「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

For example, the bevel defect is correlated with the other surface defects 103a-103d and the reverse surface defect 104, by projecting a position of the bevel defect in projection points 105a-105f, in the composition image 100.例文帳に追加

例えば、合成画像１００では、ベベル欠陥と他の表面欠陥１０３ａ〜１０３ｄおよび裏面欠陥１０４との関連付けは、ベベル欠陥の位置を投影点１０５ａ〜１０５ｆに投影することによりなされている。 - 特許庁

The n-side electrode has such a shape that covers a part of a surface of the low-defect region, intermittently covers a surface of the high-defect region in the central part, and does not cover surfaces of high-defect regions in both end parts.例文帳に追加

ｎ側電極は、低欠陥領域の表面の一部を覆うと共に、中央領域にある高欠陥領域の表面を断続的に覆い、両端部にある高欠陥領域の表面を覆わないような形状となっている。 - 特許庁

To specify a process of generating a defect, or to detect the defect, even in an area that is not formed with a repeeated pattern on a wafer surface, when detecting the defect appearing on the semiconductor wafer surface by visual inspection.例文帳に追加

外観検査により半導体ウエハの表面に現れる欠陥を検出する際に、欠陥を生じた工程を特定する、或いはウエハ表面に繰り返しパターンが成形されていない領域においても欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a surface inspection instrument for identifying, with high accuracy, the category of a defect in a light penetrating substrate having a semi transparent film on the surface thereof when the surface inspection is done.例文帳に追加

表面に半透明膜を有してなる光透過性基板の表面検査にあたって欠陥種類を高精度に判別する。 - 特許庁

METHOD OF FEATURING DEFECT ON SILICON SURFACE, ETCHING COMPOSITE FOR SILICON SURFACE AND PROCESS OF TREATING SILICON SURFACE BY ETCHING COMPOSITE例文帳に追加

シリコン表面上の欠陥を特徴付ける方法、シリコン表面用のエッチング組成物、およびシリコン表面をエッチング組成物で処理するプロセス - 特許庁

To prevent erroneous detection of a defect portion regardless of the state of a detection object surface, and to prevent decline of detection accuracy to the defect portion.例文帳に追加

検査対象物表面の状態にかかわらず、欠陥部位の誤検出を防止し、欠陥部位に対する検出精度の低下を防ぐ。 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for examining defect capable of detecting a defect in high sensitivity even when a surface to be examined is in a non-mirror state.例文帳に追加

検査面が非鏡面状の場合であっても、欠陥を高感度に検出し得る欠陥検査方法及び欠陥検査装置を得る。 - 特許庁

To surely prevent linear defect on a product surface caused by inclusions existing below the surface skin of a continuously cast slab.例文帳に追加

連鋳鋳片の表皮下に存在する介在物に起因する製品表面の線状欠陥を確実に防止する。 - 特許庁

SURFACE LAYER PART PROPERTY MEASURING METHOD, SURFACE LAYER DEFECT DETERMINATION METHOD USING THE SAME, AND METALLIC BAND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

表層部性状測定方法及びそれを用いた表層欠陥判定方法、並びに金属帯の製造方法 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of inspecting color shading and irregularity of a sample surface with high accuracy.例文帳に追加

試料表面の色むらと凹凸とを精度よく検査を行うことのできる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The presence or absence of an internal defect can be verified clearly according to the surface temperature distribution by the temperature change in the surface.例文帳に追加

その表面の温度変化による表面温度分布から、内部欠陥の存否を明確に確認することができる。 - 特許庁

DIAGNOSIS OR DETERMINATION FOR PARAMETER OF INSTALLATION DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECT ON SURFACE OF COMPONENT BY LEACHING例文帳に追加

浸出によって部品の表面の表面欠陥を検出する据付装置のパラメータを診断または判定すること - 特許庁

To provide an inspection device capable of discriminating whether a defect of a substrate is one on a front surface or one on a rear surface.例文帳に追加

基板の欠陥が表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを区別できる検査装置を提供することにある。 - 特許庁

The defect inspecting device 21 has an internal defect inspection part 25 for inspecting an internal defect of the blade 1, the first surface defect inspection part 26 for inspecting defects on the first reference plane 3 of the blade 1, and the second surface defect inspection part 27 for inspecting defects on the second reference plane 4 that is orthogonal to the first reference plane 3 of the blade 1.例文帳に追加

そして、欠陥検査装置２１は、ブレード１の内部の欠陥を検査する内部欠陥検査部２５と、ブレード１の第１の基準面３における欠陥を検査する第１の表面欠陥検査部２６と、ブレード１の第１の基準面３に直交する第２の基準面４における欠陥を検査する第２の表面欠陥検査部２７とを有する。 - 特許庁

To provide a lighting system for detecting a minute defect of several micrometer order in surface inspection of detecting a defect in the surface of an inspecting object by imaging processing.例文帳に追加

画像処理により検査対象物の表面の欠陥を検出する表面検査において、数μｍオーダの微小欠陥の検出を可能にする照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of more reliable surface defect inspection capable of imaging while securing sufficient brightness even the inspection object is curvilinear solid.例文帳に追加

