行なうと共に修正時間を短縮する。 - 特許庁
To detect the presence or absence of a defect in a zone texture region on the surface of a disk.例文帳に追加
ディスク表面上のゾーンテクスチャ領域における欠陥有無を検出することができるようにする。 - 特許庁
To allow automation and to surely detect a defect such as a surface flaw.例文帳に追加
自動化を可能とするとともに、表面疵等の欠陥を確実に検出することができるようにする。 - 特許庁
The correcting device corrects a pattern defect of the display in which an electronic circuit pattern having the pattern defect on a surface of a substrate is formed, and is equipped with a plasma irradiation means of irradiating an area of the pattern defect locally with plasma to correct the pattern defect.例文帳に追加
基板の表面にパターン欠陥を有する電子回路パターンが形成された表示装置の前記パターン欠陥を修正する修正装置であって、 前記パターン欠陥の領域に局所的なプラズマの照射によって前記パターン欠陥を修正するプラズマ照射手段を備えてなる。 - 特許庁
When detecting the surface defect of an object 10 using a surface detect detector 1, an imaging part 2 obtains the image of the surface 10a of the object 10 at first.例文帳に追加
表面欠陥検知装置1を用いて物体10の表面欠陥を検知する場合、まず、撮像部2により、物体10の表面10aの画像を取得する。 - 特許庁
To provide a device and method for defect inspection, capable of inspecting a defect generated on the surface of a workpiece at high speed with high accuracy.例文帳に追加
被検査物の表面上に発生する欠陥を、高速に、かつ、高精度に検査することのできる欠陥検査装置及び欠陥検査方法の提供を目的とする。 - 特許庁
The analyzed data S13 is inputted to an automatic defect classifying part 14, and defects existing on a surface to be inspected of each chip are classified at the automatic defect classifying part 14.例文帳に追加
解析データS13 は欠陥種自動分類部14に入力され、該欠陥種自動分類部14で各チップの被検査面上に存在する欠陥の種類が分類される。 - 特許庁
The continuous defect determination method for analyzing distribution morphology based on information regarding surface defects arisen on the thin steel sheet F to determine the presence of continuous defect.例文帳に追加
薄鋼板Fに発生する表面欠陥に関する情報を基に分布形態を解析して連続欠陥の有無を判定する連続欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁
To prevent a fault at defect inspection or a disconnection defect of wiring due to irregularities caused on a surface when reducing the thickness of copper foil by etching.例文帳に追加
銅箔の厚さをエッチングによって減少させるときに、表面に凹凸が生じることで欠陥検査の障害となったり、配線の断線不良となったりすること。 - 特許庁
To improve element body (body casing) strength in a surface-mounted piezoelectric vibration device using a brazing filler metal and to prevent a leakage defect (airtightness defect).例文帳に追加
本発明は、金属ろう材を用いた表面実装型圧電振動デバイスにおける素体(本体筐体)強度を向上させ、リーク不良(気密不良)を防止することができる。 - 特許庁
To provide a tool defect inspection method and a tool defect inspection device for viewing the whole blade surface with fixed brightness, and inspecting efficiently and accurately.例文帳に追加
一定の明るさで刃面全体を見ることができ、効率良く正確に検査することができる工具欠陥検査方法と工具欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
In the wafer surface layer, the grown-in defect is removed or reduced and there is no possibility of giving bad influence such as the property defect of semiconductor device.例文帳に追加
このウェーハ表層部は前記grown−in欠陥が消滅もしくは低減されており、半導体デバイスの特性不良などの悪影響を与えるおそれがない。 - 特許庁
A defect detection processing part 110 detects the defect of the working surface by signals outputted from the sensor 80 after positioning is performed by the controller 100.例文帳に追加
欠陥検出処理部110が、制御装置100により位置決めした後にセンサ80から出力される信号により加工表面の欠陥を検出する。 - 特許庁
A region including the defect location coordinates on the second coordinate system of the element formation surface is imaged by the defect imaging device (S8, S9).例文帳に追加
前記欠陥撮影装置により前記素子形成面の前記第2の座標系上における前記欠陥位置座標を含む領域の撮影を行う(S8、S9)。 - 特許庁
To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of improving accuracy and efficiency of detect inspection on the surface of a work having gloss.例文帳に追加
光沢を有するワークの表面における欠陥検査の精度と効率とを向上させることが可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a continuous casting method, by which an alloy steel containing ≥30% Ni is cast without generating a surface defect or an internal defect in a cast slab.例文帳に追加
