「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To accurately detect any defect, such as a local distortion, on the surface of lens sheets.例文帳に追加

レンズシート表面の局所的な歪み等の欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT AND MEMORY MEDIUM例文帳に追加

表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法並びに記憶媒体 - 特許庁

HEATING METHOD FOR ORDINARY STEEL SLAB FOR OBTAINING HOT ROLLED PLATE WITH FEW SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面疵の少ない熱延板を得るための普通鋼スラブの加熱方法 - 特許庁

SULFUR AND SULFUR COMPOSITE FREE-CUTTING STEEL HAVING EXCELLENT MACHINABILITY LESS IN SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面疵の少ない被削性に優れた硫黄および硫黄複合快削鋼 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF SURFACE DEFECT OF SHEET-LIKE MATERIAL例文帳に追加

シート状材料の表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

The defect inspection part is operated, and an image is acquired by emitting the illumination light onto a mask surface to inspect a mask defect.例文帳に追加

そして、前記欠陥検査部を動作して、前記マスク表面に照明光を照射し映像を得て、マスク欠陥を検出する。 - 特許庁

To detect a defect part on the surface of a body to be inspected and to measure the film thickness of the defect part efficiently at the same time.例文帳に追加

被検体表面上の欠陥部分を検出すると共にその欠陥部分の膜厚を同時に効率よく計測する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus whose resolution and sensitivity to detect a defect are enhanced more by scanning the surface of a workpiece.例文帳に追加

ワークピース表面を走査して、欠陥を見つけるための解像度及び感度が、より向上した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect discrimination device and a defect discrimination method capable of effectively discriminating a kind of an irregularity defect which has generated on a surface of a sheet-like material with light permeability, and a sheet-like material which has been discriminated for defect.例文帳に追加

光透過性を有するシート状物表面に生じた凹凸欠陥の種類を効果的に判別できる欠陥判別装置、欠陥判別方法、及び欠陥判別されたシート状物を提供する - 特許庁

To provide a metal defect detection method capable of highlighting defect through etching treatment of the inspection surface of a metal sample, while when detection of the defect is carried out by imaging the inspection surface with an imaging device, brightness of non-defect parts on the imagery of inspection surface is made to be homogenized and brightened, leading clear defection of defect part.例文帳に追加

金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample for observing a semiconductor wafer surface crystal defect, with which accurate position of the crystal defect in the semiconductor wafer surface is decided, when a surface defect is observed with laser beam, etc., and to provide a method for manufacturing the sample.例文帳に追加

表層欠陥をレーザ光等で観察する際、半導体ウェーハ表層にある結晶欠陥の正確な位置を決定できる半導体ウェーハ表層結晶欠陥観察用試料とこの試料の作製方法を提供するものである。 - 特許庁

To produce a BH steel sheet capable of inexpensively producing an automotive outer board free from defect in the adhesion of plating, defect in alloying and defect in surface quality caused by linear unevenness and excellent in surface properties and to provide a method for producing the same.例文帳に追加

めっき付着不良、合金化不良、線状むらによる表面品質不良のない表面性状の優れた自動車外板を安定的に製造できるBH鋼板とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device for a band like body capable of detecting a surface defect by carrying out image pickup of a band like body surface at a optional pickup angle by a light source with low light intensity in regard to a surface defect inspecting device using a time delay integration type video camera.例文帳に追加

時間遅延積分型ビデオカメラを用いた表面欠陥検査装置において、低い光強度の光源により任意の撮像角度で帯状体面を撮像し、表面欠陥を検出することができる帯状体の表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

While removing the surface defect layer of the anode 16 the inorganic compound can maintain a state in which the surface defect is removed.例文帳に追加

スパッタ処理により、陽極１６の表面不良層を除去しつつ、無機化合物によって、表面不良層が除去された状態を保持させることが可能である。 - 特許庁

To identify a step causing a surface defect of a glass substrate for a magnetic disk and to prevent further more generation of the surface defect by repairing the step.例文帳に追加

磁気ディスク用ガラス基板の表面欠陥の原因となっている工程を同定し、当該工程を修繕することで、それ以上の表面欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

To reduce a decrease in surface property and a defect in picture quality with simple constitution.例文帳に追加