被検査物が曲面体であっても十分な明るさをもった撮影画像が確保でき、より信頼性の高い表面欠陥検査が可能となる表面欠陥検査装置を提供する - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of surely detecting unevenness due to defects at a surface of an object regardless of pattern or gloss at the surface of the object.例文帳に追加

対象物の表面の模様やツヤによらず、対象物表面の欠陥による凹凸を確実に検出する欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface appearance inspection apparatus capable of surely detecting only a defect, even when both a density variation and the defect coexist on the surface of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の表面において濃淡ばらつきと欠陥とが混在する場合であっても、欠陥のみを確実に検出することができる表面外観検査装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor being composed of a compound single crystal and containing a region having a surface defect density of 1×10^7/cm^2 or more and a region having the surface defect density of 1/cm^2 or less is used.例文帳に追加

化合物単結晶からなり、面欠陥密度が１ｘ１０^7／ｃｍ^2以上である領域及び面欠陥密度が１／ｃｍ^2以下である領域を含む半導体。 - 特許庁

To provide a method for detecting a surface defect capable of detecting precisely the defect generated on the surface of a cast slab when a steel is continuously cast without overlooking during the continuous casting.例文帳に追加

鋼の連続鋳造時に鋳片表面に発生する欠陥を、連続鋳造中に見逃すことなく精度良く検出することのできる表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

On a rear surface side of the substrate 10 there is formed an n side electrode 23 of a geometrical shape that covers the surface of the low defect region 10A, and intermittently covers the surface of the high defect region 10B.例文帳に追加

この基板１０の裏面側には、低欠陥領域１０Ａの表面を覆うと共に、高欠陥領域１０Ｂの表面を断続的に覆う、幾何学的な形状のｎ側電極２３が形成されている。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection apparatus and a surface defect inspection method capable of performing a detection of LPDs on a wafer surface and a detection of a dark field image in parallel with each other and having an improved detection sensitivity of the LPDs.例文帳に追加

ウェーハ表面のＬＰＤの検出と暗視野像の検出とを並行して行うことができ、且つ、ＬＰＤの検出感度を高めた表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device for a metal component, capable of detecting a defect existing in a surface and an inside of the metal component, without using a fluid such as water.例文帳に追加

水等の液体を用いること無く、金属部品の表面及び内部に存在する欠陥を検査することが可能な金属部品の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a glass substrate defect inspection device or a glass substrate defect inspection method or a glass substrate defect inspection system attaining accurate inspection by securing flatness over the entire surface of a separated glass substrate.例文帳に追加

分ガラス基板の全面亘って平坦性を確保し、精度よく検査できるガラス基板欠陥検査装置またはガラス基板欠陥検査方法あるいはガラス基板欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁

Even the small rugged defect which was difficult to identify in a conventional polarization type surface defect inspection device can thereby be identified with high accuracy, not to mention the small pattern-like defect.例文帳に追加

これによって小さな模様状欠陥は勿論、従来の偏光式表面欠陥検査装置では識別が困難であった小さな凹凸欠陥についても高精度に識別することができる。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device usable for detecting a surface defect such as micro-unevenness and a protrusion in an inspected object and for detecting and inspecting a defect accompanied by a concentration change on a surface, and capable of detecting easily and precisely the surface defects in the inspected objects having a plurality of kinds of diameters and lengths.例文帳に追加

被検査物の微小な凹凸、突起等の表面の欠陥の検出、さらに併せて表面の濃度変化を伴う欠陥の検出・検査に利用することができ、複数種類の直径や長さの被検査物の表面欠陥を精度よく容易に検出できる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

This method of detecting the micro surface roughness and defect detects the micro surface roughness and defect having 0.5-6 μm of roughness in the magnetic metal specimen, and detects the surface defect by detecting a signal caused by a strain in a defective part of the specimen.例文帳に追加

磁性金属被検体の凹凸量0.5μm以上6μm以下の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法であって、前記被検体の欠陥部の歪に起因する信号を検知することによって前記表面欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an adhesive tape manufacturing system which quickly in-line detects the cause of a surface defect when the surface defect due to fine irregularities occurs while manufacturing the adhesive tape and can change manufacturing conditions so as to remove the cause of the surface defect.例文帳に追加

粘着テープの製造中に微細な凹凸に起因する表面欠陥が発生した場合に、その表面欠陥の原因をインラインで迅速に検出するとともに、表面欠陥の原因を除去するように製造条件を変更可能な粘着テープ製造システムを提供する。 - 特許庁

Whereby the searching adapted to the actual manufacturing line such that only the defect of the front surface 1a is regarded as no-good, only the defect of the rear surface is regarded as no-good, and each of the defects of the front surface 1a and the rear surface 1b is totalized, can be performed.例文帳に追加

これにより、表面１ａの欠陥のみを不良とする、裏面１ｂの欠陥のみを不良とする、表面１ａの欠陥、裏面１ｂの欠陥それぞれの集計をするといった、実際の製造ラインに即した検査が可能となる。 - 特許庁