Niを30%以上含有する合金鋼を、鋳片の表面欠陥および内部欠陥を発生することなく鋳造できる連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method and its device capable of discriminating not only an existence of a defect but also the type of the defect in a surface condition of an inspected article such as a metal member.例文帳に追加
金属部材などの被検物品の表面状態を欠陥の有無のみならずその欠陥の種類まで判別できる検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
Namely, the crystal defect layer 25 in the active region 20 is formed at a shallower position from a surface than the crystal defect layer 25 in the non-active region 40.例文帳に追加
すなわち、活性領域20における結晶欠陥層25は、非活性領域40における結晶欠陥層25よりも表面からみて浅い位置に形成されている。 - 特許庁
When toner T is supplied to the surface of the photosensitive drum 24, the toner T is stuck to the charge defect portion of the photosensitive drum 24 and the charge defect portion is blackened.例文帳に追加
感光ドラム24の表面にトナーTが供給されると感光ドラム24の帯電不良部分にトナーTが付着して帯電不良部分が黒くなる。 - 特許庁
To favorably detect inner defects in the entire area of a glass substrate including an inner defect near the main surface, the defect giving a large influence on pattern transfer to a transfer material.例文帳に追加
被転写体へのパターン転写に影響の大きな主表面近傍の内部欠陥を含む、ガラス基板の全ての領域の内部欠陥を良好に検出できること。 - 特許庁
To provide a continuous casting method by which the surface layer defect and the internal defect of a cast slab conductive to scab after being rolled and crack caused when press-formed can surely be eliminated.例文帳に追加
圧延後のヘゲ疵やプレス成形時のワレにつながる鋳片の表層欠陥や内部欠陥を確実に解消することができる連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a defect inspection method utilizing an illumination transition region capable of visualizing a defect at high sensitivity and utilizing the illumination transition region for the whole surface of a lens.例文帳に追加
高感度に欠陥可視化が可能な照明遷移領域を利用し、レンズ全面に対して前記の照明遷移領域を利用した欠陥検査手法を提供する。 - 特許庁
In the inspection method for surface defect, the surface image of a metal band 1 which is conveyed on a production line containing a hot rolling process is photographed by an optical system 20, and a defect which exists on the surface of the metal band 1 is detected on the basis of the photographed surface image.例文帳に追加
本発明は、熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯1の表面画像を光学系20で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法に適用される。 - 特許庁
To provide a fixing belt having a surface layer which is free of a surface defect such as a stripe or trail causing an image defect when the fixing belt is manufactured through a process of forming the surface layer on the outer peripheral surface of a base material by using a resin solution.例文帳に追加
定着ベルトが基材の外周面に樹脂溶液を利用して表面層を形成するプロセスを経て定着ベルトを作製される場合において、画像欠陥の原因となるスジやダレ等の表面欠陥の無い表面層を有する定着ベルトを提供すること。 - 特許庁
To provide a method and apparatus for removing a surface defect, with which cutting tools for removing the surface defect caused when the surface of a hot-dipped wire is subjected to ironing with a heat resistant material on a line can be replaced with others during passing of the hot-dipped wire.例文帳に追加
めっき線の表面を耐熱材でしごき取った際に発生した表面欠陥をライン上で除去するバイトを、溶融めっき線の通材中に交換することができる、表面欠陥除去装置及び方法を提供する。 - 特許庁
After mechanically removing the defect 20 generated in the hard build-up welding part 15 and performing build-up welding to the defect removing part by the alloy for repair-welding, a working surface is formed by finishing the surface of the repaired build-up welding part into a smooth surface with a machine.例文帳に追加
硬化肉盛溶接部15に発生した前記欠陥20を機械的に除去し、前記補修溶接用合金を欠陥除去部に肉盛溶接したのち、補修肉盛溶接部の表面を滑らかに機械仕上して作動面を形成する。 - 特許庁
In this defect inspecting method for the color filter, a surface potential of the color filter is measured by an atomic force microscope, and a defect in the surface is inspected based on a difference between the maximum value and the minimum value in the surface potential.例文帳に追加
カラーフィルターの欠陥検査方法であって、カラーフィルターの表面電位を原子間力顕微鏡で測定し、表面電位の最大値と最小値の差から表面の欠陥を検査することを特徴とするカラーフィルターの欠陥検査方法。 - 特許庁
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