簡素な構成で、表面性を低下や画質欠陥の発生を低減すること。 - 特許庁

To detect a defect inside a substrate, regardless of the depth from the substrate surface.例文帳に追加

基板の内部の欠陥を、基板の表面からの深さに関わらず検出する。 - 特許庁

To provide a novel surface defect inspection device and surface defect inspection method for accurately and almost simultaneously detecting small rugged defects and pattern-like defects.例文帳に追加

小さな凹凸欠陥や模様状欠陥を精度良くかつほぼ同時に検出することができる新規な表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法の提供。 - 特許庁

Consequently, a peak of crystal defect density is nearby the top main surface of the n-type semiconductor substrate 2 and the crystal defect density is distributed gradually decreasing toward the reverse main surface.例文帳に追加

この結果、結晶欠陥密度のピークはｎ型半導体基板２の上主面近傍となり、結晶欠陥密度は下主面に向かって漸減するように分布する。 - 特許庁

To properly detect a bottle having a defect even if the surface of the bottle is decorated.例文帳に追加

ボトル表面に装飾があっても、欠陥を有するボトルを適切に検出する。 - 特許庁

The minute defect of the mold is corrected by laser-annealing only the surface of the mold.例文帳に追加

モールドの表面のみをレーザアニールすることでモールドの微小欠陥を修正する。 - 特許庁

To provide a surface defect detection device capable of detecting an irregular defect on the cylindrical work surface in a short time with excellent sensitivity, and requiring only a small installation space.例文帳に追加

円筒状ワーク表面の凹凸欠陥を短時間で感度良く検出できるとともに、設置スペースが少なくて済む表面欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

Each defect removed portion is brought into a recessed shape in a surface coating on the skin layer 2a.例文帳に追加

スキン層２ａの表面皮膜の欠点が除去された箇所が凹状になる。 - 特許庁

METHOD FOR ACQUIRING HIGH-RESOLUTION IMAGE OF DEFECT ON UPPER SURFACE OF WAFER EDGE例文帳に追加

ウエハ縁端部の上部表面の欠陥の高分解能画像を取得する方法 - 特許庁

SURFACE INSPECTION APPARATUS, DEFECT DETECTING METHOD USING THE SAME, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

表面検査装置、それを用いた欠陥検出方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁

To provide a surface inspection device and a surface inspection method, capable of detecting highly precisely an appearance defect, even relative to the appearance defect having low detection precision in a circular slit.例文帳に追加

円形スリットでは検出精度が悪い外観不良に対しても、高精度に外観不良を検出できる表面検査装置および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection apparatus for a cylindrical inspection target, which can inspect a defect generated on the surface of the cylindrical inspection target by a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で円筒形被検査体の表面に発生する欠陥を検査できる円筒形被検査体の表面欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an intermediate transfer belt, capable of eliminating a coating film defect and an appearance defect for ensuring uniform surface property.例文帳に追加

塗膜の欠陥、外観不良を無くし均一な表面性を確保することが可能な中間転写ベルトの製造方法である。 - 特許庁

IMMERSION NOZZLE FOR CONTINUOUS CASTING, RESTRAINING DEVELOPMENT OF SURFACE DEFECT AND INTERNAL DEFECT AND CONTINUOUS CASTING METHOD USING THIS NOZZLE FOR CONTINUOUS CASTING例文帳に追加

表面欠陥および内部欠陥の発生を抑制する連続鋳造用浸漬ノズルおよびこのノズルを使用した連続鋳造方法 - 特許庁

To effectively defect and evaluate the state of an internal defect of a material to be measured such as a bulk material or the like even at a deep position from its surface.例文帳に追加

バルク材料など被測定物の内部欠陥の状況を表面から深い位置であっても有効に検出し評価する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of scanning the entire sample surface in a short time and detecting minute defect without causing thermal damage to the sample.例文帳に追加

試料全面を短時間で走査し，試料に熱ダメージを与えることなく微小な欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁

To provide a continuous casting method for producing a cast slab without developing the surface defect and the internal defect when the continuous casting of steel is performed.例文帳に追加

鋼の連続鋳造を行なう際に、表面欠陥や内部欠陥のない鋳片を製造する連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To select and apply an optimum defect treatment method to a condition of an individual surface defect occurring in an in-furnace apparatus.例文帳に追加