To manufacture shapes excellent in surface property by efficiently removing primary scale from the surface of steel and preventing the generation of a surface defect due to the scale.例文帳に追加

一次スケールを、鋼材表面から効率的に除去し、スケールに起因するの表面疵の生成を防止して、表面性状の優れた形鋼を製造する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method for speedily detecting a defect of a sheet material having a formation pattern such as a fine uneven shape on a surface with good reproducibility.例文帳に追加

表面に微細な凹凸形状等の地合パターンを有するシート材の欠陥を、迅速かつ再現性良く検査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage flux flaw detecting method for stably discriminating a surface defect from an internal defect and performing detection regardless of measuring conditions.例文帳に追加

測定条件の変化によらず安定して、表面欠陥と内部欠陥を区別して検出することが可能な漏洩磁束探傷方法を提供する。 - 特許庁

A surface of the skin layer 2a is free from an ununiform defect of a spot-like protrusion or local hardened part generated when wet-film-formed, by removing the ununiform defect.例文帳に追加

スキン層２ａの表面には、湿式成膜時に生じたスポット状の凸部ないし局所的な硬質化部の不均質な欠点が除去されている。 - 特許庁

It is preferred to use a wafer composed of a defect-free area as a raw material because a defect-free layer can be stably secured on a wafer surface layer.例文帳に追加

無欠陥領域からなるウェーハを素材として用いることとすれば、ウェーハ表層部に無欠陥層を安定して確保できるので望ましい。 - 特許庁

To provide a surface inspection device of generating hardly a pseudo-defect, even when detecting a defect based on a difference between hues of a reference image and an inspection image.例文帳に追加

ファレンス画像と検査画像の色相の差に基づいて欠陥を検出する場合においても、擬似欠陥の発生しにくい表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device for inspecting defect distribution on a wafer which can measure the thickness and the flatness of the wafer simultaneously with defect inspection.例文帳に追加

ウェーハ上の欠陥分布を検査する表面検査装置において、欠陥検査と同時進行でウェーハの厚さとフラットネスを測定できるようにする。 - 特許庁

To provide a PTFE porous membrane composite material with less defect of a scuffing or the like on the surface and a suppressed conjunction defect of a joining part at an initial stage.例文帳に追加

表面に毛羽等の欠陥が少なく、初期の接合部分において接合不良が抑制されたＰＴＦＥ多孔質膜複合材を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of discriminating and detecting simultaneously an internal defect and a surface flaw of a material to be measured.例文帳に追加

被測定材の内部欠陥と表面疵を同時に識別して検出することが可能な欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for continuous casting capable of preventing occurrence of a powder originated defect and a foaming originated defect on the surface portion of the cast slab at the time of casting the molten steel of the extremely low-carbon steel.例文帳に追加

極低炭素鋼の溶鋼を鋳造する際の鋳片表層部のパウダ性欠陥および気泡性欠陥の発生を抑制する方法の提供。 - 特許庁

To provide a cylindrical body surface inspection device capable of distinguishing a reflected wave from a defect from a reflected noise and having excellent defect discriminability.例文帳に追加

欠陥からの反射波を反射ノイズと区別することができ、欠陥判別性の良い円柱体表面検査装置を提供することにある。 - 特許庁

When a deformation change is generated in the structure 2 having a defect, the periphery of the defect is deformed due to stress concentration generated at the periphery, and the light emitting film on the surface is also deformed.例文帳に追加

欠陥が在る構造体２に歪みの変化が生じると、欠陥周辺に応力集中が起きて歪み、該表面の発光膜も歪む。 - 特許庁

By this constitution, metal ions on the substrate of the package are gettered by the defect layer 2 on the side and/or the defect layer 2 on the reverse surface, and the Schottky barrier.例文帳に追加

この構成により、パッケージの基板上の金属イオンは、側面の欠陥層２及び／又は裏面の欠陥層２、ショットキー障壁によりゲッタリングされる。 - 特許庁

Wear, crack, and other defect region on a surface of a superalloy constituent element are repaired using deposition for adapting a repair filling material to this defect.例文帳に追加

超合金構成要素の表面の摩耗、亀裂、その他の欠陥領域が、この欠陥に修理充填材料を適合させる蒸着を用いて、修理される。 - 特許庁

To suppress the disturbance in TE signals to a minimum, even if a defect exist in the recording surface of an optical disk for reducing the disturbance in tracking due to the defect.例文帳に追加

光ディスクの記録面にディフェクトが存在しても、ＴＥ信号が乱れることを極力抑え、ディフェクトによるトラッキングの乱れが少なくなるようにする。 - 特許庁

The method for inspecting a surface defect includes, an imaging process, a first smoothing process, a matching process, a second smoothing process, and a defect detecting process.例文帳に追加

表面欠陥の検査方法であり、撮像処理と、第１平滑化処理と、マッチング処理と、第２平滑化処理と、欠陥検出処理を備える。 - 特許庁