炉内機器に発生する個々の表面欠陥の状態に対して最適な欠陥処置方法を選択し適用することを可能にする。 - 特許庁

To automatically discriminate whether a defect is a short (short- circuit), open (disconnection) or the defect of contamination deposition (dust) in the case that the defect is present on a pattern formed on an inspected body surface.例文帳に追加

被検査体表面に形成されたパターンに欠陥が有る場合に、その欠陥がショート（短絡）、オープン（断線）、または異物付着の欠陥（ダスト）であるか否かを自動的に判別すること。 - 特許庁

To provide an evaluating method of an internal defect of a sample capable of exactly evaluating the existence of the defect, even when the sample has the defect even at a position considerably deep from the surface.例文帳に追加

表面より十分に深い位置にまで欠陥を有する試料であっても、欠陥の有無を的確に評価できる試料内部欠陥の評価方法を提供すること。 - 特許庁

In a surface defect inspecting apparatus for optically inspecting the surface of an object 11, a condensing point of laser beam is formed in the vicinity of the surface of the object and scanned on the surface of the object in a concentric circular state and a change in the quantity of light generated by a surface defect is detected to judge the surface defect by a signal processor 21.例文帳に追加

対象物１１表面を光学的に検査する表面欠陥検査装置であって、対象物表面近傍にレーザ光による集光点を形成し、集光点を対象物１１表面で同心円状に走査し、表面の欠陥によって発生する光量変化を検出して信号処理装置２１によって欠陥判定を行なう。 - 特許庁

To provide a mirror surface decorative sheet having excellent mirror surface finishing properties, surface smoothness, surface defect suppressing performance and a contamination resistance, and to provide a decorative plate using the mirror surface decorative sheet.例文帳に追加

優れた鏡面性を有し、かつ、表面の平滑性、表面の欠点抑制性能及び耐汚染性を有する鏡面化粧シート、及びこれを用いた化粧板を提供すること。 - 特許庁

The defect repair method in a flat membrane for water treatment includes a step of pressing a defect part to seal a defect hole by compression, with regard to the defect generated on the surface of the flat membrane manufactured by coating a material containing an organic polymer as a main component on the surface of a flat substrate.例文帳に追加

平面状基材の表面に有機高分子を主成分とする物質を塗布して製造した平膜の表面に発生した欠点に対して、該欠点部を圧着して、欠点孔を圧縮により密閉する水処理用平膜上の欠点補修方法。 - 特許庁

A detection rate is calculated in every of the defects based on whether the same defect is detected in a plurality of differential images or not, based on a result in a process for detecting the defect on a surface of the silicon wafer, and the shape of the defect is identified in the every defect on the surface of the silicon wafer, according to the detection rate.例文帳に追加

シリコンウエハ表面上の欠陥を検出する工程の結果から、同一の欠陥が複数の差分画像から検出されたかにより欠陥毎に検出率を算出し、前記検出率に従って前記シリコンウエハ表面上の欠陥毎に該欠陥の形状を識別する。 - 特許庁

METHOD FOR REMOVING PROJECTING DEFECT ON TUBE STOCK SURFACE BY ULTRASONIC IRRADIATION AND BRUSH RUBBING例文帳に追加

超音波照射とブラシ摺擦による素管表面上の凸欠陥除去方法 - 特許庁

To provide a steel slab heating method capable of preventing any defect on a surface of a steel slab.例文帳に追加

鋼片の表面の欠陥を防止できる鋼片の加熱方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for polishing an organic film such as a resist film by low surface defect density.例文帳に追加

低い表面欠陥密度で、レジスト膜等の有機膜を研磨する方法を提供する。 - 特許庁

SURFACE COATED CUTTING TOOL WITH HARD COATING LAYER HAVING EXCELLENT CHIPPING RESISTANCE AND DEFECT RESISTANCE例文帳に追加

硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性、耐欠損性を備える表面被覆切削工具 - 特許庁

To highly precisely inspect the defect of the surface of a tire or a tire configuring member.例文帳に追加

タイヤやタイヤ構成部材の表面の欠陥を高精度に検査することを可能とする。 - 特許庁

To provide a sample preparation method which easily can analyze any defect in the vicinity of wafer surface.例文帳に追加

ウェハの表面近傍欠陥を容易に解析できる試料作製方法を提供する。 - 特許庁